Отражение света рентгеновских лучей

Желтый цвет придают сульфид железа, образующийся при введении восстановителей, напр, угля (0,5— 1%), или соединения церия и титана (5—7%). Синие, сине-зеленые и зеленые стекла получают, добавляя окислы кобальта (0,08—0,1%), меди (1,3-3,5%) и хрома (0,05-0,5%). В зависимости от типа и назначения контролируется пропускание, отражение и рассеивающая способность стекол. В линзах контролируют силу света и углы рассеяния. В цветных С. с., кроме того, определяют цветовой тон и чистоту цвета. К С. с. относятся и стекла, поглощающие или пропускающие ультрафиолетовые, инфракрасные и рентгеновские лучи, а также стекла, поглощающие излучения высоких энергий (альфа-частицы, тепловые нейтроны). Поглощения излучений в различных участках электромагн. спектра добиваются введением в состав стекла окислов железа, свинца, бария, кадмия, титана, ванадия, церия. Наиболее полно пропускают ультрафиолетовые лучи фосфатные и кварцевые стекла, не содержащие окислов железа. Черные стекла для люминесцентного анализа, пропускающие ультрафиолетовые и задерживающие видимые лучи, получают окрашиванием стекла окислами никеля и кобальта. Основу стекол с границей пропускания в инфракрасной области спектра составляют окислы германия, алюминия и теллура, а также халькогениды мышьяка, селена и [c.351]

Твердые вещества классифицируют либо на основании предположений об осуществляющемся в них типе связи (например, ионные, ковалентные, металлические, вандерваальсовы кристаллы), либо по симметрии кристаллов на основании соотношений между длинами и углами между осями кристаллов (например, кубические, тетрагональные, ромбические, гексагональные, ромбоэдрические, моноклинные, триклинные). Классификация кристаллов по типу связи основана на исследовании таких свойств, как электропроводность, твердость, температура плавления и т. д., в сочетании с химическими данными об атомах, входящих в кристалл. Классификация кристаллов по симметрии основывается на изучении отражения света для определения углов между гранями или дифракции рентгеновских лучей для выяснения внутренней упорядоченности. [c.81]

Анализ формулы (5.2) указывает, что ц чрезвычайно малая величина, это свидетельствует о слабом поглощении рентгеновских лучей веществом, их высокой проникающей способности. Эта особенность, а также дифракция рентгеновских лучей на кристаллических решетках служат основой их практического использования для изучения структуры оптически непрозрачных веществ без их разрушения. Для возникновения явления дифракции необходимо, чтобы расстояние между соседними плоскостями отражения в рассеивающем кристалле было не менее половины длины волны падающего луча. (Длины волн видимого света находятся в интервале 400—700 нм, а межплоскостные расстояния в кристаллических решетках изменяются в пределах 1 нм. Вот почему для структурного анализа используют рентгеновские лучи, длина волн которых 10 — 103 нм ) [c.115]

Поверхность образца исследуют под микроскопом при освещении видимым светом Изображение поверхности получают с помощью отраженного электронного луча. Испускаемые при этом характеристические рентгеновские лучи делают возможным определение химического состава наблюдаемых участков методом так называемого микроанализа (микрозонда). Метод требует вакуума [c.150]

В том случае, когда коллоидные частицы чрезвычайно однородны по размеру и форме, они могут соединяться, образуя очень однородный регулярно упакованный агломерат, точно так же как молекулы располагаются в кристаллической решетке. В действительности получается как бы кристалл , составленный из коллоидных частиц. Однако из-за того, что размеры такой решетки оказываются слишком большими, интерференционные законы Брэгга не могут быть приложимы к рентгеновским лучам, но остаются справедливыми по отношению к видимой области света, имеюш ей длины волн во много раз больше, чем рентгеновское излучение. В результате получается, что при рассмотрении в лучах отраженного света под определенными угла.ми упорядоченные агрегаты предстают заметно окрашенными. [c.545]

При проведении количественного рентгеноспектрального анализа вещества необходимо, чтобы сила света источника рентгеновских лучей во всем используемом интервале углов отражения была неизменна и не зависела от степени однородности нанесения исследуемого вещества на анод рентгеновской трубки спектрографа. Выполнение этого очевидного требования возможно только при некотором оптимальном соотношении между размерами фокусного пятна рентгеновской трубки и отражающего кристалла спектрографа. [c.32]

Правда, непрерывная анизотропия, которая проявляется, на пример, в непрерывном изменении с направлением скорости рас пространения света, коэффициента теплопроводности или коэф фициента теплового расширения, присуща не только кристалли ческому состоянию. У некоторых веществ она спонтанно возни кает и в жидкой фазе (смектические и нематические фазы) ) Для кристаллов же характерна дискретная анизотропия, кото рая проявляется в том, что в определенных направлениях наблюдаются некоторые векторные свойства, отсутствующие в соседних направлениях. Такова анизотропия скорости роста кристалла или анизотропия коэффициента отражения рентгеновских лучей. [c.12]

При падении рентгеновских лучей на твердое тело под малым углом (около 0,5°) к поверхности наблюдается явление полного внешнего отражения (аналогичное полному внутреннему отражению света), которое, в частности, используется при создании рентгеновских микроскопов ., [c.141]

Физические свойства углей. Дан систематизированный обзор литературы по физическим свойствам углей, включающий описание методов определения кажущегося удельного веса, электропроводности, теплопроводности, теплоемкости, показателей преломления и отражения света, абсорбции и диффракции рентгеновских лучей. [c.8]

Новый метод в электронной спектроскопии, получивший существенное развитие за последнее десятилетие, отличается от обычных спектроскопических методов исследования тем, что, после облучения вещества квантами света (или рентгеновских лучей) регистрируется не их поглощение (или отражение, рассеяние и т. д.), а кинетическая энергия выбиваемых этими квантами фотоэлектронов. Вычитая эту энергию кин из величины кванта падающего света, можно получить непосредственно значение энергии ионизации из данного состояния / Ii = ЙО — н), равную энергии связи электрона в системе. Оказывается, что, увеличивая величину кванта падающего света, можно выбивать электроны из все более глубоких состояний вплоть до 15, тем самым выявляя экспериментально всевозможные одноэлектронные состояния в системе. Для этого необходимо, очевидно, облучать вещество рентгеновскими квантами. [c.273]

Важными характеристиками кристаллов являются тип решетки, т. е. характер расположения составляющих ее атомов относительно друг друга и расстояние между атомами. Такие характеристики можно получить при исследованиях с помощью рентгеновских лучей. Длины волн рентгеновских лучей приблизительно в 1000 раз меньше длин волн видимого света и по порядку величин (10 см) равны расстояниям между атомами в кристаллической решетке. Поэтому при проникновении рентгеновских лучей в такую решетку происходит явление интерференции. Луч, отраженный от одной из плоскостей кристалла, встречается с лучом, отраженным от другой параллельной первой плоскости. При определенной рознице в длинах путей этих двух лучей может произойти усиление или ослабление луЧей (интерференция)-. Соот- [c.323]

Переходим теперь к пограничным условиям для амплитуд. Эти условия существенно отличаются от тех, которые используются в электромагнитной теории света, в двух отношениях. Во-первых, ввиду ничтожного отличия показателя преломления от единицы в случае рентгеновских лучей мы можем ограничиться условием непрерывности слагающих векторов индукции. Во-вторых, по той же причине мы не учитываем зеркально-отраженной обратно в вакуум волны, что, очевидно, следует из соответствующей формулы Френеля. [c.43]

Рассеяние видимого света порошками происходит совершенно иначе, чем описано выше. Каждый раз, когда свет попадает в частицу или выходит из нее, происходит частичное отражение. Поверхности большинства частиц не перпендикулярны падающему лучу, и это приводит к рассеянию света во всех направлениях, что полностью затемняет рассеяние под малыми углами. Но поскольку рентгеновские лучи слабо отражаются от поверхностей, с ними можно наблюдать рассеяние под малыми углами. [c.456]

Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах. Известно, что свет претерпевает дифракцию при прохождении через стеклянную пластинку или при отражении от металлической пластинки, на которых выгравированы серии или решетки близко расположенных параллельных линий. Дифрагированные лучи интерферируют, образуя в случае монохроматического света пучок светлых и темных полос, называемых интерференционными полосами (от белого света получается спектр). Между постоянной решетки (расстоянием между линиями решетки) и длиной волны света % существует простая зависимость, нз которой можно вычислить одну величину, если известна другая. Чтобы происходила интерференция, постоянная решетки должна быть меньше У2. [c.112]

Теория дифракции рентгеновских лучей в кристаллах разработана В. Л. Брэггом в 1913 г. Одновременно такая теория была разработана Вульфом. Дифракцию рентгеновских лучей в кристалле формально можно рассматривать как отражение от плоскостей атомной решетки. Как и при обычном отражении света, угол падения равен углу отражения. Однако в отличие [c.112]

Задачу определения структурных амплитуд, исходя из предполагаемых координат атомов, можно решать не только расчетным методом, но и экспериментально — путем моделирования процесса дифракции. Кристалл заменяется моделью предполагаемой структуры, а рентгеновские лучи — монохроматическим пучком света. Интенсивности дифрагируемых моделью лучей соответствуют структурным факторам Р кк1) рентгеновских лучей, отраженных кристаллом. На практике приходится ограничиться двухмерными моделями, т. е, проекциями структуры. Поэтому при помоши оптического прибора получают значения / р только отражений экваториальных слоевых линий. В этом состоит ограничение данного метода. [c.133]

Отражение рентгеновских лучей от кристаллов. Явление, которое мы должны рассмотреть в этом параграфе, не только служит очень хорошей иллюстрацией расчета, который может быть произведен с помощью волновой теории света, но и представляет особую важность, что выявится в дальнейшем, поскольку оно дает наиболее мощное средство для исследования строения кристаллов. Обычный видимый свет имеет длины волн в пределах от 4000 до 7500 А (А=10 см). Они велики по сравнению с расстояниями в атоме. Как известно, рентгеновские лучи являются светом с очень малыми длинами волн в действительности, их длины волн имеют порядок атомных размеров. В результате этого оказывается, что кристаллы могут быть использованы в качестве диффракционных решеток при изучении рентгеновских лучей [c.35]

Характерным свойством кристаллов является то, что атомы в них группируются в правильные ряды и плоскости. Природа этих плоскостей из атомов (плоскостей, в которых лежат центры тяжести ряда атомов) станет более понятной из рисунков Приложения IV. Пучок рентгеновских лучей, падая на кристалл, отражается от его плоскостей точно так же, как луч света отражается от плоскости зеркала, т. е. угол отражения равен углу падения. Это происходит вследствие ослабления света, рассеиваемого под любым другим углом вследствие интерференции. Хотя здесь и не приведено доказательств этого положения, оно принято за основу некоторых дальнейших выводов. [c.36]

Использование рентгеновских лучей для исследования кристаллов. Рентгеновские лучи представляют удобное средство для изучения кристаллов . Длина волны обычного света настолько велика по сравнению с размерами атомов, что мы не имеем никакой надежды увидеть даже с помощью самого сильного микроскопа детали каких-либо объектов, даже если размеры их в несколько тысяч раз больше размеров атомов. Длины же волн рентгеновских лучей имеют порядок атомных размеров и потому они исключительно подходят для рассматривания расположения атомов в кристаллах. Отражение рентгеновских лучей от плоскостей кристаллов уже обсуждалось в 3.2, где было показано, что от любой плоскости кристалла рентгеновские лучи отражаются только в том случае, если они падают на нее под определенным углом О так, что [c.214]

Динамическая теория отражения. Для полного решения задачи необходимо принять во внимание эффект многократных отражений. Это можно сделать, составив разностные уравнения, весьма сходные с теми, которые были выведены Дарвином [27] в его динамической теории дифракции рентгеновских лучей. Для построения нашей теории мы будем считать жидкий кристалл состоящим из совокупности эквидистантных параллельных плоскостей, отстоящих одна от другой на расстояние Р. Тем самым каждая плоскость заменяет собой т Слоев, приходящихся на один виток пространственной спирали. Считаем —iQ коэффициентом отражения плоскости для нормального падения света, поляризованного по кругу вправо. Если для т слоев считать справедливым кинематическое приближение, то Q задается соотношением (4.1.23). Тогда мы простым образом можем записать разностные уравнения, поскольку, как уже отмечалось выше, поляризованные по кругу волны распространяются практически без изменения формы. Тем самым можно будет непосредственно рассчитать интерференцию многократно отражен ных волн друг с другом и с первичной волной, [c.221]

С момента появления работы де Бройля (1925) прошло всего два года, когда были опубликованы поразительные результаты опытов Дэвиссона и Джермера, в которых удалось обнаружить волновые свойства электрона. Пучок параллельно летящих электронов, направленный на поверхность монокристалла никеля, отражается под определенным углом, следуя закону отражения света, согласно которому угол падения равен углу отражения. Угол, под которым происходит особенно сильное отражение, изменяется по мере изменения скорости электронов в пучке. Это вполне естественно, так как от скорости и должна зависеть длина волны электрона (l=hlmv). Рассчитать эту длину можно по известному уравнению Брэггов для отражения рентгеновских лучей от кристалла [c.28]

С другой стороны, тесные контакты коллоидной химии со смежными дисциплинами способствовали обогащению ее экспериментальной базы. Наряду с такими классическими методами эксперимента, родившимися именно в коллоидной химии, как определение поверхностного натяжения и двухмерного давления, ультрамикроскопия, центрифугирование, диализ и ультрафильтрацня, наблюдение разнообразных электрокинетичеоких явлений в дисперсных системах, дисперсионный анализ и порометрия, многочисленные прецизионные адсорбционные методы, изучение рассеяния света (опалесценции) и т. п., в разных разделах коллоидной химии нашли эффективное применение всевозможные спектральные методы ЯМР, ЭПР, УФ- и ИК-спектроскопия, гашение люминесценции, многократно нарушенное полное внутреннее отражение, эллипсометрия (с широким использованием лазерной техники), малоугловое рассеяние рентгеновских лучей и другие рентгеновские методы, радиоактивные изотопы, все виды электронной микроскопии. Большие перспективы открывает привлечение современных физических методов исследования поверхностей с использованием медленных электронов, масс-спектроскопии вторичных ионов и т. п. [c.9]

Эллипсомегрия Поверхность образца освещают плоскополяризован-ным светом. Параметры эллиптической поляризации отраженного света зависят от толщины поверхностного слоя. Метод применим и к образцам, находящимся в жидкости Дифракция Монохроматический рентгеновский луч проходит рентгеновских через образец. Образующаяся дифракционная [c.151]

Результаты экспериментов по исследованию структуры детонации (например, экспериментов, описанных в работе [ ], в которых при изучении детонации в смесях, содержащих 70% Н2и30% О2 с добавкой Хе, применялся метод поглощения рентгеновских лучей, а также экспериментов, описанных в работе [ 1, в которой использовался метод отражения света) находятся в качественном согласии с моделью детонационной волны ЗНД. Большая часть расчетов структуры детонационной волны, использующих данные о скоростях реакций, которые, как полагают, соответствуют реальным горючим смесям, приводит к результатам, также хорошо согласующимся с моделью ЗНД. Наибольшее расхождение, о котором сообщалось в работе [2 ], относится к расчету детонационной волны, в которой протекает реакция разложения озона структура волны в этом случае описывается кривой типа кривой (1 на рис. 3 и 4. Однако ожидается, что использование полученных в последнее время улучшенных данных по скорости реакции разложения озона приведет к лучшему согласию с моделью ЗНД [2 ]. [c.208]

Когда пучок рентгеновских лучей попадает на поверхность кристалла, кванты рентгеновского излучения взаимодействуют (поглощаются и испускаются) с и L-электропами атомов. (Здесь предполагается некоторое знакомство с материалом, систематически изложенным в гл. IV и V). Подчеркнем, что интерференция связана не со свойствами внешних электронов, от которых зависят химические свойства изучаемых атомов, а с Z- и -электронами, расположенными во внутренних оболочках атомов. Другими словами, такое облучение не изменяет никаких свойств атомов, которые влияют на их химическое поведение. Некоторые кванты излучения проникнут в глубь кристалла и отразятся электронами атомов, расположенных во внутренних слоях решетки. Поэтому в отраженном луче окажутся волны, различающиеся по фазе, что приведет к интерференции отраженных волн. В этом и состоит отличие отражения рентгеновских лучей от отражения видимого света, происходящего только на внешней поверхности кристалла. Как и в картине, данной Гюйгенсом, каждый атом в кристалле можно принять за новый источник излучения, испускающий свет по всем паправлениям. Поэтому должны существовать паправлепия, по которым интерференции не иро-псходит. [c.26]

При рассмотрении вопроса об отражении рентгеновских лучей от поверхности кристаллов (стр. 26) предполагалось, что длины волн отраженных лучей совпадают с исходными. Однако Комитон [32], изучая рассеяние рентгеновских лучей твердыми телами, нашел, что в отраженном луче появляется излучение с длинами воли, большими чем в падающем пучке. Это явление, необъяснимое с точки зрения волновой теории света, было вскоре объяснено самим Комптоном с помощью квантовой теории. Поскольку энергия кванта рентгеновского излучения (/гv) очень велика по сравнению с энергией связи электрона в рассеивающем твердом теле, эффект Комптона обычно рассматривается как явление соударения падающих фотонов и свободных электронов. Электрон, рассеивающий рентгеновское излучение, получает энергию отдачи , достаточную для его вылета из твердого тела. [c.126]

В 1912 г. Лауэ доказал, что рентгеновские лучи аналогич ны по своей природе лучам света, но отличаются от последних значительно меньшей (примерно в 10000 раз) длиной волны. Длины волн рентгеновских лучей оказались одного порядка с межатомными расстояниями в кристаллах. В том же году В. Л. Брегг и несколько нозже Г. В. Вульф вывели формулу, связывающую межнлоско-стные расстояния в кристаллах й с длиной волны рентгеновских лучей А- И углами скольжения 0. Одновременно В. Г. Брегг И В. Л. Брегг определили экспериментально величины й для разных кристаллов. Схема опыта Бреггов показана на рис. 136, где 8 — источник рентгеновских лучей, К — испытуемый кристалл, 0 — угол скольжения (дополнительный до 90° к углу падения), I — ионизационная камера. Кристалл монтирован на оси, перпендикулярной к плоскости чертежа. Поворотами около этой оси можно изменять углы падения рентгеновских лучей на кристалл. Вокруг оси может вращаться и камера 7, с помощью которой улавливается отраженный луч. [c.106]

НОИ рентгенограмме у них доминируют полярные отражения при 5,1—5,3 и 1,5 А и диффузная экваториальная полоса около 10 А. Изучение ИК-спектров ориентированных образцов в поляризованном свете покаа ывает, что Н-связи более или менее параллельны направлению ориентации — обычно оси волокна или направлению прокатки пленки. В Р-форме эти вещества не растягиваются, Н-связи обычно направлены перпендикулярно ориентирующей силе, и на дифракционной рентгенограмме главные отражения находятся у 4,6 и 10 Л по экватору и полярное— около 7 Л. Детальная картина дифракции рентгеновских лучей, образуемая каждой данной формой, не строго одинакова и зависит от вида пептидной цепи, а в особенности от кристалличности объекта. Этот вопрос хорошо изложен в нескольких обзорных работах последних лет [2231, 1930, 122]. При интерпретации рентгенограмм известную пользу может принести глава, написанная Хаппи в сборнике Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических материалах [871. [c.263]

Возможность применения метода дифракции медленных электронов (ДМЭ) для изучения поверхностных явлений связана с малой проникающей способностью электронов при энергиях от нескольких электронвольт до сотен электронвольт и с тем фактом, что длина электронной волны (150/В) /2 оказалась подходящей для дифракции на кристаллических решетках твердых веществ. Показано, что для электронов с энергиями не выше 250—300 эВ заметный вклад в образование дифракционной картины вносят только два и.ти три верхних слоя атомов поверхности, причем основной вклад приходится на первый монослой. Из-за малой проникающей способности электронов дифракционная картина по многим характеристикам больше похожа на картину дифракции света от двумерной решетки, чем на дифракцию рентгеновских лучей от трехмерной решетки криста.тлов. Чтобы оценить эти различия, целесообразно сравнить дифракционные картины рентгеновских лучей и ДМЭ. Для получения лауэграмм используют узкий пучок белого рентгеновского излучения, перпендикулярно падающий на монокристалл. От непрозрачного кристалла и рентгеновские лучи и медленные электроны отражаются и появляются с той же стороны криста.тла, откуда падает исходный пучок. Серии брэгговских отражений от разных рядов плоскостей в кристалле образуют дифракционную картину. Эти отражения можно получить в виде маленьких точек на фотопленке, помещенной на расстоянии неско.тьких сантиметров от кристалла нернендикулярно падающему лучу. Каждая точка соответствует брэгговскому отражению от одного ряда атомных плоскостей при одной д.тине во.тны. При несколько отличной длине волны эти плоскости не дадут отражения. Разные наборы плоскостей удовлетворяют уравнению Брэгга при различных длинах волн. Именно поэтому падающий пучок должен состоять из волн разной длины и представлять белое излучение. При применении ДМЭ благодаря преобладающему эффекту двумерной решетки [c.263]

Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными (не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения , диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные тины рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [c.56]

Электроны как причина рассеяпяя рентгеновских лучей ионные решетки. Установленная Брэггом зависимость (см. стр. 236) интенсивности рентгеновских лучей, отраженных от плоскостей сетки, занятой одинаковыми атомами, выражающаяся в пропорциональности квадрату их атомного веса, имеет силу только для небольших углов отблеска, да и то лишь приближенно. Эта зависимость находится также в противоречии с установленной ранее Баркла закономерностью, в соответствии с которой интенсивность испускаемого каким-нибудь веществом рентгеновского излучения прямо пропорциональна атомному весу. Это противоречие было устранено Дебаем (1918), показавшим, что дифракция рентгеновских лучей при прохождении их через кристаллы или при отражении от плоскостей решетки кристаллов основана — совершенно так же, как и преломление или отражение обычного света,— на том, что свет, как видимый, так и рентгеновский, попадая на очень мелкую частичку, испытывает рассеяние. При этом такая частичка, на которую падает свет, ведет себя как точка, обладающая собственным свечением, от которой исходит сферическая световая волна. Поэтому ясно, что отражение рентгеновских лучей от-какой-нибудь заполненной определенным количеством материальных точек плоскости решетки будет тем сильнее, чем значительнее рассеивающая способность отдельных частичек. Дебай, опираясь на принципы классической электродинамики, установил, что интенсивность рассеяния, а вместе с тем, следовательно, и отражения рентгеновских лучей должна быть пропорциональна количеству рассеивающих электронов. Именно электроны и обусловливают в действительности рассеяние рентгеновских лучей. Поэтому распределение интенсивностей рассеянного излучения и дает нам непосредственную меру количества и расположения электронов. Но так как в нейтральных атомах число электронов равно порядковому номеру и так как ему же приблизительно пропорционален и атомный вес , то отсюда и следует в общем случае приблизительная пропорциональность между интенсивностью рассеянного излучения и атомным весом, т. е., другими словами, справедливость закона Баркла. Однако, как прказал Дебай, для малых углов отблеска, согласно теории, получается пропорциональность интенсивности квадрату количества электронов, что подтверждает и приближенный закон Брэгга. [c.241]

Вскоре автор приступил к подготовке улучшенного издания. Новый текст опирался на ценные данные рентгеноструктурных исследований. Из него были исключены главы учебного характера, посвященные введению в кристаллооптическую методику, явлениям дифракции рентгеновских лучей и равновесиям плавкости в сухих системах. Читая в Берлинском университете лекции по технологии силикатов в строгом соответствии с классическим курсом Ф. Хабера, автор приобрел большой опыт и смог выделить все наиболее существенное в области исследований силикатов методами физической химии. Поэтому второе издание этой книги, без изменений выпущенное в свет в США в 1943 г., заключало много новых и важных положений кристалло-химичес-кой теории В. М. Гольдшмидта. Кроме того, в ней нашли отражение новейшие достижения в области твердофазовых реакций и физико-химических исследований стекла и гидравлических цементов. Неамотря на перерыв в получении важного материала в период между 194)1 и 1945 гг., рукопись третьего немецкого издания с многочисленными добавлениями и исправле-НИЯ1МИ была закончена весной 1945 г. [c.7]

Изучение поверхности Рс1 с адсорбированным на нем ДМАБ осуществленное с использованием метода многократного нарушенного полного внутреннего отражения в инфракрасной области и метода лазерной спектроскопии комбинационного рассеяния света, не выявили частиц с В—Н-связью (vв-н = 1800— 2000 см ). Вместе с тем, исследования рентгеновскими методами при соблюдении приемов, обеспечивающих максимальный поток рентгеновских лучей, выявили в дифракционной картине несколько слабых максимумов между 3,5 и 7,5 А, т. е. в области наибольшей интенсивности дифракции как для ромбоэдрического, так и для тетрагонального бора. Это дает основание предположить, что на поверхности Рс1 присутствует, по меньшей мере, одна из модификаций элементарного бора. Учитывая, что восстановленный с помощью ДМАБ металл всегда содержит бор, следует предположить общность механизма разложения АБ в обоих случаях (в растворах ДМАБ и растворах химического никелирования). [c.159]

Ближний порядок в кристалле заставляет рентгеновские лучи отклоняться при отражении, например, в установке, по геометрии подобной камере Дебая — Шерера, всего на несколько градусов от оси пучка. Таким малоугловым рассеянием пользуются для изучения мелких включений (- 10 см) в кристаллах, малых медленно меняющихся деформаций и упорядочения в жидкостях и стеклах. Малоугловое рассеяние успешно используют [20—23] для псследования кластерообразования в жидкостях при температурах, близких к температуре затвердевания, и изучения структуры растворов. Для изучения флуктуаций с амплитудами больше 10 см прибегают к рассеянию света, тогда как малоугловое рассеяние рентгеновских лучей позволяет исследовать более слабые флуктуации. Оно особенно ценно при изучении упорядочения в жидкостях, стеклах и растворах. Хотя к малоугловому рассеянию почти не прибегают для определения кристалличности, этот способ удобен для выявления начальной стадии кристаллизации (расстекловывания) в аморфных веществах. [c.24]

Диффракционная формула (35) может быть получена путем следующих простых рассуждений, причем мы для простоты ограничимся отражением от первых двух слоев кристалла. На самом деле рентгеновские лучи проникают значительно глубже, но это не изменяет вида зависимости (35). Пусть плоская волна АС (рис. 58) с длиной волны X падает под углом ср на плоскэсть кристалла КК и отражается от нее по 8В под тем же углом (так как угол падения равен углу отражения). Когда луч СТ дойдет до плоскости кристалла то луч не успеет еще дойти до плоскости КК, как это видно из чертежа. Поэтому луч СТ будет опережать луч А5, оба они будут друг с другом интерферировать, и в направлении 8В мы будем наблюдать то темноту, то свет в зависимости от разности хода. Как известно из оптики, максимум света будет тогда, когда разность хода равна целому числу волн, т. е. когда , [c.193]

Сопоставляя результаты кинематического и динамического рассмотрения рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах, исследователи в период времени между двумя войнами сводят различия между ними к двум пунктам в направлениях и угловой ширине дифрагированных пучков и в величинах интегрального отражения. Что касается геометрии интерференции, то в течение указанного периода было выполнено значительное число работ, посвященных отклонению от формулы Вульфа — Брэгга измерениям коэффициента преломления методами, перенесенными из оптики видимого света определению универсальных констант, таких, как заряд электрона абсолютному определению длин волн и других величин. Эти исследования, выполненные Парратом, Бирдином, Бергеном и Дэвисом, Ларссоном, Бэклином, Стен-стремом, Реннингером и другими авторами, показали с полной убедительностью справедливость формул динамической теории. Вместе с тем полученные результаты имели во многих случаях скорее качественный, чем количественный характер [14]. [c.10]

Хотя рентгеновские лучи невозможно сфокусировать методами, пригодными для фокусировки света и электрогюв, это не значит, что их вообще невозможно сфокусировать. Для фокусировки рентгеновских лучей пользуются малым углом полного внутреннего (направленного) отражения этих луче11 от твердых тел, покрытых металлом. Это позволяет полностью использовать все рентгеновские лучи, выходящие из трубки, и в то же время является основным преимуществом такого метода перед всеми остальными. На основании этого принципа Франк сконструировал исключительно удачную камеру для быстрого рентгенографического изучения больших периодов в полимерах [181 (схематически камера показана на рис. 113, в). Недостатки этого метода связаны с требованием высокой точности выполнения конструкции, с необходимостью точечного источника рентгеновских лучей (во всяком случае, источник должен быть максимально близок к точечному) и устойчивостью положения источника лучей и камеры, а также с некоторым искажением картины рассеяния, обусловленным формой пучка. Камера и источник рентгеновских лучей доступны и выпускаются серийно 19а]. [c.191]

Непременным условием, определяющим возможность проведения с достаточной точностью количественного рентгеноспектрального анализа веществ, является неизменность силы света источника рентгеновскихлучейвовсем используемом интервале углов отражения и ее независимость от степени однородности нанесения пробы на анод рентгеновской трубки спектрографа. При работе с современными рентгеновскими светосильными спектрографами с изогнутым кристаллом выполнение этого очевидного требования возможно только при некоторых оптимальных соотношениях между размерами фокусного пятна рентгеновской трубки и отражающего кристалла [102]. В приборах, работающих на отражение с точечным источником рентгеновских лучей, расположенным на окружности изображения, условие постоянства силы света источника для каждой из спектральных линий выполняется автоматически. [c.133]

Однако по некоторым причинам и главным образом для повышения общей мощности рентгеновских лучей, попадающих в прибор (при постоянной удельной нагрузке анода), используются спектрографы с фокусом конечных размеров, который располагается внутри окружносги изображения. Такой протяженный анод эквивалентен мнимому точечному источнику повышенной светосилы, расположенному на окружности изображения. При таком расположении анода упомянутое условие тождественности силы света источника для каждой из спектральных линий будет выполняться лишь в том случае, если в пределах выбранного интервала углов отражения будет оставаться постоянной величина [c.133]