Диффракция электронов и электронная микроскопия

Вышеупомянутая диффракция пучка электронов, падающих с определенной скоростью на изучаемый объект, позволяет получать фотографии рассеянных электронных лучей или электронограммы, используемые для расшифровки многих деталей строения аморфных и кристаллических веществ, и без применения электронного микроскопа. Так как в отличие от рентгеновских лучей электроны могут проникать в изучаемый объект лишь на весьма незначительную глубину, то этот метод применяется только для исследования либо тонких пленок (окисные пленки на металлах), либо структуры кристаллических веществ, образующих тонкие чешуйки (минералы глин, слюды), либо изменений поверхностных слоев твердых материалов после химической или механической их обработки (шлифовка, полировка, наклеп металлов и т. п.). В СССР работы по изучению структуры окисных пленок на кристаллах железа, алюминия и других металлов провели Данков и Шишаков. Пинскер и его сотрудники применили электронографический анализ к изучению тонкой структуры каолинита, монтмориллонита и пирофиллита. [c.53]

Применение метода электронной микроскопии для исследования коллоидных растворов ограничено тем, что для наблюдения в проходящем пучке объект должен быть в твердом состоянии и в исключительно тонком слое. Практически каплю раствора наносят на тончайшую коллодиевую пленку и выпаривают. При этом свойства системы могут существенным образом измениться, в результате чего наблюдаемые параметры в этом случае сильно отличаются от параметров исследуемой системы . Применение метода диффракции электронов также ограничено твердыми объектами. [c.43]

Применяя специальные приспособления, можно получать в электронном микроскопе картину диффракции электронов в изучаемом объекте. Возникающие при этом электронограммы имеют тот же вид, что и рентгеновские снимки порошков. [c.19]

Блестящим подтверждением теории де Бройля оказалась диффракция электронов и, наконец, электронный микроскоп, в котором поток электронов ведет себя подобно световому лучу. [c.40]

Как известно, диффракция лучей света тем меньше, чем меньше длина волны. Поэтому, например, разрешающая способность оптического микроскопа, построенного для ультрафиолетовых лучей, больше, чем разрешающая способность микроскопа для видимых лучей. Разрешающая способность электронного микроскопа зависит от длины волны де Бройля, соответствующей соотношению [c.200]

Ямагути [86] позднее исследовал граничные поверхности этих образцов как методом диффракции электронов, так и при помощи электронного микроскопа, применяя способ оксидных реплик. Исследование проводилось после протравливания образцов в течение 10—20 сек. раствором брома в этиловом спирте (1 10 по объему). Согласно полученным им данным, у образца а граничными зонами являются плоскости (ПО) и (ПО), у образца Ь — плоскости (001) и (ПО) и у образца с плоскость (111). Однако пока еще не известен такой метод испытания, который позволил бы установить, что атомы на полированных поверхностях этих монокристаллов находятся в идеально упорядоченном состоянии. Ямагути отметил, что протравленная поверхность образца а окисляется на воздухе быстрее, чем у образцов Ь и с, откуда можно -заключить, что плоскость (ПО) более чувствительна к окислению. [c.355]

Применение рентгеновских лучей открыло широкие перспективы познания атомно-молекулярной структуры макроскопических тел, благодаря же применению электронной диффракции были созданы условия для изучения элементарного строения субмикроскопических образований, поверхностных пленок, часто не обнаруживаемых даже под микроскопом. [c.5]

ДИФФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ И ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ [c.39]

Метод используют для концентрирования различных оксидов, карбидов и нитридов, присутствующих в сталях, цветных металлах и сплавах в виде включений и поверхностных пленок [53] (табл. 21). Пробу обрабатывают в колбе с обратным холодильником неорганическим или органическим растворителем, в котором матрица растворима, а оксиды и другие включения нерастворимы. Для ускорения растворения применяют нагревание, перемешивание и ультразвуковую обработку. После растворения матрицы остаток отделяют фильтрованием. При необходимости компоненты остатка разделяют селективным растворением, магнитной сепарацией, просеиванием и исследуют с помощью оптического или электронного микроскопа, методами, основанными на диффракции рентгеновских лучей, или проводят элементный анализ. Концентрирование селективным растворением матрицы можно использовать при содержании включений на уровне ниже 1 мкг/г при отсутствии потерь вследствие частичного растворения исследуемого компонента и неполноты сбора остатка. [c.61]

В настоящее время существуют также и другие данные, доказывающие косвенно или прямо разрыв металлических связей нри адсорбции. Так, с помощью диффракции медленных электронов [24—26] было показано наличие перегруппировки поверхностных атомов металла и разрушение связей. Захтлер и Холшер [27] утверждают, что перегруппировка атомов поверхности обнаруживается и в ионном микроскопе-проекторе [c.13]

Если в электронном микроскопе используется поглощение электронов для изучения внешней формы и размеров коллоидных частиц и макромолекул, то методы рентгенографии и электронографии при исследовании внутренней структуры коллоидных частиц и полимерных материалов основаны на диффракции рентгеновых лучей, или, соответственно, электронов. При регулярном расположении атомов, например в кристалле, интерференция рассеянных волн приводит к определенной системе диффракционных пятен. Положение пятен определяется законом Вульфа-Брэгга [c.70]

Возможности электронной микроскопии могут быть значительно расширены несколькими путями. Обрабатывая поверхность изучаемых объектов растворами солей тяжелых металлов, например бария или стронция, в результате адсорбции этих электронных красителей отдельными участками поверхности объекта добиваются более контрастных изображений. Применяя специальные приспособления, можно получать в электронном микроскопе картину диффракции электронов в изучаемом объекте. Возникающие при этом электро-нограммы имеют тот же вид, что и рентгеновские снимки порошков. [c.50]

Возможность применения к движущимся электронам законов оптики, возможность изменять направление электронных лучей как при помощи отдельных линз, так и при помощи составленных из таких линз объективов и окуляров привели к осуществлению электронных микроскопов (список литературы смотрите [2234]). В электронной оптике возможно создавать среды с любым показателем преломления, а также по произволу менять длину электронной волны, существенную для явлений диффракции. Поэтому оказалось, что электронная оптика приводигг к гораздо более широким возможностям, чем геометрическая оптика видимого света. В то время как наиболее сильные оптические микроскопы допускают увеличения, немногим превосходя-Щ15б несколько тысяч раз, в электронных микроскопах добиваются увеличений порядка ста тысяч раз. Размеры доступных изучению объектов оцениваются как десятикратные размеры обычных молекул. Электронный микроскоп становится неоценимым средством исследования в биологических науках. В этой области метод исследования при помощи электроиного микроскопа — просвечивание исследуемого объекта электронными лучами, прошедшими через конденсор. В физике при изучении электронных явлений объектом, рассматриваемым через объектив [c.699]

Исследование различных восстановленных катализаторов проводилось главным образом путем изучения физической и химической адсорбции, а также ферромагнетизма. Применялся также рентгеновский анализ и метод диффракции электронов, однако полученные результаты, хотя и оказались полезными, но не внесли существенных изменений в представления об исследуемых структурах. Аппаратура, примененная для изучения физической и химической адсорбции, была описана в ранее опубликованной работе [4]. Вначале был применен электронный микроскоп фирмы Филипс (Philips ЕМ 100) с разрешающей [c.160]

Двумя наиболее важными методами исследования структуры являются - диффракцИя рентгеновских лучей и электронная микроскопия. К сожалению, оба эти прибора очень дороги, особенно электронный микро-ексщ. [c.391]

Благодаря тому что за последние четверть века были разработаны методы электронной микроскопии и диффракции рентгеновых лучей, наступило время, когда мы можем изучать структуры живых организмов последовательно и непрерывно — от целого организма до отдельной клетки и от клетки до атома. Мы надеемся, что сведения, которые будут получены в этом направлении в течение ближайших десятилетий, дадут нам значительно более точное и глубокое представление о жизни, чем то, каким мы располагаем сейчас. [c.91]

Предел увеличения электронного микроскопа кладется диф-фракцией электронов. Диффракция электронов уменьшается с увеличением их скорости. Поэтому для увеличения скорости элеастранов применяют большие напряжен ия порядка 10 в. Этому напряжению соответствует длина электронной волны [c.252]

Еще более точные данные о структуре /9-полиоксиметилена получены в результате опытов по диффракции электронов под электронным микроскопом [239] и микрофотографирования в ультрафиолетовом свете [240]. Согласно этим данным, / -полиоксиметилен имеет во окнистую структуру, является, следовательно, до известной степени родственным волокнистым веществам, что еще ранее допускал Штаудингер. [c.304]