Интенсивность линии истинная

Для определения размеров кристаллитов измеряли интегральную полуширину рефлексов полиэтилена 110, 220 и 002, а также линий эталонов, лежащих под брэгговскими углами, близкими к углам указанных отражений. Интегральную полуширину рефлексов вычисляли как отношение площади дифракционного максимума к его высоте после отделения рефлекса от фона. Истинную полуширину рефлекса, в предположении о гауссовом распределении интенсивности линий полиэтиленовых образцов и эталона, рассчитывали по формуле [c.341]

Следует отметить, что для получения истинной интенсивности линии, когда интенсивность фона вносит существенный вклад в суммарную интенсивность линии, необходимо измерять фон в области длины волны линии определяемого элемента или вблизи нее. Это является обычным в случае плазмы. [c.25]

Если в пробах присутствует свинец, аналитическая линия которого РЬ накладывается на линию Аз К , сначала измеряют суммарную интенсивность линий Аз и РЬ Отдельно измеряют отношение интенсивностей линий РЬ и РЬ 31,2 и рассчитывают истинную интенсивность линии Аз К - [c.99]

Можно предложить, однако, и другое объяснение расхождения в полученных значениях температуры. При температурах на оси струи 10 °К медь должна быть полностью ионизирована, и коэффициенты излучения линий ul должны принимать очень низкие значения в некоторых точках по оси струи. На практике, однако, эти провалы незначительны. Таким образом, нельзя получить истинное распределение коэффициента излучения данной линии по радиусу струи даже пересчетом полученного в эксперименте распределения интенсивности линии при помощи преобразования Абеля — на оси струи коэффициент излучения будет иметь завышенное значение. Для различных линий подобное искажение будет различным. Это, в конечном итоге, приведет к ошибкам в измерении температуры. В таком случае предпочтение следует отдать методам измерения температуры по спектрам элементов с достаточно высокими потенциалами ионизации и, в частности, по спектрам рабочего газа плазменных струй. [c.220]

Ед — Е вд — 1) кажущейся энергией (потенциалом) возбуждения — Ед ёд) [980]. Значения ие, для большого числа элементов приведены в работе [980]. В большинстве случаев поправка незначительна (0,1—0,3 эв) и учитывать ее практически не имеет смысла. Однако для ряда элементов значение >0,4 эв, а для некоторых (Ва, Сз, Ьа, Н1, Мо, Оз, РЬ, Р(1, Не, Зг, Та, 2г) составляет 0,6— 1 эв такая поправка при малой величине истинного потенциала возбуждения ед должна приниматься во внимание, так как она может заметно сказаться на Пд, а значит и на интенсивности линии. [c.88]

Рассмотренный вид освещения близок к так называемому когерентному освещению, имеющему ряд характерных особенностей а) отсутствие равномерного распределения интенсивности по ширине спектральной линии при широких щелях б) ширина спектральных линий намного уже геометрического изображения щели в) соответствие между истинной интенсивностью и интенсивностью линии в центре соблюдается. ишь при широкой щели спектрографа г) распределение интенсивности внутри линии меняется в зависимости от длины волны. [c.64]

Следует отметить, однако, что обычно наблюдаются различия в оценке одинаковых почернений фотометрическим и визуальным способами. Так, кажущееся почернение линий зависит как от профиля линии (резкая или диффузная), так и от окружающих линий. Обычно почернение линии кажется меньще истинного, если рядом расположена интенсивная линия. [c.51]

За исключением вольфрамовых ламп, которые дают истинно непрерывный спектр, и ртутных ламп низкого давления, которые дают линейчатый спектр, все упоминаемые ниже источники имеют смешанный спектр, содержащий как сплошное, так и линейчатое излучение. Количественное выражение относительных интенсивностей линий и континуума представляет собой особую проблему, так как световой поток от монохроматической линии выражается в Эйнштейнах на секунду, а поток от континуума — в Эйнштейнах на секунду и на единичную ширину полосы. Эта проблема уже упоминалась выше, далее она будет обсуждена более подробно, чтобы читатель мог получить максимальную информацию на основе спектрального распределения источников света. [c.154]

Разумеется, этот способ построения градуировочных графиков не является единственно возможным. Эмпирическое установление связи между измеряемой величиной и концентрацией элемента в пробе, представляет выгоду и в том отношении, что позволяет не определять истинного значения относительных интенсивностей линий, что в ряде методов весьма усложняло бы работу. Вместо определения интенсивностей линий можно ограничиваться измерением какой-либо проще определяемой величины, функционально связанной с интенсивностью (например отсчёт фотометра), и строить график для концентрации и этой величиной непосредственно, не переходя к интенсивностям. В этом случае графики могут, конечно, потерять свой прямолинейный характер. [c.179]

Вследствие искажений, которые в истинное распределение энергии в спектре вносит сам спектральный прибор, интенсивность линий распределяется неравномерно по некоторой площади. Следовательно, близкие длины волн дадут такие линии, которые будут частично налагаться одна на другую. Свойство прибора в той или иной степени разделять эти излучения называют разрешающей способностью Ы = -т— [c.69]

Значительное поглощение материалом пробы претерпевает не только первичное излучение, но и флуоресцентное, в процессе своего выхода из глубины пробы. Поэтому истинная глубина, с которой будет регистрироваться флуоресценция, может оказаться гораздо меньшей, чем глубина проникновения в пробу пучка первичных лучей. Глубину пробы, ниже которой ее слои дают менее 1% регистрируемой части интенсивности, называют критической. Оценить критическую глубину очень важно от нее в большой мере зависит объем излучающего материала, а следовательно, и интенсивность линий, точность анализа, способ и требуемое качество подготовки пробы к анализу. [c.227]

Кристалличность, вычисляемая по данным инфракрасной спектроскопии, определяет число мономерных единиц, входящих в регулярно построенную спираль изотактического полимера. Эта величина не равна ки истинной степени кристалличности, ни относительному содержанию изотактического полимера, поскольку интенсивность полос, по которым судят о кристалличности, не изменяется при нарушениях кристаллической решетки, а изотактические макромолекулы, не образующие спирали, не дают вклада в интересующие исследователя полосы. Миллер показал, что в некоторых случаях для закаленных образцов инфракрасный спектр указывает на полную кристалличность полимера, в то время как по дифракции рентгеновских лучей можно видеть, что упорядоченность кристаллической решетки весьма низкая. Эта форма полипропилена, промежуточная между кристаллической и аморфной, была названа Миллером некристаллической . Кристалличность, измеряемая методом инфракрасной спектрометрии, оценивается по интенсивности какой-либо полосы, относимой к кристаллическому состоянию, для пленок одной и той же толщины. Обычно за меру толщины принимается интенсивность линии спектра, сохраняющейся в аморфном полимере. Независимые измерения толщины пленки могут быть выполнены методом поглощения р-частиц Во многих работах кристалличность оценивали по интенсивности полос при 840 или 997 см а в спектре аморфного полимера фиксировали полосы при 975 или 1160 смг (работы 5 . Однако использовать полосы при 1160 см как стандарт толщины пленки менее желательно, поскольку эта полоса образуется вследствие наложения различных колебаний. [c.353]

В двух предыдущих параграфах было показано, что колебательные спектры комбинационного рассеяния дают обширную информацию о строении молекул. В спектрах КР весьма отчетливо проявляется симметрия молекул. В соответствии с симметрией колебания молекулы распадаются на ряд классов. Для каждого класса колебаний существуют правила отбора, определяющие возможность для данного колебания проявиться в инфракрасном спектре или спектре комбинационного рассеяния. Класс колебаний определяет также (качественно) интенсивность линий и состояние их поляризации. Число колебаний каждого класса симметрии и число соответствующих им линий в спектре может быть легко подсчитано на основе теории групп. Таким образом, колебательные спектры позволяют сделать выбор между несколькими возможными моделями некоторой молекулы и установить истинную модель (см. 9). [c.220]

Истинное нарущение пропорциональности между интенсивностью линий комбинационного рассеяния и концентрацией рассеивающих молекул может возникнуть из-за образования молекулярных соединений [300, 301]. Зафиксированы также многочисленные отступления от линейной зависимости (17.52), связанные несомненно с межмолекулярным взаимодействием [302—308]. [c.353]

ПО фор,муле (22.18) ). Таким образом, в принципе можно найти все множители в формуле (22.18), зависящие от свойств данной среды. После этого может быть определен коэффициент рассеяния х=/в(0)хо, характеризующий истинную интенсивность линий комбинационного рассеяния вещества. [c.476]

Проведенные исследования показывают, что формулой (22.18) можно пользоваться для определения истинной интенсивности линий комбинационного рассеяния, соблюдая соответствующие условия измерений. [c.477]

Определение проводят по одной серии эталонов, приготовленных на основе фтористого лантана. Используют метод добавок, описанный в работе [1]. Метод позволяет исключить влияние валового состава пробы на интенсивность линий определяемого элемента. Суть его заключается в следующем. Если X — искомое значение определяемого элемента, X — концентрация, найденная гГри анализе с эталонами иного состава, чем анализируемая проба, А — вводимая добавка, а Д —разница между значением определяемого элемента в пробе с добавкой и без добавки, то, положив, что зависимость между Д и А прямопропорциональная, находим истинное содержание неизвестного элемента по формуле [c.17]

В ранних работах, когда производилась оценка распространенности того или иного изотопа по измерениям интенсивности в спектре, такого рода вопросы даже не ставились, ибо принималось, что различия в свойствах изотопов слишком малы и отношения интенсивностей компонентов изотопной структуры пе могут существенно искажаться этими различиями. Это утверждение в какой-то мере справедливо, и оценки, основанные только на измерении интенсивностей, дают достаточно хорошие для многих целей значения, которые, однако, не могут без предварительного внимательного исследования служить точной количественной характеристикой изотопного состава. В особенности это существенно для легких элементов, так как относительные различия в свойствах их изотопов выражены наиболее резко. Несмотря на это, именно ио отношению интенсивностей линий Н и 0 1 было впервые оценено содержание дейтерия в природном водороде и получено довольно близкое к истинному значение [ ]. [c.524]

Определение интенсивности фотографическим методом описано подробно в предыдущем параграфе. Здесь необходимо только отметить следующее. По почернению на фотопластинке мы определяем интенсивность линии в максимуме ее контура вместе с излучением сплошного спектра-фона. Для получения истинной интенсивности линии комбинационного рассеяния необходимо исключить интенсивность фона. Для этого определяется интенсивность в максимуме линии и интенсивность фона слева и справа Jф от линии, которая вычитается из интенсивности линии в максимуме почернения [c.105]

Получены [1686] рамановские спектры хлороформных растворов полиметилметакрилата. Интенсивность линий, определенная в мутном растворе полимера, связана с истинной интенсивностью и коэффициентом деполяризации, что было доказано экспериментально. Эффективные значения коэффициентов деполяризации, измеренные для твердых полимерных стержней или для раствора, отличаются от исправленных величин, полученных с учетом вышеупомянутой зависимости, в особенности для поляризованных линий. Интенсивность рамановских линий, соответствующая одной метилметакрилатной единице в полимере, совпадает с интенсивностью соответствующей линии в модельном соединении. В работе [1686] не обнаружено наличия зависимости между видом рамановских спектров и степенью регулярности полимера. Рамановский спектр полиметилметакрилата в хлороформном растворе представлен на рис. 126. Оптимальная концентрация полимера составляет 3—10%. В низкочастотной области рамановских спектров (менее 100 см ) твердого аморфного полиметилметакрилата имеются две широкие полосы поглощения, которые прежде не были разрешены. Они были приписаны [1687] изменениям плотности функций состояния скелетных колебаний. [c.340]

Существует несколько способов экспериментального определения кислородного параметра в шпинели 1) одновременное определение X и и графическим методом из экспериментальных интенсивностей дебаевских рефлексов [2] 2) определение и из интенсивностей линий, почти не зависящих от Я [3] 3) построение проекции Фурье по измеренным интенсивностям для нахождения истинных позиций атомов в элементарной ячейке [4] 4) метод несистематических погасаний [5] 5) исследование эффекта Мессбауэра [6] и др. [c.81]

Если в анализируемом материале содержится свинец, то линия РЬ La накладывается на линию As К - В этом случае измеряют суммарную интенсивность линий As и РЬ L . В отдельном опыте определяют отношение иитепсивиостей линий РЬ и РЬ и вычисляют истинное значение интенсивности линии As К - Если содержание мышьяка выше то мышьяк определяют по ме- [c.179]

В данном случае, говоря о содержании меди в электродах, мы допускаем неточность. На самом деле речь идет о количестве меди, испарившейся из электрода во время экспозиции, выраженном в процентах от навески масла. В нашем примере это количество составляет 0,0000125%. Для определения количества меди, испарившейся из электродов (верхнего и нижнего), среднюю интенсивность линии меди для пустых электродов (/(, = 1,43) откладывают по ординате. Далее проводят горизонтальную прямую до пересечения с линией АС и из точки пересечения опускают перпендикуляр на ось абсцисс (точка О). Величина отрезка СВ характеризует искомую концентрацию (в нашем примере 0,0000055%). Разность 0,0000125 —0,0000055 = 0,000007 % указывает на содержание меди в чистом масле СУ, на основе которого приготовлены эталоны. Следовательно, для определения истинного содержания меди в эталонах необходи.мо к концентрации. меди, введенной в эталон, прибавить концентрацию, обнаруженную в основе. [c.130]

Рис. 4. Влияние ширины щели спектрометра на наблюдаемую ширину линии Аг, максимальную оптическую плотность е ах и отношение наблюдаемой интегральной интенсивности к истинной ВШтах ДЛя полосы поглощения с шириной 2,36 м (2814 сл -1 НгО).

Интенсивности линий между 2500 и 2600 А определяли, используя линию 2923, 62 А в качестве опорной. Применяли фильтр с 15 пропусканием, а коэффициент усиления усилителя выбирали таким, что интенсивность опорной линии могла быть увеличена в 10 раз. После этого фильтр убирали и осуществляли сканирование спектра от 2500 до 2600 А. Истинная интенсивность каждой линия относительно опорной составляла после этого 0,09 от величины, зарегистрированной при коэффициенте усиления, раваом 10. [c.72]

Абсолютные интенсивности линий ОН были определены такл е Авраменко и Кондратьевым [40]. Они измерили изменение интенсивности узких линий ОН, даваемых электрическим разрядом как источгшком света при прохонлдении излучения через ночь, содержащую пары воды. Спектрограф, использованный нри этих исследованиях, имел относительно малую разрешающую силу. Чтобы определить истинные интенсивности но экспериментально измеренным максимумам интенсивностей линий ноглогце-ния, необходимо получить количественные данные о контурах спектральных линий, даваемых источником света и поглотителем. К сожалению, для, ОН не было подобных данных и поэтому достоверные удовлетворительные оценки интенсивностей не получены [7]. [c.107]

Эффективная ширина щели, необходимая для удвоения истинной интенсивности линии, велика и должна быть больше полуширины линии, экспериментально полученной в [8]. Более того, метод Слэтера нельзя применять для этого случая. Авторы работы [7] пришли к выводу, что полученная предельная разрешающая сила значительно меньше первоначально предполагаемой. Без нгароких исследований невозможно решить, обусловлено ли это расхождение решеткой, микрофотометром или же неспособностью фотографической пластинки точно воспроизвести большие градиенты интенсивности . Подобное замечание применимо и к работе [c.112]

Как обсуждалось в разд. 6.4, существуют три способа измерения интенсивности линий измерение максимального почернения в пике, измерение максимального почернения, умноженного на ширину линии, и измерение общей площади почернения. Простейший способ — измерение максимального почернения. Имея определенный опыт, экспериментатор может вручную устанавливать пластину в микрофотометре точно на вершине линии. Другой возможный способ, требующий меньшего мастерства, но более длительный, — запись почернения линий на ленту и измерение высоты каждого пика. При этом время срабатывания измерительной системы и скорость сканирования должны быть выбраны так, чтобы измерялись истинные контуры линий. Это можно быстро проверить измерением той же линии при большей скорости сканирования или с другой постоянной времени. Скорость сканирования или постоянную Bpei ieHH, при которых кажущаяся высота линий начинает уменьшаться, и следует считать предельно допустимыми. Измерение линий по максимуму почернения обеспечивает точность не выше 40%. [c.209]

С этой целью исследовалось влияние описываемого эффекта на ширину и форму линий рентгеновского спектра. Было рассмотрено 10 рентгенограмм, полученных через равные интервалы времени (3 месяца) и проявленных в стандартных условиях. Полученные рентгенограммы микрофотометрировалп с увеличением в 20 раз. После этого микрофотограммы подвергались пятикратному увеличению и окончательно вычерчивались на миллиметровой бумаге. Увеличенные таким образом в 100 раз профили рентгеновских линий пересчитывались затем с помощью сенситометрнческод кривой, полученной для используемого сорта фотоматериалов, от почернений на истинные интенсивности. После этого промерялись характеризующие линии параметры — полуширина и индекс асимметрии. Как показали эти прОлмеры, ширина и индекс асимметрии линий с большой точностью оказались совершенно неизменными, в то время как возрастала интенсивность линий и особенно интенсивность непрерывного фона, которая на этих рентгенограммах в 5—6 раз превышала соответствующую интенсивность первых контрольных снимков. [c.55]

Сплошная кривая — фотометрическая кривая, пунктирная — та же кривая пооле пересчета от почернений к истинным интенсивностям Оо — истинная полуширина спектральной линии. [c.57]

Таким образом, при помощи полученной серии кривых довольно легко производить пересчет ширины линий на половине ее интенсивности на истинную, при использовании легко поддающихся опытному определению величин. Индекс асимметрии не подвергается сколько-нибудь заметному искажению и может просто измеряться на микрофотограммах. Кроме того, по данным теории, подтвержденным специальными опытами (рис. 16), полуширина йд и пндекс асимметрии спектральных линий (после пересчета линий от почернений на интенсивности) не зависят от величины максимума. [c.61]

Поэтому сложная структура основного края поглощения атомов переходных элементов в металлах рассматривалась, так же как и в случае поглощения атомами в молекулах, как результат суперпозиции истинного края поглощения (в первом приближении описываемого арктангенсоидой) и селективных длинноволновых линий, появление которых обусловлено особым характером заполнения 3 -полосы в металлах этих элементов. К числу экспериментальных фактов, которые можно рассматривать как наиболее веские доказательства справедливости описанного выше взгляда на структуру края поглощения атомов переходных элементов в металлах, относятся результаты сравнительного изучения структуры краев поглощения элементов в различных рентгеновских сериях. В самом деле, допустим, что появление длинноволновой. линии в пределах основного К-края поглощения действительно связано с селективным перебросом К-электронов атома на свободные 3 -уровни в металле. Тогда такой переход будет представлять собой квадрупольный, относительно маловероятный переход и может объяснить появление лишь слабой по интенсивности линии поглощения. Если такая линия все-таки наблюдается на опыте, то для этого нужно предположить специальный вид функции, передающей зависимость плотности состояний от энергии. Она должна иметь максимум в области энергий, отвечающих 3 -уровням атома в металле. [c.196]

Для наблюдения спектров КР первого порядка кристаллов при комнатной температуре монохроматор должен иметь разрешение 1 СМ , особенно если необходима регистрация истинного контура полос. Для регистрации спектров КР, обусловленных двухфононными процессами, обычно следует использовать большую ширину щели, порядка 5 см , однако в таких случаях теряется такая важная экспериментальная информация, как локализация критических точек функции плотности колебательных состояний. Выбор телесного угла, в котором собирается рассеянное излучение, вызывает определенную дискуссию. Максимальное отношение сигнал/шум достигается, если рассеянное излучение собирается под очень большим углом. С другой стороны, для измерения компонент тензора поляризуемости с высокой точностью рассеянное излучение необходимо собирать в небольшом телесном угле, не более 10°. На практике следует учитывать оба фактора если для достижения высокого отношения сигнал/щум используется сбор рассеянного излучения под большим углом, то при необходимости поляризационных измерений следует для повышения точности применять диафрагму. При количественных измерениях интенсивности линий КР следует вводить ряд инструментальных поправок, которые включают изменение чувствительности детектора с длиной волны поляризацию излучения внутри монохроматора и изменение дисперсии монохроматора, если геометрическая ширина щели сохраняется постоянной. Требуется также тщательный контроль постоянства выходной мощности лазера в течение времени записи спектра. Часто бывает желательно сравнить интенсивность линии КР со вторичным стандартом. Для этих целей пригодны небольшие (несколько см ) кристаллы кальцита (исландского шпата) или а-кварца, поскольку они легкодоступны, имеют хорошее оптическое качество и дают линии спектра КР в наиболее часто исследуемом диапазоне. Для сопоставления могут использоваться и другие вторичные стандарты в жидкой фазе, такие, как четыреххлористый углерод и бензол. Эти вещества являются [c.437]

Тетрагональные окислы получаются только в процессе окисления иОг или и02+х и никогда не образуются при восстановлении или тензиметрическом разложении окислов урана. Это означает, что указанные окислы метастабильны и подлинного равновесия нет. Истинная структура тетрагональных окислов не установлена, поэтому параметры решетки для них (см. табл. 1.4) всегда приводятся в термах гранецентрированной псевдоячейки, выведенной из флюоритной решетки иОг. Плотности тетрагональных фаз выше, чем плотность иОг. Этот факт, а также распределение интенсивности линий на рентгенограммах окислов говорит о том, что кислород, избыточный против стехиометрического состава, находится, как и в случае иОз+ж и 11469, в порах флюоритной решетки. [c.25]

Биман [144] показал, что почти все процессы фрагментации, в результате которых наблюдаются интенсивные линии в масс-спектрах органических молекул, можно сгруппировать в ограниченное число типов реакций, которые он обозначил А1 5, В и С. Подход был весьма общим. Была сделана попытка интерпретировать масс-спектры исходя из устойчивости продуктов в реакциях фрагментации. Формально предполагалось, что разрыв простой связи происходит без перегруппировки, так что в этом случае можно предсказать структуру иона, причем в первом приближении рассматривали только стабилизацию положительных осколочных ионов. Устойчивость третичных карбониевых ионов привлекается для объяснения преимущественного разрыва связей в точках разветвления углеводородов [тип А], уравнение (27)]. Стабилизация положительного заряда я-системами служит для объяснения разложения аллильных [тип Аз, уравнение (28)] и бензильных производных (тип А4). Продукт разложения типа А4, как правило, не является бензильным производным (разд. V, В), что, однако, не умаляет значения этих обобщений, хотя и показывает, что истинное положение вещей сложнее, чем схема. [c.54]

Методика экснернментального определения описанная для линий, форма которых пе искажена вследствие нелинейности связи почернения линий с нх интенсивностями, не изменится и для линий, форма которых представлена в единицах почернения. Это связано с тем, что точки А, В и С на нижнем графике рис. 37 отвечают одному и тому же значению интенсивности н поэтому при любом виде зависимости 0=1 (/) на искаженном профиле линий (верхняя кривая, рис. 37) они будут находиться на одном уровне. Поэтому всегда измерение ширины линии большей интенсив]юсти по контуру почернения на высоте пика другой, в определенное число раз менее интенсивной линии, позволяет, пользуясь соотношением (19), вычислить истинное значение Г. [c.50]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология