Освещение, методы, применяемые микроскопии

Методы световой микроскопии классифицируют по способам освещения объектов исследования. Освещение в проходящем свете применяется при рассмотрении деталей тонких объектов, которые должны быть илп окрашенными, или, если они не поглощают света, отличаться по показателю преломления от той среды, в которую помещены, хотя бы на 0,1. Для исследования многих объектов лучше применять микроскопию с использованием падающего света (в отраженном свете). Для исследования непрозрачных объектов 8T0 единственно возможный метод. Боковое освещение является [c.248]

При более совершенном методе применяют ультрамикроскоп. Достаточно разбавленный коллоидный раствор пропускают через сильно освещенную сбоку ячейку. Когда дисперсные частицы проносятся через освещенную зону в микроскопе видны вспышки света. Подсчитав число таких вспышек в определенный промежуток времени, можно определить концентрацию частиц. [c.105]

Методы световой микроскопии классифицируют по способам освещения объектов исследования. Освещение в проходящем свете применяется при рассмотрении детален тонких объек- [c.291]

Ультрамикроскопия и электро нал микроскопия. Принцип метода ультрамикроскопии состоит в том, что, используя обычный оптический микроскоп, изменяют способ освещения объекта. Вместо проходящего света применяют боковое освещение мощным пучком света. Лучи света не должны (рис. 24.2) попадать в окуляр и глаз наблюдателя. [c.393]

Наряду с изучением рассеяния света дисперсной системой в целом применяются также методы, основанные на регистрации рассеяния (дифракции) света на единичных частицах. Этот метод — ультрамикроскопия — имел большое значение в развитии коллоидной химии. Для наблюдения рассеяния света отдельными частицами применяются оптические системы с темным полем. К их числу относятся ультрамикроскопы, в которых интенсивный сфокусированный световой поток направляется сбоку на исследуемую систему, а также конденсоры темного поля, которые используются в обычных микроскопах для создания бокового освещения. Регистрация светящихся точек, хорошо видимых на темном фоне и представляющих собой свет, рассеянный (дифрагированный) отдельными частицами, позволяет определить концентрацию частиц дисперсной фазы, наблюдать флуктуации их концентрации и броуновское движение. Такие опыты, проведенные Перреном, Сведбергом и рядом других ученых, явились подтверждением правильности теории броуновского движения (см. гл. V) и молекулярно-кинетической концепции в целом. С. И. Вавиловым был разработан иной метод изучения броуновского движения. В этом методе производилась фотосъемка частиц дисперсной фазы, находящихся в броуновском движении. Перемещение частиц приводило к тому, что их изображения на пластинках имели вид размазанных пятен в полном согласии с теорией броуновского движения средняя площадь этих пятен оказалась пропорциональной времени экспозиции. В этом методе удается фиксировать одновременно несколько частиц, что облегчает получение необходимого для статистического усреднения большого количества экспериментальных результатов. [c.171]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Классический метод определения размеров сферических частиц состоит в измерении скорости их свободного оседания при темиО польном освещении. Его приходится применять в тех случаях, когда частицы слишком малы для точного измерения под микроскопом. [c.240]

При работе по фотографическому варианту метода цветовой трансформации наряду с ультрафиолетовым микроскопом применяется хромоскоп — прибор, позволяющий одновременно рассматривать три снимка в лучах с волнами различной длины. Для этого негатив устанавливается на хромоскоп, оптическая схема и конструкция которого обеспечивают одновременное освещение каждого из трех снимков негатива, сделанных в трех различных областях длин воли, и совмещение их в одно цветное изображение, которое проектируется объективом хромоскопа на фотопленку насадной камеры или в поле зрения визуального тубуса. [c.47]

На способе глушения основано и производство костяного стекла. Помутнение вызывается фосфорно-кальциевыми солями. Под микроскопом видны многочисленные прозрачные шарики, заключенные в основной массе стекла. Этот метод обычно применяется, когда необходимо изготовить стекло для осветительной арматуры. Такое стекло, давая рассеянное освещение, по сравнению с глухими стеклами, приготовленными иными способами, пропускает максимальное количество светового потока. [c.163]

Конденсоры служат для освещения препарата, исследуемого под микроскопом, проходящим светом. В зависимости от требуемого метода наблюдения в микроскопах применяются конденсоры различных типов конденсор светлого поля, конденсор темного поля и специальный конденсор для наблюдения по методу фазового контраста. Конденсоры представляют собою двух- или трехлинзовую оптические системы с ирисовой апертурной диафрагмой. [c.15]

Подходящим источником света для микроскопа с сильными объективами является проекционная лампа накаливания с нитью, собранной в короткий прямоугольник обычно применяется низковольтная лампа (6 в, 100 ет), которая монтируется в хорошо вентилируемом кожухе, снабженном конденсором, ирисовой диафрагмой и иногда держателем для фильтра и тепловым фильтром в форме кюветы. Эта лампа пригодна также для освещения по методу Келера. Ниже даются правила, применяемые при установке освещения микроскопа большого увеличения по Келеру. [c.204]

Щелевой ультрамикроскоп Зидентопфа и Зигмонди [7] состоит из микроскопа с объективом, который можно фокусировать на некоторую точку внутри специальной прямоугольной кюветы, установленной на оптической скамье далее на этой же скамье находится дуговая лампа. Конденсор этой лампы фокусирует изо бражение дуги сначала на горизонтальную щель. За щелью находится другой объектив от микроскопа, установленный в горизонтальном положении, который фокусирует изображение щели на некоторую точку внутри прямоугольной кюветы, причем эта точка одновременно является фокусом объектива микроскопа. Направление освещения, таким образом, перпендикулярно к оси микроскопа. Глубину освещения можно менять, варьируя ширину щели. Щелевой ультрамикроскоп особенно ценен в тех случаях, когда бывает необходимо определить количественно концентрацию коллоидных частиц, взвешенных в жидкости или в твердом теле. Зигмонди [8] сконструировал также особый иммерсионный ультрамикроскоп, в котором капелька исследуемой жидкости удерживается силами капиллярного притяжения на внешней поверхности фронтальных линз двух специальных объективов, один из которых дает изображение щели в точке фокуса другого объектива. Для определения поперечника ультрамикроскопических частиц Герхард и Бейер [9] применили интерференционный метод Майкельсона, которым пользуются обычно для измерения углового расстояния двойных звезд. Теория интерференционной микроскопии была ранее рассмотрена [c.212]

Метод центрального освещения,. Этот метод основан на том факте, что кристалл или кристаллическое зерно призматического или линзообразного сечения не отклоняет пучок света, параллельный оси микроскопа, только в том случае, когда показатели преломления жидкости и кристалла одинаковы, и отклоняет его, если они различны. Характер такого отклонения очень хорошо виден на рис. 74, из которого следует, что лучи, проходящие по краям призматического (.или линзообразного) разреза кристалла, преломляются в сторону кристалла, если показатель преломления последнего выше показате.1я преломления жидкости, и наоборот, отклоняются в сторону жидкости, если показатель преломления кристалла ниже. Следовательно, при движении тубуса микроскопа вверх подоска света у края кристалла будет двигаться в сторону вещества с боль-шим показателем преломления. Явление полоски Бекке лучше всего наблюдать, применяя 1) интенсивный пучок света, желательно монохроматический 2) узкий пучок поляризованного света, который получается при опускании конденсора с малой светосилой 3) объектив малого (или среднего) увеличения (6Х или ЮХ, с N. А., не превышающей 0,25) и 4) окуляр с большим увеличением (от ЮХ до 20Х)- Очень важная особенность описанного выше метода Бекке заключается в том, что показатели преломления иммерсионной жидкости и кристалла сравнивают между собой при помощи лучей, которые параллельны оси микроскопа, т. е. соответствуют центру интерференционной фигуры, если полоска Бекке не смещена движением объектива. [c.281]

Ориентировка кристалла. Определение показателей преломления с помощью микроскопа обычно производится иммерсионным методом, причем для освещения применяется очень узкий пучок света. Ориентировка кристалла определяется поэтому положением центра интерференционной коноскопической фигуры. У подавляющего большинства поляризационных микроскопов колебания поляризатора направлены по линии С — Ю (от наблюдателя и к нему) в микроскопах с синхронным вращением николей установить поляризатор в этом направлении очень легко. Поэтому далее везде предполагается, что плоскость колебаний поляризатора совпадает с линией С—Ю. Изотропные криста.иы, обладающие одним показателем преломления, специальной ориентировки не требуют. [c.278]

Дисперсионный анализ методом световой микроскопии. Под дисперсионным анализом понимают анализ дисперсности системы, включающий определение размера и формы частиц дисперсной фазы, их ко1щен1рации, удельной поверхности. Наиболее грубодисперсные системы с размером частиц от 5 мм можно исследовать визуально, измеряя размеры с помощью различных приспособлений типа кронциркуля. Для характеристики систем с дисперсностью 0,5—5,0 мм применяют ситовой анализ, используют лупы и т, д. Системы с дисперсностью от 0.5 мм и менее попадают в пределы применения световой микроскопии. При обычном освеи ении нижнему пределу светового микроскопа соответствует размер частиц порядка 0,5-10 " м. Освещение коротковолновыми ультрафиолетовыми лучами позволяет снизть этот предел до 1-10 м. [c.392]

Экспериментальный метод применяется при наличии такого оборудования аквариумы емкостью от 25 до 150 л-, садки деревянные или металлические, каркасы которых 100 X 100 X 100 см, обтянутые марлей или металлической сеткой драги, салазочные тралы, сачки, мальковые волокуши чаны емкостью 200 л для транопортировки подопытных организмов бидоны емкостью 10—45 л. Специалисты по планктону и бентосу берут для экспериментов такую оптику, которая требуется в ходе наблюдений за организмами в токсической водной среде микроскопы, бйно-ку лярные и препаровальные лупы. Поскольку опыты ведутся в течение круглых суток, передвижная лаборатория должна иметь походную электростанцию, которая обеспечивает освещение и служит источником электроэнергии для некоторой аппаратуры подсветка предметных столиков бинокулярных луп и т. д. [c.261]

Беннет и сотр. [15] составили обзор, посвященный технологическому применению фазово-контрастного микроскопа к ряду материалов. Так, например, прозрачные пластики можно исследовать на неоднородность и на содержание примесей. В листовых материалах этим методом удается идентифицировать волокна и другие наполнители. Покрытия можно изучать в виде поперечных срезов или тонких пленок. Для исследования поверх-1Юстей применяют метод отпечатков некоторые поверхности, обладающие достаточно высокой отражательной способностью, можно изучать с помощью фазово-контрастного вертикального освещения. Метод фазового контраста позволяет определять характеристики бумажных волокон, отсутствие в них лигнина и других примесей. Реймут [200] указал ряд применений этого метода в текстильной промышленности. К их числу относятся наблюдения за бактериальным и ферментативным разложением шерсти, исследования деталей поперечных срезов шерсти, бактерий и плесени в волокнах, частиц, включенных в волокна, и изломов волокон, возникающих при стирке и глажении ткани. Ройер и Мареш [209] сообщили о результатах исследования поперечных срезов искусственного волокна и тонких пленок на тканях, целлюлозных волокнах и коже. Можно также изучать животные волокна со слабой пигментацией. С пигментированных волокон можно снять отпечатки [90, 264]. Фазово-контрастная оптика позволяет хорошо 5азличать структуру набухших волокон [49]. [c.247]

Зидентопф и Зигмонди (1903 г.) предложили ультрамикроско-пическнй метод. Они применили сильное боковое освещение раствора, наблюдаемого в микроскоп, таким образом, чтобы световой луч не попадал в объектив, т. е. проводили иабл.юдение на темном фоне. В таких условиях коллоидные частицы выглядят как отдельные светящиеся точки. Этим способом можно установить их присутствие в растворе и наблюдать их движение. [c.35]

Микроскопические методы обычно применимы для исследования состояния поверхности металла. С этой целью используется бинокулярный микроскоп, воспроизводящий объемную картину поверхности. При этом применяются светло-, темно- и косопольное освещение, фазовый контраст, а также поляризованный свет и ультрафиолетовые лучи. [c.223]

Хотя этим методом исследовались образцы большого размера [37, 43, 105, ИЗ], обычно при таких опытах применяли также микроскоп. Образцы освещались различными способами. Поскольку во всех случаях производится либо центральное, либо косое освещение, подробно описываются именно эти два способа освещения. Нижеследующее описание взято из подробного исследования Сэйлора [127]. [c.109]

Рекомендуемая методика [1], предусматривающая использование двойного конденсора в электронном микроскопе, заключается в следующем. Прибор сначала юстируют так, чтобы в центре поля было освещено падающими электронами только очень маленькое пятно диаметром в несколько микронов. Это дает возможность сфокусировать микроскоп на испытываемом кристалле, который полностью теряет при этом всю свою кристалличность на пути луча за доли секунды и таким образом разрушается. Изменяя фокусировку с помощью конденсорной системы, освещают площадь диаметром около 50—100 мк, и как раз нри такой интенсивности пучка оказывается возможным наблюдать фигуру кристалла визуально после адаптации в темноте, однако удлинять время фокусировки и расфокусировки нельзя. Теперь можно передвинуть в освещенное поле неосвещавшийся до этого кристалл на несколько квадратиков сетки, и он может находиться в нем без заметного нарушения кристалличности приблизительно 30 сек, что позволяет сделать серию фотографий. Этот же или аналогичный метод можно применять и для изучения темнопольных изображений или муаровых узоров, обусловленных перекрыванием слоев кристаллов и связанных с когерентной дифракцией на кристаллической решетке. [c.434]

Для того чтобы облегчить отсчет показаний весов и сделать его более наглядным и удобным в весах, выпускаемых промышленностью, стали применять проекционные микроскопы, проектирующие изображение стрелки и шкалы на большой экран, наблюдаемый при обычном освещении. Сложность расчета и изготовления таких систем не позволили широко их использовать в самодельных конструкциях весов. Кроме того, их точность в большинстве случаев ниже точности более простых систем, таких, как микроскоп—шкала.Обычнопроекторыпредставляютсобой оптическое устройство, позволяющее на экране (чаще всего матовом стекле) получить увеличенное изображение шкалы и указателя весов, либо на экране нанесена шкала и на нее проектируется увеличенное изображение указателя [29—33]. Применяют эти устройства как в нулевом методе взвешивания, таки при взвешивании по отклонению. В качестве удачного примера можно привести проекционное устройство, использованное в весах Дейем [34], упрощенная схема которого приведена на рис. 4. Для обеспечения высокой точности отсчета и сокращения габаритов всего устройства автор ввел в схему четыре оборачивающих зеркала и смонтировал оптическую схему в одном светонепроницаемом и термостатированном кожухе вместе с весами. Большинство описанных устройств с проекционными микроскопами имеют невысокую точность и их применение чаще всего оправдано лишь простотой и наглядностью отсчета. [c.20]

Чтобы наиболее полно использовать оптические возможности микроскопа при микроскопическом исследовании таких веществ, необходимо тщательно выбрать подходящий способ освещения и метод наблюдения. Чаще всего приходится комбинировать различные методики. Исследование в проходящем свете применяется в широкой области увеличений от самых малых до самых больших при изучении препаратов веществ, которые по спектру поглощения или по показателю преломления заметно отличаются от склеивающей среды. Вопросы освещения падающим светом рассмотрены в трех разделах точечные лампы, применяемые при общем исследовании слабо увеличиваемых препаратов без склеивающей среды кольцевые опак-иллюхминаторы, которые при работе со слабыми увеличениями позволяют лучше регулировать освещение, а, кроме того, при средних и сильных увеличениях обеспечивают возможность исследования препаратов как без иммерсии, так и с водяной и масляной иммерсией обычные опак-иллюминаторы, применяемые при изучении поверхности непрозрачных (отражающих) объектов. Метод тёмного поля и ультрамикроскопическне методы исследования имеют особое значение при исследовании деталей, структуры и отдельных частиц, размеры которых меньше разрешающей силы микроскопа. Это объясняется тем, что на темном поде можно наблюдать любой объект (независимо от его величины), если вследствие преломления, диффракции или отражения света он сам становится источником света. Микроскопия с использованием фазоконтрастного приспособления представляет собой особое усовершенствование метода наблюдения в проходящем свете, который оказался весьма полезным при изучении объектов с малой разностью показателей преломления. Этот метод увеличивает резкость изображения, не уменьшая при этом разрешающей силы. [c.198]

Микоплазмы, вероятно, представляют собой самые маленькие бактерии, которые можно наблюдать в световой микроскоп и которые с трудом поддаются индивидуальному распознаванию из-за сильно выраженного плеоморфизма. Характерные колонии микоплазм, имеющие вид яичницы-глазуньи, наблюдают при прямой микроскопии чашек с агаром. Для анализа колоний полезен подход, разработанный Динесом и заключающийся в том, что препараты смотрят после того, как на место роста бактерий наносят каплю метиленового синего и накрывают ее покровным стеклом. В случае объектов, близких по размерам к пределам разрешения, оптические измерения при фазово-контрастной микроскопии затруднены по двум причинам. Первая — это ореольные артефакты и вторая — присущие фазовому контрасту особенности формирования изображения, благодаря которым круглые объекты выглядят меньше, чем они есть на самом деле. В морфологических исследованиях и при изучении подвижности микоплазм применяются влажные препараты. Что же касается типа микроскопирования, то рекомендуются методы фазового контраста и темнопольного освещения. Если нужны окрашенные препараты микоплазм, то предпочтительнее использовать несколько модифицированную методику окраски по Гь м-зе (см. ниже), которую следует применять к предварительно фиксированным организмам. Фиксировать микоплазмы лучше раствором Боуэна (разд. 2.2.1) непосредственно в слое агара, лежащем на покровном стекле. [c.84]

Для изучения физико-химической сущности функций, процессов в физиологии растений широко применяют методы лабораторно-аналитический, вегетационный, полевой, мечеиы.к атомов, электронной микроскопии, электрофореза, хроматографического анализа, ультрафиолетовой и люминесцентной микроскопии, спектрофотометрии и др. Кроме того, используют фитотроны и лаборатории искусственного климата, в которы.х выращивают растения и проводят опыты в условиях определенного состава воздуха, нужной температуры и освещения. С помощью этих методов физиологи исследуют растения на молекулярном, субклеточном, клеточном и организменном (ин-тактное растение) уровнях, [c.14]

Замер поля скоростей. Для измерения скорости в любой точке потока жидкости наиболее целесообразно использовать бесконтактные оптические методы. В установке применялся ультрамикроскопический метод. Приборы, работа которых основана на этом принципе, позволяют достичь точности измерения порядка 0,1%. Кроме того, они дают возможность быстро обработать экспериментальные данные (применеш1С методов, основанных на фотографировании визуализирующих поток частиц, требует значительных затрат времени, в особенности при необходимости определить поле скоростей в большом числе точек). В данном методе используется следующее явление если при общем затемненно.м потоке дать сильное боковое освещение какой-либо части его таким образом, что непосредственно ни один луч от осветителя не попадет в глаз наблюдателя, то свет, попадая на микроскопические частицы, практически всегда имеющиеся даже в чистых жидкостях, рассеивается. При этом освещенные частички, наблюдаемые в микроскоп, представляются наблюдателю в виде светлых точек на темном поле, яркость которых зависит от размера наблюдаемых частиц и количества световой энергии от отдельной частицы, попадающей в объектив микроскопа. Поэтому желательно применить очень яркие источники света для освещения. Описанное явление открыто Тиндалем в 1868 г. и носит его имя, т. е. явление Тиндаля - это рассеяние света в средах с размерами частиц 0,1Хц, (Х , - длина волны падающего света). [c.47]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология