Вторичное рассеяние

В основе многих классических методов исследования дисперсных систем, в частности изучения размеров коллоидных частиц растворов технических продуктов, используемых в производстве пластических смазок, в лакокрасочной промышленности и других случаях применения, лежит измерение светорассеяния. Однако исследование указанным методом нефтяных дисперсных систем часто осложнено либо вовсе невозможно вследствие значительного поглощения света и больших величин оптической плотности исследуемых систем. В подобных случаях оптические исследования осуществляются при разбавлении систем, пренебрегая вторичным рассеянием света. [c.83]

Использовать РС-преобразователи. Как видно из рис. 2.25, д, этот преобразователь обладает фокусирующим действием — сжимает зону озвучивания. Наибольшую концентрацию энергии дает фокусирующий РС-преобразователь (рис. 2.25, е). Кроме того, РС-пре-образователь устраняет помехи от вторичного рассеяния и практически не имеет собственных помех. [c.138]

Уравнение Р олоя справедливо лишь для разбавленных растворов, так как оно не учитывает вторичного рассеяния света и взаимодействия между частицами. Поэтому для определения размера частиц [c.33]

Объем дисперсной системы, через который проходит рассеянный свет, мал, и можно не учитывать вторичное рассеяние рассеянного света. [c.160]

В работе [5] показана возможность применения для контроля зольности угля в диапазоне от 7 до 24 % с погрешностью 1,17 %, основная часть которой вызвана вариациями содержаний Ре и С. На погрешность измерения А влияют флуктуации различных параметров проб, отсюда — ограничения в применении приборов [6]. Некоторые исследователи [7] предлагают определять влажность по вторичному рассеянию р-излучения при этом на результаты слабо влияют флуктуации зольности и содержание Ре в золе. В обзорах радиометрических методов контроля качества угля и продуктов его сгорания [8, 9] показано, что использование рассеяния р-излучения и низкоэнергетического 7-излучения дает лучшие результаты по сравнению с другими методами. [c.35]

В случае падения на вещество длинноволнового излучения при Х 0,03 нм, когда энергия первичного фотона оказывается соизмеримой с энергией связи электрона с ядром, осуществляется когерентное рассеяние. Первичные фотоны вызывают вынужденные колебания слабо связанных с атомами электронов, которые при этом сами излучают вторичные рассеянные кванты той же длины волны, но в другом направлении (максимум — в прямом и обратном, минимум — в перпендикулярном). Таким образом, когерентное рассеяние фактически состоит в переизлучении полученной энергии в виде фотона с той же частотой, двигающейся в произвольном направлении, но прямое и обратное направления являются предпочтительными. Линейный коэффициент ослабления излучения за счет когерентного рассеяния связан с плотностью вещества и равен [c.294]

В связи с тем что оба использованных метода применимы только в условиях однократного рассеяния света, предварительно определяли концентрационные интервалы, в которых Rgf o/ и D/ не зависят от концентрации, что является критерием отсутствия в системе вторичного рассеяния [263]. При этом оказалось, что в методе светорассеяния условия однократного рассеяния соблюдаются до с = 0,2 г/100. мл, а во втором методе до с = = 2,5 г/100 МЛ-, это различие в чувствительности двух методов определяется отличиями в оптических схемах приборов. [c.110]

Следует помнить, что уравнение Рэлея справедливо для очень разбавленных растворов, так как оно не учитывает вторичного рассеяния света частицами. Поэтому стандартный раствор должен быть сильно разбавленным. Исследуемый раствор также приходится разбавлять примерно до такой же концентрации. При разбавлении коллоидной системы может произойти десорбция стабилизатора, что приведет к нарушению агрегативной устойчивости системы и к агрегации частиц, т. е. к изменению их размера. В этом случае измерение концентрации по светорассеянию невозможно. Чтобы избежать агрегации, разбавление коллоидной системы проводят раствором стабилизатора. [c.29]

Диафрагма, установленная перед правым фотоэлементом, служит для предотвращения попадания на фотоэлемент света за счет вторичного рассеяния. Она включается поворотом рукоятки 6 в положение Н . [c.36]

Первый метод, помимо геометрических измерений, требует введения нескольких оптических поправок. Второй метод требует усовершенствованной техники эксперимента. Например, для устранения вторичного рассеяния при большой мутности применяют экстраполяцию до бесконечного разбавления с этой же целью даже при малой мутности нужно усовершенствовать приемные устройства фотометра. Несомненно, что для получения [c.36]

Условие р О показывает, что свет, рассеянный большими частицами, сосредоточен в узком интервале углов и направлен вперед вдоль основного пучка. Условие В исключает вторичное рассеяние и рассеяние высших порядков, так как теория малых углов справедлива лишь для однократного рассеяния. Оно выполняется в том случае, если концентрация частиц в полидисперсной среде яе слишком велика. Предельное число частиц в единице рассеивающего объема (п , см ) можно рассчитать по приближенной формуле [c.34]

Погрешности от вторичного рассеяния возникают в объектах с очень большой мутностью. Они легко устраняются подбором кювет соответствующей толщины или разбавлением дисперсной системы. [c.62]

Защитные устройства при работе на рентгеновских установках должны обеспечивать защиту как от действия первичного, так и вторичного (рассеянного) излучения. [c.294]

Фактор накопления поглощенной энергии — отношение поглощенной дозы в данном материале в точке детектирования, созданной первичным и вторичным рассеянными излучениями, к поглощенной дозе только от первичного излучения в той же точке. [c.81]

Если электромагнитная волна (рентгеновское излучение) падает на ПОКОЯЩИЙСЯ электрон, то под действием электрического поля волны электрон приходит в колебательное движение с частотой, равной частоте колебаний электрического поля падающей волны. Но всякое колебательное движение заряженной частицы сопровождается излучением электромагнитных волн во всех направлениях (с разной интенсивностью в разных направлениях), частота которых равна частоте колебаний частицы. Таким образом, когерентное рассеяние (рассеяние без изменения длины волны) описывается в виде двух последовательных процессов энергия первичной волны передается электрону, который отдает ее обратно в виде вторичных (рассеянных) рентгеновских лучей той же частоты. [c.148]

Действием вторичных (рассеянных атомами) волн на атомы, лежащие на их пути, и взаимодействием вторичных волн с падающей волной можно пренебречь. [c.179]

Здесь следует сделать предостерегающее замечание. Деполяризация может возникнуть также и вследствие вторичного рассеяния, а не только из-за анизотропии. Этот фактор как будто не должен заметно влиять на интенсивность рассеяния. Все же в большинстве случаев, когда появлялись сообщения о величинах р , не равных нулю, совсем не всегда было ясно, действительно ли отражают измеренные величины р только анизотропию . [c.335]

Согласно теории, развитой Рэлеем, предполагается, что сферические частицы в дисперсной системе находятся настолько далеко друг от друга, что можно пренебречь вторичным рассеянием, и поэтому интенсивность рассеянного света пропорциональна числу частиц в единице объема, или частичной концентрации дисперсной системы V. Формула Рэлея для интенсивности света /р, рассеянного единицей объема дисперсной системы со сферическими частицами, значительно меньшими длины волны падающего света (не более О,IX), на расстоянии Я от частиц в направлении, составляющем угол 0 с направлением падающих лучей, имеет вид [c.297]

Поскольку мы считаем коллоидный раствор достаточно разбавленным и ири этом пренебрегаем вторичным рассеянием уже рассеянного света, общая интенсивность рассеяния света, прошедшего через коллоидный раствор, определяемая как количество света, рассеянного 1 с.к , [c.37]

Иптенсивность левого светового пучка можно изменять с помощью ней тральных оптических клппьев п Л . Правый световой пучок проходит через щелеиую диафрагму Д. Прп вращении связанного с ней барабана щелевая диафрагма меняет свою ширину и тем самым меняет интенсивность светового потока, падающего на фотоэлемент Ф . При работе с мутными растворами (нефелометри-р(яшнии) в оптическую цепь прибора вводят диафрагмы Дг, Дг и Дз- которые суживают пучок света п предотвращают тем самым возможность попадании на фотоэлемент света за счет вторичного рассеяния. [c.35]

Наиболее просты закономерноаги рассеяния света при выполнении следующих условий 1) рассеивающие частицы малы, и их форма близка к изометричной, поэтому наибольший размер частицы значительно меньше дпины волны падающего света г<(А/10), так что колебание зарядов в частице происходит в одной фазе, и наведенный дипольный момент ц пропорционален объему частицы И 2) частицы не поглощают света (не окрашены) 3) частицы не обладают электрической проводимостью 4) частицы оптически изотропны, вследствие чего вектор поляризации параллелен вектору электрической напряженности первичной волны 5) концентрация частиц мала — расстояние между частицами велико по сравнению с длиной волны падающего света 6) объем дисперсной системы, через который проходит рассеянный свет, мал, и можно не учитывать вторичное рассеяние света. [c.193]

Поток, отраженный обратно в более плотную среду нижней стороной верхней границы (ОССО), встретит другие пигментные частицы, и та часть вторично рассеянного потока, которая возвращается к границе при углах меньше критического, частично [c.463]

Оценивая размер латексных частиц по светор сеянию, необходимо помнить, что рассеяние подчиня закону Релея только в определенном интервале концентр ций каучука в латексе. При значительном содержании да персной фазы возникают явления вторичного рассеян [c.50]

Прямоугольную кювету при фотометрирования располагают перпендикулярно падающему световому потоку, поэтому пучок света при переходе из воздуха в кювету с жидкостью практически не деформируется. Основные погрешности в этом случае связаны с преломлением светового пучка на границе воздух — среда, его отражением от поверхности кюветы, вторичным рассеянием и изменением рассеивающего объема в зависимости от угла фотометрирования. При измерении абсолютных значений индикатрисы рассеяния на перечисленные погрешности необходимо вводить нонравки, что представляет значительные трудности [95, 96]. Для определения дисперсности частиц загрязнений топлив и масел достаточно иметь [c.59]

При столкновении быстрой частицы с атомом последний может приобретать энергию в различных формах, в зависимости от энергии и природы исходной частицы часть энергии может быть кинетической, а часть может затрачиваться на возбуждение электронов атома. В общем при этом возможны столкновения двоякого рода первичное рассеяние под действием быстрых нейтронов и вторичное рассеяние под действием рассеянных ионов и атомов. Вотли- [c.64]

Другая особенность дифракционных диаграмм обусловлена высокой эффективностью отражения электронов. Интенсивные отраженные лучи, исходящие от нескольких атомных плоскостей, могут подвергнуться повторной дифракции в нижележащих плоскостях в других мозаичных блоках того же самого кристалла. Это приводит к многим аномальным эффектам, например к появлению избыточных точек или групп точек) или колец. Вторичное рассеяние такж вызывает изменение интенсивности, но на все эти эффекты можно рассчитать поправки. [c.58]

Способы использования простых характеристик кристалла для структурного анализа были развиты Коулеем и Рисом [22]. В этой работе применяли метод Фурье. Результаты представляли собой распределение потенциалов, которое графически можно изобразить или на плоскости, или в пространстве. Трудности проведенця точных измерений интенсивности более значительны, чем при рентгеноструктурном анализе. Для получения удовлетворительных результатов необходимо вводить точные поправки на вторичное рассеяние. Имеется также значительная неопределенность формы кривых атомного рассеяния электронов. Однако из сказанного выше ясно, что метод дифракции электронов является значительно более результативным, чем метод дифракции рентгеновских лзшей, при обнаружении легких атомов в присутствии тяжелых, например атомов водорода в органических молекулах или углерода, кислорода и азота в соединениях, содержащих свинец или платину. [c.58]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология