Микроскоп объективы

Скорость всплывания пузырьков и их размер определяли также фотографическим методом. При фотографировании применялась боковая импульсная подсветка, дающая вспышку света через определенные промежутки времени. Пленки расшифровывались при помощи микроскопа МИР-12, соединенного с микрометрической насадкой. Цена деления шкалы наса. ки определялась объект-микрометром, Истинный диаметр пузырька определялся при помощи калибровочного графика, полученного путем фотографирования стальных шариков известного диаметра при том же способе подсветки, что п при фотографировании пузырьков. [c.20]

Влияние свойств пористого слоя на скорость фильтрования нередко выражают посредством параметров, определяющих его структуру, в частности эквивалентного размера пор, пористости слоя, удельной поверхности и щероховатости частиц. С этой целью принимают идеализированные модели пористого слоя, например модель цилиндрических капилляров. Однако в настоящее время принципы построения моделей пористых сред требуют уточнения [24]. Так, следует отметить, что способы определения параметров пористых сред адсорбцией, капиллярной конденсацией, ртутной поро метрией, электронной микроскопией нередко приводят к разным результатам, причем одни параметры модели и объекта могут совпадать, а другие различаться. Использование идеализированных моделей пористых сред не способствует лучшему пониманию процесса фильтрования, а все параметры, характеризующие пористую среду, в конечном счете приходится объединять в один, находимый экспериментально параметр, называемый коэффициентом проницаемости или удельным сопротивлением. К сказанному надлежит добавить, что отмечено шесть типов укладки моно-дисперсных шарообразных частиц в слое, причем форма пор, влияющая на гидродинамику слоя, различна для разных типов укладки [39]. [c.24]

Рис. 24. Наблюдение под микроскопом объекта при боковом освещении

Меняя напряжение, оказывается возможным менять длину волны и, соответственно, разрешающую способность микроскопов. Если применяются достаточно большие напряжения, необходимо учитывать релятивистские поправки. Таким образом, длины волн лежат в пределах 0,001<А,-<0,10 нм [148]. Различные модификации электронных микроскопов позволяют разрешать детали объектов до 0,1 нм. Прн изучении размеров частиц в дисперсионных средах такое высокое разрешение не требуется, поэтому используются обычно небольшие напряжения. Исследование малых частиц позволяет получить информацию об их внешней форме и структуре. Изображение фотографируется и по нему определяется угол рассеяния электронов 0, связанный с размером чистицы г простым соотношением д = к г. [c.102]

Оборудование и реактивы микроскоп объектив-микрометр окуляр-микрометр пипетка вместимостью 1 мл цилиндр вместимостью 100 мл мешалка Кремнева для приготовления эмульсии бюретка вместимостью 25 мл стакан вместимостью 50 мл стеклянная трубка-отборник диаметром 5 мм раствор олеата натрия концентрации 10 мае. долей, % раствор желатины концентрацни 5 мае. долей, %, [c.215]

Принципиальная схема действия микроскопа показана на фиг. 16. Микроскоп состоит из двух основных частей — объектива и окуляра. Расстояние Д между задним фокусом объектива и передним фокусом окуляра называется оптическим интервалом (или оптической длиной тубуса) микроскопа. Объект А В располагается обычно перед объективом на расстоянии не ближе фокусного расстояния последнего и не более чем двойная величина его. Объектив дает действительное увеличенное перевернутое промежуточное изображение А В на расстоянии оптического интервала А от своего заднего фокуса. Это изображение находится вблизи переднего фокуса окуляра и рассматривается глазом наблюдателя через окуляр, как через лупу. [c.59]

Несмотря на некоторую общность оптической схемы, условия формирования изображения в световом и электронном микроскопах принципиально различны. В световом микроскопе изображение получается, главным образом, вследствие различной поглощающей способности световых лучей отдельными элементами объекта. Многие препараты, особенно биологические, во всех своих частях одинаково прозрачны для видимого света, поэтому их наблюдение в микроскопе затруднено. Если предварительно избирательно окрасить объект, то он начинает поглощать больше света по сравнению с окружающим бесцветным фоном и становится ясно видимым. В электронном микроскопе объект не должен заметно поглощать электроны. Взаимодействие электронов с объектом должно носить характер упругих столкновений, т. е. энергия электронов при прохождении через объект не должна существенно изменяться. Формирование контраста изображения связано с разной степенью рассеивания электронов различными участками объекта. [c.171]

Измерив объект с помощью линейки окулярного микрометра, умножают число делений на значение этой величины в микрометрах при данном увеличении. Яйца гельминтов измеряют при большом увеличении микроскопа (объектив 40х). Перед исследо- [c.376]

Другие способы получения углеродных реплик. Ранее уже отмечалось, что при облучении в электронном микроскопе объекты покрываются углеродной пленкой. Поэтому, если после просмотра в микроскопе препарат растворить прямо на подложке, и затем снова поместить сетку Б микроскоп, то в ряде случаев можно наблюдать углеродную реплику с только что изученного препарата. В разделе Реплики с извлечением на стр. 115 приведен пример такого исследования. Недостатками этого способа являются необходимость сравнительно длительного облучения и возможность разрушения препарата электронным пучком. Поэтому были предприняты попытки наносить на объект углеродсодержащие соединения перед облучением в микроскопе. С этой целью на объекте проводили адсорбцию органических веществ, например, метиленовой голубой [100], а также было предложено смачивать образец тонким слоем лака [105] или водного раствора декстрина [106]. Хотя авторами были получены удовлетвори- [c.103]

Лампочка через конденсор освещает шкалу 3 с тремя двойными штрихами, нанесенными по вертикали. Изображения этих штрихов зеркалом 4 направляются в объектив 2 главного микроскопа. Объектив проектирует эти штрихи в плоскость штриховой сетки 1 окулярной головки. Зеркало 4, соединенное с рычагом, может качаться вокруг горизонтальной оси. Рычаг имеет на конце измерительный наконечник 5 с шариком 7, контактирующим с измеряемым объектом 6. Пружина 8, создающая измерительное усилие, обеспечивает постоянный прижим шарика к поверхности измеря емого объекта. При смещении шарика поворачивается зеркало и смещаются изображения двойных штрихов в поле зрения. [c.258]

При определении видов и для оценки физиологического состояния организмов необходимо знать размеры организмов. Измерять их надо окуляром-микрометром. Предварительно надо установить, чему соответствует одно деление окуляра-микрометра при данном увеличении. Для этого сначала помещают под микроскопом объект-микрометр и, достигая резкой установки шкалы (сильно затемняют), отсчитывают число делений объекта-микрометра, приходящихся на известное число делений окуляра-микрометра таким образом вычисляют абсолютное значение одного деления окуляра-микрометра (рис. 25). Затем объект-микрометр снимают со столика микроскопа, заменяют исследуемым препаратом и измеряют размеры организмов [c.203]

Оптическая схема этого прибора показана на рис. 141, а его общий вид на рис. 142. Свет от лампы накаливания 1 с толстой нитью (12 в, 30 вт) падает на две осветительные конденсорные системы 2 и 11. Конденсором 2 один пучок света направляется на призму полного внутреннего отражения 3. Последняя поворачивает пучок кверху в объектив 4 микроскопа. Объектив фокусирует пучок на фотографической пластинке 5. На пластинке получается яркое изображение конденсора 2, уменьшенное до диаметра 3 мм. Над фотопластинкой помещен второй проекционный объектив 6, который дает увеличенное в 20 раз изображение освещенной [c.220]

При определении видов и для оценки процесса очистки необходимо знать размеры организмов. Измерять их надо с помощью окуляр-микрометра. Предварительно надо установить, чему соответствует одно деление окуляр-микрометра при данном увеличении. Для этого сначала помещают под микроскопом объект-мик- [c.158]

Принципиальная схема светового микроскопа представлена на рис. V. 1 а. Обычный микроскоп представляет собой двухступенчатый оптический увеличитель. В нем имеется система линз, называемая объективом 4, которая проектирует увеличенное изображение объекта S. Это промежуточное изображение 5 увеличивается другой системой линз — окуляром 6, через который ведет наблюдение исследователь. Объектив и окуляр помещены в тубусе микроскопа на одной оптической осн. Для устранения нежелательных дифракционных эффектов и обеспечения должной разрешающей способности предназначена система линз конденсора 2, благодаря которому пучок света от лампы / концентрируется в плоскости исследуемого объекта. Конечное изображение 7 регистрируется на фотопластинку 8. [c.248]

Для того чтобы с помощью микротома получить очень тонкий срез, необходимо, чтобы материал бьш залит в соответствующую опорную среду. При приготовлении препаратов для световой микроскопии объекты заливают в пара- [c.213]

Метод Мари п Тона. Метод изгиба катода использовался также Мари и Тоном [18], причем отклонение нижнего конца катода наблюдалось при помощи микроскопа, объектив которого был направлен на свободный конец электрода. [c.94]

I объектов, к которым принадлежат предметы, видимые в оптиче- - ский микроскоп или невооруженным глазом, [c.16]

Частицы мыла в алюминиевых смазках при рассматривании их в электронный микроскоп кажутся очень мелкими и не имеют определенной формы (рис. 12, 1, е). Они, по-видимому, образуют непрочные полимерные цепи, распадающиеся при изготовлении объектов для исследования в электронном микроскопе. [c.656]

Электронная микроскопия по сравнению с другими методами, применяемыми для исследования структуры высокодисперсных и пористых тел, отличается тем, что позволяет видеть изучаемый объект. Если данные других методов необходимо так или иначе интерпретировать для получения упрощенных схематизированных представлений о структуре тел, то электронная микроскопия в известной области размеров свободна от этого ограничения [78—97]. [c.308]

Электронная микроскопия позволяет получать информацию о распределении частиц по размерам при минимально определяемом на практике диаметре частиц до 1 нм. Метод трудоемок в части подготовки объекта для съемки и обработки его результатов. Для получения надежных данных обычно на электронной микрофотографии определяют размеры приблизительно тысячи случайно выбранных частиц. [c.376]

Электронно-микроскопический анализ. Этот метод дает представление о строении кристаллических областей в асфальтенах и дает наглядную картину об их надмолекулярной организации. Исследования выполняются в просвечивающих и сканирующих (растровых)- электронных микроскопах [329, 330]. Просвечивающие электронные микроскопы позволяют одновременно получать как электронно-микроскопический снимок, так и электронограмму в области больших и малых углов. Разрешающая способность их составляет 15—2 нм, а для сканирующих микроскопов 3—5 нм. Пучок электронов вызывает значительный разогрев и даже плавление образцов, поэтому просвечивающая электронная микроскопия применяется для объектов, имеющих незначительную толщину,— несколько десятков нанометров. Для этого образцы специальным образом готовят получают либо тонкие пленки, либо с помощью ультрамикротомов готовят срезы толщиной 10—20 нм. Из косвенных методов для исследования структуры асфальтенов получил распространение метод реплик. Для исследования используют мелкодисперсные порошки асфальтенов [325] или растворы в бензоле [319]. В первом случае асфальтены помещают на угольную (аморфную) подложку на медной сетке. С целью определения фоновых микропримесей проводят контрольные съемки пустой подложки. Во втором случае бензольные 0,1 % растворы асфальтенов диспергируют на поверхность полированного стекла с частотой излучателя 35 кГц. Далее стекло.с пленкой асфальтенов помещают в вакуумный пост и растворитель откачивают в течение 20 мин. Для контроля сходимости результатов с поверхности пленки асфальтенов получают реплику двумя способами. Одноступенчатая реплика образовывается напылением угольной пленки, а двухступенчатая — чистого алюминия толщиной не менее 0,2 мм. Затем асфальтеновую пленку растворяют в бензоле и отдельную угольную реплику оттеняют платиной. Во втором случае на обратную сторону отдельной алюминиевой фольги напыляют платиноугольную реплику толщиной 20—30 нм, а алюминиевую фольгу затем растворяют в азотной кислоте [331]. [c.158]

С появлением электронной микроскопии неоднократно предпринимались попытки обнаружения коллоидных частиц в нефтях. Однако при исследовании под микроскопом сырой нефти никакие частицы обнаружить не удавалось. Если в процессе приготовления препаратов к нефти добавлялся в качестве растворителя петролейный эфир или бензол, то уже можно было наблюдать частицы размером 100 А это явление принималось за осаждение. В то время на вооружении были электронные микроскопы, которые позволяли фиксировать частицы размером 32 А [35,36]. Когда в качестве объектов исследований были выбраны асфальтовые вещества и были применены специальные методики приготовления препаратов для наблюдения под микроскопом, появилась возможность наблюдать частицы размером от 50 до 100 А. Размеры наблюдаемых агрегатов, в зависимости от природы исходных асфальтенов, изменялись в пределах 50—150 А, причем в асфальтенах, выделенных из окисленных остатков, можно было обнаружить образование и рост коллоидных частиц [37, 38]. [c.201]

La toba terium a idophilum образует мелкие колонии в глубине среды, которые следует просматривать под микроскопом (объектив 8Х). Они имеют вид рыхлых тонковолокнистых скоплений неправильной формы, напоминающих кусочки ваты или мха. Иногда их называют паучками. Из характерных колоний, расположенных изолированно от других, готовят фиксированный препарат и петлей делают посев в стерильный обрат. [c.209]

При посеве суспензии из сметаны на агаровые среды Выявляется преимущественно Str. la tis. который образует поверхностные и глубинные колонии. Первый — мелкие, точкообразные, диаметррм 1 мм, выпуклые, голубоватые, прозрачные. Глубинные колонии имеют форму чечевицы. Колонии Str. la tis просматривают под микроскопом (объектив 8х). Характерные колонии отмечают на чашке Петри восковым карандашом. Из них готовят препарат для микроскопирования, а затем петлей делают пересев в стерильный обрат в в пробирках, которые ставят в термостат при 30°С. [c.210]

Световая микроскопия. Световой микроскоп имеет сухой и иммерсионный объективы. Сухой объектив с относительно большим фокусным расстоянием и слабым увеличением обычно применяют для изучения относительно крупных биологических и гистологических объектов. При изучении микроорганизмов используют главным образом иммерсионный ( погружной ) объектив с небольшим фокусным расстоянием и более высокой разрешающей способностью (увеличение бОх—ЮОх). При иммерсионной микроскопии объектив погружают в масло (кедровое, персиковое, иммерсиол и др.), показатель преломления которого близок к показателю преломления стекла. В этом случае лучи света, пройдя через предметное стекло, не меняют своего направления и не рассеиваются, а попадают в объектив (рис. 1.1, й). Разрешающая способность иммерсионного объектива около 0,2 мкм. Максимальное увеличение современных оптических микроскопов достигает 2000х-3000х. [c.8]

Тонкость отсева может быть непосредственно определена микроскопическим анализом и, косвенно — седи-ментациоиным анализом фильтрата. Несмотря на достоинства пер1В0Г0 метода, как прямого способа измерения, он применяется ограниченно, вследствие своей трудоемкости, которая усугубляется при малой концентрации частиц в фильтрате. Для анализа пригоден наиболее распространенный тип учебного, биологического микроскопа с 600-кратным и меньшим увеличением. Капля исследуемой суспензии наносится на предметное стекло и закрывается покровным стеклом. В качестве предметного стекла удобно использовать камеру Горяева или Бюркера, которые применяются в практике медицинских исследований, и обеспечивают толщину рассматриваемого слоя суспензии 0,1 мм. Крестообразный столик СТ-5, в держателях которого закрепляется предметное стекло, и вместе с которыми оно может перемещаться в двух направлениях, позволяет просматривать в проходящем свете последовательно отдельные участки слоя суспензии. В окуляр микроскопа предварительно помещается окулярная сетка — стекло с нанесенной на него сеткой. Цена деления окулярной сетки при выбран-НО.М увеличении микроскопа определяется по объект-микрометру, помещаемому на предметный столик микроскопа. Цена деления на стекле объект-микрометра 0,01 мм. [c.43]

При тепловом контроле интефальных микросхем, перемещение осуществляется с помощью двухкоординатного микрометрического столика, визуальный конфоль - с помощью всфоенного микроскопа. Объектив обеспечивает увеличение от х 10 до х 40, при этом достигается линейное разрешение 60. .. 20 мкм, температурное разрешение 0,2. .. 1 °С. В усилительном усфойстве обеспечена линейная зависимость выходного напряжения от измеряемой температуры, что позволяет измерять температуру изделий. [c.538]

В результате этих и других работ было твердо установлено, что при облучении в микроскопе объектов в обычных условиях они покрываются слоем углерода. Толщина углеродной пленки в зависимости от условий увзличивается на 1—10 А в 1 мин. благодаря крекингу под действием электронного пучка паров углеводородов, которые всегда в небольших количествах имеются в колонне микроскопа (пары смазки и диффундирующие из объема металла углеводороды, захваченные во время технологического процесса). Если работают с микроскопом, имеющим разрешающую способность 30—50 А, это явление не представляет особой опасности оно в одних случаях равноценно постепенному утолщению подложки и не будет сказываться на потере разрешения при не слишком больших экспозициях, а в других случаях будет приводить к постепенному увеличению размеров частиц (если изучают объекты, оттененные тяжелым металлом, то положение будет наиболее благоприятным в связи со слабой рассеивающей способностью углерода по сравнению с металлом). Но для микроскопов с разрешением в несколько ангстрем, появление которых следует ожидать в недалеком будущем, загрязнение объектов углеродом угрожало бы превратиться в лимитирующий фактор и задержать прогресс в этой области. [c.26]

Для некоторых специальных исследований (например, для изучения деталей строения бактериальной клетки) применяют электронный микроскоп, позволяющий получить изображение с увеличением до ЮООООХ- В электронном микроскопе объект освещается пучком электронов, линзами служат электромагниты. Электронная микроскопия требует специально приготовленных препаратов работа с ним сложна. [c.57]

Микроструктуру материалов изучают при помощи микроскопов. Современные микроскопы могут давать увеличение в несколько тысяч раз, но в обычной практике товароведных исследований достаточно бывает увеличение в пределах 30—300 раз. При помощи специальных приспособлений к микроскопу (объект-микрохметров и окулярмикрометров) можно определять размеры изучаемых структурных элементов, зарисовывать и фотографировать их. При помощи микрохимических методов можно, наблюдая в микроскоп, изучать химический состав и взаимодействие с различными реагентами исследуемых объектов. [c.16]

Микроскоп МБС-2 снабжен собственным встроенным осветителем 1 (для бинокулярной лупы МШ можно использовать любой осветитель). На поверхность исследуемого образца бетона карандашом наносят сетку из квадратов 10x10 мм. Все квадраты нумеруют и тщательно просматривают под микроскопом. Сетка позволяет быстро отыскать нужное место. Исследуемый образец 2 помещают на столик микроскопа 3. Образцы большого размера следует ставить непосредственно на рабочий стол под объектив микроскопа. Объектив можно поднять по штативу 4, [c.18]

Интерфаза. На обычных постоянных препаратах интерфазное состояние ядра характеризуется нежной структурой. хроматина. Хромосомы в это время сильно деспирализованы и не выявляются. Ядра имеют округлую форму и гомогенную зернистую структуру. Из других компонентов ядра хорошо видны ядрышки. При использовании некоторых ядерных фиксаторов, например Бродского, и окрашивании препаратов гематоксилином можно увидеть с иммерсией под микроскопом (объектив 90Х) в ядре растительной клетки хроматиновую сеть и крупные зерна хроматина, образующие хромоцентры. [c.140]

Принцип инвертированности (перевернутости) заключается в том, что в подобных микроскопах объект наблюдения освещается сверху, наблюдается через объективы, расположенные под объектом. Это конструктивное новшество дало возможность наблюдения живых клеток в культуре, т. е. непосредственно в сосудах, где происходит процесс их роста. Микроскоп обычной оптической схемы исключал возможность тюмещения таких сосудов между столом и объективом из-за недостаточных размеров этого расстояния. [c.26]

Эффективным средством идентификации параметров и автоматизированного построения моделей пористых сред являются вычислительные комплексы, оснащенные средствами автоматического анализа изображения (ААИ). Принципиальная схема одного из таких вычислительных комплексов показана на рис. 3.3. При помощи передающего телевизионного сканирующего устройства изображение объекта может быть введено в цветном или чернобелом варианте непосредственно с плоскости наблюдения во всех ее видах, т. е., например, с фокальной плоскости окуляра оптического микроскопа, с экрана электронного микроскопа, с экрана телевизора, а также фотографических репродукций и др. Соответственно в схему ААИ может быть включен оптический микроскоп, электронный микроскоп (просвечивающий, эмиссионный или растровый), приемное телевизионное устройство, эпидиаскоп и т. п. Скорость работы современных ААИ более чем на 5 порядков превышает скорость работы человеческого глаза при значительно более высокой чувствительности (свыше 200 точек на [c.125]

Можно получать как одноступенчатые, так и двухступенчатые реплики. В первом случае реплику получают путем отложения материала непосредственно на образец, во втором — на, поверхность образца наносят пластический материал для предварительного отпечатка, воспроизводящего рельеф затем реплику сниыаюг с поверхности этого отпечатка и исследуют в микроскопе. Повышения контрастности реплики добиваются оттенением (отложение на объективе слоя материала с высокой рассеивающей способностью для электронов). Оттеняющий слой наносят под небольшим углом испарением материала в вакууме. Высокой контрастности достигаюг при использовании урана, вольфра(11а, золота, платины и других веществ. Иногда для оттенения применяют углерод. На рис. 136 дана схема двух основных способов получения углеродных реплик. На рис., 137 показана последовательность операций и возникновение изображения на экране при получении реплик с объектов, образованных контактирующими сферическими частицами. Это часто имеет место при исследовании кага лизаторов и носителей глобулярного строения [78]. [c.309]

Дальнейшее развитие средств ААИ идет по пути совершенствования эксиериментальных методов визуализации объектов исследования — применения адсорбционных индикаторов для выделения определенных элементов структуры, применения различных люминесцентных индикаторов для визуализации потоков, применения рентгеновских ионных анализаторов в качестве приставок к электронным микроскопам, позволяющих проводить высокоспецифичный анализ распределения химических элементов в структуре [17] и многих других. Одновременно быстро развиваются методы [18] и средства для оптимизации и машинной обработки изображения. Увеличение объема памяти и быстродействия вычислительных машин, примененпе систем искусственного интел.лекта способствует развитию систем распознавания динамических образов и соответственно расширению возможностей анализа быстроиротекающих процессов и построению динамических моделей объектов со сложной пространственной структурой. [c.126]

Рентгеновские лучи (а также и другие богатые энергией лучи) могут, воздействуя на соответствующие вещества, вызывать выделение видимого света (явление рентгенолюминесцснции). Так, просвечивание рентгеновскими лучами в наше время широко применяется в медицине, в технике при контроле качества металлических изделий и т. д. Поскольку сами рентгеновские лучи не видимы глазом, то, чтобы сделать изображение видимым, на пути рентгеновских лучей устанавливаются особые экраны, покрытые с поверхности химическими препаратами (фосфорами), состоящими большей частью из сульфидов цинка и кадмия с различными активирующими добавками. Эти препараты способны под действием рентгеновских лучей выделять видимый свет, и благодаря этому проекция просвечиваемого объекта на экране становится видимой глазом. В кинескопах различного рода телевизионных установок, в электронном микроскопе и др. подобное же возбуждение происходит под действием направленного электронного луча. [c.557]

Анализ мацералов. Анализ мацералов служит для выявления различий петрографических компонентов. В нем используют тот же микроскоп, который нужен для построения рефлектограммы, но без фотоумножителя. Подвижная пластина заменена интегратором, который для каждой точки смещает точку наводки на постоянную длину. Наблюдатель определяет петрографический компонент, на который наведен объектив, и фиксирует наблюдение. Простая статистическая обработка данных по нескольким сотням точек позволяет установить долевое участие каждого петрографического компонента в рассматриваемом образце угля. [c.242]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология