Фотография в электронной

Рис. 98. Фотографии частиц сажи в электронном микроскопе.

Этот рисунок можно интерпретировать следующим образом. Допустим, что в какой-то момент времени нам удалось сфотографировать положение электрона в трехмерном пространстве вокруг ядра, и на фотографии это отразится в виде точки. Повторим такое определение тысячи раз. Новые фотографии, сделанные через малые промежутки времени, обнаружат электрон все в новых положениях. Множество таких фотографий при наложении образуют картину, напоминающую облако. Очевидно, облако окажется наиболее плотным там, где наибольшее число точек, т. е. в областях наиболее вероятного нахождения электрона. [c.12]

Позитрон был открыт в 1933 г. Андерсоном при изучении фотографий следа движения частиц в камере Вильсона. Он заметил частицу, которая вела себя в присутствии магнитного поля как частица, обладающая массой и величиной заряда электрона, но направление кривизны ее полета соответствовало положительно заряженной частице. Затем было найдено, что положительный электрон, или позитрон — обычная частица в распаде искусственно полученных радиоизотопов. Хотя поведение позитрона при распаде во многом аналогично поведению электрона, он существует только ограниченное время. После испускания в результате столкновений он замедляется и в конечном счете аннигилирует с электроном. Это приводит к появлению двух гамма-квантов, каждый из которых имеет энергию 0,511 /Иэв — энергию, эквивалентную массе покоя электрона. [c.401]

На рис. 7.3 помещена фотография электронно-оптического преобразователя ЗИС-1. [c.193]

Для улучшения качества изображения образцов, имеющих более выраженную симметрию, подобных кристаллитам или спиральным молекулам, обычно применяют метод фурье-преобразования (гл. 13). В том случае, если симметрия проявляется на большой части изображения, более удобным способом улучшения качества изображения по сравнению с численным методом является фурье-фильтрация изображения с применением оптической дифракции (рис. 10.5, А). Фотография электронно-микроскопического изображения используется как решетка для получения дифракционной картины, которая может быть вновь преобразована в изображение. Если исходное изображение обладает двумерной трансляционной периодичностью, то дифракционная картина представляет собой регулярную систему рефлексов (рис. 10.5, В). В этом случае перед дифракционной картиной [c.184]

Структура изопористой мембраны (фотография получена с помощью сканирующего электронного микроскопа). [c.57]

Электронное облако. В качестве модели состояния электрона в атоме принято представление об электронном облаке, которое можно интерпретировать следующим образом. Допустим, что в какой-то момент времени удалось сфотографировать положение электрона в пространстве вокруг ядра. На фотографии это отразится в виде точки. Если повторить такое определение через малые промежутки времени много раз, то фотографии отразят электрон все в новых положениях. При наложении этих фотографий образуется картина, напоминающая облако (рис. 5). Облако окажется наиболее плотным там, где наиболее вероятно нахождение электрона. Облако окажется тем меньше по размеру и плотнее по распределению заряда, чем прочнее электрон связан с ядром. [c.19]

Для повышения контрастности изображения в электронном микроскопе пользуются оттенением объекта, сущность которого состоит в том, что на исследуемый прозрачный препарат или его отпечаток в вакууме под острым углом напыляется тонкий слой металла с большим атомным номером (например, хром, золото, уран и т. д.). Напыленный слой металла распределяется на поверхности препарата неравномерно возвышенные места поверхности покрываются больше, чем трещины. В результате иа фотографии получается более отчетливая черно-белая картина объекта. [c.134]

Селен применяется главным образом в полупроводниковой технике (изготовление выпрямителей переменного тока и др.). Он ис-пользуется в стекольной промышленности для получения стекла рубинового цвета, при вулканизации каучука, в фотографии и при изготовлении некоторых оптических и сигнальных приборов. Последнее применение основано на том, что проводимость селена сильно возрастает с увеличением интенсивности его освещения. По своей электронной характеристике селеновый фотоэлемент довольно близок к человеческому глазу, но гораздо чувствительнее. Этим свойством в некоторой степени обладает и теллур, проводимость которого резко возрастает при высоких давлениях. [c.336]

С помощью электронного микроскопа можно очень точно определить размеры коллоидных частиц, так как увеличение, с которым сделаны электронномикроскопические фотографии, всегда известно. [c.47]

Атом гелия имеет сферическую симметрию, поэтому не имеет дипольного момента. Однако такое представление основано на усреднении во времени. Если снять мгновенную фотографию атома гелия, то будет видно несимметричное распределение электронов вокруг ядра в данный момент. Следовательно, должен быть мгновенный диполь. Такой диполь вызовет также мгновенный диполь в другом атоме, что может привести к синхронному полю во всей системе. От этого произойдет уменьшение энергии системы, но взаимодействие будет очень слабым. [c.185]

Электронные облака для й- и /-состояний имеют более сложную форму (рис. 20). Фотография получена съемкой движущихся механических моделей, имитирующих распределение электронных облаков и дающих, может быть приближенно, представление о их форме. [c.35]

На фотографии рис. 40 видно возникновение электрона и позитрона при столкновении 7-фотона с ядром одного из атомов газа, наполняющего камеру Вильсона. Жирный след — след протона, выброшенного из свинца (фото И. Кюри и Жолио). [c.69]

В электрохимических исследованиях широко используют методы микроскопии, электронной микроскопии и т. п. и результаты обычно представляют в виде фотографий. [c.95]

НИЯ и исчезновения промежуточных продуктов реакции, хотя может использоваться и для количественных кинетических измерений, если проводить микроденситометрию фотографической пластинки. Для кинетических экспериментов больше подходит модификация метода, известная под названием импульсной спектрофотометрии. В случае импульсной спектрофотомет-рии вместо второй слабой импульсной лампы используется комбинация из непрерывного источника света (например, лампы накаливания с йодным циклом) и монохроматора, установленного на длину волны поглощения образца. Интенсивность прошедшего света регистрируется как функция времени скоростным фотоумножителем, а выходной сигнал либо отображается на осциллографе, развертка которого запускается вызывающей фотолиз световой вспышкой, либо, что более обычно в современной практике, запоминается непосредственно электронным регистратором переходных процессов. На рис. 7.6 показана фотография кинетической кривой оптического поглощения в подобном эксперименте. [c.201]

Квантовая механика рассматривает вероятность нахождения электрона в пространстве вокруг ядра. Быстро движущийся электрон, обладающий свойствами волны, может находиться в любой части пространства, окружающего ядро, и совокупность различных его положений рассматривается как электронное облако с определенной плотностью отрицательного заряда. Более наглядно это можно представить так. Если бы удалось через ничтожно малые промежутки времени сфотографировать положенпе электрона в атоме водорода (отго отразится на фотографии в виде точки), то при наложении множества таких [c.31]

Быстро движущийся электрон может находиться в любой части пространства, окружающего ядро, и различные положения его рассматриваются как электронное облако с определенной плотностью отрицательного заряда. Более наглядно это можно представить так. Если бы удалось через весьма малые промежутки времени получать снимок положения электрона в атоме (он отразится на нем в виде точки), то при наложении множества таких фотографий [c.44]

Рис. 13 показывает, что в отличие от теории Резерфорда — Бора, согласно которой электрон движется по круговым орбитам, по квантово-механической модели электрон может пребывать в любой области атомного пространства, только с различной вероятностью. Если бы удалось через малые промежутки времени сфотографировать положение электрона, то при наложении тысяч таких фотографий получили бы картину электронного облака. Совершенно очевидно, что плотность электронного облака в различных точках [c.33]

Электронные лучи (электроны), проходя через рассматриваемый препарат, подвергаются рассеиванию, величина которого зависит от толщины и свойств участков препарата. Затем пучок электронов, пройдя через фокусирующие электромагнитные линзы, попадает на светочувствительный слой фотопластинки, на которой производится фотографирование изображения. На фотографии определяется диаметр изображения ( ,) каждой частицы сажи и их число (п,). Полученные результаты статистически обрабатываются, группируются в зависимости от диаметра частиц (определяют число частиц разных диаметров, отличающихся друг от друга на заданную величину). [c.127]

Непосредственно толщину черной углеводородной пленки в водной среде можно определить из электронно-микроскопических фотографий ее поперечного среза 12, 82—84]. С этой целью пленку формируют в среде с тяжелыми металлами, затем перемещают ее в желатиновую капсулу, где после соответствующей обработки фиксируют и замораживают. Далее с помощью ультрамикротома получают поперечные срезы пленки и исследуют их под электронным микроскопом. Наблюдаемые в электронном микроскопе картинки поперечного среза пленки представляют обычно трехслойную структуру, состоящую из двух темных линий, проявляющих полярные области пленки, где адсорбируются тяжелые металлы, и более светлого участка между ними, относящегося к углеводородной части пленки. [c.76]

МЦ ХИТ широко используются для питания автономных радиотехнических устройств (транзисторных радиоприемников, магнитофонов, переносных телевизоров, радиопередатчиков и т. п.), осветительных ламп, приборов, телефонной аппаратуры, электронных ламп-вспышек для фотографии, слуховых аппаратов, электрифицированных игрушек и для других устройств-потребителей не слишком больших токов. Годовой выпуск элементов с солевым электролитом во всем мире оценивается в 7— [c.61]

Сделанные выводы о рассеянии упорядоченными твердыми растворами хорошо иллюстрируются, например, фотографией электронной микродифракции, полученной от ОЦК упорядоченного твердого раствора внедрения ТадК [6] (рис. 4). Дело заключается в том, что упругое борновское рассеяние электронов во всех отношениях подобно рассеянию рентгеновских лучей, и все выводы, касающиеся дифракции рентгеновских лучей на упорядоченных кристаллах, в равной мере справедливы и в отношении упругого рассеяния электронов. Единственное различие заключается в том, что де-бройлевская длина волны электронов, используемых в экспериментах, много меньше параметра кристаллической решетки. Это приводит к менее жестким условиям рассеяния, чем в случае рентгеновских лучей условия Лауэ (2.16) одновременно выполняются для целой сетки узлов обратной решетки, лежащих в сечении обратной решетки, проходящем через нулевой [c.20]

Оставляя, таким образом, открытым вопрос о действительной причине первого экзотермического эффекта у каолинита, следует указать, что второй экзотермический эффект, наблюдающийся при нагревании каолинита, согласно данным Сольдау и Калниной при 1250—1300°, следует отнести, как это показали рентгенографические опыты Фреберга, к переходу кремнезема обезвоженного каолинита из аморфного состояния в кристобалит. Эти данные соответствуют результатам электронно-микроскопических исследований Эйтеля, изучавшего образцы шнайтенбахского каолинита, прокаливавшегося в широком интервале температур по 4 часа, и получившего соответствующие фотографии электронной диффракции. [c.242]

Эта модель годится для объяснения диффузной картины, которая появляется на фотографиях электронной диффракции в дополнение к нормальной точечной картине. Было показано, что диффузная картина возникает из-за тепловых колебаний молекул в кристаллической решетке. Считается, что предложенная структура более успешно объясняет детали картины, чем структура, предложенная Бунном. [c.148]

Рис. 8. Фотография цельнометалличе- Рис. 9. Схема блока с трубкой масс-спек-ского блока с трубкой масс-спектро- трометра фирмы Метрополитен-Виккерс [1]. метра фирмы Метрополитен-Виккерс [1]. ] — узел электронных иамерительных ламп 2 —

Для лучшего понимания сказанного приведем такую аналогию. Допустим, перед нами очень много фотографий одного из участников футбольного матча, скажем, вратаря. Используя эти фотографии (или кинопленку, или, наконец, визуальное наблюдение), можно нанести на чертеж все точки футбольного поля, где во время матча в разные моменты застал вратаря объектив фотографа. Ясно, что наибольшее число отметок придется на участок поля, непосредственно примыкающий к воротам, — там вратарь бывает чаще, там больше поэтому вероятность его обнаружения. Полученное таким способом вратарное облако , конечно не будет образом самого вратаря, а будет характеризовать его движение по футбольному полю во время матча. Правда, в отличие от электрона, вратарь— макрообъект и его движение можно было бы представить и по-другому, начертив, к примеру, траекторию его перемещений и избежав, тем самым, введения вероятностных представлений. Для электрона же такой альтернативы нет, [c.35]

Прямым доказательством существования таких связей является наличие на электронных микрофотографиях ПЭВП четко выраженных фибрилл, соединяющих соседние скопления ламелей (рис. 3.8). Выпрямленная длина цепи использованной фракции ПЭВП — около 7,5 мкм наблюдающаяся на электронной фотографии длина фибрилл составляет 1 —1,5 мкм. [c.53]

Стереомикроскопичес кий метод позволяет определить структуру поверхности исследуемого материала, высоту и ориентацию отдельных аморфных и кристаллических фаз, характер расположения кристаллов и т. п. Электронно-микроскопическая фотография стереоскопической структуры объекта получается фотографированием его под различными углами и последующего совмещения двух снимков в стереоскопе. Для фотографирования определенных участков объекта под различными углами применяют специальные стереопатроны, которые позволяют наклонять препарат п о отношению к оси микроскопа. При рассмотрении двух стерео-микрофотографий в стереокомпараторе можно получить не только качественную пространственную структуру объекта, но и определить размеры отдельных элементов сложного рельефа. [c.133]

В случае же воздействия при термообработке магнитного поля вдоль одного из направлений <100> % в сплаве тиконал метастабильные > тетрагональные фазы сопрягаются по оси с, ориентированной вдоль направления магнитного поля, и образуют одноосную кристаллическую текстуру. На рис. УИ1.16 показаны электронно-микроскопи- 4/ ческие фотографии фольг сплава тиконал в высококоэрцитивном состоянии. Отчетливо видно, что в плоскости 001 , перпендикулярной к направлению магнитного поля, выделения образуют правильную прямоугольную сетку и периодически расположены по направлениям [100] и [010]. В плоскости, параллельной направлению магнитного поля, выделения имеют вид стержней, расположенных периодически в направлении, перпендикулярном к магнитному полю. Толщина выделений - 200 А, а отношение длины к толщине порядка 30 40, т. е. выделения характеризуются достаточно большой анизотропией формы. [c.173]

Тяжелая а-частица, выбивая из молекулы электрон, не изменяет своего прямолинейного движения заметное отклонение ее происходит лишь тогда, когда она пролетает вблизи ядра одного из атомов. Наоборот, легкая р-частица при выбивании электронов и ania изменяет свой путь (особенно, когда скорость ее уменьшается). На рис. III-9 приведена сделанная в конденсационной камере фотография концов путей а- и р-частиц, а на рис. III-10 — двух а-частиц. Обычным является прямолинейный путь, который заканчивается, когда скорость а-частицы уменьшается настолько, что она перестает выбивать электроны из встречных молекул. Путь, подобный верхнему, встречается на фотографиях крайне редко. Первое искривление на нем соответствует отклоне-ни1р вследствие пролетания вблизи ядра атома, второе — столкновению с другим ядром. [c.70]

Электрон в атоме не имеет траектории движения. Кв пк зая механика рассматривает вероятность нахождения электрона в пространстве вокруг ядра. Быстро движущийся эле( ]р<)ч .-ж т находиться в любой части пространства, окружаюш,его ядро, и различные положения его рассматриваются как электронное облако с определенной плотностью отрицательного заряда. Более наглядно это можно представить так. Если бы удалось через весьма малые промежутки времени сфотографировать положение эле ггропя в атоме (он отразится на ней в виде точки), то при наложения множества таких фотографий получилась бы картина электронного облака. I ам, где канбольшее число точек, облако будет наиболее плотным. Максимальная плотность отвечает наибольшей вероят- [c.14]

Получение более или менее постоянной записи света и тени с помощью фотографии представляет наиболее хорошо известный из прикладных фотохимических процессов. Фотография относится к одному из методов получения фотоизображения, в котором для записи и копирования изобразительной информации используются кванты света. Помимо фотографии другие широко распространенные приложения фотоизображения включают копирование деловых бумаг (ксерокопию) и изготовление различных видов печатных форм. Если рисующий свет изменяет свойства (например, растворимость) материала, используемого для защиты некоторой подложки, то последующей обработкой можно перенести изображение на первоначально защищенную шаблоном поверхность. Такие материалы называются фоторезистами. Они чрезвычайно важны в производстве печатных форм, интегральных схем и печатных плат для электронной промышленности, в изготовлении мелких компонентов типа сеток электрических бритв, пластин затворов фотоаппаратов и многих других изделий. В настоящее время большое внимание привлечено к получению изображения с целью создания полностью оптических запоминающих устройств, отличающихся от магнитных тем, что запись и считывание информации осуществляются электромагнитным излучением видимой части спектра. Хорошо развиваются сейчас приложения оптического считывания к видео- и аудиотехнологиям ( компакт-диски ), а также в области оптического считывания — записи в запоминающих устройствах для компьютеров. [c.242]

Пр оизведенные на основании подобных фотографий подсчеты показали, что р-частнца пролетает в среднем сквозь 10 000 атомов, прежде чем выбивает электрон, а а-частица проходит сквозь 500 000 атомов, не подходя более двух или трех раз к какому-либо ядру настолько близко, чтобы претерпеть заметное отклонение. Это убедительно доказывает, что ядра и электроны заполняют [c.61]

Космические лучи и создают те самопроизвольно возникающие следы, которые изредка наблюдаются в конденсационной камере. Подвергнув последнюю действию магнитного поля, Блэккетт и Оккиалини обнаружили наличие на некоторых фотографиях вилок , состоящих из двух следов, однотипных по своему характеру и длине, но отклоненных в противоположные стороны (рис. XVI-10). Так как один из них принадлежал электрону, второй должен был отвечать частице, имеющей такую же массу, как электрон, но противоположный заряд. Тем самым было убедительно подтверждено сделанное уже несколько ранее (Андерсон, 1932 г.) предположение о существовании позитронов. [c.506]

Из прямых методов наиболее перспективным является метод электронной микроскопии, дающий детальную статистику распределения пор [30, 93]. Однако обработка электронно-микроскопических фотографий представляет собой весьма трудоемкий процесс. В настоящее время применяется метод изучения шлифов пород под световым микроскопом с применением статистической обработки и построением кривых распределения расстояния между стенками пор [8]. Л.И. Орлов и В.Ф. Малинин [61] предложили изучать специально подготовленную полированную поверхность исследуемой породы под микроскопом путем подсчета с помощью интегратора площади сечения поровых каналов. Оба эти метода очень трудоемки и имеют невысокую разрешающую способность, зависящую от данньЕХ световых микроскопов. [c.68]

Рис. 16. Электронно-микроскопическая фотография лампозон сажи (увел. 10 000 раз)

Представляет интерес исследование таких структур с помощью прямых структурных методовНа рис. 242 ттредставлспы электронно-микроскопические фотографии макропористой и стандартной ионообменных смол, Из рис. 242 а видно, что стандартная смола бессгруктурна, на рис. 242,6 просматриваются пустые пространства — поры (см. стр. УП1). [c.517]

Первые исследования свойств устойчивых черных липидных пленок в водной среде явились хорошим экспериментальным подтверждением гипотезы Даниэлли и Дэвсона согласно которой бимолекулярный липидный слой служит основным структурным элементом биологических мембран. Уже первое сравнение свойств черных пленок и биологических мембран показало их большое сходство. Так, черные углеводородные нленки и биологические мембраны дают подобные электронно-микроскопические фотографии при наблюдении их поперечных срезов (трехслойная структура), имеют близкие значения толш ин, удельной электрической емкости, водной проницаемости и т. д. [c.167]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология