Вайсенберга вращения

Первоначальные схемы рентгеносъемок по методу Вайсенберга предполагали строго фиксированное расположение первичного пучка по отношению к оси вращения кристалла и составлявшее угол 90°. В результате этого при рентгеносъемке ненулевой слоевой линии с большими значениями п существует слепая область, точки которой не отображаются на рентгенограмме. [c.117]

Полная же аналогия имеется между давлением Р в цилиндрическом сосуде с толстыми стенками из эластичного материала и распределением напряжений Т (растяжения) в толще стенки как функции расстояния К от оси сосуда. Можно ожидать, что натяжение Т пропорционально градиенту скорости течения на данном расстоянии К от оси. Тогда задача сводится к отысканию распределения скоростей течения и коэффициента пропорциональности. Причина же возникновения натяжения линий тока представляется достаточно очевидной — это растяжение, а в пределе и распрямление молекулярных клубков под действием сдвиговых напряжений. Известно, что вытянутые частицы (клубки) преимущественно ориентируются своей длинной осью под углом к направлению течения. Далее не сложно убедиться, что растягивающая сила пропорциональна разности скоростей движения жидкой среды у концов растянутой молекулы, т. е. углу наклона ее оси к линии тока. Известно также, что ориентация частиц непостоянна, т. е. частицы вращаются в потоке. Следовательно, в той фазе вращения, когда ось растяжения молекулы совмещена с направлением линии тока, растягивающие силы не действуют и молекула получает возможность свернуться в клубок, сокращая, таким образом, тот отрезок линии тока, частью которого она является. Суммирование этих эффектов и создает макроскопическое проявление натяжения линий тока в виде эффектов Вайсенберга. [c.745]

Более удобный метод, так называемый метод рентгенограммы Вайсенберга он заключается в том, что фотопленку медленно перемещают параллельно оси вращения кристалла. Движения синхронны поэтому угол поворота кристалла для каждого отражения можно [c.37]

Гониометрическую головку зажимают на шпинделе камеры Вайсенберга, положение шпинделя устанавливают так, чтобы кристалл мог находиться на пути рентгеновского луча. С помощью смонтированного на камере оптического приспособления можно проследить за положением кристалла, при повороте шпинделя рукой кристалл должен быть центрирован на оси вращения. Если этого нет, то центрировка кристалла проводится следующим образом [c.56]

Рентгенограммы по Вайсенбергу отличаются от рентгенограмм качания тем, что на пленке регистрируются пятна только от одной слоевой линии. Как это происходит, показано на рис. 25. Ось цилиндрического экрана совпадает с осью вращения кристалла, а щель его уста- [c.65]

Когда = V =0, падающий пучок перпендикулярен оси вращения кристалла, т. е. схема съемки соответствует схеме Вайсенберга для нулевой слоевой линии. [c.74]

Для триклинной системы необходимо получить рентгенограмму по Вайсенбергу трех нулевых и трех первых слоевых линий для того, чтобы быть уверенным в выборе соответствующих друг другу осей и, следовательно, совместных индексов отражений. Пятна, находящиеся на осях для развертки первой слоевой линии, уже не будут лежать на осях для разверток нулевых плоскостей, снятых при вращении кристалла вокруг других осей. [c.78]

После определения параметров элементарной ячейки и пространственной группы (или нескольких возможных пространственных групп) можно приступить к сбору данных по интенсивностям отражений. Для определения полной трехмерной структуры кристалла используют обычно три отдельных кристалла, каждый из которых устанавливается по одной из кристаллографических осей, хотя, если это необходимо, можно провести все измерения и на одном кристалле. Если кристалл ориентирован осью а вдоль оси вращения, то, используя камеру Вайсенберга, можно получить рентгенограммы следующих плоскостей обратной решетки [c.87]

В ортогональных системах оси прямой и обратной решеток совпадают, и положение оси вращения кристалла в камере Вайсенберга таково, что, когда одна ось обратной решетки пересекает экватор рентгенограммы, другая ось расположена вертикально для камеры Вайсенберга горизонтального типа поворот на 90° приведет к совпадению этой оси с направлением луча. [c.106]

Рассмотрим кристалл, принадлежащий неортогональной системе, установленный таким образом, что возможно его вращение относительно оси а. Юстировку кристалла легче вести, если одна из осей обратной решетки кристалла, скажем ось Ь, параллельна одной из дуг. Кристалл юстируют по отражениям нулевой слоевой линии, когда р = = —V = О, и приходится иметь дело только с углами у и ф. Полезно иметь соответствующую рентгенограмму Вайсенберга, для которой известны значения ф. [c.111]

Отражения нулевой плоскости регистрируются на окружности, расположенной под прямым углом к оси вращения кристалла, который находится в центре этой окружности. Связь между рентгенограммой по Вайсенбергу и углами ф и у, измеряемыми с помощью дифрактометра, показана на рис. 47. [c.113]

Первое условие вытекает непосредственно из определения углов Поворотный круг ф обеспечивает вращение кристалла, его плоскость расположена под прямым углом к оси шпинделя, на котором находится кристалл, т. е. это тот же угол ф, что был введен раньше при рассмотрении камеры Вайсенберга и дифрактометра. Круг ф показан на рис. 48, а, кристалл может быть установлен на гониометрической головке или просто на жестком острие. [c.119]

При использовании метода развертки (о/20 все отражения измеряются счетчиком, поворачивающимся в горизонтальной плоскости. Этот поворотный круг и есть круг 20. Если ось вращения кристалла расположена под прямым углом к этому кругу, то в плоскости круга будут находиться отражения нулевой плоскости для данной оси вращения кристалла (если, конечно, кристалл установлен по кристаллографической оси, что не является обязательным), и при повороте счетчика на разные углы 20 можно провести измерение всех отражений, соответствующих этой нулевой плоскости обратной решетки. Точно таким же способом аналогичные данные собирают на дифрактометре с геометрией Вайсенберга путем вращения счетчика на угол у. На рис. 48, б круг 20 изображен под прямым углом к оси вращения кристалла. [c.119]

Согласно [19] (1937) исследованы монокристаллы [В8 методом вращения и Вайсенберга при 103° С. Обнаружена элементарная ячейка а— 10,90 6 == 10,96 с = 11,02 а 6 с =0,9945 1 1,006 р=83°16 пространственная группа С и — Молекула Зв, возможно, вращается ( ). [c.343]

В домашних условиях эффект Вайсенберга можно наблюдать при вращении в сгущенном молоке стержня (например карандаша), закрепленного в патроне электрической дрели. [c.107]

Непосредственным развитием метода вращения кристалла является рентгеногониометрическая развертка слоевой линии по методу Вайсенберга [3, 6]. Как было показано выше, в методе [c.116]

Эффект Вейсенберга применительно к вискозам изучен Севе [45]. В центр вращающегося с частотой 50 об/мин стакана помещали вертикально стеклянную трубку и замеряли уровень раствора в трубке до и после начала вращения. Высота подъема (см) обозначалась как ЭВ (эффект Вайсенберга). Получены следующие величины ЭВ для разных растворов [c.125]

Если интенсивности можно измерять с помощью как дифрактометра, так и фотометода, то размеры элементарной ячейки и пространственную группу обычно определяют только по рентгенограммам. Необходимые рентгенограммы можно получить на камере Вайсенберга полученные данные могут быть подтверждены и дополнены с помощью прецессионной камеры. Хотя камера вращения полезна, она не является необходимой, так как камеру Вайсенберга можно использовать в качестве камеры вращения с тем преимуществом, что кристалл уже ориентирован и для съемки рентгенограмм по Вайсенбергу. [c.55]

По рентгенограммам вращения или качания можно определить период ячейки вдоль оси кристалла, совпадающей с осью вращения. Если получен вайсенберговский снимок для кристалла, вращающегося, например, вокруг оси а, то можно найти также длины осей обратной решетки Ь и с и угол а между ними. Аналогичным образом можно измерить и другие параметры решетки. Число молекул в элементарной ячейке можно определить, если известны плотность образца, молекулярный вес и объем ячейки. Объем ячейки рассчитывают по ее параметрам. Кстати, таким способом можно проверить химический состав образца. Пространственную группу можно вывести из закона погасаний отражений на дифракционной картине. Для этого можно также использовать рентгенограммы, снятые в камере Вайсенберга. Порядок операций, которые необходимо выполнить для получения указанной информации, будет описан ниже. [c.55]

Кристалл, ось вращения которого установлена ранее по оси гониометрической головки с помощью фотометода, переносят из камеры Вайсенберга на дифрактометр. Оптическое приспособление, смонтированное на коллиматоре рентгеновского пучка, позволит визуально отцентрировать кристалл на оси вращения прибора с помощью салазок гониометрической головки. [c.110]

Для работы был использован кусочек с известной ориентировкой, высверленной из монокристалла харлбутита. В этом кусочке наиболее развитой формой была (001), взятая поэтому за основу. Фотографирование было выполнено в камере Вайсенберга с применением медного излучения и никелевого фильтра, вращением образца вокруг осей с, бия. Для о и w-уровней на рентгенограммах отчетливо наблюдалась симметрия Лауэ >2,1, что подтверждает ромбическую структуру минерала. Ни на одной из полученных рентгенограмм не было установлено затуханий иространствен-иых групп. [c.85]

Существует несколько видов съемки монокристаллов метод Лауэ (съемка неподвижного кристалла в белом излучении), методы качания и вращения и несколько способов получения развертки слоевых линий (способ Де Ионга — Боумена, Вайсенберга, Саутера и прецессионный). При съемке по способу Де Ионга — Боумена или в прецессионной камере фиксируется неискаженное изображение сечения обратной решетки по желаемой плоскости. Мы не будем останавливаться на описании всех этих методов, так как они описаны в ряде руководств по рентгеноструктурному анализу, и дадим лишь несколько практических советов применительно к использованию монокристальных методов в рентгенофазовом анализе. [c.38]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология