Аппаратура для дальней ИК-области спектра

Определение элементов неметаллов углерода, фосфора, серы и в отдельных случаях мышьяка, в процессе плавки и для маркировочных анализов представляет значительный интерес, однако спектрографические методы для этой цели не всегда наиболее эффективны. Условия определения указанных элементов при использовании стандартной аппаратуры обычно не рассчитаны на одновременное определение и элементов-металлов. Более перспективны, как показывает опыт, фотоэлектрические спектральные приборы, рассчитанные на использование дальней ультрафиолетовой области спектра. К сожалению, опыт эксплуатации подобных приборов пока недостаточен [144]. [c.64]

Дальняя инфракрасная область поглощения требует для своего исследования гораздо более сложной и дорого стоящей аппаратуры как собственно спектрометрической, так и регистрирующей. Поэтому в этой области инфракрасные спектры мало исследованы, хотя они и представляют гораздо больший интерес, чем спектры гармоник. Дальние инфракрасные спектры поглощения состоят из значительно более интенсивных полос, которые к тому же значительно уже, чем полосы в области гармоник. Хромофорные группы обладают, как правило, весьма характерными собственными инфракрасными колебаниями, инфракрасные спектры поглощения весьма селективны (рис. 90). Все это делает возможным определение не то.лько группового, но и индиви- [c.188]

Таким образом, для видимой, ультрафиолетовой и близкой инфракрасной областей спектра в СССР имеется достаточно широкая база для дальнейшего развития методов упрощенной спектрофотометрии при помощи перечисленной оригинальной аппаратуры. [c.13]

Наступление космической эры открыло новые возможности для спектрального анализа. Специально сконструированная спектральная аппаратура, устанавливаемая на орбитальных станциях, позволяет проводить исследования в областях спектра (ультрафиолетовой, рентгеновской и дальней инфракрасной ), которые поглощаются земной атмосферой. Так, спектроскопическое исследование отраженного Марсом ультрафиолетового солнечного излучения оказалось решающим для определения состава атмосферы этой планеты. [c.17]

АППАРАТУРА ДЛЯ ДАЛЬНЕЙ ИК-ОБЛАСТИ СПЕКТРА [1П1 [c.61]

Аппаратура для дальней ИК-области рассматривается отдельно, поскольку работа в этой области спектра сопряжена с рядом особенностей. [c.61]

Спектры ЭПР. Этот вид спектроскопии, в отличие от метода ядерного резонанса, связан с магнитным резонансом непарных электронов. В интенсивном магнитном поле нормальный энергетический уровень электронов меняется так, что энергетический переход наблюдается в микроволновой области. Эта область представляет собой часть электромагнитного спектра, которая находится между дальней инфракрасной и радиочастотной областями, т. е. в области частот от 0,1 до 30 см. Используемая при этом аппаратура аналогична аппаратуре, употребляемой при измерении спектров ЯМР. [c.53]

Получение чисто вращательных спектров связано с применением дорогостоящей и дефицитной аппаратуры, работающей в микроволновой или дальней ИК областях. Но можно получить вращательные спектры и в ближней и средней ИК областях путем топкого разрешения колебательно-вращательных полос. Для целей качественного и количественного анализа вращательные спектры имеют ограниченное применение. Изучая вращательные спектры молекул, получают ценные сведения о строении молекул — момент инерции, длину связи и др. [c.265]

При изложении материала автор уделил серьезное внимание многочисленным и весьма актуальным исследованиям, выполненным за последние 8—10 лет в области методики анализа и аппаратуры, которые не нашли отражения в ранее изданных на русском языке пособиях и обзорах [5—11]. Учитывая, что теория спектров абсорбции достаточно подробно освещена в литературе (см., например, [12—15]), в книге дано лишь краткое изложение ее основ, необходимое для понимания дальнейших разделов. При описании свойств пламен значительное внимание уделено результатам экспериментальных исследований, так как [c.11]

Так как каждый атом в молекуле N2 имеет ls-орбиталь, то должны существовать две молекулярные орбитали с потенциалами ионизации в области 410 эВ. Это следует из аналогии с рассмотренной в предыдущем разделе ситуацией для Н .Если представить себе процесс сближения двух атомов из бесконечности, то две атомные ls-орбитали постепенно преобразуются в две молекулярные орбитали, которые в дальнейшем будем обозначать как lag и la . Однако анализ высокоэнергетической полосы в спектре N2 не подтверждает наличия двух разных потенциалов ионизации. Расчеты молекулы N2 показывают, что эти два уровня расщеплены приблизительно на 0,1 эВ и не могут быть разрешены при помощи имеющейся в настоящее время спектральной аппаратуры. [c.84]

В молекулах насыщенных углеводородов возможны только переходы о а, требующие наибольшей энергии. Полосы, соответствующие этим переходам, лежат в дальней ультрафиолетовой области, поэтому для анализа содержания насыщенных углеводородов требуется сложная аппаратура. Алкены и алкины с изолированными двойными связями имеют полосу поглощения также в области до 190 нм, обусловленную переходом Для идентификации же компонентов нефтяных фракций используют спектры поглощения в средней ультрафиолетовой области (Я, = 190—400 нм). [c.131]

К видимой части спектра со стороны спектральных фиолетовых лучей примыкает невидимая ультрафиолетовая (УФ) область, простирающаяся в коротковолновую часть спектра приблизительно до % 10 м (100 нм). Эта часть спектра подразделяется на ближнюю ультрафиолетовую (> 200—400 нм, V 5-10 —2,5-10 см >, Е 10-10 22—5.Ю-22 кДж), исследуемую с помощью спектральных приборов с кварцевыми призмами, и дальнюю ультрафиолетовую (Я, 100—200 нм, V 10 —5-10 см , Е 20-10 2 —10-10 22 кДж), исследуемую с помощью специальной вакуумной аппаратуры. [c.21]

Авторы работы [44] рассмотрели возможность применения импульсного источника света к целям атомно-абсорбционно-го анализа. Они отмечают недостатки пламени как средства атомизации образцов (наличие химических помех, непрозрачность пламени в дальней УФ-области спектра, неоднородность пламени) и указывают на необходимость разработки непламенных средств атомизации. В качестве такого средства они рекомендуют изучать импульсную разрядную лампу [46], с помощью которой возможен интенсивный нагрев образца (энергия, отдаваемая в течение одного разряда, достигает величины 30 дж/см [47] ). Так как атомный пар, создаваемый с помощью импульсной лампы, существует короткое время ( 10 сек), необходимо пользоваться быстрорегистри-рующей спектральной аппаратурой. Возможны два таких варианта регистрации — фотографический, с использованием импульсного источника сплошного излучения (вариант применен ранее в [48—50]), и фотоэлектрический [51]. [c.230]

По-видимому, в дальнейшем при совершенствовании аппаратуры могут возникнуть проблемы, связанные с уменьшением ширины линий вращательной структуры, которую можно сокращать за счет допплеровской составляющей. В этом случае лучше всего использовать молекулярные пучки. Однако одновременно возникает и проблема существенного увеличения длины поглощающего слоя, так как плотность вещества в молекулярных пучках мала. Правда, эти затруднения можно отчасти компенсировать увеличением чувствительности спектрофотометров по оптической плотности. Например, сейчас имеются спектрофотометры для видимой и УФ-области спектра, которые позволяют измерять оптические плотности порядка 10-4 10-8. [c.86]

Опубликовано много работ, имевщих целью увеличение разрешающей способности. Разработаны двухкристальные монохроматоры и монохроматоры с изогнутым кристаллом, разрешающая способность которых в два-четыре раза превышает разрешающу о способность аппаратуры, примененной в данном исследовании. Длительность эксперимента в случае такого высокого разрешения приводит к спектрам весьма ограниченной области, простирающейся только на 20—30 эв выше границы поглощения. Примененный здесь метод позволил при помощи выпускаемых промышленностью рентгеновских дифрактометров получить воспроизводимые спектры протяженностью до 200 эв, которые дали много интересных сведений. Спектры, представленные в этой статье, соответствуют структуре исследованных веществ. Разрешающая способность, по-видимому, достаточно высока, и потому можно рассчитывать, что данный метод спектроскопии найдет в дальнейшем широкое применение и окажется полезным для проверки теории. [c.131]

С 1852 г. —времени открытия Стоксом (1852) прозрачности кварца для ультрафиолетовых лучей и применения кварцевой аппаратуры — и до 1890 г. ни одна линия не была получена с длиной волны ниже 185 нм. Высказывалось даже предположение, что это естественный предел спектра более правильным, однако, было предположение, что достигнутый предел означает не что иное, как предел прозрачности применявшихся в спектроскопии материалов. Как показал Шуман (1890), действительно и кварц, и воздух, и желатин фотопластинок уже становятся помехой для прохождения лучей с длиной волны менее 185 нм. Шуман применил вместо кварца более подходящий материал — флюорит ( aFj), на полную прозрачность которого для ультрафиолетовых лучей указал Миллер еще в 1863 г., а также стал работать в вакууме и со специального типа фотопластинками. Отсюда берет начало вакуумная УФ-спектроскопия. Сам Шуман полагал, что граница его исследований достигала длин волн 100 нм, однако, как было показано вскоре (Мартенс, 1901), она вряд ли лежала ниже чем при 125 нм. Дальнейшее усовершенствование техники вакуумной УФ-спектроскопии связано с именем Лаймена (1904 г. и след.), отодвинувшем эту границу до 50 нм. В дальнейшем была открыта возможность для изучения ультрафиолетового спектра с длиной волн до 10 нм, области, где ультрафиолетовое излучение уже перекрывается с областью мягкого рентгеновского излучения. Далекая ультрафиолетовая область представляет особый интерес для изучения насыщенных соединений, потому что линии электронных спектров поглощения водорода с насыщенным атомом углерода расположена только в далеком ультрафиолете. Олефины с несопряженными двойными связями также обладают характерными спектрами поглощения в этой области (Карр и сотр., 1936) и т. д. [c.232]

Приведенный перечень областей аналитического применеии спектров в ближней ИК-области включает в себя широкий кру задач, решаемых в химической технологии и при аттестации прс дуктов производства. Высокая избирательность метода анализа ближней ИК-области, позволяющая проводить анализ зачасту без всякой предварительной подготовки образца, быстродействи и сравнительная простота методик и аппаратуры обусловливаю дальнейшее расширение областей его применения. Спектрометри ческий метод позволяет решать весьма актуальную задачу автома тизации аналитического контроля, обеспечивающего получение ин формации о технологических процессах в кратчайшее время пр высокой точности анализа. Успешное решение этой задачи зависи от выбора элементов приборов и измерительных схем, максималь но реализующих возможности метода, и разработки конструкци) приборов, обеспечивающей высокую надежность и малую инстру ментальную погрешность. [c.28]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология