Дефекты формы линии

В первую очередь к ним относятся конечная ширина щелей, дефекты оптики прибора и его фокусировки, зернистое строение фотоэмульсии, рассеяние света в ней. Поэтому кроме теоретической разрешающей способности вводят понятие практической разрешающей способности и критерий Рэлея при этом удобно обобщить таким образом, чтобы при любой форме инструментального контура считать две монохроматические линии равной интенсивности находящимися на пределе разрешения бА,ц, если провал яркости между ними составляет 20%. Определенная таким образом величина Лц называется практической разрешающей силой [c.77]

Рис, 3.6. Некоторые дефекты формь линии. [c.76]

На рис. 14.5, 4 показано течение в S-образной полости формы без образования линии сварки. И, наконец, на рис. 14.5, 5 показан поток, обтекающий вкладыши квадратной и круглой формы. В этом случае образуются четко выраженные линии сварки фронтов. Приведенные результаты иллюстрируют сложную картину течения, наблюдаемую даже в относительно простых пресс-формах. Интересно, в частности, отметить, что важное значение имеет форма линий сварки. И не только потому, что они иногда образуют видимые дефекты в изделиях, но также потому, что это обычно слабые места изделий. [c.525]

В работах [147—149] с помощью фурье-спектрометров с разрешением 0,06 см 1 получены спектры поглощения различных доноров в кремнии. Серии узких (0,6 4-0,15 см- ) линий, сопоставляемые с водородоподобными сериями примесей Р, As, Sb, Bi, Zi, Zi—O, наблюдались в области от 30 до 60 мкм. Исследовалось влияние концентрации примесей (в интервале 10 —5-101 ат.см ) и заряженных дефектов механических напряжений на ширину и форму линий. [c.204]

Первоначальной целью этого раздела было продемонстрировать, насколько эффективны различные методы коррекции дефектов изображения. Однако имеющихся данных еще недостаточно для такого сравнения. Как можно было ожидать, разрешение зависит главным образом от двух величин оно пропорционально радиусу траектории частиц в электрическом поле и обратно пропорционально ширине входной щели. Только если сделать входную и выходную щели очень узкими, возникает ограничение, связанное с дефектами изображения, и дальнейшее уменьшение ширины входной щели не приводит к пропорциональному возрастанию разрешения (см. прибор 2.3). Можно считать, что это практическое ограничение действует во всех приборах высокого разрешения их разрешение лишь несколько меньше, чем величина, рассчитанная на основании теории первого порядка. В некоторых приборах щели специально расширены, особенно если они используются с искровым источником ионов. Эти масс-спектрометры имеют более низкое разрешение, но лучшую чувствительность. Чтобы определить форму спектральных линий, следует избегать чрезмерных экспозиций, так чтобы гало и фон были невелики. Типичной формой линий, характерной для большинства масс-анализаторов, обладает прибор [c.103]

Оптические дефекты, причиной которых являются неровности поверхности органического стекла, можно выявить с помощью так называемых изоклин. Поверхностная неровность обусловливается дефектами формы или непригодностью технологического режима. При построении изоклин лист промеряют с точностью до 0,01 мм, и точки с одинаковыми значениями соединяют между собой. Линии, образующиеся соединением таких точек, называются изоклинами. Плотность изоклин определяет оптические свойства листов [10]. Чем изоклины реже, тем выше оптические свойства органического стекла, и наоборот (рис. 24, 25). [c.65]

Ферромагнитные частицы (играющие роль индикатора) стягиваются к месту наибольшей концентрации силовых линий рассеянного поля. В качестве ферромагнитных частиц (индикаторов поля рассеяния) служат магнитные порошки или суспензии различного состава. Чувствительность метода зависит от свойств металла и геометрических форм испытуемой детали, от метода намагничивания, напряженности магнитного поля и многих других факторов. Контроль делится на три этапа 1) намагничивание исследуемого объекта 2) нанесение индикаторной среды и регистрация имеющихся на его поверхности дефектов 3) размагничивание объекта. Необходимым условием для выявления дефектов магнитным порошковым методом является перпендикулярное расположение дефектов к направлению магнитного поля, поэтому деталь проверяют в двух взаимно перпендикулярных направлениях. В табл. 12 приведены магнитные дефектоскопы, выпускаемые отечественными заводами. [c.203]

Дефекты от дислокаций имеют сетчатую форму, причем часто дислокационные сетки оконтуривают зерна вследствие некоторой разориентировки структуры последних по обе стороны дислокационной линии. Теория контраста на дислокациях сложнее, чем в случае дефектов от упаковки атомов. [c.157]

По форме наблюдаемого рисунка и степени растекания подкрашенной жидкости на поверхность изделия во многих случаях можно определить тип дефекта (трещины, поры) и приблизительно его глубину. Дефекты, обнаруживаемые методом цветной дефектоскопии, показаны в табл. 24. Жидкость, выделившаяся из поверхностных дефектов под действием адсорбирующего покрытия, окрашивает его в красный цвет. На белом фоне очертания дефектов становятся отчетливо видны. Трещины и волосовины обычно выявляются в виде красных линий, мелкие поры — отдельными красными точками, а локализованная пористость — красными пятнами. [c.167]

Между градиентами, параллельными оси образца и перпендикулярными ей, есть существенное различие. Вращение образца с некоторой скоростью вокруг своей оси позволяет усреднить многие дефекты поля в плоскости х-у, но не оказывает влияния на вертикальные градиенты. Поэтому настройка однородности поля по вертикальной оси более существенна для получения хорошего результата и требует более тщательного подхода. Для настройки сверхпроводящих магнитов используются теплые Z-градиенты до четвертого порядка (т. е. Z, Z , Z и Z ), Иногда имеется и градиент Z, но обычно только в магнитах на 500 МГц или в магнитах с широким зазором. Настройка этих градиентов сильно влияет на ширину и форму получаемой линии, В отличие от [c.71]

Инфракрасная дефектоскопия применяется для обнаружения скрытых пузырей, расслоений при обкатке шин на стенках. Для этого при помощи радиационного пирометра измеряется температура всей поверхности горячей покрышки, вынутой из пресс-формы. Пирометр посылает сигналы на усилитель и записывающий аппарат, который записывает температуру на ленте в виде кривой линии. Пики на кривой указывают на расположение дефектов в покрышке. [c.237]

Нанесение резиста на подложку является важнейшей операцией. Ее цель — получить однородный слой с хорошей адгезией к поверхности и не имеющий дефектов. Допустимая погрешность толщины слоя резиста в производстве больших и сверхбольших интегральных схем составляет 0,015 мкм, в производстве офсетных форм в полиграфии 1 мкм. В этих пределах можно получить как воспроизводимые размеры линий, так и воспроизводимое время проявления. При создании слоя резиста учитывают противоположные требования толщина слоя резиста должна была бы быть как можно большей для сохранения целостности покрытия и уменьшения пористости. С другой стороны, для обеспечения высокой разрешающей способности толщина резиста должна быть как можно меньше. [c.17]

Для оценки влияния дефектов можно использовать также импедансный метод. В этом случае дефект моделируется отрезком длинной линии с соответствующим импедансом, включенным на участке модели, где находится дефект. В частности, при прохождении излучения через слой толщиной Ь дефект, по форме близкой к сферической макрочастице объемом V с диэлектрической проницаемостью вещества внесет затухание [1], равное (дБ) [c.129]

На рис. 2.12 строб-импульс имеет растянутую П-образную форму. Задняя ступенька ее слилась с хвостом импульса от дефекта. В других дефектоскопах строб-импульс выглядит как отрезок, высота которого над линией развертки определяет порог срабатывания АСД, а длительность - выделяемый интервал развертки. [c.149]

Системы сер. "Авгур" предусматривают прозвучивание ОК прямыми или наклонными, совмещенными или раздельными преобразователями. Для каждого шага запоминаются результаты в виде А-разверток с учетом временных задержек и истинной формы эхосигналов. Голографическое изображение дефектов получают, совместно обрабатывая массив -раз-верток в области сканирования = 50. ... .. 200 мм. Предполагается, что регистрация проводится вдоль линии (линейная голография) и изображение восстанавливается в одной плоскости (слое). При двумерном сканировании данные обрабатываются когерентно только послойно. [c.266]

Индикации от запрессованных деталей. Другие условия, в которых могут возникнуть ложные индикации, создаются там, где детали соединяются друг с другом запрессовкой. Если колесо запрессовано на ось (вал), пенетрант даст индикацию на линии соединения. Это соверщенно нормально, так как эти две детали не предназначены для того, чтобы быть полностью соединенными вместе, как это происходит, например, при сварке. Индикации этого типа легко отделить от остальных, так как они имеют достаточно правильную форму. Единственная проблема, создаваемая такими индикациями, - то, что пенетрант может вытечь из места соединения деталей и замаскировать истинный дефект. [c.703]

Границы применимости одномерных моделей, в которых влияние диффузии тепла на величину АТ остается незначительным, рассмотрены ниже. На практике "поперечные" (трехмерные) тепловые потоки на краях дефекта сглаживают форму сигнала АТ и при определенных размерах дефекта приводят к существенному снижению его амплитуды (см. штрихпунктирную линию на рис. 3.3). [c.65]

Можно ожидать, что формулы в табл. 5.1 расположены в порядке возрастания степени их пригодности для аппроксимации "бездефектных" температурных кривых. Тем не менее, на практике эффективность аппроксимации зависит от ряда дополнительных факторов формы импульса нагрева, интенсивности трехмерной диффузии тепла, зависимости коэффициента теплоотдачи от времени и, в особенности, от наличия отраженного излучения и остаточного нагрева после выключения оптических нагревателей. Простейшая графическая иллюстрация относится к методу логарифмической аппроксимации. В п. 4.1 было показано, что изменение температуры в адиабатической бездефектной области после воздействия импульса Дирака описывается прямой линией в координатах 1п(7 - 1п(т ), а отклонения экспериментальной функции от прямой линии могут рассматриваться в качестве сигналов от внутренних дефектов. [c.152]

С вводом управляющих ЭВМ в различные производственные. .линии было естественно использовать преимущества этого вспомогательного оборудования также и для совершенствования установок контроля. Здесь ЭВМ первоначально использовали для оценки результатов контроля. Первичные данные о дефектах ультразвуковой электроники перерабатывались по заданной программе и затем в уплотненной форме передавались для сортировки, маркировки или документирования дефектов. В на--стоящее время микропроцессоры уже берут на себя и важные задачи в самой ультразвуковой электронике. Это стало возможным благодаря продвижению цифрового представления (дигитализации) амплитуды эхо-сигналов и времени прохождения в системе далеко в-перед (по направлению к искателям) и благодаря тому, что диафрагмы и пороги в цифровых схемах формировались тоже в цифровом виде, в равной мере как и необходимые во многих случаях кривые регрессии, выражающие зависимость амплитуды эхо-сигнала от расстояния до отражателя. [c.407]

Таким способом фиксируются важнейшие дефекты в преобладающей части поперечного сечения и круглых, и квадратных сортовых заготовок. Оценка продольных поверхностных дефектов однако связана с трудностями ввиду нарушений формы и шероховатости. В принципе продольные дефекты на круглых заготовках могут быть аналогичным образом выявлены наклонными искателями или искателями для контроля труб, как это показано в разделе 25.1 для волоченых (калиброванных) прутков. Поэтому ручной контроль возможен там, где к выявляемости дефектов не предъявляется слишком высоких требований. При непрерывном контроле сюда добавляется еще то обстоятельство, что контролируемое изделие нужно транспортировать по винтовой линии в случае круглых сортовых заготовок это обычно вызывает трудности ввиду их недостаточной прямолинейности. [c.488]

Вид и форма валиков магнитного и люминесцентного магнитного порошка во многих случаях помогают распознать нарушения сплошности. Труднее выявить дефекты в виде тонких волосовин. В большинстве сталей они могут быть обнаружены только способом приложенного поля. Отложения порошка на волосовинах имеют вид прямых или слегка изогнутых тонких линий. Степень четкости валиков порошка зависит от отношения глубины волосовин к их раскрытию и их расположения относительно поверхности контролируемой детали. [c.351]

Рентгенограммы поучительны в том отношении, что они свидетельствуют о достаточном совершенстве кристаллов алюминия и о несовершенстве кристаллов окиси германия. Что во втором случае не тепловые колебания вызывают ослабление линий при больщих углах рассеяния, а наличие дефектов в решетке и возникновение напряжений III рода следует из того, что окись ОеОг, получаемая путем прокаливания германия на воздухе, дает сильные отражения и при больших углах. Поэтому причину указанных искажений решетки следует видеть в том, что окись содержала некоторое количество воды в той или иной форме. [c.136]

Значения ширины и формы линий, которых следует ожидать для кубических кристаллов с точечными дефектами, были рассчитаны Коеном и Рейфом [97] для квадрупольных взаимодействий первого и второго порядка. В частности, при концентрации точечных дефектов большей, чем 0,1 (в единицах вероятности / занятия узла решетки дефектом), и беспорядочном их распределении по различным возможным узлам решетки квадрупольное взаимодействие второго порядка приводит к искаженной центральной компоненте, форма которой, согласно [97], дается уравнениями [c.39]

Вулстон И Хениг (1964 а, б) показали, что разброс по энергиям ионов, образовавшихся в искровом источнике, зависит от природы элемента. Эта зависимость проявляется в изменении ширины линий от элемента к элементу. В этом же направлении действуют различные ионизационные процессы и дефекты анализатора масс. В качестве примера можно привести упоминавшееся ранее сужение однозарядной линии натрия. Третьей причиной изменения формы линий служит их уширение при передержке. Частагнер (1969) использовал этот эффект при корректировке характеристической кривой в случае, когда экспозиция слишком продолжительна для обработки обычными методами. [c.201]

Зависимость V от параметра формы дефекта построена на рис. 1.8,в, где пунктирная линия отвечает зависимости Ирвина без учета поправки на пластичность (К1 - сгл/тгЛф- ). По аналогии с формулой (1.26) умножим [c.47]

Все линии ЯМР имеют свою собственную естественную ширину, определяемую релаксационными процессами. Однако при наблюдении ядер со спином 1/2 в веществах с низкой молекулярной массой в невязких растворителях вклад естественной ширины линии в большинстве случаев пренебрежимо мал. Например, естественная ширина линии ядра С может составлять 0,02 Гц и менее, в то время как обычно наблюдаемая величина как мшгамум в 10 раз больше. Таким образом, отклонения от идеальной формы объясняются разнообразными аппаратурными дефектами. Существуют три основных источника этих дефектов постоянное магнитное поле, датчик и сам образец. [c.67]

Для исследования строения электронных оболочек атомов и молекул используют резонансное испускание и поглощение у-квантов атомными ядрами в твердых телах без потери части энергии на отдачу адра (см. Мёссбауэровская спектроскопия). Измеряя интенсивность прошедшего через поглотитель у-из-лучения в зависимости от скорости перемещения источника излучения (или поглощения), получают мёссбауэровский спектр, характеристиками к-рого являются положение линий, их число, относит, интенсивность, форма и площадь. Зависимость вероятности эффекта Мёссбауэра от т-ры и давления используют для установления координац. чисел, наблюдения фазовых переходов, определения дефектов в кристаллич. решетках, возникающих вследствие радиац. повреждений, [c.512]

Форму импульсов, приведенных на рис. 5.7, можно легко наблюдать с помощью обычного лабораторного осциллографа со скоростью развертки не ниже 0,1 мкс/см. Рекомендуется проводить периодический контроль импульсов на выходе усилителя, поскольку это удобный способ наблюдать, как происходит обработка сигнала в детекторной электронике. Таким образом, нетрудно обнаружить и скорректировать такие нежелательные эффекты, как, например, ограничение пика, нестабильности базовой линии, шумы и выбросы сигнала, характерные дефекты электроники или неправильную установку регулирующих ручек. Более того, наблюдение импульсов с выхода усил ителя на экране осциллоскопа является наилучшим способом правильной установки коэффициента усиления и напряжения смещения на трубке счетчика. Информацию об истинном распределении амплитуд импульсов в выбранные периоды времени легко получить с помощью одноканального и многоканального анализаторов. Одноканальный анализатор в основном выполняет две функции. Во-первых, он используется как дискриминатор, выбирающий и пропускающий для последующей обработки импульсы, амплитуда которых находится в пределах заданного напряжения, во-вторых, как выходное задающее устройство, преобразующее любой прошедший импульс в прямоугольный импульс с фиксированной амплитудой и длительностью в соответствии с требованиями к входным сигналам счетчика или интенсиметра. На рис. 5.7, в показан типичный импульс на выходе одноканального анализатора (точка С на рис. 5.1). Амплитуда и длительность импульса составляют 6 В и 0,2 мкс соответственно. [c.201]

Шенкель [7] отмечает, что если скорости потока по экструдируемому профилю не будут выровнены, то никакие специальные искажения геометрической конфигурации потока на выходе не позволят. получить заготовку нужной формы после ее последующей неизбежной усадки. Разные скорости выхода смеси по ширине профиля кроме неравномерной последующей усадки приводят к появлению на поверхности заготовки шероховатости, волнистости или даже надрывов. Одним из способов устранения этого дефекта заготовки служит некоторая вытяжка заготовки за счет увеличенной от номинала скорости отборочного транспортера. Если же эта вытяжка велика, то, хотя волнистость и исчезает, появляются неравномерность толщины заготовки (больше вытягивается по тонким местам), сильная усадка и остаточные напряжения по кромке протектора. Последняя прсле мерного реза приобретает из-за этого овальность вместо прямой линии. С последним осложнением борются путем принудительного усаживания протектора (после его вытяжки) на усадочном рольганге. [c.265]

Для механизированного контроля К-образных швов на подводных лодках британское адмиралтейство разработало устройство, основанное на описанном выше методе (рис. 28.34 [681]). Тележка с контролирующим устройством, выполненная в виде рамы, движется по направляющим рельсам, проложенным параллельно шву, причем ее движение является прерывистым. В раме движется взад и вперед перпендикулярно к сварному шву суппорт с искателями, так что над швом образуется меанд-ровый след сканирования. Движение тележки и суппорта обеспечивается пневматикой, так что электрические помехи от электродвигателя и его системы управления отсутствуют. Гибкие направляющие рельсы закреплены при помощи присосов на контролируемом изделии. На суппорте расположены один совмещенный искатель и с обеих сторон два излучающих навстречу друг другу наклонных искателя. Результаты контроля регистрируются при помощи многоканального самописца с передачей сигналов по радио. Для совмещенного искателя в результате записи эхо-импульса от задней стенки (исчезающего над швом) получается кривая сканирования, причем обнаруживаемые дефекты в зоне шва проявляются только как сигнал да — нет над местом сварного шва. Благодаря этому дефекты четко выявляются как отклонение от нормального образца (рисунка записи). Оба следа наклонных искателей показывают путем записи времени прохождения в характерной форме изображения кромок шва дефекты обнаруживают (поскольку они имеют иное время прохождения) по линиям, проходящим параллельна показаниям от кромок шва. В специальном такте проверки оба наклонных искателя работают с параллельным подключением с целью контроля акустического контакта они дают, до тех пор пока оба звуковых луча встречаются на нижней стороне листа, эхо-импульс прозвучивания, который при движениях искателей туда и обратно регулярно исчезает над сварным швом. Нерегулярность в такой серии показаний на соответствующем следе регистрации свидетельствует о плохом акустическом контакте наклонных искателей. [c.553]

Форму тщательно промывают бензином, обрабатывают мягкой латунной щеткой и обрезают по намеченной линии для Удаления лишнего металла. Затем приступают к механической обработке формы для удаления дефектов формовки, образующихся на фоне и на сахмой скульптуре. Такие дефекты появляются в виде сыпи от мельчайших воздушных пузырьков, неизбежно возникающих при формовании моделей из гипса. Воздушные пузырьки бывают почти незаметными на гипсовой модели, но резко выявляются на металлической форме в виде отдельных выпуклых вкраплений, располагающихся главным образом в углублениях рельефа скульптуры и на фоне модели. [c.102]

Характерную форму имеют валики магнитного порошка, осевшие над флокенами. Обычно это четкие и резкие короткие черточки, иногда искривленные, расположенные фуппами (реже одиночные). Заковы дают отложения порошка в виде плавно изогнутых линий. Поры и другие точечные дефекты выявляются в виде коротких полосок порошка, направление которых перпендикулярно к направлению намагничивания. При изменении направления намагничивания соответственно меняется направление валика порошка над порой. [c.351]

Форму и размеры графитированных блоков и аморфных прослоек можно непосредственно наблюдать на изображении частиц. Особенно отчетливо каждый графитированный блок может быть выделен на частном темнопольпом изображении частицы (фото 70, ), полученном электронным пучком базисного рефлекса, указанного стрелкой на фото 70, / (положение апертурной диафрагмы показано на фото 70, / кружком). Линейный размер наиболее крупных блоков составляет — 1500 А, средняя толщина прослойки 200—300 А. На электронограммах графитированных блоков характерна вытянутость рефлексов с индексами 100, 101, 102, 110, 112 и другими вдоль экватора с образованием слоевых линий. Это свидетельствует о несовершенной азимутальной ориентации базисных плоскостей кристаллической решетки графита. Детальное изучение азимутальной упорядоченности и дефектов кристаллической решетки в графитированных блоках связано с дальнейшими количественными исследованиями положений, формы и интенсивности рефлексов на электронограммах. [c.232]

В связи с изложенным становятся понятными также и результаты другой серии экспериментов, имевшей целью выяснение влияния на мультиплетность линий в спектрографе и изменения этого влияния в зависимости от угла таких чисто геометрических факторов, как взаимное положение по высоте экваториального сечения прибора и фокального пятна рентгеновской трубки, а также его формы и размеров. Не удавалось обнаружить сколько-нибудь устойчивую связь между высотой фокуса трубки по отношению к отражающему кристаллу и характером дефектов линий, обнаруживаемых в фокусе спектрографа. Этот факт, так же как и слабая воспроизводимость результатов опыта после изменения величины и формы фокуса, вызванного, например, перемазыванием оксидом спиральной нити катода трубки, может быть объяснен, если связывать появление мультиплетной структуры линии с особеигюстями микроскопической структуры отражающего кристалла спектрографа. Напротив, с точки зрения гипотезы Ватсона о существенной роли толщины кристалла они кажутся весьма загадочными. [c.62]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология