Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Дифракция кубическими кристаллами

    Работа, которую я выбрал для краткого описания, посвящена изучению взаимодействия кислорода с чистой гранью кубического кристалла никеля [6]. Картины дифракции от грани кристалла наблюдались до впуска кислорода, в процессе впуска [c.116]

    При съемке дебаеграммы кубического кристалла в Ре/С -излучении получены следующие значения углов дифракции (в градусах) и относительных интенсивностей линий 28,6(1) 42,6(0,30) 56,05(0,7) 72,35(0,1). Найти тип решетки Бравэ и период решетки. [c.275]


    При исследовании чистого карбида (полученного в промышленной печи, которая была остановлена и медленно остывала) методами дифракции рентгеновских лучей и поляризационной микроскопии были обнаружены [18] кубические кристаллы модификаций I, II и III и призматические кристаллы модификации I. В кристаллах модификации I имелись плоскости кристаллической решетки (002) и (200) в модификации II d равнялось 2,95 и 2,74 А, а в модифи-нации III — 2,89 А (рис. III.2). И кубические, и призматические кристаллы [c.182]

    Ф и г. Ж-3. Дифракция рентгеновских лучей на упругих волнах, распространяющихся вдоль оси четвертого порядка в кубическом кристалле. [c.397]

    Для кубического кристалла показать, что из условий Лауэ следует закон дифракции Брэгга-Вульфа. [c.57]

    Найти наименьшее межатомное расстояние в гранецентрирован-ном кубическом кристалле, если дифракция рентгеновского излучения, распространяющегося вдоль [100], происходит в направлении [122]. Частота излучения V. [c.57]

    Определение индексов дифракции HKL и параметра а для кристаллов кубическом сингонии [c.360]

    Структуру кристаллов можно изучать как методом дифракции электронов, так и методом дифракции рентгеновских лучей. Электронографический метод нашел весьма широкое применение при изучении строения очень тонких пленок на поверхности кристаллов. Благодаря применению этого метода удалось, нанример, показать, что при адсорбции аргона на чистой поверхности кристалла никеля атомы аргона занимают лишь одну четвертую часть возможных положений, образуемых треугольниками никелевых атомов (в октаэдрической грани кристалла с плотной кубической упаковкой). Этот метод применяли и при изучении строения тончайших окисных пленок, образующихся на поверхности металла и предотвращающих его дальнейшую коррозию. [c.156]

    Чтобы определить расстояния между атомами в кристалле, на него направляют пучок рентгеновских лучей определенной длины волны и измеряют углы отклонения рентгеновских, лучей электронными оболочками атомов кристаллической решетки (углы дифракции) кроме того, измеряют интенсивности отклоненных (дифрагированных) лучей. Рентгеноструктурный анализ, например, кристаллов хлористого натрия показывает, что ионы N3 и С1 образуют простую кубическую решетку. Методами, основанными на дифракции рентгеновских лучей, можно установить также расстоя- [c.168]


    Твердые вещества классифицируют либо на основании предположений об осуществляющемся в них типе связи (например, ионные, ковалентные, металлические, вандерваальсовы кристаллы), либо по симметрии кристаллов на основании соотношений между длинами и углами между осями кристаллов (например, кубические, тетрагональные, ромбические, гексагональные, ромбоэдрические, моноклинные, триклинные). Классификация кристаллов по типу связи основана на исследовании таких свойств, как электропроводность, твердость, температура плавления и т. д., в сочетании с химическими данными об атомах, входящих в кристалл. Классификация кристаллов по симметрии основывается на изучении отражения света для определения углов между гранями или дифракции рентгеновских лучей для выяснения внутренней упорядоченности. [c.81]

    Кристаллы металлической меди имеют гранецентри-рованную кубическую элементарную ячейку, в которой находятся 4 атома меди. С помощью рентгеновской дифракции установлено, что длина ребра этой элементарной ячейки составляет 3,61 А. Плотность меди равна 8,920 г/см , ее относительная атомная масса равна 63,54. На основании этих данных рассчитайте число Авогадро. [c.80]

    Очень высокая ионная проводимость кристаллов иодида серебра объясняется особенностями его кристаллической структуры. Это соединение образует кубические кристаллы с четырьмя иодид-ионами в кристаллической ячейке, занимающими положения, соответствующие плотнейшей упаковке О О 0 О V2 Va Vg О V2 V2 V2 0. Ионы серебра могут находиться в октаэдрических позициях V2 /г и т. д., что дает структуру хлорида натрия, или в тетраэдрических позициях /4 /4 /4 и т. д., что дает структуру сфалерита, или же в позициях между двумя соседними.иодид-ионами (координационное число 2 для серебра, как это установлено для иона Agi"). В действительности же, как показано дифракцией рентгеновских лучей, ионы серебра распределены между всеми этими позициями. Они передвигаются почти совершенно свободно из одного полёжения в другое. Потенциальный барьер, связанный с таким движением, невелик наблюдаемый температурный коэффициент электропроводности соответствует значению энергии возбуждения Е , равному 5,1 кДж-моль  [c.456]

    V2+I/ V2+2. Следовательно, в элементарной ячейке сушествуют два узла решетки при ООО и V2V2V2, которые имеют одинаковое окружение (рис. 19.9, б). Исследование данных дифракции для объемноцентриро-ванных кристаллов показывает, что отражения от плоскостей hkl, для которых сумма h- -k+l нечетная, не наблюдаются. Это означает, что рассеяние каждого атома в объемноцентрированной элементарной ячейке находится в фазе с рассеянием другого соответствующего ему объемноцентрированного атома, если сумма индексов четная, и на 180° не в фазе, если эта сумма нечетная. Поэтому межплоскостные ра стояния для объемноцентрированной кубической решетки равны alYА, а/У"5, alY Ъ и т. д. это расстояния между плоскостями (100), (200), (211) и (220). [c.576]

    Роль геометрических факторов. В теории катализа значение геометрических факторов получило наиболее общее выражение в принципе геометрического соответствия мультиплетной теории Баландина. Близкий принцип лежит в основе теории матричных эффектов, общепринятой в современной молекулярной биологии для объяснения действия ферментов, нуклеиновых кислот и других регуляторов биохимических процессов. Применительно к выяснению возможности ускорения сравнительно простых реакций использование геометрических характеристик требует большой осторожности. Трудности начинаются с выбора геометрических параметров поверхности. Во-первых, эти параметры различны для идеальных плоскостей разных индексов (одного и того же монокристалла), которые обычно одновременно наблюдаются на поверхности. Во-вторых, как показывают прямые исследования дифракции медленных электронов, не только расстояния, но и тип структуры могут быть различными на поверхности и в объеме кристалла. Так, в частности, Ое и 81 в объеме имеют кубическую структуру алмаза, а на поверхности — гексагональную структуру расстояния З — 81 или соответственно Се — Се в объеме и на поверхности различаются, как известно, весьма существенно. В-третьих, по данным электронографии и эмиссионной микроскопии, атомы поверхности [c.25]

    На основании уравнения (9) можно ожидать, что спектр поглощения имеет максимумы величин 1Д, которые соответствуют обратным величинам расстояний от центра изучаемого атома до ближайших соседних атомов. По мере приближения ближайших соседей к центральному атому максимумы в спектре поглощения должны сдвигаться к большим величинам 1/А, или Ех. Если значительные взаимодействия происходят только с ближайшими соседями, спектры поглощения имеют некоторое формальное сходство с дифракционной картиной, даваемой жидкостями. Если элемент находится в кристалле с высокой симметрией, подобной, например, гранецентрнрованной кубической решетке металлов или окислов, то происходит наложение растянутой тонкой структуры, указывающее на явление интерференции в большем диапазоне интервалов такие спектры аналогичны брегговскому типу дифракции в кристаллических твердых телах. [c.128]


    Если химический состав различных кристаллов неодинаков, то при достаточном отличии в концентрациях их периоды заметно разнятся друг от друга в соответствии с выражением (16.1). Следовательно, отличаются и углы дифракции О, под которыми наблюдаются дифракционные максимумы. Непрерывное изменение концентрации разных областей раствора в пределах со+бс вызывает ущирение р линий рентгенограммы (аналогично эффекту микродеформаций, гл. 14) p=4tg 0 oД I/rf, что для кристалла кубической системы эквивалентно выражению [c.385]

    Появилась работа, посвященная изучению монокристалла бронзы состава Каолз Оз методом дифракции нейтронов [26]. Несмотря на то что в кристалле содержались домены тетрагональной фазы, симметрия кристалла была кубической. Однако элементарная ячейка была удвоена и рассматривалась структура, в которой из восьми кубических позиций А в шести находились атомы натрия. Атомы кислорода занимали лишь одно из четырех мест, предназначенных им пространственной кристаллографической группировкой. Отсюда вполне вероятно, что причиной усадки является локальное упорядочение этих атомов, которое может достигаться лишь путем пониженйя симметрии кристалла. При низких температурах, когда вполне реальна кубическая симметрия, сохраняется упорядоченное расположение атомов натрия и наличие вакансий в позициях А. Возникает вполне резонный вопрос, является ли расположение атомов натрия упорядоченным при различных концентрациях и могут ли такие упорядоченные фазы иметь кубическую симметрию  [c.133]

    Из вольфрамовых бронз наиболее подробно изучены натрий-вольфрамовые бронзы с кубической решеткой они и будут рассмотрены в этом разделе. О натрий-вольфрамовых бронзах, впервые сообщил Вёлер [131] в 1824 г. Изучение методом дифракции рентгеновских лучей показало, что бронзы состава Na -WOg нри 0,32 < < а < 0,93 имеют кубическую решетку типа перовскита [20]. Однако недавние изучения этих соединений поставили под сомнение правильность установленной для их кристаллов симметрии. Например, при изучении методом дифракции рентгеновских лучей образцов Na jWOg при а = 0,3 0,8 с кубической решеткой было обнаружено [c.263]

    Мала и Нильсен [1] в 1951 г., а вслед за ними Кинцель [2] и его сотрудники [3] выделили карбиды хрома, образовавшиеся в нержавеющей стали типа 18-8, обрабатывая аустенитную матрицу раствором брома в безводном спирте. С помощью электронной дифракции они выделили карбид СггзСд с кубической решеткой и показали, что он состоит из очень тонких кристаллов различной формы главным образом из дендритов и геометрических фигур и в меньшем количестве из длинных лент, образованных из склеившихся между собой геометрических частиц или из игл. [c.201]

    Затем Лоуренс Брэгг (1890), еще будучи студентом Кембриджского университета, развил теорию дифракции рентгеновских лучей (уравнение Брэгга, см. ниже) и на основании этой теории в ноябре 1912 г. определил структуру сфалерита (кубическая форма сульфида цинка) он применил свою теорию при анализе фотоснимков дифракции рентгеновских лучей сфалеритом, опубликованных Лауэ, Фридрихом и Книппипгом. Его отец Уильям Брэгг (1862—1942) сконструировал в этот период рентгеновский спектрометр (рис. 3.23), после чего за один год Л. и У. Брэггам удалось определить точную атомную структуру многих кристаллов и для целого ряда элементов установить длины волн характеристических рентгеновских лучей, испускаемых некоторыми элементами, используемыми в качестве мишеней в рентгеновских трубках. В методе Брэгга (рис. 3.23) пучок рентгеновских лучей направляется на грань кристалла, например [c.70]

    При нагревании окись мышьяка(П1) легко улетучивается без плавления. До 800° плотность паров соответствует молекулам As40g. Они имеют такую же структуру, как и молекулы Р40д, что было установлено методом дифракции электронов. Молекулы As40e встречаются также в кристаллах кубической формы (стр. 120). При более высокой температуре эти молекулы распадаются на молекулы АзгОз диссоциация является полной при 1800°. Как и в случае окиси фосфора(1П), часто используют эмпирическую формулу АзгОз и название окись мышьяка(1П) . [c.446]

    Почему нельзя определить кристаллинескую структуру, используя рассеяние света В принципе это дало бы огромное экспериментальное преимущество, поскольку в нашем распоряжении имеются источники когерентного света (лазеры) и, следовательно, существуют прямые способы измерения как интенсивностей, так и фаз. Рассмотрим типичный макромолекулярный кристалл, элементарной ячейкой которого является куб с ребром в 40 А. Обратной решеткой будет кубическая система точек с характерным расстоянием 1/40 А в каждом из направлений. Пусть в эксперименте по рассеянию используется свет с длиной волны 2000 А. Сфера отражения имеет радиус 1/Х = 1/2000 А . Таким образом, в нее попадает лишь один узел обратной решетки — начало координат. Никакой картины дифракции наблюдаться не будет. Если бы элементарная ячейка кристалла была достаточно большой (а обратная решетка достаточно частой), можно было бы проводить структурный анализ, но разрешение было бы низким, потому что доступная для измерений область обратной решетки ограничивается расстоянием, обратно пропорциональным длине волны. [c.428]


Смотреть страницы где упоминается термин Дифракция кубическими кристаллами: [c.298]    [c.131]    [c.58]    [c.372]    [c.27]    [c.264]    [c.190]    [c.33]    [c.84]   
Современная общая химия Том 3 (1975) -- [ c.3 , c.24 , c.28 ]

Современная общая химия (1975) -- [ c.3 , c.24 , c.28 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Дифракция

Дифракция в кристалле



© 2025 chem21.info Реклама на сайте