Измерение контура линий комбинационного рассеяния

Весьма удобным прибором для исследования контуров линий является спектрометр (см. гл. 13, 61) ДФС-4. При ширине щелей 0,03 мм (около 1 см на спектре) можно исследовать без заметных искажений контуры линий комбинационного рассеяния самой различной ширины, начиная с весьма узких. Запись одной линии продолжается от 10 до 20 минут в зависимости от ее ширины. Регистрация контуров линий производится либо на фотобумагу, либо, что еще удобнее, с помощью самописца. Процедура измерения ширины линии на спектрограмме занимает всего несколько минут. [c.308]

НАХОЖДЕНИЕ ИСТИННОГО КОНТУРА ЛИНИИ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ ПО НАБЛЮДАЕМОМУ ПРИ НЕПОСРЕДСТВЕННЫХ МЕТОДАХ ИЗМЕРЕНИЯ [c.308]

Все эти факторы приводят к уширению контура линии комбинационного рассеяния. При выборе спектральной аппаратуры и метода измерения стараются по возможности уменьшить всевозможные причины искажений. [c.308]

Так как линия комбинационного рассеяния имеет некоторую ширину, различают интенсивность линии в ее максимуме и интегральную интенсивность, т. е. интенсивность по всему контуру линии. При фотоэлектрической регистрации спектра возможно измерение и той и другой интенсивности линий. [c.360]

При определении интенсивности линий комбинационного рассеяния большое значение имеет их ширина, которая у различных линий варьирует в довольно широких пределах. В связи с этим встает вопрос, какая именно измеряемая величина должна быть выбрана для характеристики интенсивности линий. Для этой цели могут служить интенсивность в максимуме линии /о и интегральная интенсивность /о , мерой которой является площадь, ограниченная контуром линии. В зависимости от условий опыта можно при измерениях получить либо одну, либо другую величину. Наконец, можно получить некоторую промежуточную величину между /о и / , которая не имеет простого физического смысла и не может служить для однозначной характеристики линии, но которая тем не менее может быть использована практически при анализах. Проблема усложняется тем, что измеряемая величина интенсивности зависит от параметров спектральной установки и возбуждающего источника света, причем эта зависимость имеет разный характер при различной ширине линий. Все сказанное имеет силу как при фотографической, так и при фотоэлектрической регистрации спектров. [c.302]

При определении ширины линий комбинационного рассеяния используются как косвенные, так и непосредственные методы. С помощью косвенных методов можно только грубо оценить ширину линий и еще менее надежно измерить форму их контуров. Косвенные методы были введены в практику измерения ширины линий потому, что обычно используемые для этих целей непосредственные фотографические методы весьма трудоемки. В последнее время благодаря усовершенствованию фотоэлектрического метода регистрации спектров появилась возможность непосредственно измерять форму и ширину линий. Этот метод по своей точности и быстроте превосходит все предыдущие. [c.305]

Измерив экспериментально величины б и а, можно по графику определить истинную ширину линий комбинационного рассеяния у, если известна ее форма. Форма наблюдаемого контура линии определяется либо сравнением с аналитической функцией определенного вида, либо с помощью так называемого коэффициента формы по измеренным величинам /о, /а. и б (см. 71). Следует иметь в виду также, что форма и ширина наблюдаемого контура могут быть несколько искажены за счет так называемого усечения линий, возникающего вследствие того, что контур линии исследуется на ограниченном участке спектра, тогда как теоретически крылья линии должны простираться неограниченно далеко. [c.313]

Достоинство описанных методов изучения ширины и формы линий комбинационного рассеяния состоит в том, что они являются прямыми методами, позволяющими получать наглядное представление о контуре изучаемых линий со всеми его особенностями. Однако эти методы имеют и существенные практические недостатки. Прежде всего, они являются весьма трудоемкими даже при изучении наиболее сильных комбинационных линий при попытке применить прямые методы к изучению более широкого круга комбинационных линий время экспозиции должно возрасти еще во много раз. Кроме того, при изучении слабых линий значительно увеличиваются трудности, связанные с учетом фона, что делает практически невозможным измерение интенсивностей в точках контура, удаленных от максимума. Наконец, описанные методы основаны на использовании специальной спектральной аппаратуры, доступной только наиболее крупным лабораториям, что также ограничивает круг их применения. В связи с этим мы считали важным, наряду с дальнейшим развитием прямых методов, разработку таких косвенных методов измерения ширины линий, которые были бы применимы для изучения сравнительно слабых линий и не требовали специальной спектральной аппаратуры. Естественно, что подобные косвенные методы не могут дать полное представление о форме изучаемых линий. Однако при настоящем состоянии наших знаний даже такие ориентировочные данные представляют значительный интерес. С другой стороны, для практических целей правильного определения интенсивности линии нет необходимости в детальном знании форм линии и можно ограничиться некоторой количественной характеристикой ее ширины. [c.70]

Таким образом, измеренная на опыте интегральная интенсивность выражается высотой пика на кривой фотоэлектрической записи в условиях, когда эта высота достигает насыщения. Истинное значение интегральной интенсивности могло бы быть получено при помощи фотоэлектрической регистрации, если бы эту последнюю можно было произвести с достаточно узкой выходной щелью, так, чтобы запись давала полное представление о форме контура линии комбинационного рассеяния. Интегральная интенсивность выражалась бы площадью этого контура. Такая регистрация позволяла бы одновременно определять и интенсив1 ость в максимуме и полуширину линий, причем каждая из этих величин была бы выражена в соответствующих единицах, связанных друг с другом. Однако, к сожалению, такая запись в настоящее время практически еще не осуществима. Каким образом от условных экспериментально определяемых значений интегральной интенсивности перейти к нужным нам значениям интегральной интенсивности, как площади контура линий, показано в главе IV, посвященной вопросу об измерении ширины линий. [c.53]

Трудности, связанные с измерением ширины и контура линий комбинационного рассеяния света, были, новидимому, впервые успешно преодолены лишь в работе X. Е. Стерина [17], хотя попытки подобных измерений делались неоднократно и прежде [18, 33]. Результаты, полученные во всех более ранних работах по измерению ширины и контура комбинационных линий, до такой степени отягощены ошибками, что не дают правильного представления о действительной ширине и контуре этих линий и могут служить лишь для предварительных ориентировочных оценок. [c.62]

При определении строения молеку.лы методами колебательной спектроскопии прежде всего следует решить, к какому классу сим-метриипринадлежат возможные структуры. Если класс симметрии известен, сразу же можно предсказать, какие типы колебаний молекулы разрешены и какие запрещены в инфракрасном спектре и в спектре комбинационного рассеяния. Кроме того, можно предсказать также, какие линии спектра комбинационного рассеяния будут поляризованы и какие деполяризованы, т. е. каково будет соотношение интенсивности линий комбинационного рассеяния при измерении в плоскости падающего света и в плоскости, перпендикулярной к ней. Полосы инфракрасного спектра (полученного в парах при низких давлениях) также будут иметь характерные контуры в зависимости от ориентации соответствующего колебания относительно главных осей инерщги. [c.173]

ИК-спектр паров ХеРе приведен на рисунке. Все полосы имеют необычные контуры и неожиданно большую ширину. Спектр комбинационного рассеяния твердого Хер4 был измерен Биганом в Ок-Риджской национальной лаборатории. Он обнаружил линии комбинационного рассеяния при 655 см (интенсивность 10), 635 см (интенсивность 8) и 582 (интенсивность 4) все эти полосы расположены в области, где имеют место валентные колебания Хе — Р. [c.398]

Количественные исследования зависимости интенсивности линий комбинационного рассеяния от частоты возбуждающей линии требуют преодоления серьезных экспериментальных трудностей. Прежде всего встает задача измерения интенсивностей в широкой спектральной области, включающей ультрафиолетовую часть спектра. Для получения надежных результатов при подобных измерениях необходимо соблюдение ряда предосторожностей. Поскольку комбинационное рассеяние происходит в поглощающей среде, то очень важно также правильно учитывать поглощение возбуждаюшей линии и самой линии комбинационного рассеяния, что при больших показателях поглощения связано с существенными трудностями. Для уменьшения поглощения измерения часто проводятся в растворах. При этом, однако, происходит смещение и изменение контуров полос электронного поглощения. Играет роль также фотохимическое разложение вещества, особенно сильное в ультрафиолете. Вследствие недостаточно полного учета указанных факторов [c.84]

Для определения а, естественно, надо иметь чистое вещество, что не всегда возможно. В некоторых случаях можно воспользоваться литературными данными для распределения интенсивности по линиям комбинационного рассеяния индивидуальных веществ, содержащимися, например в книге Г. С. Ландсберга, П. А. Бажулина и М. М. Сущинского Основные параметры спектров комбинационного рассеяния углеводородов , в которой приводится богатый экспериментальный материал в виде табличных данных для частот, интенсивностей и ширин контуров линий. Крайне перспективный метод использования -табличных данных основан на измерении относительных интенсивностей линий комбинационного рассеяния. В качестве стандарта интенсивности принята линия =802 циклогексана шириной 1,9 [c.104]

Высокое разрешение необходимо при анализе спектров, богатых линиями (сплавы на основе железа, редкоземельные элементы). Особенно высокая дисперсия и разрешающая способность необходимы при изучении тонкой структуры спектральных линий, измерении их контуров, исследовании допплеровского смещения линий в спектрах звезд и т. п. При исследовании спектров слабых свечений (комбинационное рассеяние света, люминесценция) необходима большая светосила (1 5) — (1 2). Сверхсветосильные спектрографы (с относительным отверстием 1 1,5 и выше) применяются при исследовании спектров ночного неба, а в астрофизике — при изучении спектров слабых звезд и туманностей. Наоборот, светосила может быть совсем низкой (1 40 и менее) при изучении спектров таких ярких источников излучения, как Солнце. [c.70]

При рассмотренни второй причины [29] показано, что анализ 5-ветвп чисто вращательного спектра комбинационного рассеяния молекул тппа симметричного волчка с неразрешенной /(-структурой приводит всегда к заниженным величинам BJ . Постоянная DJ оказывается при этом завышенной для молекул тппа вытянутого симметричного волчка и заниженной для молекул типа сплюснутого снм-метричиого волчка. Для исключения этого вида ошибок предложен метод, связанный с тем, что пзмерение Av вращательной линии проводится делением интегральной интенсивности наблюдаемого контура вращательной линии с неразрешенной /(-структурой пополам (для симметричного контура это измерение совпадает с центром тяжести контура). Такое измерение соответствует некоторому эффективному значению К , которое в общем случае зависит от квантового числа /, соответствующего определенной вращательной линии. Определенпе зависимости /(у от У и составляет основу предлагаемого метода [29]. Подробный анализ соответствующих уравнений показывает, что и при измерении по центру тяжести и делением интегральной интенсивности пополам зависимость Kj от / можно представить в таких координатах, когда она будет практически одинакова для любых молекул типа вытянутого симметричного волчка, с одной стороны, и для любых молекул типа сплюснутого симметричного волчка — с другой. Этими координата.ми будут аК [c.414]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология