Микроскоп устройство

Для рассмотрения образующихся характерных кристаллов в микрокристаллоскопическом анализе пользуются микроскопом. Устройство микроскопа и его внешний вид показаны на рис. 8. [c.71]

Принцип действия и устройство электронного микроскопа. Принцип электронно-микроскопического метода заключается во взаимодействии узкого электронного пучка с достаточно тонким объектом, слабо поглощающим электроны. Длина волны де Бройля для электронов, разогнанных до высоких скоростей в вакууме, составляет 0,005 нм, что значительно меньще межатомных расстояний в конденсированном веществе. Поэтому основными явлениями, возникающими при взаимодействии электронного пучка с веществом, являются рассеяние и интерференция. [c.123]

Для прямых измерений применяют измерительные средства, имеющие штриховые (линейные или угловые) шкалы, с которыми сравнивают измеряемую (линейную или угловую) величину. К ним относятся линейки, штангенинструменты, угломеры и различного рода оптические приборы — измерительные микроскопы, длиномеры и др. Повышение точности отсчета, связанное с оценкой доли деления шкалы, производится при помощи специальных устройств — нониусов. [c.472]

Поскольку на аноде растворяются лишь микрограммовые количества веществ, внешняя поверхность пробы практическ не разрушается. Поэтому электрографию можно применять для анализа изделий из пластмасс. Этот метод также дает возможность установить распределение легирующих- элементов на поверхности металлов. Благодаря простоте выполнения и незначительным аппаратурным затратам электрографию используют в металлургической промышленности для быстрого решения аналитических задач, например для сортировки и классификации неизвестных образцов легированных сталей. С помощью-этого метода можно определять также состав деталей из медно-никелевых сплавов и нержавеющих сталей, доступ к которым затруднен. Для этих целей применяют выпускаемые промышленностью переносные приборы, снабженные портативной капсулой с электрографическим устройством для проведения анализа. При использовании вместо фильтровальной бумаги желатиновых пластинок, импрегнированных электролитами, на них появляется так называемый химический отпечаток поверхности металла. После соответствующей обработки растворами реактивов можно наблюдать под микроскопом распределение компонентов на поверхности металла. [c.93]

Эбонитовый держатель 7 (рис. 19) служит для укрепления кюветы с коллоидным раствором под объективом микроскопа. Держатель прочно закреплен на объективе микроскопа. Устройство его показано иа рис. 22. При опыте держатель устанавливают длинной стороной перпендикулярно оптической скамье. [c.78]

Гораздо труднее обеспечить контакт маски с подложкой и совмещение, когда при многократных операциях напыления необходимо менять маски непосредственно в вакуумной камере. Все перемещения по совмещению и обеспечение необходимого контакта маски с подложкой должны выполняться автоматически, без использования микроскопа. Устройство для автоматического совмещения состоит из направляющих штифтов и криволинейных пазов или кулачков, или других механических приспособлений. Кроме того, необходимо иметь приспособления в виде поворачивающихся дисков илч пакетных устройств для автоматической смены масок или под- [c.565]

По своей сущности операция оптического сканирования представляет собой последовательное определение интенсивности светового потока в каждой точке препарата. Поэтому основными блоками сканирующего микроскопа являются оптический микроскоп, устройство сканирования и устройство обработки информации. В зависимости от соотношения максимального линейного размера сканирующего элемента к максимальному размеру проекции микрообъекта можно выделить два метода сканирования [c.205]

При работе с фазовоконтрастным устройством из системы микроскопа удаляется кронштейн с конденсором. На место снятого кронштейна устанавливается другой кронштейн, а, в кольцо последнего— фазовоконтрастное устройство КФ-1. Работа осуществляется на фазовых объективах, входящих в комплект КФ-1. Фазово-контрастное устройство позволяет определять показатели преломления мелкокристаллических веществ и изуч.ать тонкие структуры материалов (глинистые минералы и т. д.). Поляризованный свет, необходимый для определения оптической плотности минералов, создается посредством накладного поляроида. Общее увеличение микроскопа составит u = V V2, где V — увеличение, даваемое объективом V2 — увеличение, даваемое окуляром. [c.110]

Для изучения полимеров наибольшее распространение из дифракционных методов исследования получила электронная микроскопия. Устройство всех современных электронных микроскопов позволяет с помош,ью простой замены линз переходить непосредственно от наблюдения изображения объекта к его [c.232]

Отечественной промышленностью выпускаются растные устройства КФ-3 для металлографического МИМ-8 и КФ-4 и КФ-5 —для микроскопов проходящего света. [c.123]

Устройство электронного микроскопа (рис. V. 6) в основном аналогично устройству обычного светового микроскопа. В электронном микроскопе вместо оптических проекционных линз (окуляра), оптического конденсора, объектива светового микроскопа применяются специальные электростатические или электромагнитные проекционные линзы 6, конденсоры 2 и объективы 4. В каче- [c.250]

Латексы. Введение в битумный материал эластомера в виде латекса является одним из наиболее распространенных методов. Латекс добавляют к расплавленному битуму или дегтю непрерывно или порциями при температуре значительно выше 100 °С. Специальные устройства регулируют выход и прием вытекающей пены. Турбулентное перемешивание смеси, возникающее-при испарении воды, в значительной степени способствует диспергированию эластомера в битумах, хотя люжет потребоваться и дополнительное механическое перемешивание. С помощью микроскопа установлено, что при [c.232]

Микроскоп Уеп11уа1 — прямой микроскоп отраженного света. В нем может быть осуществлено саетлопольное и темнопольное освещение объекта, исследование в поляризованном свете и испытания на микротвердость (по Виккерсу и Кноопу). Этот микроскоп может применяться для исследования металлических и обыкновенных шлифов, рыхлых, зернистых препаратов и поверхностных структур. Приспособления к микроскопу устройство для определения микротвердости позволяет применять усилия до 160 г оно оснащено алмазными инденторами в виде пирамиды с квадратным основанием или пирамиды с длинным ромбическим основанием. Последнее особенно подходит для определения твердости тонких слоев, хрупких предметов, склонных к образованию тре- [c.111]

Различие в устройстве так называемого щелевого ультрамикроскопа от обычного микроскопа легко можно уяснить из рис. П,5. [c.45]

Б. В. Дерягин и Г. Я. Власенко сконструировали специальный поточный ультрамикроскоп, с помощью которого весьма быстро можно определить число частиц в единице объема аэрозоля или лиозоля. Схематическое устройство поточного микроскопа показано на рис. И, 7. Изучаемый лиозоль или аэрозоль наблюдается в потоке, направленном вдоль канала кюветы 2, параллельного оси тубуса микроскопа 5. Каждая частица, пересекая зону, освещенную источником света 3, дает вспышку общее число таких вспышек может быть легко подсчитано наблюдателем. Разделив число подсчитанных вспышек на измеряемый счетчиком 1 общий объем аэрозоля, протекающего через контролируемую и вырезанную окулярной диафрагмой 6 часть поля, легко найти численную концентрацию, [c.47]

При работе в отраженном свете на микроскоп устанавливается на место щипцового устройства осветитель ОИ-12 и объектив крепится непосредственно к осветителю. Окулярная насадка при этом разворачивается на 180°, т. е. располагается со стороны осветителя. [c.109]

В универсальном микроскопе МИМ-9 имеется встроенное фазовоконтрастное устройство. [c.123]

К металлографическим микроскопам выпускается интерференционное устройство МИО-1. [c.123]

В микроскопах МЛ-2 и МЛ-3 флюоресценция возбуждается ультрафиолетовым излучением они снабжены также фазовоконтрастными устройствами К-4 и КФ-5. [c.124]

Микрокиноустановка МКУ-1. Для микрокиносъемки необходим ряд специальных условий яркая освещенность объекта, возможность постоянного регулирования резкости и т. п. Микрокиноустановка МКУ-1 состоит из микроскопа МБИ-5, киносъемочной камеры КСМ-2, механизма времени, пульта управления и осветительного устройства. Пределы увеличения микроскопа 5—3600 раз при визуальном наблюдении и от 500 до 100 000 раз и более при проектировании изображения на экран. Механизм времени позволяет вести непрерывную съемку со скоростью от 75 кадров в 1 с до одного кадра через 3 с. При покадровой съемке интервал времени между двумя отдельными съемками может регулироваться в пределах от 2,5 с до 3 ч 20 мин. Установка снабжена часами, циферблат которых фотографируется на каждом кадре. [c.128]

Для прямых измерений применяют измерительные средства, имеющие штриховые меры (линейные или угловые шкалы), с которыми сравнивают измеряемую линейную или угловую величины. К ним относятся штриховые линейки, штангенинстру-менты, угломеры и различного рода оптические приборы — измерительные микроскопы, длиномеры и др. К простейшим инструментам относятся измерительные линейки, рулетки, кронциркули и нутромеры, которые применяют для измерений наружных и-внутренних размеров деталей невысокой точности. Повышение точности отсчета, связанное с оценкой доли деления шкалы, гфоизводят с помощью специальных устройств — нониусов. [c.185]

Прн определении размеров и формы частиц (от 5 до 500 им) получают ряд фотографий, регистрирующих несколько сотен частиц. С помощью измерительного оптического микроскопа по этим фотографиям определяют размеры частиц. Затем строят гистограммы и, используя методы математической статистики, определяют тип и основные параметры распределения частиц по размерам. Существуют различные автоматические и полуаитоматические присиособления, позволяющие измерять размеры частиц на фотографии и сразу получать информацию о гистограмме на печатающем устройстве. Применение ЭВМ совместно с устройством, определяющим разд еры часГиц, дает возможность получить сведения непосредственно о типе распределения и его числовые характеристики. [c.251]

СВЕТООПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ Устройство микроскопа [c.3]

Понятие об электронном ми1фоскопе. Полное разрешение вопроса о форме коллоидных частиц и макромолекул стало возможным только с применением электронного микроскопа. Устройство его основано на принципе обыкновенного микроскопа, с той, однако, разницей, что в нем действительное увеличенное изображение (на фотоснимке) получается в результате освещения объекта не световыми лучами, а пучком летящих электронов, фокусировка которых достигается комбинацией электрических или магнитных полей, создаваемых сильными электромагнитами. [c.57]

Если в лаборатории нет торзионных весов, то работы можно проводить с помощью весов Фольмера со стержневой пружиной, конструкция которых применительно к седиментационНому анализу была улучшена Фигуров-ским (рис. 6). Эти весы просты по устройству и состоят из коромысла 2, закрепленного в штативе 1, стеклянной чашечки с нитью 3 и микроскопа или катетометра 4, нацеленного на конец коромысла. Коромысло весов (шпиц) изготавливают из кварцевой нити длиной 20— [c.24]

Эффективным средством идентификации параметров и автоматизированного построения моделей пористых сред являются вычислительные комплексы, оснащенные средствами автоматического анализа изображения (ААИ). Принципиальная схема одного из таких вычислительных комплексов показана на рис. 3.3. При помощи передающего телевизионного сканирующего устройства изображение объекта может быть введено в цветном или чернобелом варианте непосредственно с плоскости наблюдения во всех ее видах, т. е., например, с фокальной плоскости окуляра оптического микроскопа, с экрана электронного микроскопа, с экрана телевизора, а также фотографических репродукций и др. Соответственно в схему ААИ может быть включен оптический микроскоп, электронный микроскоп (просвечивающий, эмиссионный или растровый), приемное телевизионное устройство, эпидиаскоп и т. п. Скорость работы современных ААИ более чем на 5 порядков превышает скорость работы человеческого глаза при значительно более высокой чувствительности (свыше 200 точек на [c.125]

При рассматривании в микроскоп слоя суспензии на фоне окулярной сетки измеряется наибольший размер частиц числом делений сетки занимаемых ими. Число полей, подвергающихся просмотру, зависит от концентрации частиц и диапазона изменения их размеров и может достигать нескольких десятков. При просматривании мотут применяться простейшие счетные устройства для [c.43]

Сдвиговый иластометр (рис. 4.9) является прибором, предназначенным для измерения вязкости высококоицептрированных систем, включая чистый сополимер. Основная часть-прибора состоит из двух рифленых пластинок 1 vl 2 размером 50 X 30 X 8 мм и 50 X 30 X 4 мм, первая из которых крепится неподвижно к основанию прибора на нее наносится слой исследуемого материала 3 толщиной 5 мм, а сверху укладывается пластина 2, на которую действует сдвигающая сила F. Для исключения пристенного скольжения исследуемый материал при сополимеризации между пластинами затекал в углубления рифов пластин, равномерно покрывая всю их поверхность. В качестве отсчетного устройства использовался микроскоп 4, жестко закрепленный на рабочей части прибора и имеющий возможность в то же время перемещаться вдоль пластии, чтобы отсчетная шкала находилась все время в поле микроскопа. В связи с необходимостью проводить исследования при повышенных температурах рабочие пластины помещены в термостат 5. [c.320]

Исследуемый уголь измельчают, смешивают с расплавленной смолой (шеллак) и после охлаждения смеси полируют поверхность. Наблюдения проводят с помощью металлографического микроскопа, снабженного фотоумножителем [59]. Это устройство позволяет анализировать мацералы и составлять рефлектограмму. [c.58]

Количественные результаты измерений немногим отличаются от определений толш,ины стенки в обычном понимании этого термина (т. е. измеренной перпендикулярно, к стенке) и диаметра полостей (который обычно является отрезком, проходя-ш,им через центр полости). Микроскоп снабжен сумми-руюш,им устройством, что намного облегчает регистрацию и статистическую обработку результатов измерений. Таким образом, последовательно исследуются срезы, параллельные и перпендикулярные к сте нке камеры. [c.152]

Сетку с препаратом вводят через шлюзовое устройство в камеру объектов колонны микроскопа. Сначала пленку-подложку освеп1ают электронным лучом небольшой интенсивности (тренировка). Происходящая при этом карбонизация поверхности полимерной пленки-подложки значительно повышает ее устойчивость к действию электронного пучка большей интенсивности. Затем увеличивают интенсивность пучка и просматривают весь препарат при небольшом увеличении (5000— 10 000 раз), выбирая участок, наиболее подходящий для съемки. После этого устанавливают необходимое рабочее увеличение, наводят на резкость и фотографируют. Данную операцию повторяют 2—4 раза,, исследуя разные участки пленки. При этом общее число отснятых частиц должно быть не менее тысячи. (Операции проявления фотопластинок и получения фотоотпечатков проводят под руководством лаборанта.) [c.126]

Источники электронов (катоды) являются ключевым элементом разнообразных современных приборов, устройств и технологических процессов, основанных на использовании пучков электронов. К числу наиболее известных и важных областей использования таких приборов и технологий относятся средства связи и радиолокации, электронно-лучевые трубки, рентгеновская техника, электронная микроскопия и литофафия, СВЧ печи и т.д. В подавляющем большинтсве случаев для создания электронных пучков используются накаливаемые катоды, имеющие ряд существенных недостатков. Альтернативная возможность создания пучков электронов, позволяющая также существенно улучшить характеристики таких приборов и расширить область их применения, заключается в использовании явления полевой (или холодной) эмиссии. Основным препятствием в использовании холодных катодов являются жесткие требования, предъявляемые к материалу, из которого они могут быть изготовлены. [c.30]

Другая особенность рассматриваемых методов анализа заключается в том, что все химические реакции проводят в очень маленьких объемах растворов, которые нередко не превышают нескольких тысячных долей миллилитра. Все осаждения выполняют в маленьких пробирках, вместо фильтрования применяют центрифугирование и т. д. С очень малзнькими объемами растворов — в ультрамикроанализе — работают, используя микроскоп. Все химические реакции проводят в микрососудах на предметном столике микроскопа. Специальные механические устройства—микроманипуляторы — позволяют перемещать в поле зрения объектива микрососуды с определяемым веществом в трех направлениях— вперед и назад, вверх и вниз, налево и направо. Работа [c.139]

Взаимодействие света с веществом зависит от соотношения длины волны света и размеров частиц, на которые падает световой поток. Это взаимодействие происходит по законам геометрической оптики (отражение, преломление), если размеры объекта больше длины волны света. Если размеры частиц меньше половины длины волны света, то происходит рассеивание света в результате его дифракции. Область видимого света характеризуется длиной волн от 760 до 400 нм. Поэтому в молекулярных и коллоидных системах видимый свет рассеивается, а в проходящем свете эти растворы прозрачны. Наибо.льшей интенсивности рассеивание света достигает в коллоидных системах, для которых светорассеяние является характерной качественной особенностью. Обнаружение в растворе пути луча источника света при рассматривании раствора перпендикулярно к направлению этого луча позволяет отличить коллоидный раствор от истинного. На этом же принципе основано устройство ультрамикроскопа, в котором наблюдения проводят, в отличие от обычного микроскопа, перпендикулярно направлению проходящего через объект света. Схема поточного ультрамикроскопа Б. В. Дерягина и Г. Я. Власенко приведена на Рис. 10.6. Схема поточного ультрами-рис. 10.6. с помощью этого прибора кроскопа В. В. Дерягина и Г. Я. Вла-определяют концентрацию дисперс- сенко 1 — кювета 2 — источник света ных частиц в аэрозолях и коллоид- 3 — линза 4 — тубус микроскопа, ных растворах. [c.297]

Электронографический анализ осуществляется на электронографах — электронно-оптических вакуумных приборах, которые могут работать и как электронные микроскопы, позволяя получать теневые электронно-оптические изображения, хотя их работа в этом режиме имеет вспомогательное значение. К таким приборам, например, относится электронограф ЭГ-100А. По ходу электронного пучка сверху он имеет следующие основные узлы электронную пушку (источник электронов) двойную электромагнитную линзу кристаллодержатель, позволяющий осуществлять различные перемещения образцов по отношению к пучку электронов камеры образцов проекционный тубус фотокамеру с флюоресцирующим экраном для визуальной работы низко- и высоковольтные блоки питания пульт управления. В электронографе имеется устройство для исследования газов и паров различны < веществ. Разрешающая способность прибора позволяет получать раздельные дифракционные максимумы при различии в меж-плоскостном расстоянии на 0,001 А. Наблюдение дифракционной картины производится на флюоресцирующем экране или фотографическим методом. Электронографическая картина различна в зависимости от типа снимаемого объекта точечная электронограмма образуется при съемке монокристаллов на просвет и на отражение кольца на электронограмме образуются при исследовании поликристаллических веществ дуги и кольца — от веществ, имеющих текстуру. [c.106]

Л е й т ц - МЛ 6 — стационарный микроскоп отраженного спета с бол1.шим полем зрения для исследования ровных и полированных аншлифов в светлом поле, в темном поле, при фазовом и интерференционном контрасте и в поляризованном свете. Имеет микротвердомер. Снабжен системой автоматического микрофотографирования. Имеет проекционное устройство с линзой Френеля и матовым стеклом, диаметр изображения 34 см. [c.111]

О а р а п Р о и Ь е п 1 о р а п - Р о и и п V а г (.Австрия) — универсальные фотомикроскопы, предназначенные для всех известных методов исследования в отраженном и проходящем свете в светлом поле, темном поле, поляризованном свете, при фазовом контрасте, флуоресценции, можно производить микрофотографирование, микрокиносъемку, микротелевидение, микропроекцию, спектральную микрофотометрию, испытание на микротвердость, высокотемпературную микроскопию, измерение крупности зерна, интерферометрию При исследовании применяют низковольтные лампы мощностью 30 Вт, низковольтные галогенные лампы 100 Вт, ксеноновые излучатели высокого давления, ртутные газоразрядные лампы сверхвысокого давления, фотоосветительные устройства для микрофотографирования. [c.112]

Фотографирование микроструктуры препаратов ведут с помощью съемных микрофотонасадок с применением в качестве фотоматериала и пластинки, и пленки. Фотонасадка крепится при помощи специального хомута на окулярной трубе микроскопа, она имеет специальное диоптрийное устройство, позволяющее пoлyчatь на фотопластинке (пленке) столь же резкое изображение, как и при визуальном наблюдении. Экспозиция при фотографировании подбирается опытным путем в зависимости от чувствительности фотопластинки, освещенности препарата, вида светофильтра и т. п. [c.116]

Фазовоконтрастная микроскопия предназначена для исследования таких элементов микроструктуры, которые изменяют не интенсивность прошедшего или отраженного света, т. е. амплитуду его колебания (как обычно происходит), а лишь фазу его колебания. Изменение фазы колебания света разными участками объекта не может быть замечено глазом или заснято на фотопластинку. К числу таких объектов микроструктуры, называемых фазовыми , относятся при прохождении света через объект — ступеньки на поверхности, разнотолщинные участки, различие участков по коэффициенту свстопреломлеиия при отражении света от объекта — ступеньки на поверхности и различие участков по коэффициенту отражения света. Оптическая система фазовоконтрастного устройства микроскопа позволяет преобразовать фазовые ко- [c.122]

Разработана серия специальных высокотемпературных микроскопов для исследования микроструктуры металлов и сплавов под нагрузкой. Микроскопы конструкции института машиноведения АН СССР — ИМАШ-5С-65, ИМАШ-9-66, ВМД-1, ВМС-1 и другие предназначены для прямого наблюдения, фотографирования и киносъемки микроструктуры образцов, нагретых до 1500—2000°С в вакууме или защитной газовой среде. Увеличение микроскопов от 90 до 650х при визуальном наблюдении. Микроскопы снабжены устройством для создания деформаций сжатия и растяжения образцов. [c.129]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология