Конденсор

Рис. V. 4. Схема хода лучей в конденсоре темного поля

Выполнение работы. Краевой угол смачивания измеряют на установке, описанной в работе 6, гл. I. Пластинку из жести размером 5X5 см опускают в расплавленный парафин и через несколько секунд вынимают пинцетом. Пластинка покрывается тонким слоем парафина. Наносят на нее каплю воды, закрепляют в штативе и устанавливают между осветителем и конденсором (см. рис. 8). Измеряют краевой угол смачивания. Закончив измерение, каплю стряхивают и на сухую поверхность пластинки наносят каплю раствора сапонина с наименьшей концентрацией. Снова измеряют угол смачивания. Далее наносят каплю раствора большей концентрации и производят измерения. Опыт прекращают, когда достигается такая концентрация ПАВ, при которой наблюдается полное растекание капли. Эта концентрация и будет соответствовать точке инверсии. [c.47]

Спектрограф ИСП-28. Спектрограф ИСП-28 предназначен для фотографической регистрации спектров в области от 200 до 700 нм. Свет от источника света / (рис. 23) линзой конденсора 2 направляется на кювету с исследуемым веществом 8 и на входную щель 3. Перед входной щелью помещается диафрагма с фигурными вырезами, при помощи которой вырезается определенный участок входной щели. [c.37]

Принципиальная схема светового микроскопа представлена на рис. V. 1 а. Обычный микроскоп представляет собой двухступенчатый оптический увеличитель. В нем имеется система линз, называемая объективом 4, которая проектирует увеличенное изображение объекта S. Это промежуточное изображение 5 увеличивается другой системой линз — окуляром 6, через который ведет наблюдение исследователь. Объектив и окуляр помещены в тубусе микроскопа на одной оптической осн. Для устранения нежелательных дифракционных эффектов и обеспечения должной разрешающей способности предназначена система линз конденсора 2, благодаря которому пучок света от лампы / концентрируется в плоскости исследуемого объекта. Конечное изображение 7 регистрируется на фотопластинку 8. [c.248]

Свет от электрической лампочки / (рис. 19) направляется на конденсор с диафрагмой 2. Параллельный пучок света проходит через кювету, укрепленную на подвижном столике, позволяющем легко устанавливать на пути луча поочередно кювету с раствором и кювету с растворителем. Далее пучок света собирается конденсором 3 на входной щели 4, защищенной стеклом 5. Изображение щели проектируется объективом коллиматора 6 на призму 7, которая разлагает свет в спектр и изменяет направление пучка света на 90°. Объективом камеры 8 [c.32]

Свет от источника света 1 (рис. 24) кварцевым конденсором 2 проектируется на конденсор 3 с револьверной диафрагмой. Конденсор 3 проектирует свет при помощи посеребренного снаружи зеркальца 4 на конденсор 5, помещенный на оправе входной щелн прибора 6. [c.38]

Прибор состоит из осветителя, конденсора и спектрографа. Осветитель (рис. 26), предназначенный для освещения испытуемого вещества монохроматическим светом, смонтирован на рейтере, который крепится к оптической скамье спектрографа винтом. Корпус осветителя / представляет собой отливку сферической формы. Внутри имеется полость эллиптической формы, в фокальных осях которой размещаются ртутнокварцевая лампа 2 и кювета 3. Внутренняя поверхность осветителя хромирована, за счет чего максимум освещенности концентрируется на фокальной оси, где помещена цилиндрическая часть кюветы с веществом. [c.40]

Зеркальце гальванометра 1,3 отражает свет, прошедший через набор прозрачных шкал 14, освещенных лампочкой / при помощи линз конденсора 5. [c.55]

Рис. 3.9, Освещение щели растровым конденсором

Спектрограф ИСП-28 (или ИСП-22) с трехлинзовой конденсор-ной системой без промежуточной диафрагмы. [c.519]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

I — источник света 2, 4, 5 — конденсоры 3 — промежуточная диафрагма 5 — щель 7 — коллиматорный объектив спектрографа [c.26]

Устройство электронного микроскопа (рис. V. 6) в основном аналогично устройству обычного светового микроскопа. В электронном микроскопе вместо оптических проекционных линз (окуляра), оптического конденсора, объектива светового микроскопа применяются специальные электростатические или электромагнитные проекционные линзы 6, конденсоры 2 и объективы 4. В каче- [c.250]

Один из вариантов конденсоров темного поля представлен на рпс. V. 4. Центральная диафрагма 2 препятствует прямому падению света на объект 4. Проходящие боковые лучи I отражаются на поверхностях плоско-выпуклых линз 3, выпуклая иоверхность которых представляет собой параболоид вращения. Фокус лучей лежит на иоверхности предметного стекла. При такой конструкции конденсатора увеличивается не только интенсивность освещения [c.258]

I — проекционный фонарь 2 — штатив с кюветой 3— конденсор 4 — экран [c.25]

Устанавливают ширину щели спектрографа 0,020 мм и по мещают на стандартном расстоянии трехлинзовую конденсор-ную систему. Перед щелью располагают диафрагму Гартмана. [c.118]

Оптическая схема. В основе отечественных однолучевых спектрофотометров, начиная с СФ-4 по СФ-26, лежит общая принципиальная оптическая схема (рис. 4.23) (за исключением позиций 9—13 — для СФ-26). Свет от источника 1 попадает на зеркальный конденсор 2, затем на плоское зеркало 3. Зеркало отклоняет поток лучей на 90 и направляет его в щель 4 [c.211]

Это обеспечивается тем, что имеется один источник света в виде электрической 8-е лампы с прямой нитью. Лампочка подключается к электросети через понижающий трансформатор. Нить лампы расположена строго по центру осветителя вдоль основной оптической оси. Под углом 45° к оптической оси прибора расположены два круглых зеркала / (рис. 17), жестко прикрепленных к корпусу осветителя. Эти зеркала направляют лучи света при точной установке нити лампы 8 по двум параллельным друг другу направлениям. В фокусе относительно нити лампы помещены два конденсора 4, расположенные на передней крыщке осветителя. Конденсоры обеспечивают параллельность лучей света и одинаковую освещенность. За линзами конденсора в их оправах устанавливаются матовые стекла 2 для равномерного освещения полей. [c.29]

Свет от источника света / (рис. 21) проектируется конденсором 2 и плоским зеркалом Я на входную щель прибора 4. Изображение входной щели сферическим зеркалом 5 фокусируется на кварцевую призму 6 с зеркальной грапььэ. Свет, разложенный в спектр, вновь проектируется сферическим зеркалом 5 на нижнюю часть щели 4, которая вырезает из спектра мо Юхроматнческий участок. Прн вращении призмы на плоскости выходной щелн изображение спектра будет [c.34]

Свет от ртутно-кварцевой лампы / (рис. 27) через тепловой 2 н световой 3 фильтры попадает на кювету 4 с исследуемым веществом. Излучение, рассеянное веществом, конденсируется линзой конденсора 5 на щель спектрографа 6. На оправе конденсора крепятся два раздвижных кожуха, предотвращающих попадание света из гюмещеиия в спектрограф. Ширина щели регулируется от О до 0,3 мм при помощи микрометрического винта с ценой деления 0,001 мм. Ш,ель находится в фокальной плоскости объектива коллиматора 7. Щель рекомендуется устанавливать вращением маховичка в сторону ее увеличения. Высота щели ограничивается специальной диафрагмой с фигурными вырезами. [c.41]

Оптическая схема прибора состоит из измерительной призмы / (рис. 43), осветительной системы II, зрительной трубы III п отсчет-ной системы IV. Источником монохроматического спета служат трубки Гейслера или натриевая лампа. При использовании трубок Гейслера /, наполненных Н. или Не, применяется конденсор 2. Призма 3 в этом случае отводится с оптической оси. При использовании натриевой лампы 4 призму Л с приклеенным к ней конденсором 5 поворачивают так, чтобы луч света, отраженный от ее грани, нроншл через конденсор 5 и попал на кювету с исследуемым веществом. [c.87]

Для определения тонкости отсева (размера наиболее крупных частиц в фильтрате) может быть применен оптический метод, основанный на принципе осаждения. Очевидно, что оптическая плотность суспензии на некоторой глубине должна оставаться неизменной пока не осядут наиболее крупные частицы твердой фазы. После, прохождения через слой крупных частиц оптическая плотность суспензии начнет уменьшаться. С окончанием осаждения наиболее мелких частиц оптическая плотность достигает неизменного минимального значения. Время от начала осаждения, в течение которого оптическая плотность остается неизменной, является искомым временем для определения размера наиболее крупных частиц в суспензии. По времени от начала осаждения до момента достижения минимальной оптической плотности можно определить размеры наиболее мелких частиц в суспензии. Для определения тонкости отсева материалов по изменению оптической плотности фильтратов может применяться фотокалориметр ФЭК-М, который предназначен для измерения концентрации растворов но интенсивности их окраски. Принципиальная схема фотокалориметра показана на фиг. 16. Здесь источник света / через систему конденсоров, зеркал, теплозащитных стекол и светофильтров 2 посылает световые потоки на два селеновых фотоэлемента 6 вентильного типа. Величина одного светового потока падающего на фотоэлемент регулируется фотометрическими клиньями 4, величина другого светового потока регулируется с помощью щелевой диафрагмы 5. Фотоэлементы включены дифференциально, поэтому при равенстве световых [c.47]

Наиболее широкое распространение в аналитической практике получили пламенные фотометры с интерференционными светофильтрами. Принципиальная оптическая схема такого фотометра представлена на рис. 1.14. Анализируемый раствор распыляется сжатым воздухом в распылителе 2 и подается в пламя 5 в виде аэрозоля. Крупные капли аэрозоля конденсируются на стенках распылителя и удаляются через слив 3. Устойчивый и мелкодисперсный аэрозоль увлекается в пламя, предварительно смешиваясь с горючим газом. Суммарное излучение пламени, прямое и отраженное рефлектором 4 через диафрагму 6 и конденсаторы 7, 8 попадает на интерференционный светофильтр 9, а выделенное им излучение собирается конденсором 10 в сходящийся пучок и, пройдя защитное стекло И, попадает на катод фотоэлемента или фотоумножителя 12. Электрический сигнал после усилителя 13 отклоняет стрелку микроамперметра 14. В блоке питания 15 находятся автокомпенсацион-ные стабилизаторы и преобразователь напряжения. [c.39]

Наиболее простым является щелевой ультрамикроскоп, схема которого иредставлеиа на рис. V. 3. В более совершенных приборах используются специальные присиособления для освещения объектов исследования. Нанример, вместо щелей, которые недостаточно используют источник света и направляют его лучи на объект только с одной стороны (благодаря чему искажается форма частицы), широкое ирименение иашли конденсоры темного поля, устанавливаемые в простом микроскопе вместо обычных конденсоров. [c.258]

Мутность исследуемых растворов определяют с помощью нефелометра типа НФМ (рис. 42). Световой поток от монохроматического источника света I падает на прозрачную пластинку /7 и, пройдя через нее, а также через линзу 16 и конденсор 15, попадает в кюв тный блок 13, в котором помещается кювета 14 с исследуемой системой. [c.148]

Если образец разрушается при растирании и содержит воду (многие биохимические препараты), то таблетки готовят методом лиофильной сушки. Для этого к водному раствору вещества добавляют бромид калия и раствор быстро замораживают, разбрызгивая его на холодной поверхности или погружая в хладагент колбу с небольшим количеством раствора, распределенного по стенкам колбы. Вакуумированием образца через ловушку с жидким азотом пз пего полностью удаляют воду, а из полученной тонкой смеси вепгества с бромидом калия прессуют таблетку без предварительного растирания. С помощью конденсоров и других специальных микроприставок можно снять спектр таблетки массой 2 мг, содержащей несколько микрограммов исследуемого вещества, что очень важно при работе с биохимическими препаратами, количества которых часто ограничены. [c.209]

Вместо этого способа освещения можно использовать и конденсоры специальной конструкции кардиоидный конденсор (рис. 10) и па-раболоидный конденсор (рис. 11), которыми заменяют конденсор в обычном микроскопе. Они также дают возможность освещать коллоидные частицы, в то время как непосредственное попадание света от осветителя в объектив микроскопа исключается. [c.36]

А — ячейка Б — исследуемый раствор В — трехходовой кран Г — объектив микроскопа Д —конденсор Е — насыщенный раствор 2пЯ0< Ж — цинковый электрод 3 — выход. [c.160]

Простейший растровый конденсор (рис. 3.9) состоит из плосковыпуклой линзы /, на плоской стороне которой расположен набор маленьких линзочек 2 с одинаковыми фокусными расстояниями. Если бы линз 2 не было, линза 1 давала бы изображение излучателя в плоскости линзы 4, помещенной перед щелью 5. Совокупность же линз / и 2 дает ряд уменьшенных изобрал ений источника в плоскости 5 и далее линзой 4 — в плоскости б объектива коллиматора. Получается, что на каждый небольшой участок объектива падает свет от всех частей источника, т. е. линии будут равноинтенсивными по своей длине. Система освещения щели растровым конденсором использована, например, в квантометре ДФС-36. [c.74]

Многоканальные фотоэлектрические спектрометры (каантометры) широка применяют а промышленности для экспрессного и маркировочного анализа металлов и сплавов. Типичная функциональная схема квантометра показана на рис. 3.31, Спектральный прибор представляет собой полихроматор, в котором входная ш,ель, вогнутая дифракционная решетка и передвижные выходные щели расположены по кругу Роуланда. Излучение источника света, работающего в атмосфере инертного газа, растровым конденсором направляется через входную щель на дифракционную решетку с радиусом кривизны 1—2 м и числом штрихов до 2400 на 1 мм. Дифракционная решетка разла- гает излучение в спектр и фокусирует его по дуге АВ. Выходные щели выделяют из этого спектра нужные линии. За выходными щелями расположены зеркала, направляющие выделенные излучения на фотокатоды фотоумножителей. [c.133]

Прикладная ИК-спектроскопия (1982) -- [ c.118 , c.253 ]

Прикладная ИК-спектроскопия Основы, техника, аналитическое применение (1982) -- [ c.118 , c.253 ]

Коллоидная химия (1960) -- [ c.0 ]

Техника неорганического микроанализа (1951) -- [ c.27 ]

Физические методы органической химии Том 2 (1952) -- [ c.201 ]

Физические методы органической химии Том 2 (1952) -- [ c.201 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология