Источник ионов лазерный

Обычно система прямого ввода применяется в сочетании с источниками ионов, в которых ионизация вещества происходит в газообразном состоянии. Аналогичный способ введения образца в область высокого вакуума в ионном источнике применяется, когда ионизация вещества происходит в конденсированном состоянии (полевая и лазерная десорбция, бомбардировка ускоренными атомами и ионами). [c.41]

Создаются гибридные аналитические системы, сочетающие высокоэффективную жидкостную хроматографию (в том числе в микроколоночном варианте) с ЯМР-спектрометрией [12, 13], масс-спектроскопией с ионным источником [14], лазерной [15] или хими- [c.87]

Источники ионов с лазерной десорбцией (ЛД) [c.851]

Регистрация ионов и определение концентрации примесей. Заряженные частицы, возникающие в источнике ионов при анализе твердых веществ, не обладают одинаковой начальной энергией. Разброс ионов по энергиям составляет 30—50 эВ для ионного зонда и 200—2500 эВ — для искрового и лазерного. Поэтому обычные масс-анализаторы, предназначенные для работы с ионизацией паров электронным ударом, в этом случае непригодны. Вместо них используют специальные масс-анализаторы с двойной фокусировкой, позволяющие фокусировать пучки ионов с большим энергетическим разбросом. На выходе масс-анали-затора помещают фотопластину, на которой регистрируются одновременно линии ионов почти всех элементов, входящих в состав образца (например, в диапазоне атомных масс от 7 до 250 а,е.м.). [c.213]

АНАЛИЗ МЕТАЛЛОВ И ПОЛУПРОВОДНИКОВ НА МАСС-СПЕКТРОМЕТРЕ С ЛАЗЕРНЫМ ИСТОЧНИКОМ ИОНОВ [c.167]

Первыми объектами исследования на масс-спектрометре с лазерным источником ионов [286, 287] были медь, тантал, алюминий, цирконий и другие металлы, а также графит и глинозем. В масс-спектрах наблюдались одно-, двух- и трехзарядные ионы, а в случае железа, ниобия и вольфрама также и четырехзарядные. [c.221]

На стандартах сталей (тип 280-а) и латуней (тип Л-62) проверено выполнение этой закономерности для ионов элементов примесей. Интервал концентраций исследуемых примесей 10 — 1%. В результате проведенных исследований удалось показать что выход элементов-примесей из лазерной плазмы также подчиняется зависимости тп . С учетом этого обстоятельства формула для расчета концентраций при фоторегистрации масс-спектров, полученных с лазерным источником ионов, должна иметь следующий вид [c.182]

Таким образом, с помощью лазерного источника ионов можно проводить масс-спектрометрический анализ элементов и примесей с правильностью не хуже 30% без применения стандартных образцов [2]. Дополнительно для проверки сделанного вывода был проанализирован объект сложного элементного состава — образец международного геологического стандарта 201-ВМ. Результаты измерения концентрации 37 элементов-примесей из 43 совпали с паспортными значениями. [c.184]

Гл. 14 посвящена применению лазерного источника ионов следует заметить, однако, что имеющийся опыт в этой области еще недостаточен для того, чтобы сделать заключение о перспективах аналитического применения масс-спектрометрии с лазерным источником ионов. [c.6]

Приведенный здесь обзор не является исчерпывающим, в нем приведены лишь основные характеристики масс-спектрометрических методов анализа поверхностей и тонких пленок. Приборы с искровым, лазерным источниками ионов и источником с вторичной ионной эмиссией имеют большие возможности. Сфера применения каждого из этих методов будет расширяться по мере развития и дальнейшего усовершенствования техники, а также более глубокого понимания очень сложных процессов, происходящих во время анализа. В ближайшие несколько лет эти исследования должны бурно развиваться, поскольку предельная чувствительность и пространственное разрешение, достигаемые в масс-спектрометрии, значительно выше, чем в случае других инструментальных методов. [c.422]

АНАЛИЗ ТВЕРДЫХ ТЕЛ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЛАЗЕРНОГО ИСТОЧНИКА ИОНОВ [c.424]

Анализ твердых тел с использованием лазерного источника ионов 425 [c.425]

Рис. 14.6. Блок-схема времяпролетного масс-спектрометра с лазерным источником ионов.

Анализ твердых тел с использованием лазерного источника ионов 443 СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ [c.443]

Твердые, прочные, плохо растворимые вещества — такие, как алмаз, кварц, карбиды, нитриды, кремний и различные минералы анализируют, используя лазерные и искровые источники ионов или источники ионов с бомбардировкой пробы быстрыми атомами и осколками деления ядер, а также источник ионов с тлеющим разрядом [ 2, 22, 23, 32, 49, 70]. Ионы, полученные методом искрового разряда, обычно анализируют на приборах с двойной фокусировкой, поскольку такой источник дает ионы с большйм разбросом по энергии, достигающим нескольких кэВ. Остальные перечисленные источники ионов могут работать с любыми анализаторами в зависимости от решаемой задачи. [c.863]

Труднее всего обнаружить низкие концентрации при анализе так называемых газообразующих примесей водорода, углерода, азота и кислорода. Мешающими факторами здесь являются фон остаточных газов в источнике ионов и загрязнения поверхности образцов. Использование специальных приемов анализа (прогрев источника ионов, откачка высокопроизводительными вакуумными насосами и т. д.) позволяют снизить предел обнаружения этих элементов с помощью искрового зонда до (мол.), что иримерно соответствует возможностям других методов определения газообразующих примесей. Эти процедуры достаточно сложны, и их применение оправдано в основном полнотой анализа, так как одновременно с газообразующими примесями определяются и другие элементы. Но существуют и специальные масс-спектрометрические методы для анализа газообразующих примесей с помощью электронного либо лазерного зонда. В последнем случае применяют лазер, работающий в режиме свободной генерации. Он служит для испарения вещества (атомизации), а ионизацию проводят пучком электронов, как при анализе паров. [c.215]

Изотопный анализ наружного и внутреннего слоев речных раковин проводили на масс-спектрометре с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов — ЭМАЛ-2 [И]. Отбор проб проводился построчным скавдированием лазерного луча с площади 5X10 мм . Масс-спектры регистрировались на фотопластинки. Экспозицию изменяли от 1-10- до 3 нКл, что позволяло определять содержанке изотопов в образцах от 100 до 10 ат.%. Рабочие параметры масс-спектрометра, режимы работы лазера ЛТИПЧ-5 и фо рмула для определения содержаний исследуемых изотопов приведены в [8], Погрешность [c.40]

Методом лазерной масс-спектрометрии исследованы вариации изотопного состава петрогенных элементов в рудах и гидротермально измененных породах месторождений благородных металлов. Исследования выполнены иа отечественном масс-спектрометре с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов ЭМАЛ-2. Обнаружены значительные вариации изотопов ряда элементов от глубины залегания пород и руд. Рассмотрены основные ядерные характеристики исследованных изотопов.. Аномальное фракционирование изотопов петрогенных элементов объяснено с позиций ядерио-спинового эффекта. Ил. 4. Табл. 2. Библ. 5 назв. [c.88]

Цель настоящего исследования состояла в разработке методики анализа твердых веществ на содержание микропримесей на времяпролетном масс-спектрометре с лазерным источником ионов. [c.167]

Основным отличием изготовленного нами времяпролет-ного масс-спектрометра с лазерным источником ионов от аналогичной установки, известной из литературных источников [2, 3], является использование без значительных переделок серийного масс-спектрометра МХ-1303, а также устранение влияния ионов основного компонента анализируемого образца на процессы регистрации масс-спектра. Лазерный источник ионов с времяпролетным анализатором позволяет расширить область применения серийных масс-спектрометров для химического анализа на твердые нелетучие вещества. Такой масс-спектрометр значительно проще используемого в настоящее время для анализа твердых веществ прибора с искровым источником ионов и отличается экспрессностью анализа, а также отсутствием в масс-спектре примесей, не содержащихся в анализируемом образце. [c.167]

Максимов Г. А., Ларин Н. В. Масс-спектрометринеский анализ твердых веществ с применением лазерных источников ионов.— Усп. хим., 1976, т. 45, № 12, с. 2121-2137. [c.67]

Результаты исследований свойств ионных пзгчков, формируемых из лазерной плазмы, явились основой для разработки высокопроизводительного лазерно-плазменного источника ионов для лгасс-спектрометрического анализа веществ. [c.179]

На рисунке приведена схема конструкции лазерно-плазмен-пого источника ионов. [c.179]

Измерения, проведенные с лазерно-плазменным источником ионов на масс-спектрометре ЛУ13-01, позволяют оценить усредненные характеристики пробоотбора и параметры ионного пучка Глубина кратера, мкм 0,1—1 [c.180]

Перевод Т1С14 и У0С1д в окислы Т102 и У О с последующим спектрально-эмиссионным анализом также не даст существенных преимуществ, так как при использовании дифракционных спектрографов достигается граница определения этих веществ не ниже 10- % [4]. Анализ же порошков на твердотельных масс-спектрометрах с лазерным и искровым источниками ионов затруднен вследствие возможного разрушения таблетированного под большим давлением порошка. [c.209]

В сочетании с лазерным источником ионов использовались масс-спектрометры как с ординарной (Беркович, Чайка, 1964 Элой, 1968), так и с двойной фокусировкой (Думес, 1967 Хениг, Вулстон, 1963) (рис. 14.2). Очевидное преимущество состоит в том, что в фокусе собирается максимальное количество ионов [c.432]

Проведено сравнение аналитических характеристик различных типов масс-спектрометров с лазерными источниками ионов, использующих для испарения и ионизации лазеры в режиме модулированной добротности. Определен круг задач, оптимальным образом ренлаемых в настоящее время динамическими и статическими лазерными масс-спектрометрами. Исследованы возможности дальнейшего снижения нижнего предела обнаружения как наиболее важной характеристики масс-спектрометра при анализе веществ исобо чистоты. [c.105]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология