Помехи дефектоскопа

Продолжать увеличивать чувствительность аттенюатором следует до такого значения, пока собственные помехи дефектоскопа не достигнут половины стандартного уровня. Чтобы быть уверенным, что это собственные помехи усилителя дефектоскопа, а не структурные, преобразователь можно снять с образца, помехи усилителя должны остаться. Надо зафиксировать показание аттенюатора Щ. Резерв чувствительности дефектоскопа с данным преобразователем равен величине Л о (в дБ), на которую можно увеличить чувствительность по сравнению с зондирующим импульсом. Абсолютная чувствительность дефектоскопа будет равна резерву чувствительности плюс ослабление сигнала в образце (обычно около 2 дБ). [c.174]

Ложные сигналы от предыдущей посылки, к помехам дефектоскопа относятся также ложные сигналы от предыдущей посылки зондирующего импульса. В материале ОК с малым затуханием ранее посланный импульс не успевает в достаточной мере ослабиться, и какое-то его отражение в ОК видно на экране во время [c.195]

Импульсный дефектоскоп благодаря наличию пауз свободен от большинства помех дефектоскопа с непрерывным излучением. Может быть задана большая мощность импульса без перегрузки кварца, интерференция практически отсутствует, дифракция и многократное отражение не сказываются на выявлении дефекта. Большим преимуществом метода являются значительная глубина проникновения (до 3,5 м), исследование с одной стороны детали и отсутствие погружения детали в жидкость. К недостаткам ультразвукового метода относятся необходимость чисто обработанной поверхности размерами не менее 30 X 60 мм, неудобство контроля деталей сложной формы и наличие неконтролируемых ( мертвых ) зон, простирающихся на глубину 10 мм от передней грани детали и на 5 % [c.378]

Ультразвуковые дефектоскопы имеют малые габариты и малый вес, однако они неприменимы для контроля нержавеющих сталей. Крупнозернистая структура нержавеющих и легированных сталей приводит к тому, что отражение импульса от крупных зерен создает помехи, из-за которых трудно определить отражение импульса от дефекта. Для контроля нержавеющих сталей используется цветная дефектоскопия, рентгено- и гамма-просвечивание. 140 [c.140]

Считается, что метод вихретоковый контроль малопригоден для дефектоскопии сварных соединений. Объясняется это его высокой чувствительностью к структурной неоднородности металла, что создает помехи при измерении исследуемого п аметра В результате сигнал от дефекта может быть перекрыт сигналом от случайной помехи. [c.32]

Основной параметр дефектоскопа - порог чувствительности - определяется минимальными размерами дефекта заданной формы, при которых отношение сигнал/помеха составляет не менее двух. Порог чувствительности дефектоскопов с проходными ВТП обычно определяется глубиной узкого длинного продольного дефекта, вьфаженной в процентах от поперечного размера (диаметра) детали. [c.173]

Ограничение чувствительности интерферометра связано с шумом фотоумножителя. В результате (см. задачу 1.5.4) чувствительность при приеме в 500 раз меньше, чем при использовании оптимального ПЭП. Кроме того, интерферометр — это довольно сложное, громоздкое, чувствительное к помехам устройство. В связи с этим лазерный способ приема находит применение лишь в исследовательских целях, например для точного измерения характеристик акустического поля или скорости звука в материалах. В дефектоскопии его применяют для визуализации колебаний больших участков поверхности при теневом методе контроля. [c.73]

Явлением многократного рассеяния пренебрегают, когда брЯ< <0,02. Если это условие нарушается в 3...5 раз, то повторное рассеяние превалирует и почти вся картина распределения помех на линии развертки дефектоскопа формируется в результате многократного рассеяния импульсов в зоне крупнозернистого материала, расположенной вблизи преобразователя. [c.133]

Уровень структурных помех на экране ЭЛТ дефектоскопа. ПЭП —линейный преобразователь сигналов, поэтому на экране дефектоскопа наблюдают не интенсивность, а амплитуду сигнала. Средний уровень акустических помех на приемнике вычисляют по [c.133]

Здесь С/тш — минимальный электрический сигнал, регистрируемый аппаратурой (дефектоскоп плюс преобразователь) С/д — уровень помех на входе прибора. Поскольку основным видом трудноустранимых помех являются структурные помехи, в дальнейшем рассматриваются именно они. [c.135]

Усовершенствовать аппаратуру целесообразно в нескольких направлениях. Увеличение абсолютной чувствительности расширяет возможность применения оптимальных параметров контроля, как рекомендовалось выше (например, выбора частоты, использования РС-преобразователей и т. д.) при сохранении требуемого порога чувствительности. Введение компенсированной отсечки (см. п. 2.1.2) не увеличивает отношения сигнал — помеха, однако повышает удобства контроля при высоком уровне помехи, поскольку помогает сконцентрировать внимание контролера на полезных сигналах. Введение ВРЧ обеспечивает приблизительно одинаковый уровень помех на всей линии развертки. Дефектоскоп должен иметь широкий диапазон частот для оптимизации их выбора. Генератор дефектоскопа должен излучать короткие колоколообразные импульсы. В комплект прибора должны входить преобразователи РС и фокусирующие с большим диаметром пьезоэлемента. [c.139]

Для того чтобы структурные помехи не появлялись на экране во всем диапазоне развертки, чувствительность дефектоскопа регулируют и устанавливают некоторое ее пороговое значение /ь Это приводит к дополнительному ограничению максимальной глубины прозвучивания. Применяя систему ВРЧ, добиваются изменения порогового значения по кривой, показанной штрихпунктирной линией с двумя точками, что снимает это ограничение. Если прибор не имеет системы ВРЧ, то изделия большой толщины приходится контролировать по слоям, увеличивая чувствительность при переходе к контролю более глубокого слоя. [c.141]

Помехи при контроле теневым методом, как правило, относятся к мультипликативным, поскольку (как показано ниже) под их влиянием изменяются значения сомножителей, определяющих амплитуду сквозного сигнала. Один из источников помех — нестабильность акустического контакта. При дефектоскопии эхометодом случайное кратковременное ухудшение акустического контакта приводит к снижению чувствительности конт роля некоторого объема изделия. Борются с этим явлением путем понижения порога чувствительности дефектоскопа в процессе поиска дефектов и повторного контроля каждого объема объекта. При дефектоскопии теневым методом случайное ухудшение качества акустического контакта вызывает ослабление сквозного сигнала и его регистрируют как появление дефекта. Описанные выше приемы борьбы с нестабильностью контакта неэффективны. В связи с этим при дефектоскопии теневым методом контроль обычно ведут иммерсионным или щелевым способом, для которых нестабильность контакта меньше. [c.155]

Книга посвящена методам обработки изображений на вычислительных машинах и их применению для сокращения избыточности изображений, улучшения их качества, автоматической интерпретации и опознавания образов. Изложены методы квантования и кодирования изображений, математический аппарат поэлементной обработки, оптические средства реализации линейных двумерных операций и основы голографии, пространственная фильтрация и устранение искажений и помех на изображении, математическое описание изображений. Эти вопросы имеют принципиальное значение для нового научного направления — применения ЭВМ для автоматизации обработки и интерпретации изображений. Книга рассчитана на инженеров, научных работников и аспирантов, занимающихся вопросами медицинской диагностики и дефектоскопии, физическими исследованиями, а также на студентов старших курсов. [c.380]

Так как при построчном сканировании контроль проводят двумя искателями, симметрично расположенными относительно оси шва, то четверти отрицательных значений разностей амплитуд эхо-сигналов одного искателя перекрываются положительными значениями другого. Это можно представить себе путем наложения на кривые, приведенные на рис. 147, их зеркальных отображений. Следовательно, если при построчном сканировании чувствительность установки настраивать по искусственному отражателю, расположенному в центре сечения образца заданной толщины, то такую методику можно эффективно применять для контроля стыковых швов сосудов и аппаратов с толщиной стенки менее 20 мм. Основное различие в методике механизированного контроля сварных швов с толщиной стенки 6—4 мм по сравнению со швами толщиной 8—18 мм состоит в том, что в первом случае контроль проводят на частоте 5,0, а во втором — на частоте 2,5 МГц. При построчном сканировании указанных толщин за один проход на экране дефектоскопа может появиться сигнал-помеха от усиления сварного соединения. [c.207]

Помимо калиброванного аттенюатора импульсные дефектоскопы имеют ряд других регуляторов чувствительности. К ним относят регулятор амплитуды зондирующего импульса, некалиброванный регулятор чувствительности усилителя и отсечку. Отсечка (ограничение сигналов снизу) достигается изменением порогового уровня детектора. Благодаря этому отсекают все небольшие импульсы, амплитуда которых меньше выбранной пороговой величины (обычно это помехи). [c.145]

Фазы импульсов, создающих структурные помехи, распределяются случайным образом, поэтому амплитуда структурных помех на преобразователе в некоторый определенный момент времени равновероятно имеет положительное или отрицательное значение, а среднее значение амплитуды равно нулю. Дефектоскоп регистрирует не знак, а абсолютную величину амплитуды, поэтому средний уровень помех определяется средним квадратическим значением амплитуды, которое пропорционально квадратному корню из средней интенсивности помех [132]. В дальнейшем будем рассматривать интенсивность помех и лишь при сравнении помех с полезными сигналами переходить к амплитуде. [c.202]

Уровень структурных помех на экране дефектоскопа. ПЭП - линейный преобразователь сигналов, поэтому на экране дефектоскопа наблюдают средний уровень структурных помех, определяемый теми же формулами (2.13) и (2.14). Однако при контактном способе контроля необходимо учитывать особенности прохождения структурных помех и эхосигналов от дефектов через тонкий слой контактной жидкости. [c.203]

Здесь - минимальный электрический сигнал, регистрируемый аппаратурой (дефектоскоп плюс преобразователь) 7 -уровень помех на входе прибора. [c.227]

Поскольку основным видом трудноустранимых помех являются структурные помехи, в дальнейшем рассматриваются именно они. Значение и пт чаще всего определяется шумами электрических цепей дефектоскопа, а вблизи зондирующего или начального импульса - помехами преобразователя. [c.227]

Как показала практическая реализация этого способа в дефектоскопах сер. "Авгур", выпускаемых НПЦ "Эхо+", абсолютную чувствительность дефектоскопа удается увеличить до 146 дБ. Этот способ малоэффективен для подавления структурных помех, так как соответствующие импульсы сильно коррелированы с эхо-сигналами от дефектов. [c.228]

Введение ВРЧ обеспечивает приблизительно одинаковый уровень помех на всей линии развертки. Дефектоскоп должен иметь широкий диапазон частот для оптимизации их выбора. Г енератор дефектоскопа должен излучать короткие колоколообразные импульсы. В комплект прибора должны входить РС-преобразователи и фокусирующие преобразователи с большим диаметром пьезоэлемента. [c.231]

Применение вейвлет-преобразования в УЗ-дефектоскопии для выделения полезного сигнала из шумов и помех рассмотрено также в [425, с. 133/589, 500/347 и 111/600] для контроля аустенитных сварных соединений, в [425, с. 110/775] -для выявления в композиционных материалах пористости и обогащенных смолой зон, в [425, с. 387/501] - для определения границы между хромоникелевым покрытием и основным металлом. [c.233]

Мертвая зона, или минимальная глубина прозвучивания, - минимальное расстояние от поверхности ввода до дефекта, надежно выявляемого при контроле. Возникновение мертвой зоны при контроле по совмещенной схеме связано с тем, что усилитель дефектоскопа не может принимать эхосигналы от дефектов во время излучения зондирующего импульса. После него следуют помехи преобразователя, т.е. [c.233]

Статические закономерности формирования структурных помех определяются тем, что фазы импульсов, создающих структурные помехи, распределяются случайным образом, поэтому амплитуда структурных помех на преобразователе в некоторый определенный момент времени равновероятно имеет положительное или отрицательное значение, а среднее значение амплитуды равно нулю. Дефектоскоп регистрирует не знак, а абсолютную величину амплитуды, поэтому средний уровень помех определяется среднеквадра- [c.131]

Простой для практиечской реализации способ — изменение длительности зондирующих импульсов, при сохранении их амплитуды. Если х АТ Т — период колебаний), то полезный сигнал практически не увеличивается при дальнейшем увеличении т. В то же время уровень структурных помех растет пропорционально Ут. Дефектоскоп для контроля крупнозернистых материалов должен обладать переменной длительностью импульса (как минимум, от 4 до 9 периодов). Когда возникает сомнение, что наблюдаемые импульсы вызваны структурными помехами, то изменяют т и проверяют, изменяется или нет их амплитуда. Если амплитуда не изменяется (с точностью 1 дБ), то импульсы — сигналы от дефектов. Если амплитуда изменяется приблизительно на 3 дБ или более—это структурные помехи. Статистическое накопление и обработку сигналов можно также производить, перемещая преобразователь по поверхности изделия, изменяя угол ввода, рабочую частоту, ширину диаграммы направленности (например, варьируя диаметр преобразователя). [c.140]

Контроль временным методом осуществляют импульсным дефектоскопом со стробирующей системой, позволяющей точно фиксировать время прихода сквозного сигнала. Специфические помехи, свойственные этому методу, связаны со случайными изменениями толщины ОК, контактных слоев и скорости распространения звука в материале эти же факторы определяют предельно малую длительность стробирующего импульса. 1 [c.158]

Чувствительность эхосквозного метода выше, чем теневого, но меньше, чем чувствительность эхометода. Это связано с большим расстоянием между излучателем и приемником и отмеченными выше помехами. Область оптимального применения — дефектоскопия листов толщиной 20. ..60 мм, где метод надежно обнаруживает дефекты диаметром 3. .. 5 мм и более. [c.161]

При производственном контроле сварных швов ультразвуковые колебания вводятся в металл шва через основной металл с помощью наклонных искателей, применяя для этого эхо-метод. Наклонные искатели для ультразвукового дефектоскопа были разработаны в 1951 г. ЦНИИТМАШем. Это позволило НИИхим-машу в 1951—1952 гг. провести первые исследования, в результате которых была установлена возможность использования ультразвукового метода для контроля качества сварных швов химической и нефтяной аппаратуры [112]. Отработку методики контроля производили на специально подготовленных сварных образцах, выполненных многослойной сваркой с различными естественными и искусственными дефектами. Были отработаны основные приемы сканирования, позволявшие отличать опасные протяженные дефекты типа непроваров и трещин от мелких допустимых, округлых по форме пор и шлаковых включений. Чувствительность контроля выбирали близкой к максимальной, но при которой еще отсутствовали помехи. [c.26]

Дефектоскопия телевизионными методами в настоящее время осуществляется путем оперативного анализа изображения на зкране видеоконтрольного устройства. Телевизионные методы в этом случае по сравнению с визуально-оптическим методом обеспечивают повышенную достоверность и разрешающую способность за счет дополнительного электронного увеличения мелких деталей изображения, улучшения условий работы оператора и вторичной обработки изображения устранения помех и увеличения контрастности, построения линий равной яркости, введения цветового контрастирования и др. Автоматизированная дефектоскопическая аппаратура не получила пока распространения в связи с отсутствием в настоящее время достаточно четкого и широкого описания дефектов. Вместе с тем при необходимости высокоскоростной оптической дефектоскопии можно использовать принципы построения и аппаратуры и устройства для распознавания образов, аналогичные приборам и установкам, предназначенным для анализа по размерам, яркости или цвету макрочастиц. [c.262]

Ошибки проплавления вызывают появление на экране дефектоскопа ложных сигналов при контроле прямым лучом, причем ложные эхосигналы от провисания часто совпадают по времени с эхосигналами, отраженными от надкорневых дефектов, обнаруженных однократно отраженным лучом (рис. 5.7), что сильно усложняет расшифровку сигналов на экране дефектоскопа. В [350] показано, что наихудшее соотношение сигнал/помеха наблюдается для преобразователей с углами ввода45. .. 50°. [c.572]

Контроль проводили дефектоскопом Т18М-50 (или и8Ы-52), преобразователями на частоты 2. .. 5 МГц с углами ввода 50. .. 70°. Также применяли установку ZIPS AN-3 на частотах 1. .. 10 МГц. Труднее всего выявлялись дефекты типа оксидных плен, но и они давали эхосигналы на 4. .. 6 дБ выше структурных помех при контроле дифракционно-временным методом на частоте 2,5 МГц преобразователями с углами ввода 50. .. 55°. [c.626]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология