Получение высокого разрешения

Углеродные реплики почти полностью аморфны, химически инертны, в значительной степени прозрачны для электронов, весьма прочны механически и устойчивы под электронным пуч-1<ом. Поэтому их можно изготавливать очень тонкими и пригодными для получения высокого разрешения. Сравнимы с ними но свойствам лишь реплики из кварца или окиси кремния. Еще одно преимущество углеродных пленок состоит в том, что они хорошо видны визуально в процессе препарирования углеродную пленку, толщиной даже в 50 А, нетрудно заметить на поверхности воды на белом фоне, так как она представляется светло-коричневой в проходящем свете. [c.97]

Еще первые работы по молекулярно-ситовой хроматографии показали, что с уменьшением диаметра колонки ее эффективность падает. Поэтому в обычной практике используют колонки большего диаметра, чем обычно применяемые в распределительной или адсорбционной хроматографии. Чаще всего для аналитических целей применяют колонки с внутренним диаметром 7—8 мм, а для препаративных целей — более 60 мм. что дает возможность достичь эффективности более 6000 тарелок на один метр. Использование колонок большого диаметра и большой длины для получения высокого разрешения требует специального оборудования. [c.78]

Преимущество фурье-спектрометра перед сисамом — возможность получения высокого разрешения (не ограниченного разрешающей силой решетки) и одновременная запись всего спектрального диапазона недостаток — необходимость последующей расшифровки регистрограммы (интерферограммы). [c.349]

Для широкого класса приборов именно эти обстоятельства ограничивают разрешающую способность, которая оказывается пропорциональной линейной дисперсии. Поэтому для получения высокого разрешения часто приходится применять приборы с большой дисперсией. Это обусловило ее очень точную терминологию. Часто говорят о приборах с большой дисперсией, как о приборах высокого разрешения. В действительности же лишь в некоторой области изменения параметров прибора увеличению линейной дисперсии соответствует увеличение разрешающей способности ). [c.80]

Вопрос о конкретном виде весовой функции д(1) пока не затрагивался, а между тем ее выбор очень важен для экспериментального определения оценок спектральной плотности, особенно при необходимости получения высокого разрешения. [c.82]

Существенной особенностью этого уравнения является то, что разрешение любого масс-спектрометра или масс-спектрографа с двойной фокусировкой, состоящего только из цилиндрического электрического поля и следующего за ним однородного магнитного поля, не зависит ни от одного параметра, относящегося к магнитному полю. Для получения высокого разрешения необходимо, чтобы радиус кривизны траектории в электрическом отклоняющем поле был велик по сравнению с шириной в.ходной щели и чтобы входная щель была удалена от первой фокальной точки. Таким образом, электрическое поле должно создавать уменьшенное изображение входной щели, что приводит к уменьшению используемых площади объекта и телесного угла пучка ионов в результате чувствительность прибора снижается. [c.80]

Эталон Фабри Перо. Эталон Фабри — Перо, иначе называемый интерферометром Фабри — Перо, сейчас является главным прибором, применяемым для получения высокого разрешения в спектре. Его действие основано на прохождении света между двумя плоскопараллельными светоделительными поверхностями. Эталон может быть выполнен в виде плоскопараллельной стеклянной или кварцевой пластинки, на обе поверхности которой нанесены светоделительные отражающие слои (рис. 6.6, а), либо в виде двух плоских полупрозрачных зеркал, расположенных параллельно друг другу и разделенных воздушным промежутком (рис. 6.6, б). [c.161]

За счет увеличения ширины щели наблюдается незначительное увеличение высоты пика. Это положение не может быть применено к пикам метастабильных ионов, поскольку распределение по энергиям ионов, достигающих коллектора, значительно больше, чем в случае стабильных ионов. Таким образом, увеличение ширины входной щели (выше обычной) приводит к увеличению интенсивности пиков метастабильных ионов по отношению к другим пикам в спектре. Обратно, при уменьшении ширины щелей для получения высокого разрешения пики метастабильных ионов в масс-спектре становятся менее интенсивными и, наконец, совершен- [c.261]

ПОЛУЧЕНИЕ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ [c.151]

МОЖНО найти местоположение атомов с точностью 0,4 А. Чтобы определить местоположение атомов с точностью 0,2 А, нужно иметь совершенные кристаллы и разрешение 1,9 А. Что это означает на практике, видно из рис. 1.2. Для получения высокого разрешения необходимо использовать при расчетах рефлексы, полученные при больших углах рассеяния, а из рисунка видно, что эти рефлексы очень слабы. Следует отметить к тому же, что большинство кристаллов дает худшую дифракционную картину, чем представленная на рис. 1.2. [c.17]

Может показаться, что вариант эксперимента с переключаемым декаплером уменьшает проблему оцифровки по (фактически вдвое) из-за того, что в этом методе диапазон спектра вдвое уже. Однако при этом желаемое нами разрешение, а также расстояние между линиями также будут вдвое меньше, что, напротив, создает проблему для получения высокого разрешения. Для описанных ниже экспериментов с низким разрешением уменьшение диапазона спектра оказывается полезным. Кроме того, есть и другие преимущества использования метода переключаемого декаплера перед импульсным, которые мы обсудим в разд. 10.3.3. [c.378]

Исследования при помощи дифракции электронов и крайне чувствительного темиопольного метода показали, что в пленках не содержится заметных кристаллов. Пленки вполне устойчивы во время электронной бомбардировки при увеличениях 40 ООО— 60 ООО, грануляция платины наблюдается лишь после облучения, которое но интенсивности во много раз превышает нормальное. После такого облучения, согласно данным темно-польного метода и электронографии, в пленках обнаруживаются кристаллиты, причем такую же картину грануляции дает платина, напыленная в отдельности на углеродную пленку. Полученные данные свидетельствуют о том, что этот способ является многообещающим для получения высокого разрешения при оттенении. При наблюдении в электронном микроскопе с высокой разрешающей способностью собственную структуру пленок обнаружить не удается, а тени представляются очень резкими даже в том случае, если расстояние от источника испарения до объекта составляло всего 2,5 см. Следовательно, источник можно рассматривать в качестве точечного. [c.88]

Эталон Фабри — Перо. Эталон Фабри — Перо, иначе называемый интерферометром Фабри — Перо, сейчас является главным прибором, применяемым для получения высокого разрешения в спектре. Его действие осйовано [c.164]

Определяя положение и интенсивность дифракционных максимумов (для нативного белка и для соответствующего числа его изоморфных производных), можно в принципе вывести из этих данных структуру интересующего нас бе,пка. Для получения высокого разрешения требуется провести измерения на очень большом числе дифракционных максимумов. Кендрью, например, при расшифровке структуры миоглобина измерил более 10 ООО максимумов и таким путем достиг разретония около 1,5 А. Эта работа требует весьма сложных математических расчетов, для выполнения которых приходится использовать быстродействующие вычислительные машины. [c.106]

Следовательно, для получения высокого разрешения в ГПХ необходимы колонки большого диаметра и большой длины, и поскольку используемая система подачи растворителя должна обеспечивать заполнение требуемого объема колонки, оборудование хроматографической системы должно отвечать ряду специфических требований. Для этого необходимо использовать механические насосы (непрерывного действия), если же применяются насосы шпри-цевого типа, то они должны обеспечить по крайней мере двух-, трехкратную замену объема колонки, чтобы исключить пульсацию во время подачи. [c.196]

В гетеродинном методе биения происходят при взаимодействии лазерного нерассеянного света стандартной частоты с рассеянным св. м. В результате взаимодействия световых воля с близкими частотами ы, и ы на катоде фотоумножитспя возникает гц>моника фототока, меняющаяся с чАтотой -ы, много меньшей час- / ТОТЫ видимого света ы 10 с , детектирование которой не представляет затруднений. Таким образом, здесь используется щтнцип гетеродина, который уже давно нашел применение в радиотехнике для получения высокого разрешения радиочастот. [c.220]

Для диапазона 2,2—4,2 мкм Пайн [104] использовал спектрометр, работающий на разностной частоте прп смешении в кристалле LiNbOs излучения перестраиваемого лазера на красителях, работающего в непрерывном режиме, с излучением аргонового лазера с фиксированной частотой [66]. При работе обоих лазеров видимого диапазона в одномодовом режиме Пайн получил перестраиваемое по частоте инфракрасное излучение мощностью 1 мкВт со спектральным разрешением 5-10 см (15 МГц) и плавной перестройкой электронными средствами в пределах 1 см . С помощью этой установки он из.мерил ограниченные доплеровским уширением спектры колебательной полосы з молекул СН4 и СН4 и с высокой точностью определил тетраэдрическое расщепление в Р- и R-ветвях. Полученное высокое разрешение существенно для выбора одной из двух моделей, предложенных для описания колебательно-вращательного взаимодействия высокого порядка, вызывающего расщепление вращательных уровней. Были исследованы также [105] уширение и сдвиг молекулярных линий при низком и высоком давлениях (давление атмосферного воздуха). [c.269]

Хорошее разрешение может быть достигнуто дифракционным спектрографом с вогнутой решеткой, имеющей радиус кривизны А м и 1200 штрихов мм. Решетка должна концентрировать максимум света в красной области спектра второго порядка, в котором получается нужная дисперсия. Если для получения высокого разрешения используется интерферометр Фабри — Перо, то наиболее подходящим спектральным шрибором является светосильный трехпризменный стеклянный спектрограф ИСП-51 с объективом камеры с фокусным расстоянием 270 мм. Этот спектрограф удобно скрещивать с интерферометром во внутренней установке, располагая интерферометр между объективом коллиматора и призмами. Для красной линии лития наиболее подходящая ширина промежутка между зеркальными поверхностями интерферометра 4 мм. В этом случае трехкомпонентная структура укладывается в пределах одной области дисперсии, которая составляет 0,56А. Достаточное разрешение получается при коэффициенте отражения серебряных полупрозрачных слоев приблизительно в 88%. [c.162]

Характерная форма высокочастотных полярограмм, а именно наличие двух пиков, обеспечивает в ряде случаев получение высокого разрешения систем с близкими потенциалами полуволн [Л. 140 и 141]. В частности, разработаны методики,определения цинка и кобальта или цинка и никеля в пищевых продуктах [Л. 140]. Определение цинка (5-10- моль л- -) на фоне 0,5 н. СНзЫВг возможно при 100-кратном избытке кобальта и никеля. Допустимый избыток цинка при определении кобальта и никеля на уровне 5-10 моль л составляет соответственно 5 и 10. Верхняя граница диапазона концентраций, в пределах которого сохраняется линейная зависимость между высотами пиков и концентрациями на частотах от 50 кгц до 1 Мгц, в случае цинка равна 2,6-10 моль-л , при определении кобальта и никеля [c.111]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология