Метод косых плоскостей

Метод светлого поля в проходящем свете позволяет получить равномерно освещенное поле в плоскости изображения. При этом свет из конденсора проходит через препарат и объектив. Изображение объекта становится видимым вследствие частичного поглощения и отклонения отдельными его элементами падающего на них света. Метод светлого поля в отраженном свете основан на освещении препарата сверху через объектив, который одновременно выполняет роль конденсора. При косом освещении в проходящем или отраженном свете при соответствующем диафрагмировании можно создать боковое освещение препарата, отчего изображение становится более контрастным. [c.214]

Из уравнений (21), (22) и (23) следует, что расширение линий в рентгеновских спектрографах с изогнутым кристаллом в сильной степени зависит от размеров отражающего кристалла (ы и /) и от угла Чем, при прочих равных условиях, меньше размеры кристалла и больше угол ср, тем в меньшей мере ширина линий в этих спектрографах отличается от их естественной ширины. В настоящее время известны два метода повышения разрешающей силы фокусирующих спектрографов с изогнутым кристаллом. Первый из них удобно именовать методом шлифованного кристалла, второй — методом косых плоскостей. [c.29]

В методе косого освещения обычным способом источник света или собирающая линза, расположенная перед ним, резко фокусируется конденсором на плоскость препарата. Ирисовая диафрагма конденсора выбирается несколько больше апертуры объектива. В конденсорную систему вводят непрозрачную шторку таким образом, чтобы получить ее резкое изображение на задней поверхности объектива. Шторку вводят так, чтобы освещенной оставалась только одна пятая поверхности объектива. Для того чтобы наблюдать за этой операцией, можно снять окуляр или сфокусировать линзу Бертрана на задний элемент объектива. Когда окуляр поставлен на место или линза Бертра1ш удалена, поле микроскопа кажется равномерно осве-ш,енным слабым светом. Оправа объектива служит второй диафрагмой и задерживает около половины света, проходят,его через столик. Поскольку непрозрачная шторка установлена в конденсоре приблизительно сопряженно с оправой объектива, как задержанные, так и проходящие лучи равномерно исходят из всех частей поля. Оптические неоднородности поля зрения изменяют путь лучей. Относительно небольшого углового отклонения может б.ыть достаточно, чтобы лучи оказались по другую сторону границы, создаваемой оправой объектива. Если показатель преломления жидкости больше показателя преломления исследуемых частиц, то они будут темными со стороны, расположенной ближе к шторке, и светлыми — с противоположной. Однако вследствие оптического обращения наблюдаемое изображение будет перевернутым. Когда показатель преломления у жидкости меньше, чем у частиц, полой<ение светлых и темных сторон будет противоположным. [c.263]

Рис. 6. Положение отражающих плоскостей изогнутого кристалла при использовании метода косых плоскостей

Метод косой пирамиды может быть обобщен на -мерные системы. -Мерную водную систему изображают в геометрической фигуре, построенной ъ п 1-мерном пространстве. В последнем по п взаимно перпендикулярным осям откладывают концентрации соответствующих п ионов (в мон-экв/ЮОО моль Н2О). Проекция этой фигуры на координатные плоскости дает п п— 1)/2 ортогональных проекций диаграммы. [c.428]

Один из вариантов метода, называемый косой тандем , предусматривает расположение излучателя и приемника не в одной плоскости (рис. 22, б, вид в плане внизу), а в разных плоскостях, но таким образом, чтобы принимать зеркальное отражение от дефекта. [c.211]

Более непосредственное суждение о части спектра, для которой имеет место совпадение показателей преломления, достигается в методе Черкасова [25, 26], который требует применения объектива, снабженного ирисовой диафрагмой, расположенной в верхней фокальной плоскости. Если освещать объект светом, параллельным оси микроскопа (далекий источник света, плоское зеркало, удаленный конденсор, прикрытая апертурная диафрагма), то около краев зерна сохранят свое вертикальное направление только те лучи, для которых показатели преломления зерна и жидкости равны. Если теперь прикрыть диафрагму объектива, чтобы изъять косые лучи, то края зерна будут иметь интенсивную окраску, отвечающую той области спектра, для которой совпадают показатели преломления зерна и жидкости. В случае, если ось светового пучка не вполне параллельна оси оптической системы, результат может быть неправильным. [c.256]

Недостатком метода фокусировки по Иоган-сону является то обстоятельство, что в таких приборах не уменьшается расширение линий, связанное с косым падением лучей на фотопленку и их вертикальной расходимостью. В этом отношении более удобен другой метод, основанный на использовании в спектрографе специальным образом вырезанных кристаллов с наклонными по отношению к их поверхности атомными отражающими плоскостями. Таким путем можно обеспечить дополнительный выигрыш в разрешающей способности спектрального прибора. [c.30]

Метод двойного диафрагмирования требует особого приспособления к микроскопу, состоящего из двух заслонок с прямолинейным краем, одна из которых вводится под столик микроскопа, над конденсором, а другая находится в верхней фокальной плоскости объектива. При правильной установке заслонок зерна, погруженные в жидкость, будут иметь тень с одной стороны (подобно эффекту косого освещения). [c.268]

Для этой цели могут быть также использованы образцы полимеров с преимущественной ориентацией кристаллических областей, которая характерна для очень медленно вытянутых образцов или для образцов, вытянутых полностью и подвергнутых последующему нагреванию в условиях релаксации. Такие образцы дают на рентгенограммах рефлексы, которые смещены от слоевых линий величину этого смещения используют для определения взаимной ориентации плоскостей кристаллов. Метод наклонного кристалла (так называемые косые текстуры ) [2] позволяет при благоприятных условиях получить результаты, которые по точности и достоверности близки к результатам исследования рентгенограмм Вайсенберга, полученных для монокристаллов. [c.266]

Особенно удобным в смысле быстроты оптических измерений оказался вариант метода, в котором пленка жидкости наносилась на нижнюю поверхность стеклянной призмы, служившей крышкой камеры сдувания. При косом падении поляризованного света наблюдалось полное внутреннее отражение, при котором амплитуды слагающих световых колебаний, параллельные и перпендикулярные плоскости падения, не менялись, но между ними возникал сдвиг фазы. Лрн наличии пленки зтот сдвиг фазы менялся, и по его величине можно было судить о толщине пленки. Преимущество этого варианта состоит в том, что операция замера требует установления только одного азимута вместо обычных двух. Для того чтобы результаты измерения толщины по второму варианту метода сдувания привести к виду, воспроизводящему, как и в первом варианте, профиль скоростей пленки вблизи твердой стенки, достаточно было по оси абсцисс откладывать величину и = XQ/t, где t — время, протекшее от начала сдувания до момента замера, а по оси ординат — толщину Л, измеренную в соответствующий момент. Очевидно, что абсцисса выражает скорость слоев на расстоянии г = к от стенки. Таким образом, график дает непосредственно профиль скоростей. [c.217]

Применительно к фокусирующим рентгеновским спектрографам метод косых срезов кристалла был предложен впервые В. Н. Протопоповым [22]. Суть этого метода может быть пояснена при рассмотрении чертежа, представленного на рис. 6. Отличие рассматриваемого случая от реализующегося обычно в спектрографах типа Иоганна заключается в том, что система отражающих атомных плоскостей кристалла не параллельна его поверхности, а составляет с ней некоторый постоянный угол . В связи с этим симметричный ход лучей в спектрографе нарушается. Падающие на кристалл и отраженные от него лучи составляют неодинаковые углы с поверхностью, а весь спектр, в котором линейные и угловые расстояния между отдельными линиями остаются без изменения, целиком смещается в длинковол-новую область. Геометрическая ширина линий спектра, которая в спектрографе с симметричным ходом лучей вычисляется по формуле Ь tg б, в рассматриваемом случае оказывается меньшей, равной o tg (6-t- ). Это означает, например, что для углов 6, близких к 20°, и при 18° ширина линий в спектрографе с асимметричным ходом лучей будет в два раза меньше, чем в обычном. Так как величина d kjdl для спектрографа не зависит от угла и для любых [c.31]

В методе косого освегцения с двойной диафрагмой на правую половину заднего элемента объектива помещают непрозрачную диафрагму и фокусируют объектив на исследуемый препарат. В ко1 денсорную систему справа вставляют второй тонкий непрозрачный лист его изображение на заднем элементе объектива появляется слева. Удалив окуляр, эти две диафрагмы устанавливают таким образом, чтобы между ними оставалась только узкая щель. Необходимо найти для нижней диафрагмы соответствующую плоскость в конденсоре затем ее изображение резко фокусируют установкой конденсора. Хотя в этом методе создается тот же оптический эффект, как и в вышеописанном методе косого освещения, введение дополнительной полудиафрагмы в объектив повышает чувствительность. Дальнейшие подробности, касающиеся этих трех методов, можно найти в главе И1 т. 2. [c.263]

При получении заготовки вала из проката путем отрезки должны быть обеспечены точность размера и перпендикулярность торцов к оси заготовки. Наличие косого торца усложняет ее центровку и вызывает необходимость дополнительного его подрезания при токарной обработке. Кроме того, В0.ЧМ0ЖН0 понижение точности обработки вследствие смещения вала в горизонтальной плоскости. Для отрезания используют механические и гидравлические прессы, ленточные и дисковые пилы, приводные ножовки, фрикционные пилы, станки для анодно-механической резки, отрезные и токарно-револьверные станки. Метод разрезания проката выбирают в зависимости от типа производства, а также диаметра и твердости разрезаемого материала. [c.283]

От геометрической поверхности переходят к истинной или адсорбционной поверхности, умножая ее на фактор шероховатости , величину которого принимают равной единице для поверхности жидкости и близкой к единице для непористых порошков [401 (см. подраздел В данного раздела — определение пористости). Однако неясно, какой величиной этого множителя нужно пользоваться для массивных металлов. Часто пользовались дробными множителями между 1 и 2, однако Ридил, Боуден и их сотрудники [41] показали, что для протянутых или подвергавшихся электрополировке металлов этот множитель равен 3 или большей величине, которая может достигать 13 для свежеотполированного никеля. В принципе подробные сведения о шероховатости поверхности можно получить при помощи многолучевой интерферометрии [42] или электронномикроскопического изучения методом оттенения. В ин-терферометрическом методе поверхность помещают вблизи оптически гладкой поверхности кварца таким образом, чтобы образовался тонкий клин, который дает интерференционные полосы (получаемые при отражении или пропускании), смещаемые неправильностями поверхности. Если исследуемая поверхность и плоскость покрыты тонким однородным слоем серебра, нанесенным на них испарением, то картина интерференционных полос, образуемых многократным отражением, становится более ясной. Топография поверхности может быть получена контурнрованием через интервалы по 30. В методе оттенения проекции выступов или впадин проявляются после того, как их склоны или ступени покроют атомами золота из молекулярного пучка, направленного под косым углом к поверхности. Подобного рода исследования проводились для того, чтобы детально проследить изменения, происходящие при росте кристаллов и образовании пленок металлов, а определение таким способом фактора шероховатости едва ли целесообразно. С другой стороны, подробные сведения о топографии поверхности монокристаллов, вероятно, важны для отнесения активности их граней за счет поверхностных дислокаций, выступов, изломов и т. п. [c.168]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология