Дифракция в кристалле

Эта концепция применима к дифракции в кристалле, поскольку кристаллическая решетка может быть описана с помощью набора параллельных плоскостей с различными расстояниями с/ между ними. Если пучок рентгеновских лучей падает на любой набор плоскостей под углом, для которого выполняется соотношение Брэгга, то из кристалла будет исходить единственный вторичный пучок. И на самом деле, когда на монокристалл вещества действует пучок интенсивного рентгеновского излучения, из него в различных направлениях испускаются многие тысячи более слабых пучков или отражений, как это показано на рис. 17.9. Угол между каждым отраженным пучком и падающим пучком излучения определяется расстоянием между рассеивающими плоскостями. [c.375]

Поясним суть этого явления на примере дифракции в кристалле хлористого цезия. В качестве элементарной ячейки кристалла хлористого цезия (см. рис. 55) можно выбрать куб, в вершинах которого находятся ионы цезия, а в центре — ион хлора. Рассеяние рентгеновского излучения происходит в результате взаимодействия излучения с электронами, находящимися на внутренних электронных слоях. Число таких электронов у иона цезия существенно больше, чем у иона хлора, и можно в первом приближении рассмотреть рассеяние только на ионах цезия, пренебрегая вкладом в рассеяние ионов хлора. [c.160]

При изложении общей теории дифракции в кристаллах вопрос о симметрических операциях, связывающих атомы кристалла, не затрагивался. Кроме того, предполагалось, что рещетка кристалла является примитивной. [c.259]

Цель настоящей работы заключается в интерпретации данных по рентгеновской дифракции в кристаллах арсенида галлия на основе дисперсионной теории (результаты могут быть легко обобщены на случай других бинарных полупроводников). [c.20]

Примерно до 1950 г. для определения энергии излучений радиоактивных веществ широко применялись абсорбционные методы (основанные на исследовании поглощения излучения веществом). В настоящее время для точных измерений энергии применяют методы, базирующиеся на измерении отклонений в магнитном и электрическом полях, на дифракции в кристаллах, использовании детекторов, чувствительность которых зависит от энергии. Однако и теперь замедление и поглощение ядерных излучений веществом сохраняет значение для измерительной техники. К этим методам обращаются всякий раз, когда надо понизить энергию пучка частиц или измерить одно излучение на фоне другого, заметно отличающегося по жесткости. [c.92]

Для нахождения вероятности межзонного перехода в единицу времени под действием периодического возмущения нужно знать стационарные состояния невозмущенной задачи. (В рассматриваемом случае стационарные волновые функции, описывающие процесс дифракции в кристалле, хорошо известны [14]). Если кристалл представляет собой пластинку толщиной I, то внутри кристалла волновая функция начального состояния имеет в двухволновом случае Лауэ вид [c.136]

Так как анализируемая система динамических уравнений (21.12) по виду полностью аналогична системе уравнений, описывающих дифракцию в кристалле в отсутствие магнитного поля, то для каждой компоненты спина нейтронной волны можно сразу выписать коэффициент дифракционного отражения [14 [c.155]

ЛОКАЛИЗАЦИЯ АТОМОВ ВОДОРОДА С ПОМОЩЬЮ НЕЙТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ В КРИСТАЛЛАХ [c.438]

Нейтронная дифракция в кристаллах осуществляется точно так же, как рентгеновская дифракция. Однако ввиду того, что длины нейтронного рассеяния различаются у разных атомов не столь сильно, метод изоморфного замещения становится неприменимым. На практике обычно работают с кристаллом, у которого молекулярная структура уже приблизительно установлена другими методами. Затем для того же кристалла измеряют интенсивности нейтронной дифракции. По этим результатам проводят синтез Фурье, в ходе которого используют измеренные нейтронные интенсивности и фазы, вычисляемые с учетом всех неводородных атомов, положение которых в модели структуры известно. На полученной таким образом фурье-карте атомы Н и О представлены с гораздо большими весами, чем на карте электронной плотности, ибо весьма велик относительный вклад этих атомов в нейтронное рассеяние. По этой карте можно определить положения Н (отрицательная плотность) или О (положительная плотность ). Теперь структурная модель может быть дополнена атомами водорода или дейтерия, и при желании можно провести дальнейшее ее уточнение. [c.438]

Во многих случ.-щ. , одиако, удобно и полезно описывать явление дифракции иа языке нрсдстапленнй обратной решетки. Обратное пространстви и обратные решетки пс являются некоторыми физическими реалиями. Это скорее система представлений, позватяющая успешно описывать явления дифракции в кристаллах. Цель настоящего приложения состоит в с (едую-щем [c.294]

Хендрикс и Росс возражают против теории низкой упорядоченности в структуре монтмориллонита на основании главным образом исследований при помощи дифракции электронов. Если бы структурная неупорядоченность была так велика, как предполагал Гофман, т. е. отдельные пакеты слоев лишь параллельны друг другу, но расположены хаотично, то электронограммы не зависели бы от толщины кристалла. При помощи дифракции можно было бы обнаружить только хорошо развитую двумерную скрещенную решетку. Хендрикс и Росс показали, однако, что при дифракции в кристаллах толщиной в 100— ЮОО А развиваются отчетливо выраженные линии Кикучи (Kik u hi-lines) что с несомненностью указывает на существование трехмерного порядка. Если слоевые пакеты ориентированы определенным образом, то, очевидно, и молекулы воды прослоены правильно, С другой стороны, Гофман и Хауздорф указали на факт первостепенной важности интерференционная картина на рентгенограммах отве- [c.78]

Эффекты дифракции в кристаллах возникают в том случае, если рентгеновские лучи отражаются последовательными слоями атомов и усиливают друг друга в соответствии с принципами обычной оптической интерференции. Таким образом, эта область исследования относится к одному из разделов оптики. Регулярно расположенные атомы кристаллической решетки играют роль узлов трехмерной дифракционной решетки. Ко времени открытия дифракции рентгеновских луче11 (i912 г.) относятся сформулированные Лауэ условия дифракции, выражаюхциеся следующими уравнениями [c.35]

Значения атомных амплитуд для атомов разных элементов могут быть найдены из экспериментальных данных по рассеянию газами или жидкостями, по дифракции в кристаллах или диффузному (тепловому), рассеянию кристаллами. Теоретические значения атомных амлитуд, основанные на квантовомеханических расчетах, находятся в удовлетворительном согласии с экспериментальными данными (при учете температурной поправки —см. стр. 40). [c.25]