Объективы для световой микроскопии

Принципиальная схема светового микроскопа представлена на рис. V. 1 а. Обычный микроскоп представляет собой двухступенчатый оптический увеличитель. В нем имеется система линз, называемая объективом 4, которая проектирует увеличенное изображение объекта S. Это промежуточное изображение 5 увеличивается другой системой линз — окуляром 6, через который ведет наблюдение исследователь. Объектив и окуляр помещены в тубусе микроскопа на одной оптической осн. Для устранения нежелательных дифракционных эффектов и обеспечения должной разрешающей способности предназначена система линз конденсора 2, благодаря которому пучок света от лампы / концентрируется в плоскости исследуемого объекта. Конечное изображение 7 регистрируется на фотопластинку 8. [c.248]

Скорость всплывания пузырьков и их размер определяли также фотографическим методом. При фотографировании применялась боковая импульсная подсветка, дающая вспышку света через определенные промежутки времени. Пленки расшифровывались при помощи микроскопа МИР-12, соединенного с микрометрической насадкой. Цена деления шкалы наса. ки определялась объект-микрометром, Истинный диаметр пузырька определялся при помощи калибровочного графика, полученного путем фотографирования стальных шариков известного диаметра при том же способе подсветки, что п при фотографировании пузырьков. [c.20]

Темнопольная микроскопия осуществляется, в темном поле микроскопа при косом освещении — эти приемы позволяют увеличить контраст изображения вследствие образования видимой тени (свет от излучателя падает на плоскость объекта под таким углом, что его зеркальное отражение не попадает в объектив и поле зрения выглядит темным). В темпом поле можно качественно отметить неровности (сту/тени, сколы и т. д.) на поверхности объекта высотой до 1 —1,5 нм. В темном поле повышается и разрешающая способность микроскопа. [c.122]

Взаимодействие света с веществом зависит от соотношения длины волны света и размеров частиц, на которые падает световой поток. Это взаимодействие происходит по законам геометрической оптики (отражение, преломление), если размеры объекта больше длины волны света. Если размеры частиц меньше половины длины волны света, то происходит рассеивание света в результате его дифракции. Область видимого света характеризуется длиной волн от 760 до 400 нм. Поэтому в молекулярных и коллоидных системах видимый свет рассеивается, а в проходящем свете эти растворы прозрачны. Наибо.льшей интенсивности рассеивание света достигает в коллоидных системах, для которых светорассеяние является характерной качественной особенностью. Обнаружение в растворе пути луча источника света при рассматривании раствора перпендикулярно к направлению этого луча позволяет отличить коллоидный раствор от истинного. На этом же принципе основано устройство ультрамикроскопа, в котором наблюдения проводят, в отличие от обычного микроскопа, перпендикулярно направлению проходящего через объект света. Схема поточного ультрамикроскопа Б. В. Дерягина и Г. Я. Власенко приведена на Рис. 10.6. Схема поточного ультрами-рис. 10.6. с помощью этого прибора кроскопа В. В. Дерягина и Г. Я. Вла-определяют концентрацию дисперс- сенко 1 — кювета 2 — источник света ных частиц в аэрозолях и коллоид- 3 — линза 4 — тубус микроскопа, ных растворах. [c.297]

Тонкость отсева может быть непосредственно определена микроскопическим анализом и, косвенно — седи-ментациоиным анализом фильтрата. Несмотря на достоинства пер1В0Г0 метода, как прямого способа измерения, он применяется ограниченно, вследствие своей трудоемкости, которая усугубляется при малой концентрации частиц в фильтрате. Для анализа пригоден наиболее распространенный тип учебного, биологического микроскопа с 600-кратным и меньшим увеличением. Капля исследуемой суспензии наносится на предметное стекло и закрывается покровным стеклом. В качестве предметного стекла удобно использовать камеру Горяева или Бюркера, которые применяются в практике медицинских исследований, и обеспечивают толщину рассматриваемого слоя суспензии 0,1 мм. Крестообразный столик СТ-5, в держателях которого закрепляется предметное стекло, и вместе с которыми оно может перемещаться в двух направлениях, позволяет просматривать в проходящем свете последовательно отдельные участки слоя суспензии. В окуляр микроскопа предварительно помещается окулярная сетка — стекло с нанесенной на него сеткой. Цена деления окулярной сетки при выбран-НО.М увеличении микроскопа определяется по объект-микрометру, помещаемому на предметный столик микроскопа. Цена деления на стекле объект-микрометра 0,01 мм. [c.43]

Вместо этого способа освещения можно использовать и конденсоры специальной конструкции кардиоидный конденсор (рис. 10) и па-раболоидный конденсор (рис. 11), которыми заменяют конденсор в обычном микроскопе. Они также дают возможность освещать коллоидные частицы, в то время как непосредственное попадание света от осветителя в объектив микроскопа исключается. [c.36]

Качество изображения может быть улучшено за счет спектрального изменения светового потока в микроскопе, достигаемого применением светофильтров. Контрастные фильтры позволяют повышать контрастность окрашенных объектов кристаллы, имеющие одинаковую с фильтром окраску, будут иметь светлый оттенок, а кристаллы, окрашенные в цвет, дополнительный к цвету фильтра, — в темный тон. При использовании контрастных светофильтров целесообразно применение панхроматических фотоматериалов. Для уменьшения силы светового потока (яркости изображения) в соответствии с чувствительностью фотоматериала применяют различные компенсационные фильтры светоослабляющие, фильтры дневного света, теплозащитные и специальные желто-зеленые фильтры. Все эти фильтры обладают небольшим собственным поглощением света, поэтому при цветной микрофотографии их следует применять с учетом этого обстоятельства. Для выделения из видимой части спектра нужного излучения применяют избирательные фильтры — синий, зелеьый, желтый, оранжевый и красный. Эти фильтры используют в специальной флюоресцентной микроскопии. Зеленые фильтры, устраняющие остаточную аберрацию ахроматических объективов, называются корригирующими фильтрами и применяются для повышения контрастности изображения. Синие фильтры повышают разрешающую способность микроскопов. [c.117]

В отличие от обычного микроскопа в ультрамикроскопе применено боковое освещение. Прн этом свет от осветителя не попадает в объектив микроскопа и в глаз наблюдателя, поэтому фон пола [c.298]

Ультрамикроскопия от обычной микроскопии отличается тем, что объект (дисперсная система) освещается сбоку, а наблюдают рассеянный свет. Вследствие этого частицы кажутся светящимися точками на темном фоне, и разрешающая сила микроскопа резко возрастает, что позволяет наблюдат[> частицы с диаметром до 2—3 нм. [c.112]

Наиболее простым является щелевой ультрамикроскоп, схема которого иредставлеиа на рис. V. 3. В более совершенных приборах используются специальные присиособления для освещения объектов исследования. Нанример, вместо щелей, которые недостаточно используют источник света и направляют его лучи на объект только с одной стороны (благодаря чему искажается форма частицы), широкое ирименение иашли конденсоры темного поля, устанавливаемые в простом микроскопе вместо обычных конденсоров. [c.258]

Более непосредственное суждение о части спектра, для которой имеет место совпадение показателей преломления, достигается в методе Черкасова [25, 26], который требует применения объектива, снабженного ирисовой диафрагмой, расположенной в верхней фокальной плоскости. Если освещать объект светом, параллельным оси микроскопа (далекий источник света, плоское зеркало, удаленный конденсор, прикрытая апертурная диафрагма), то около краев зерна сохранят свое вертикальное направление только те лучи, для которых показатели преломления зерна и жидкости равны. Если теперь прикрыть диафрагму объектива, чтобы изъять косые лучи, то края зерна будут иметь интенсивную окраску, отвечающую той области спектра, для которой совпадают показатели преломления зерна и жидкости. В случае, если ось светового пучка не вполне параллельна оси оптической системы, результат может быть неправильным. [c.256]

ДЛИНЫ ВОЛНЫ света. Если размеры частиц меньше-половины длины волны света, то происходит рассеивание света в результате его дифракции. Область видимого света характеризуется длиной волн от 760 до 400 нм. Поэтому в молекулярных и коллоидных системах видимый свет рассеивается, а в проходящем свете эти раствори прозрачны. Наибольшей интенсивности рассеивание света достигает в коллоидных системах, для которых светорассеяние является характерной качественной особенностью. Обнаружение в растворе пути луча источника света при рассматривании раствора перпендикулярно к направлению этого луча позволяет отличить коллоидный раствор от истинного. На этом же принципе основано устройство ультрамикроскопа, в котором наблюдения проводят, в отличие от обычного микроскопа, перпендикулярно направлению проходящего через объект света. Схема поточного ультрамикроскопа Б. В. Дерягина и Г. Я. Власенко приведена на рис. 92. С помощью этого прибора определяют концентрацию дисперсных частиц в аэрозолях и коллоидных раствор ах. [c.307]

Люминесцентный микроспектрометр ЛМС-1. Для качественного люминесцентного анализа микроскопических зерен урановых и других минералов может быть использован люминесцентный микроспектрометр ЛМС-1. Анализ осуществляется сравнением спектров люминесценции эталонных образцов и исследуемых объектов. Ультрафиолетовые лучи одновременно возбуждают свечение обоих объектов, свет от которых, пройдя микроскоп и специальную оптическую систему, попадает в спектроскоп прямого зрения. Наблюдатель видит два спектра, расположенные один над другим и разделенные тонкой линией раздела. Их сравнение позволяет быстро установить тождество или различие эталонного и исследуемого образцов. [c.439]

Оптическая схема этого прибора показана на рис. 141, а его общий вид на рис. 142. Свет от лампы накаливания 1 с толстой нитью (12 в, 30 вт) падает на две осветительные конденсорные системы 2 и 11. Конденсором 2 один пучок света направляется на призму полного внутреннего отражения 3. Последняя поворачивает пучок кверху в объектив 4 микроскопа. Объектив фокусирует пучок на фотографической пластинке 5. На пластинке получается яркое изображение конденсора 2, уменьшенное до диаметра 3 мм. Над фотопластинкой помещен второй проекционный объектив 6, который дает увеличенное в 20 раз изображение освещенной [c.220]

Если освещать объект светом, параллельным оси микроскопа (далекий источник света, плоское зеркало, удаленный конденсор, прикрытая апертурная диафрагма), то около краев зерна сохранят свое вертикальное направление только те лучи, для которых показатели преломления зерна и жидкости равны. Если теперь прикрыть диафрагму объектива, чтобы изъять косые лучи, то края зерна будут иметь интенсивную окраску, отвечающую той области спектра, для которой совпадают показатели преломления зерна и жидкости. В случае, если ось светового пучка не вполне параллельна оси оптической системы, результат может быть неправильным. [c.271]

Если освещать объект светом, параллельным оси микроскопа (далекий источник света, плоское зеркало, удаленный конденсор, прикрытая апертурная диафрагма), то около краев зерна сохра- [c.267]

Отличительной особенностью ультрамикроскопа является осветительная система, которая обычно состоит из мощной вольтовой дуги (2), щелевой диафрагмы (4) и системы линз (3). Объект — золь или суспензию — помещают в специальную кювету (1), закрепленную на предметном столике микроскопа. При такой системе освещения объекта, в микроскоп попадает только свет,рассеиваемый взвешенными частицами. [c.317]

По способу освещения объекта оптические микроскопы делят на работающие в проходящем и отраженном свете. Микроскопические исследования в проходящем свете широко используют в биологии и минералогии. В последнем случае исследуют размеры [c.243]

При рассмотрении образца в обычном световом микроскопе рассеянный объектом свет фокусируется объективом, благодаря чему формируется увеличенное изображение (рис. 20.1). При рассеянии от образца световых волн они претерпевают фазовые изменения, и линзы объектива, фокусируя их, сохраняют полученное после рассеяния соотношение фаз. Благодаря этому при рекомбинации лучей формируется изображение объекта (рис. 20.2). Разрешение, т. е. минимальный размер деталей, воспроизводимых в таком изображении, ограничен длиной волны используемого света (обычно 600 нм). Более мелкие де- [c.530]

К сожалению, один-единственный — нельзя. Если говорить об обычных, действующих с помощью видимого света микроскопах, то достижимому для них увеличению объектов, да и разрешающей способности самой природой поставлен почти неодолимый предел. Его происхождение объяснить несложно, однако предварительно стоит напомнить [c.76]

Световая микроскопия широко применяется при исследовании морфологии волокон для установления особенностей макроструктуры (геометрия поперечного среза, размеры оболочки и ядра, по-разному окрашиваемых при сорбции — десорбции красителя, и т. п.). Однако изучение более тонкой структуры волокон затруднено из-за того, что световая микроскопия имеет определенную разрешающую способность, которая не превышает 2—3 мкм, хотя теоретическая разрешающая способность должна приближаться к полудлине волны используемого света. О дифракции поляризованного света уже говорилось выше. Наблюдение формы структурных объектов в микроскопе возможно при размерах этих элементов значительно больших, чем теоретическая разрешающая способность. [c.238]

Методы световой микроскопии классифицируют по способам освещения объектов исследования. Освещение в проходящем свете применяется при рассмотрении деталей тонких объектов, которые должны быть илп окрашенными, или, если они не поглощают света, отличаться по показателю преломления от той среды, в которую помещены, хотя бы на 0,1. Для исследования многих объектов лучше применять микроскопию с использованием падающего света (в отраженном свете). Для исследования непрозрачных объектов 8T0 единственно возможный метод. Боковое освещение является [c.248]

Использование когерентного излучения позволило создать принципиально новый метод проекционной микроскопии, основанный на применении квантовых усилителей света. Объект с помощью объектива освещается монохроматическим светом от лазера на парах меди. Офаженный от объекта свет проходит активную среду, усиливается и проектируется на экран. Когерентные микроскопы обеспечивают высокое просфанственное разрешение (1 мкм при увеличении порядка 1000. ., 1500) при яркости изображения, недоступного обычным световым микроскопам. Особенностью микроскопа являются возможность фокусировки мощного лазерного излучения на любом элементе объекта и возможность осуществлять его коррекцию. [c.509]

При работе в отраженном свете на микроскоп устанавливается на место щипцового устройства осветитель ОИ-12 и объектив крепится непосредственно к осветителю. Окулярная насадка при этом разворачивается на 180°, т. е. располагается со стороны осветителя. [c.109]

Телевизионная микроскопия осуществляется путем соединения оптической системы микроскопа с телевизионной трубкой. Свет, отраженный от объекта, попадает на фотокатод передающей. телевизионной трубки. Возникающее на фотокатоде напряжение усиливается и подается в систему управления яркостью свечения экрана приемной трубки. При этом сканирование приемной и передающей трубок синхронизировано. В связи с наличием усилителей даже весьма слабые отражения света от кристаллов объекта могут быть преобразованы в более сильные сигналы, что позволяет повысить контрастность изображения. В телевизионном микроскопе облегчается количественный подсчет различных элементов микроструктуры изучаемого объекта. [c.122]

Чтобы наиболее полно использовать оптические возможности микроскопа при микроскопическом исследовании таких веществ, необходимо тщательно выбрать подходящий способ освещения и метод наблюдения. Чаще всего приходится комбинировать различные методики. Исследование в проходящем свете применяется в широкой области увеличений от самых малых до самых больших при изучении препаратов веществ, которые по спектру поглощения или по показателю преломления заметно отличаются от склеивающей среды. Вопросы освещения падающим светом рассмотрены в трех разделах точечные лампы, применяемые при общем исследовании слабо увеличиваемых препаратов без склеивающей среды кольцевые опак-иллюхминаторы, которые при работе со слабыми увеличениями позволяют лучше регулировать освещение, а, кроме того, при средних и сильных увеличениях обеспечивают возможность исследования препаратов как без иммерсии, так и с водяной и масляной иммерсией обычные опак-иллюминаторы, применяемые при изучении поверхности непрозрачных (отражающих) объектов. Метод тёмного поля и ультрамикроскопическне методы исследования имеют особое значение при исследовании деталей, структуры и отдельных частиц, размеры которых меньше разрешающей силы микроскопа. Это объясняется тем, что на темном поде можно наблюдать любой объект (независимо от его величины), если вследствие преломления, диффракции или отражения света он сам становится источником света. Микроскопия с использованием фазоконтрастного приспособления представляет собой особое усовершенствование метода наблюдения в проходящем свете, который оказался весьма полезным при изучении объектов с малой разностью показателей преломления. Этот метод увеличивает резкость изображения, не уменьшая при этом разрешающей силы. [c.198]

Оиак-иллюминаторы. Опак-иллюминатор вертикально отраженного света представляет собой прибор для отражения света вниз через объектив, который в этом случае является одновременно конденсором и фокусирует свет на исследуемом объекте. Свет, отраженный от объекта, вновь попадает в объектив и дает изображение в окуляре. В своей простейшей форме опак-иллюминатор состоит из покровного стекла, же.лательно плоскопараллельного укрепленного в металлической трубке, которая имеет верхнюю нарезку для привинчивания к револьверу и нижнюю нарезку, куда ввинчивается объектив. Покровное стекло устанавливается под углом 45° к оптической оси микроскопа на уровне специально сделанного горизонтального отверстия в металлической трубке. Легко видеть, что при работе с таким осветителем источник света должен быть в оптическом смысле эквивалентен освещенному кругу, по диаметру и расстоянию от объектива соответствующему отверстию окуляра и посылающему свои лучи вниз к задней линзе объектива. Если такой источник света представляет собой отдельное устройство, не связанное жестко с микроскопом, то желательно иметь особый механизм, фокусирующий освещение на столик. Поскольку на практике опак-иллюминатор используется очень часто, можно рекомендовать привинчивающийся осветитель того типа, который обычно применяется с кольцевым опак-иллюминатором. [c.209]

Для исследования процессов и объектов под микроскопом применяют предметные столики с термоэлектрическим охлаждением, выпускаемые как для работы в проходящем, так и в отраженном свете. Подобные ТОУ снабжены соответствующими системами автоматического регулирования, что позволяют осуществлять охлаждение по заданной программе, что требуется, например, при исследовании процессов заморажива ия различных объектов. [c.111]

Микроскоп Уеп11уа1 — прямой микроскоп отраженного света. В нем может быть осуществлено саетлопольное и темнопольное освещение объекта, исследование в поляризованном свете и испытания на микротвердость (по Виккерсу и Кноопу). Этот микроскоп может применяться для исследования металлических и обыкновенных шлифов, рыхлых, зернистых препаратов и поверхностных структур. Приспособления к микроскопу устройство для определения микротвердости позволяет применять усилия до 160 г оно оснащено алмазными инденторами в виде пирамиды с квадратным основанием или пирамиды с длинным ромбическим основанием. Последнее особенно подходит для определения твердости тонких слоев, хрупких предметов, склонных к образованию тре- [c.111]

Рентгеновские лучи (а также и другие богатые энергией лучи) могут, воздействуя на соответствующие вещества, вызывать выделение видимого света (явление рентгенолюминесцснции). Так, просвечивание рентгеновскими лучами в наше время широко применяется в медицине, в технике при контроле качества металлических изделий и т. д. Поскольку сами рентгеновские лучи не видимы глазом, то, чтобы сделать изображение видимым, на пути рентгеновских лучей устанавливаются особые экраны, покрытые с поверхности химическими препаратами (фосфорами), состоящими большей частью из сульфидов цинка и кадмия с различными активирующими добавками. Эти препараты способны под действием рентгеновских лучей выделять видимый свет, и благодаря этому проекция просвечиваемого объекта на экране становится видимой глазом. В кинескопах различного рода телевизионных установок, в электронном микроскопе и др. подобное же возбуждение происходит под действием направленного электронного луча. [c.557]

Оптическая система микроскопа следующая от источника света лучи идут в две собирательные линзы-конденсоры, позволяющие повысить освеще ние объекта. После конденсоров лучи попадают на призму, преломляются и проходят поляризатор. Поляризованный пучок света проходит один из трех сменных конденсоров и освещает исследуемый объект. От препарата лучи направляются в объектив, анализатор и окуляр. Между объективом и анализатором в систему могут вводиться компенсационные пластинки. Диафрагмы расположены около осветителя, под поляризатором, над ним и в насадке. Диафрагма около осветителя является полевой. Две диафрагмы в конденсаторе — апертурные для различных объектов в насадке — для ограничения зерна минерала в коноскопическом свете. [c.109]

Лейтц-ортолюкс (ФРГ)— универсальный микроскоп для исследования в проходящем и (или) отраженном свете. В проходящем свете определения ведут в светлом и темном поле, при фазовом и интерференционном контрасте, при флуоресценции осуществляют микрофотографирование. В отраженном свете с помощью иллюминатора изучают поверхности непрозрачных объектов. Имеется опакиллюмннатор для просмотра ровных и полированных аншлифов (металла, руд, керамики и др.). [c.112]

Для микроскопического анализа порошка готовят суспензию, состоящую примерно из 0,2 г порошка и 20 см силиконовой жидкости или глицерина. Каплю суспензии помещают между предметным и покровным стеклами и рассматривают под микроскопом в проходящем свете, подбирая подходящее увеличение (Х400). Форму частиц зарисовывают с помощью рисовального пппарата. Размеры частиц определяют окуляр-микрометром, цена деления которого измерена по объект-микрометру. [c.139]

К металлографической annapaiype, предназначенной для исследования непрозрачных объектов в отраженном свете, относятся следующие приборы вертикальные малогабаритные металлографические микроскопы горизонтальные микроскопы для различных исследований веществ при больших увеличениях специальные фотографические установки для изучения макроструктуры различных твердых предметов при небольшом увеличении специализированные микротвердомеры. [c.110]

Фазовоконтрастная микроскопия предназначена для исследования таких элементов микроструктуры, которые изменяют не интенсивность прошедшего или отраженного света, т. е. амплитуду его колебания (как обычно происходит), а лишь фазу его колебания. Изменение фазы колебания света разными участками объекта не может быть замечено глазом или заснято на фотопластинку. К числу таких объектов микроструктуры, называемых фазовыми , относятся при прохождении света через объект — ступеньки на поверхности, разнотолщинные участки, различие участков по коэффициенту свстопреломлеиия при отражении света от объекта — ступеньки на поверхности и различие участков по коэффициенту отражения света. Оптическая система фазовоконтрастного устройства микроскопа позволяет преобразовать фазовые ко- [c.122]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология