Полосы кристаллические

Трудность анализа порошков обусловлена зависимостью оптической плотности от однородности образца. Джонс [65] показал, что, если в образце 10% составляют прозрачные включения и имеется полоса с истинной оптической плотностью 1, наблюдаемая величина равна 0,775. В этой же работе приведены ошибки и для других отношений площади прозрачной части образца к площади поглощающей. Отмечается также, что эффект быстро возрастает по мере увеличения оптической плотности. Этот эффект назван мозаичным , и его величина зависит от размера частиц, их формы и распределения в образце. По мере роста концентрации частиц область прозрачности (и величина этой ошибки) уменьшается [63]. Другим, часто не учитываемым фактором является зависимость интенсивности полосы кристаллических веществ от размера частиц. Исследование кристаллического твердого хлоранила показало, что при изменении размера частиц от 12 до 160 мкм коэффициент поглощения некоторых полос (в матрице из КВг) может уменьшиться в 4 раза (рис. 6.11). Аналогичный эффект наблюдался на кварце [111]. Наряду с изменением интенсивности может происходить также сдвиг по частоте. Причина этого явления заключается в том, что наблюдаются главным образом поверхностные, а не объемные колебания, и именно они чувствительны к диэлектрической постоянной окружающей среды [94]. Отсюда следует, что неравномерное распределение поглощающих частиц в канале образца из-за их слишком большого размера или изменение распределения частиц по размерам от одного образца к другому приведет к аномальным интенсивностям полос. Обычно рекомендуется, чтобы диаметр частиц был меньше самых коротких длин волн используемого излучения (в большинстве случаев 2 мкм). Если спектры раствора получить не удается, то для проведения продуманных количественных измерений с таблетками из КВг или суспензиями нужно быть уверенным в том, что образец подходящим образом измельчен до требуемой степени дисперсности. [c.265]

Идентификация полос кристаллического поля в комплексах этих элементов пока продвинулась очень мало. Одной из причин является то, что даже для изолированных ионов спектры известны только для первых членов ряда, и даже в этих случаях данные носят отрывочный характер. Константы спин-орбитального взаимодействия составляют от 1500 см для U(IV) (р) [105] до приблизительно 2500 см для Pu(IV) (/ ), так что, как правило, наблюдается взаимодействие промежуточной силы. [c.273]

Аппаратура, материалы, реактивы. Ступка фарфоровая малая, стаканы химические емкостью 100—1500 мл— -2, воронка диаметром 500 мм, промывалка емкостью 500 мл, бумажные фильтры синяя полоса , кристаллический нитрат висмута, раствор сульфида натрия (приготовление см. ГФ IX). [c.186]

В метиловом спирте фракции стереоблочного полимера (кривая 3) не полностью совпадает со спектром аморфного полимера. Он содержит характеристическую полосу кристаллического [c.133]

Негомогенно (инконгруэнтно) плавящееся молекулярное соединение. Застывший препарат не отличается от препарата гомогенно плавящегося соединения. При нагревании вначале выплавляется в виде полосы эвтектика. Эта полоса расширяется затем в сторону компонента А, а также в противоположном направлении, причем полоса кристаллического соединения постепенно становится все тоньше и, наконец, исчезает, что соответствует температуре точки превращения L (см. рис. 217, стр. 848). Затем процесс плавления продолжается вплоть до температуры плавления компонента В. Такие двухкомпонентные системы идентифицировать труднее их можно точно описать только при дополнительном исследовании отдельных смесей. [c.874]

Рис. 15.7. Увеличенная микрофотография кристалла в направлении [011], на которой видны полосы кристаллической решетки, соответствующие плоскостям (111), (111) и (200).

Mo(V) известен в виде [MoO lg] , и у него обнаружены две полосы кристаллического поля при 14 050 см (7120 Л) и 22 500 см (4450 Л), указывающие на очень сильное тетрагональное расщепление уровня Гзо [101]. W(V) имеет только одну полосу при 15 250 см" (6550 Л) [101]. [c.272]

Рассмотрим теперь вопрос о структуре полос кристаллического крелпгия [176]. В этом случае нельзя оценить резонансные интегралы Ррр и р5р таким же образом, как для алмаза, поскольку для кремния не обнаружено соединений с кратными или с сопряженными рзх-связями, в которых а-связи атомов были бы образованы гибридными зр - или 5р-орбиталями. Поэтому для связей, образуемых атомами 31, не существует схем, подобных схемам [c.139]

Полнэтилентерефталат является другим примером, когда основные различия в спектре между кристаллическими и аморфными образцами вызваны поворотной изомерией, а не различием межмолекулярных взаимодействий этих двух состояний. На рис. 3 сплошной линией показан спектр аморфной пленки, приготовленной быстрым охлаждением расплавленного полимера. Пунктирной линией показан спектр той же пленки после кристаллизации (образец выдерживали несколько часов при 160°). Ворд [84, 85], а также Даниельс и Китсон (частное сообщение, см. также [25]) предположили, что большая часть полос кристаллического состояния обусловлена группой [c.25]

Шнелл изучал явление инфракрасного дихроизма по комбинационным полосам при 1894 (л-поляризованная полоса кристаллического полимера) и 2016 см (а-поляризованная полоса аморфного и кристаллического полимеров). В значительно растянутых образцах при этих частотах наблюдается почти идеальное явление дихроизма. При отжиге образцов линейного полиэтилена ориентация остается почти неизменной вплоть до температур, приближающихся к температуре плавления полимера, а при отжиге разветвленных образцов по мере повышения температуры ориентация уменьшается. При отжиге не наблюдается изменений степени кристалличности полиэтилена, характеризуемой по интенсивности полос при 1895 и 1303 см-. [c.329]

Поли-4-стиролсульфокислота, полученная сульфированием полистирола, поглощает прп 835 см , а поли-2-стиролсульфокнсло-та — при 790 СМ [605]. Подробный анализ полистиролсульфо-кислот и их солей проведен в работах [1914, 1915, 1917, 1918]. ИК-спектр поли-4-фторстирола и интерпретация полос кристаллического полимера рассмотрены в [850]. [c.264]

Наиболее часто встречающиеся силикаты изученных нами составов можно схематически представить рис. III.19. На нем пунктирными линиями показано положение полос кристаллических силикатов, известных из диаграмм состояния системы LijO — SiOj, сплошными линиями — установленные пами положения полос различных модификаций кремнезема, силикатов лития и карбонатов. У кремнезема положения максимумов селективного отражения наиболее часто встречающихся модификаций лежат в интервале 8,75—9,20 мк. [c.263]

В теории твердого тела разработаны многие модельные методы, позволяющие количественно описать структуру и ширину энергетических полос кристаллических решеток. Обзоры содержатся в ряде работ и, в частности, в [29]. Видимо, эти модели лгогут быть использованы в качестве нулевого приближения и для плотной плазмь[. [c.287]

Напомним, как образуются дифракционные картины при облучении твердых тел рентгеновскими лучами. Рентгеновские лучи, как и видимый свет, имеют волнов)оо природу. Длина волны света может быть измерена с помощью дифракционной решетки, представляющей серию линий, расстояние между которыми приблизительно равно длине волны X монохроматического света. При падении монохроматического светового луча на решетку световые волны, отражаясь от решетки, интерферируют друг с другом, таким образом усиливая или ослабляя свет в определенных направлениях. В результате на экране появляются серии чередующихся темных и светлых полос. Кристаллическое вещество, в котором молекулы располагаются определенным упорядоченным образом, может служить своеобразной дифракционной решеткой. Таким образом, кристаллическое тело рассеивает рентгеновские лучи и мы можем получать рентгенограммы — отпечатки пальцев любого вещества. [c.138]

Полосы кристаллической решетки можно наблюдать, толысо если ориентация соответствующих им плоскостей удовлетворяет условию Брэгга-Вульфа для дифракции, поэтому отсутствие изображения решетки на полученных микрофотографиях не обязательно свидетельствует об аморфной структуре образца, а может быть связано с тем, что образец неправильно ориентирован. Об участках локальной неупорядоченности внутри образованной атомами периодической решетки можно судить по искажеш1ю полос решетки впрочем, аналогичные эффекты могут быть связаны также с изменением толщины кристалла или с участками его локального изгиба. [c.64]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология