Линии дуговые

Температура большинства дуг слишком мала, чтобы в их спектре были интенсивно представлены ионные линии. Поэтому для атомных спектров исторически сложилось название дуговых спектров в противоположность искровым, излучаемым более горячей плазмой искрового разряда, где присутствуют яркие линии ионов. Линии дугового разряда уширены за счет влияния столкновений и межмолекулярных полей в разряде. Доплеровское уширение играет в плазме дуги, как правило, незначительную роль. Ширина [c.265]

Освещенность поля зрения стилометр а и его разрешающую способность можно проверить так же, как и стилоскопов, по линиям дугового спектра железа. [c.124]

Символами Ме и Ме П, как обычно, обозначены линии дугового и Искрового спектра элемента. [c.87]

Символами Ме I и Ме II, как обычно, обозначены линии дугового и искрового спектра элемента. [c.87]

Поскольку в спектральном анализе минералов возбужде- ние атомов происходит под воздействием температуры дуги, для определения величины интенсивности спектральных линий (дуговых) используется следующее уравнение [c.17]

Как уже говорилось, каждый химический элемент при возбуждении его атома излучает характерные спектральные линии, по наличию которых в спектре можно судить о присутствии того или иного элемента в исследуемой пробе. Для этого или измеряются длины волн линий в спектре с помощью специального микроскопа, или изучаемые линии визуально сопоставляются с линиями дугового спектра железа, который специально фотографируется рядом со спектром пробы. [c.90]

Формулы (5.3) и (5.4) позволяют, далее, оценить, какие линии — дуговые или искровые — будут преобладать в излучении данного источника. Так, например, на рис. 14 изображено вытекающее из (4.3) изменение Ig(7 io/Л/o) с изменением температуры для Са (в = 6,09 V) и 51 (е = = 8,12У). На том же рисунке для большей наглядности изображены и графики для степени ионизации обоих этих элементов, где под степенью ионизации понимается отношение числа ионизованных атомов [c.41]

Происходит это оттого, что основные линии дугового спектра у цинка, кадмия и ртути лежат в области ультрафиолетового спектра, в которой фотографическая пластинка заметно теряет в своей чувствительности. [c.25]

Заметим еще коротко, что следует соблюдать большую осторожность при применении метода сенсибилизации. Нижний спектр рис. 18 дает нам тот же интервал, снятый с помощью отрывной цинковой дуги. Искровые линии, поэтому, совершенно отсутствуют, но и основная линия дугового спектра 2139 совершенно не видна, потому что она совершенно поглощается парами цинка. Перед нами так называемое самообращение спектральных линий. Но чем слабее концентрация цинка, тем больше проявляется эмиссия этих линий. Следует также сенсибилизировать только коротковолновую часть пластинки, так как обилие масла понижает чувствительность длинно- [c.26]

Ряд авторов пытался устранить это ограничение, более широко используя условия разряда, установленные фиксирующей парой линий. Так как эга фиксирующая пара содержит по одной линии дугового и искрового спектра основного вещества, то они пользовались в качестве пары при анализе тоже комбинациями линий дугового и искрового спектра. Несмотря на то, что этим путем удается повысить число гомологичных пар линий и тем самым точность количественного анализа, нам представляется все же целесообразным предостеречь т общего применения этого метода. Ибо отношение интенсивностей различных пар линий, состоящих из одной дуговой и одной искровой линии, отнюдь не изменяется в равной мере, как изменяются условия разряда. Таким образом, если фиксирующая пара на различных снимках показывает приблизительно равную интенсивность, то отсюда далеко еще не следует, что и аналитическая пара линий, состоя- [c.66]

Вначале были поставлены опыты по исследованию спектра плутония. Довольно очевидным казалось предположение о том, что спектр плутония не должен сильно отличаться от спектров урана, тория или редкоземельных элементов. Однако важно было знать, как расположены линии дугового и искрового спект- [c.394]

Если с помощью платиновой проволоки в пламя горелки вводят хлорид какого-либо щелочноземельного металла, то сначала получают спектр хлорида, но он быстро превращается в спектр окиси, которая образуется в пламени в результате гидролиза. Смачивая соль небольшим количеством НС1 и нагревая ее, опять получают спектр хлорида. В дуговых спектрах щелочноземельных металлов, отличающихся от пламенных спектров, появляются только четкие линии, вызванные свободными атомами. В электрической дуге можно получить также линии бериллия и магния, которые, как уже было сказано, не появляются при низких температурах пламени. Эти линии дуговых спектров, как и полосы пламенных спектров, используются для идентификации щелочноземельных металлов. [c.626]

Влияние электрического и магнитного полей на спектр. Был измерен эффект Штарка для некоторых линий дугового спектра урана [87], а также смещение из-за остаточного давления, являющееся по существу результатом влияния электрических полей (эффект Штарка) соседних атомов [881. [c.39]

Несмотря на детальное изучение богатых линиями дугово-го и искрсгэгс спектров тория [28, 79, 486, 487, 488, 722, /26, 760, 801, 812, 816, 845, 852, 898, 967, 1188, 1212, 1214, 1215, 1307, 1308, 1319, 1374, 1542, 1647, 1788, 1841, 1982], спектральный метод анализа все еще не нащел широкого распространения для его определения. Не останавливаясь на многочисленных методиках и технике эксперимента [171, 457, 1364, 1542, 1959],.приведем лишь некоторые данные, касающиеся условий и применимости метода. Наиболее интенсивные и характерные линии тория приведены в табл. 13. [c.86]

Ограничение полосы частот позволяет во много раз уменьшить шум приемника и шум, обусловленный флуктуациями интенсивности фона. Перспективность частотно-селективных методов спектрального анализа стала особенно очевидной после опубликования работы [3], в которой показано, что среднее значение флуктуаций интенсивности фона дугового разряда между угольными электродами быстро падает с ростом частоты флуктуаций (рис. 1). При частоте около 1000 гц шумы фона практически неотличимы от шумов использованного в работе [3] фотоумножителя. Линии дугового разряда в этой области частот практически не флуктуируют. Это открывает возможности дополнительного повышения чувствительности и позволяет решать задачу выделения весьма слабых аналитических линий как задачу выделения весьма слабого нефлуктуирующего источника на относительно слабом флуктуирующем фоне. [c.22]

Применяя ступенчатый ослабитель, следует добиваться, чтобы почернение линии без него было постоянныл во всей ее высоте. Для этого необходимо равномерно осветить рабочую часть щели, а также исключить потери света, посылаемого из крайних участков щели. Для построения характеристической кривой иногда пользуются несколькими близкими линиями одного и того же спектра, например линиями дугового спектра железа, если заранее достаточно точно были определены отношения их интенсивностей. [c.205]

Энергия разряда определяется величиной разрядного промежутка и емкостью. Как правило, хотя известны и исключения [25 ], во внешних слоях кольца возбуждаются спектральные линии с большей энергией возбуждения, чем во внутренних слоях. Поэтому кольцевой разряд оказывается полезным в работах по классификации спектров [255-238] дает возможность одновременно наблюдать линии, принадлежащие нормальным и ионизованным атомам. Если спроектировать изображение светящегося кольца на щель стигматического спектрографа, то получаются снимки с длинными линиями — дуговыми и короткими — искровыми. При увеличении разрядного промежутка искровые линии, принадлежащие однозарядному иону, удлиняются, и появляются короткие линии дважды ионизованных атомов. Возможность одновременного наблюдения спектральных лииий, которые требуют различной энергии возбуждения, указывает на целесообразность использования этого источника для спектрально-аналитических задач и, в частности, для анализа газов, где основная трудность и заключается именно в том, чтобы заставить одновременно светиться два компонента смеси с сильно отличаюищмися нотенциала.ми ионизации. [c.54]

Мы говорили уже раньше, что наиболее чувствительные для качественного анализа линии суть всегда основные линии соответственного элемента, и во всех методах применения, существующих в спектральном анализе, таковыми являются основные линии спектра вольтовой дуги. Но чувствительность распознавания какой либо линии определяется не только ее истинной физической интенсивностью, но еще и многими условиями побочного характера, каковы сила света спектрального аппарата для соответственной линии, чувствительность фотографической пластинки и т. д. Поэтому случается, что в таблице последних линий приводится часто в качестве наиболее чувствительной распознавательной линии такая спектральная линия, которая не является основной линией дугового спектра (или искрового спектра). Так оно в частности бывает при анализе цинка и кадмия, когда в качестве наиболее чувствительных распознавательных линий приводятся линии побочной серии, между тем как в случае физически весьма сходной ртути в качестве наиболее чувствительной распознавательной линии приводится одна из двух дуговых линий, именно 2537 А. [c.25]

Несколько прежде неизвестных линий дугового спектра были впервые отмечены Г. Урбенол [43] в 1911 г. и приписаны новому элементу—-кельтию. Урбен, по-видимому, не вел дальнейших исследований по выделению неизвестного элемента из малых количеств некристаллизую-щегося маточного раствора лютеция, имевшегося в его распоряжении. В 1923 г. Д. Костер и Г. Хевеши [11] сообщили об открытии гафния в ряде циркониевых минералов. Предполагалось, что гафний дает линии, ранее измеренные Урбеном, но это отрицалось Хевеши, который утверждал, что линии кельтия , полученные Урбеном, были слабыми линиями лютеция, которые становились заметнее при высоких концентрациях, полученных в процессе фракционирования. [c.182]

ОСОБЕННОСТИ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ ДУГОВОГО РАЗРЯДА ПОСТО(ЯННОГО ТОКА ВДОЛЬ ВХОДНОЙ ЩЕЛИ СПЕКТРОГРАФА ПРИ ТРЕХКОНДЕНСОРНОМ ОСВЕЩЕНИИ [c.78]

Особенности распределения интенсивности спектральных линий дугового разряда ЕИ)Стоянного тока вдоль входной щели спектрографа при трехконденсорном освещении. [c.105]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология