Зеркальный микроскоп

Зеркальный электронный микроскоп. Изображение в микроскопе создается зеркалом , состоящим из анода, иммерсионной линзы и объекта (под потенциалом катода). Пучок электронов, идущий от анода, рассеивается поверхностью зеркала в зависимости от отражательной способности разных ее участков. Рассеивание электронов происходит вблизи поверхности образца, несущей контактную разность потенциалов. Контактные разности потенциалов обусловлены неоднородностью состава и рельефа образца,, поэтому видимое изображение на экране картины рассеянных электронов отображает строение поверхности. Разрешение зеркального микроскопа является функцией напряжения поля у поверхности образца и составляет около 100 нм. Так, зеркальный микроскоп JEM-M1 (Япония) имеет разрешение 100 нм при увеличении 1000. Микро- [c.155]

Темнопольная микроскопия осуществляется, в темном поле микроскопа при косом освещении — эти приемы позволяют увеличить контраст изображения вследствие образования видимой тени (свет от излучателя падает на плоскость объекта под таким углом, что его зеркальное отражение не попадает в объектив и поле зрения выглядит темным). В темпом поле можно качественно отметить неровности (сту/тени, сколы и т. д.) на поверхности объекта высотой до 1 —1,5 нм. В темном поле повышается и разрешающая способность микроскопа. [c.122]

Принцип работы микроскопа основан на разделении светового луча на два (и более) с последующим схождением их в один после прохождения одной ветвью объекта. Разделение и восстановление интерферирующих световых пучков может производиться с помощью зеркальной системы оптическим или дифракционным методом. [c.123]

Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия (рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. Эти методы дают информацию о микроструктуре поверхности твердых электродов, о химическом составе поверхностного слоя, изменение которого могло произойти в результате необратимой адсорбции тех или иных компонентов раствора, о составе и структуре возникших на поверхности окисных пленок. Однако для изучения обратимых адсорбционных явлений на электродах эти методы не подходят. [c.80]

В дополнение к термическому анализу часто проводят микроскопическое исследование. Суть этого метода состоит в том, что механическим шлифованием и полированием готовится зеркальная поверхность образца, которая изучается под микроскопом после обработки травителем. Травитель выбирается так, чтобы он растворял преимущественно только один компонент сплава. Выявленная таким образом структура сплава имеет определенный вид для каждого взаимодействия металлов между собой. [c.277]

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, способ увеличения изображений микрообъектов с помощью пучка ускоренных электронов. Различают Э. м. просвечивающую, растровую, эмиссионную, отражательную, зеркальную, теневую и др. Наиб, распространены первые два метода. [c.700]

Если вырезать кусочек образовавшегося металла, отшлифовать и отполировать его поверхность до зеркальной гладкости, затем подвергнуть ее легкому травлению, на поверхности обнаружится как бы узор. Рассматривая его в микроскоп, можно сделать выводы о ходе роста кристаллов во время отложения. Полученный таким путем образец называется металлографическим шлифом. [c.77]

Изучение рельефа поверхностей разрыва твердых тел, в том числе твердых полимеров (кристаллических и аморфных), а также наблюдение роста трещин в нагруженном материале методами микроскопии и другими приводит к выводу, что во всех твердых телах трещины растут при напряжениях растяжения, значительно меньших обычно наблюдаемого предела прочности. Мюллер , по-видимому, первый обнаружил, что у стекол наблюдаются две стадии разрыва. Первая стадия связана с медленным ростом первичной трещины, приводящей к образованию зеркальной поверхности разрыва вторая—с прорастанием первичной и вторичных трещин со скоростью, близкой к скорости звука, с образованием шероховатой зоны. На первой стадии скорость роста трещины зависит от напряжения (рис. 8), температуры и среды, в которой находится образец. При температуре жидкого воздуха зеркальная часть на поверхности разрыва практически отсутствует, разрыв сразу принимает катастрофический характер, а временная зависимость прочности практически не наблюдается. [c.27]

Микроскопия в темном поле зрения. Этот вариант микроскопии проводится с использованием специального приспособления темного поля (микроскоп с таким устройством еще называют ультрамикроскопом). При боковом освещении в темном поле зрения наблюдают живые объекты величиной 0,02 — 0,06 мкм. Чтобы получить яркое боковое освещение, обычный конденсор заменяют на параболоид-конденсор, в котором центральная часть линз непрозрачна, а боковая поверхность конденсора зеркальная. Такой конденсор задерживает центральные лучи, образуя темное поле [c.8]

Локальное распределение электрических и магнитных полей на поверхности твердых тел исследуется с помощью зеркальных электронных микроскопов [285—287]. [c.98]

Л —с отсчетом при помощи микроскопа —с зеркальным отсчетом. [c.206]

Доменную структуру поверхностного слоя и пленок сегнетоэлектрических оксидов изучали методами ПЭМ и РЭМ, а также в зеркальном электронном микроскопе. Были обнаружены различные типы сегнетоэлектрических доменов, исследована тонкая структура доменных границ, установлены ориентации векторов спонтанной поляризации. Обзор результатов этих исследований приведен в монографии [7]. [c.241]

Абсолютно черных тел в природе не бывает, однако ученые смогли довольно близко подойти к этому пределу. Пока лучший результат получил американский химик К. Джонсон, который путем особой обработки никелевою сплава получил пластинку, имеющую густой черный цвет. Под электронным микроскопом было видно, что ее поверхность вся испещрена углублениями, в которых почти весь свет в результате нескольких отражений поглощается. Для этой пластинки е = 0,995. Вместе с тем идеально зеркальное ( абсолютно белое ) тело вообще не должно ни поглощать, ни излучать электромагнитные волны, в том числе и тепловые. [c.156]

Р Э М М А. Растровый электронный микроскоп и микроанализатор позволяет фотографировать изображения поверхности объекта с экрана кинескопа и спетового микроскопа проводить визуальный осмотр исследуемого участка с помощью зеркального,микроскопа и на основании визуального осмотра выбирать место проведения локального анализа химического состава исследуемого веще-С1ва выполнять локальный анализ химического состава исследуемого вещества и определять процентное содержание последнего. [c.153]

Зеркальный микроскоп имеет ряд преимуществ по сравнению с обычными зеркальными приборами, применяющимися при микро-снектрофотометрии, поскольку он может быть использован при свете любой длины волны [54, 55]. [c.124]

Принципы количественной цитофотометрии могут быть использованы и при облучении объекта ультрафиолетом. В этом случае применяется кварцевый или зеркальный микроскоп. Если но поглощению ультрафиолетовых лучей определяют количество пуклеиновых кислот в данном участке клетки, то предварительного окрашивания пробы не проводят. [c.124]

Для измерения применяют статический компенсационный метод давление диссоциации в закрытой системе, состоящей из диссоциирующего вещества и газов, уравновешивают внешним давлением воздуха, определяемым в измерительной части прибора. Состояние уравновешенности определяют с помощью нуль-инструмента, которым служит /-образная капиллярная трубка, заполненная ртутью. Нуль-инструмент служит одновременно гидравлическим затвором для реактора. Основные части измерительной установки (рис. V. 2) реактор с нуль-инструментом и отводом для заполнения нуль-инструмента ртутью закрытый ртутный манометр с зеркальной шкалой и не показанные на рис. V. 2 катетометр или зрительная труба (микроскоп МИР-10). [c.71]

При кристаллизации из раствора соединения ЫаЫН4С4Н405 два его оптических изомера образуют кристаллы двух типов, представляющие собой зеркальное изображение. В 1848 г. Луи Пастер впервые разделил эту рацемическую смесь под микроскопом ему удалось С1т0брать кристаллы одного изомера. [c.384]

Электронные микроскопы бывают просвечивающие, отражательные, эмиссионные, зеркальные, растровые, теневые, автоэлектрон-ные, эмиссионные. Они отличаются друг от друга источниками свободных электронов, характером взаимодействия электронного пучка с веществом, методами регистрации дифрагированных электронов. [c.131]

Методика приготовления образцов. Образцы для приготовления иикрошлифов выбирают из той части слитка, которая представляет в данном исследовании наибольший интерес. Изготовление микрошлифа проводится в определенной последовательности. Шлифовкой выравнивают поверхность среза или излома. Эту операцию производят на абразивных кругах или шлифовальной бумаге с последовательно уменьшаюш,ейся зернистостью. При переходе от более грубой бумаги к более тонкой шлиф очищают каждый раз от наждачной пыли и поворачивают на 90 . Затем шлифуют на очередном номере наждачной бумаги до тех пор, пока не сотрутся следы предыдущей обработки. Обычно шлифовку проводят на 4—5 номерах шлифовальной бумаги. После тонкой шлифовки образец очищают от пыли, промывают и проводят механическую полировку (возможна также химическая или электролитическая полировка). Полировка также может быть осуществлена на специальном полировальном станке или вручную. Для этого на стекло кладут кусок фетра или диск станка обтягивают фетром (сукном), который смачивают полировальной жидкостью. Последняя представляет собой мелкодисперсные взвеси в воде одного из окислов А12О,,, СггОд, РеаО..) и т. п. При полировке не следует сильно нажимать на образец. Заканчивают полировать тогда, когда поверхность образца становится зеркальной, а под микроскопом не видны риски отшлифовки. После полировки шлиф промывают водой, обезжиривают спиртом, эфиром или ацетоном и высушивают. [c.50]

По методу реплик o6pa3eii полимера охлаждают до температуры ниже температурЕч хрупкости (глава IX) и подвергают деформации скола. С зеркальной поверхности разрун1енного обрапца приготовляют реплику, т, е. напыляют на поверхность уголь или кварц. Толшина напыленного слоя образца составляет несколько десятков ангстрем. Этот слой при рассмотрении в электронном микроскопе является оптически пустым. Для лучшего выявления рельефа на слой угля напыляют какой-либо металл (хром или платину). Затем полимер растворяют и исследуют напыленную пленку (реплику), которая сохраняет Структуру полимера. [c.119]

В случае рацемической натрийаммоиневой соли винной кислоты энантиомеры при температуре ниже 27° (здесь температура очень важна) кристаллизуются раздельно в одном кристалле собтфаются (+)-изомеры, а в другом (-)-изомеры. Такие кристаллы отличаются друг от друга зеркальностью формы, и их можно разделить с помощью пинцета и микроскопа. Именно таким путем Л. Иастер в 1848 г. впервые доказал, что рацемическая вниная кислота в действительности представляет собой смесь (+)- и (-)-изомеров. [c.667]

И в этом случае вы получите сульфид свинца - так в чем же разница Во втором опыте реакция вдет медленно, и осадок выпадает не сразу. Если вы наблюдали за раствором, то заметили, что сначала он помутнел и стал почти как молоко, а лишь потом потемнел - это промежуточные соединения, разлагаясь, образовали черный сульфвд свинца. И он оседает на стекле в ввде тонкой черной пленки, которая состоит из очень маленьких, различимых только под микроскопом кристаллов. Поэтому пленка кажется очень гладкой, почти зеркальной. [c.158]

В [158—160] параметрическим методом решеточной статики моделировалась атомная структура зернограничной области AI2O5 (типа 0001 и [ЮТи), где л = 0,1,4). Энергия системы оценивалась как сумма кулоновского межионного взаимодействия и репульсив-ного вклада, обусловленного перекрыванием ионных оболочек. Рассмотрено несколько возможных конфигураций структур зернограничной области двух основных типов, формирующихся как дефекты слоевых упаковок или зеркальных структур, рис. 6.17. Несмотря на приближенный метод расчета (использование различных форм потенциала приводит, например, к вариации получаемых значений энергии границы зерна перпендикулярно <0001> направлению в интервале 0,3—0,9 Дж/м [9]) авторы [160] отмечают неплохое согласие получаемого вида релаксированных атомных структур данным электронной микроскопии высокого разрешения [158, 159]. [c.144]

В случае рацемической натрийаммониевой соли винной кис-цоты энантиомеры при температуре ниже 27 С (здесь темпера-а очень важна) кристаллизируются раздельно в одном крис-[е собираются (+)-изомеры, а в другом — (-)-изомеры Такие исталлы отличаются друг от друга зеркальностью формы, и их о разделить с помощью пинцета и микроскопа Именно та-путем Л Пастер в 1848 г впервые доказал, чго рацемическая кислота в действигельности представтает собой смесь (+>--)-изомеров [c.61]

В настоящем разделе приводятся результаты исследования методами ИК-спектроскопии, фотолюминесценции (ФЛ), электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и трансмиссионной электронной микроскопии (ТЭМ) синтетических монокристаллов алмаза. От- бирались полногранные кристаллы с зеркально гладкой поверхностью, достаточно прозрачные, что позволяло проводить исследования спектров поглощения. Кристаллы содержали небольшое коли- [c.427]

Ми, poll TOip 4 ровы ие кгпехь. Для определения тонкости распыла рекомендуется применять комбинированную микрофотоустановку, оптическая схема которой приведена на рис. 94. Установка состоит из микроскопа с 40—60-кратным увеличением (например, типа МА или М-9), фотокамеры типа Зенит-С (зеркальная применяется без объектива) и специального осветительного устройства. Осветительное устройство микрофотоустановки вклю- [c.198]

ЭЛЕКТРОННОЗОНДОВЫЕ МЕТОДЫ, физические методы исследования и локального анализа тв. тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). После взаимод. электронного зонда с в-вом можно регистрировать 1) электронные сигналы, т. е. электроны, прошедшие через образец (в методах просвечивающей электронной микроскопии, микродифракции электронов, спектроскопии, характеристич. потерь энергий электронов и др.), отраженные электроны (в электронографии на отражение, методе дифракции медленных электронов, зеркальной электронной микроскопии и др.), вторичные электроны, в т. ч. Оже-электроны (в методах электронной Оже-спектроскопии, растровой электронной микроскопии) 2) электрич. сигналы — ток в образце (поглощенные электроны), наведенный ток и наведенную эдс в полупроводниках 3) электромагн. излучение — рентгеновское (в методах рентгеноспектрального микроанализа, спектроскопии пороговых потенциалов), катодолюминесценцпю (в катодолюминесцентном микроанализе). Наиб, распространены рентгеноспектральный [c.700]

Далеко не всегда исследователь р асполагает достаточно большим образцом изучаемого твердого материала и достаточным объемом жидкости, необходимыми для измерения краевого угла по методу наклоняющейся пластинки. В таких случаях для определения краевых углов, как правило, используют каплю жидкости или газовый пузырек (рис. УИ-4). Зисман и др. [31] рассматривают каплю, сидящую на поверхности образца, под горизонтальным микроскопом с гониометрической шкалой, позволяющей непосредственно измерять краевой угол. Лежа и Полинг [32] сажают каплю или пузырек на отражающую (зеркальную) поверхность и фотографируют их под небольшим углом. При этом угол встречи прямого и отраженного изображения равен удвоенному краевому углу. Оттевил [33] разработал метод прижатого пузырька , в котором пузырек, контактирующий с твердой иоверхностью, формиру- [c.275]

Зеркальный электронный микроскоп является чувствительным индикатором распределения по поверхности микрополей, обусловленных микротопографией и контактной разностью потенциалов. [c.229]

Метод напьшения золота (и других тяжелых металлов) на поверхности различных веществ в вакууме используется для изучения этих поверхностей. Например, если в высоком вакууме расколоть кристалл хлорида натрия, то зеркальная поверхность скола будет выглядеть абсолютно гладкой даже под электронным микроскопом. Но стоит осадить на этой поверхности пары золота, как мельчайшие кристаллики металла, выросшие на микроскопических дефектах поверхности-гранях, сколах, сделают контрастными, отчетливо заметными под микроскопом тончайшие детали рельефа. Такой метод исследования поверхностей, позволяющий обнаружить неоднородности на атомном уровне, называется декорированием (рис. 3). [c.12]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология