Рентгеновские спектрографы требования

Первым прибором, в котором были использованы кристаллодержатели нового типа [691, был светосильный рентгеновский спектрограф для коротковолновой области спектра РСК-3. Так же как и описанный выше спектрограф РСД-2, этот прибор предназначался для проведения научно-исследовательских работ в области рентгеновской спектроскопии и мог быть использован для решения некоторых задач рентгеноспектрального анализа. Он должен был поэтому обладать большой светосилой и обеспечивать стабильную работу прибора. Так как многие из ошибок, возникающих при проведении рентгеноспектрального анализа, являются следствием несовершенства используемой рентгеноспектральной аппаратуры, то при конструировании спектрографа РСК-3 казалось целесообразным поставить следующие технические требования. [c.99]

Требования, предъявляемые к кинематической системе, обеспечивающей взаимные повороты и перемещения кристалла, трубки и регистрирующего устройства рентгеновского спектрографа с фотографической регистрацией, предназначенного для аналитических целей, весьма ограниченны. [c.107]

Элементы современного рентгеновского спектрографа монтируют вокруг рентгеновской трубки, специально рассчитанной для рентгенофлуоресцентного анализа. Эти трубки характеризуются энергетическим выходом, чистотой спектра и стабильностью излучения. Из всех требований чистота спектра имеет основное значение для определения следов элементов. Любой элемент, присутствующий в антикатоде, является излучателем спектральных линий, которые будут обнаружены в спектре пробы. Рекомендуется проверять чистоту рентгеновского спектра при помощи эффективных рассеивателей типа плексигласа или люцита. Всегда следует ожидать в спектре флуоресценции пробы ряд линий вольфрама, если применяют вольфрамовый антикатод, или линий молибдена в случае молибденового антикатода. Очевидно, [c.214]

При проведении количественного рентгеноспектрального анализа вещества необходимо, чтобы сила света источника рентгеновских лучей во всем используемом интервале углов отражения была неизменна и не зависела от степени однородности нанесения исследуемого вещества на анод рентгеновской трубки спектрографа. Выполнение этого очевидного требования возможно только при некотором оптимальном соотношении между размерами фокусного пятна рентгеновской трубки и отражающего кристалла спектрографа. [c.32]

В предыдущих параграфах было рассмотрено влияние различных факторов на интенсивность рентгеновских спектральных линий. Можно сформулировать основные требования, которым должны удовлетворять пары линий, пригодные для проведения рентгеноспектрального анализа с возможно большей точностью. Как было показано, интенсивность рентгеновских спектральных линий зависит от многих причин. Одни факторы, влияющие на ее величину, связаны с режимом работы рентгеновской трубки, другие обусловлены поглощением лучей на пути от источника излучения до регистратора. Особое место занимают явления, происходящие вследствие нагревания анализируемого вещества на аноде рентгеновской трубки спектрографа. Помехи, вызываемые при количественном определении состава веществ разогревом, существенны в случае использования первичного возбуждения спектров. [c.119]

Пусть на изогнутый по цилиндру кристалл или на часть такого кристалла падает из произвольной точки пространства 5 пучок расходяш,ихся монохроматических лучей, который после отражения от кристалла желательно собрать в узкой области пространства около точки Л4. Пусть з,, и 5 — единичные векторы направлений падающего на кристалл и отраженного от него лучей, ар — произвольный единичный вектор, лежащий в плоскости кругового сечения цилиндрически изогнутого кристалла. Можно показать [6], что условием, необходимым для получения максимальной интенсивности отраженного кристаллом пучка лучей в точке наблю 1ения М, является требование компланарности векторов риз — 5о, т. е. требование, чтобы вектор разности 3 — 5(1 лежал в плоскости кругового сечения цилиндрически изогнутого кристалла. Это условие органически связано с характером симметрии задачи о рассеянии рентгеновских лучей цилиндрически изогнутым кристаллом и выражает лишь самые общие—необходимые (но не всегда достаточные) требования к конструкции светосильных фокусирующих рентгеновских спектрографов. Справедливость этого требования, очевидно, не зависит от степени приближения, с которой решается задача о рассеянии рентгеновских лучей изогнутым кристаллом, и, в частности, от того, рассматривается ли тонкий (по сравнению с величиной радиуса кривизны) рассеивающий кристалл как двухмерная или трехмерная совокупность рассеивающих центров. [c.11]

Наиболее удобным материалом для изготовления кристаллов, необходимых для ремтгеиохимических работ, является кварц. Это объясняется, во-первых, тем, что кварц представляет собой один из наиболее совершенных кристаллов, в котором имеется целая серия плоскостей, удобных для отражения рентгеновских лучей (что позволяет изготовлять из этого кристалла пластины с различными между-атомными расстояниями) во-вторых, удобством обработки этого кристалла и сравнительной его доступностью в-третьих, тем, что вследствие отсутствия совершенной спайности и большой упругости кварцевых пластин их можно легко изгибать без риска вызвать в кристалле остаточные деформации, и, наконец, тем, что поверхность кварцевых пластин практически остается неизменной при изменении температуры и влажности воздуха. Это делает изготовленные из кварца пластины очень стабильными и удобными в эксплуатации. Высокие требования, предъявляемые практикой в отношении точности ориентировки и плоскопараллельно-сти кварцевых пластин, сделали необходимой разработку специальной методики их изготовления и объективного контроля за их качеством [64]. Систематическая работа по налаживанию производства ориентированных кристаллических пластин, пригодных для использования фокусирующих рентгеновских спектрографов с изогнутым кристаллом, у нас в СССР проводилась начиная с 1935 г. в Институте кристаллографии АН СССР А. Б. Гильваргом. [c.79]

Необходимо заметить, что требования, которым должны удовлетворять электрические устройства и источники питания, обслуживающие микроанализатор, существенно более строгие, чем аналогичные же требования для ранее рассмотренного обычного рентгеновского спектрографа. Образец в этом случае приближенно можно считать точечным источником. Отсюда следует, что рентгеновский пучок всегда будет сильно расходящимся. Изогнутый кристалл в этом случае имеет явные преимущества, поскольку плоский кристалл и коллимация будут слищком сильно снижать интенсивность (см. 4.7 и 4.10). Поверхность образца должна быть проводящей, иначе электронный пучок будет заметно отклоняться поверхностным зарядом и будет возбуждать излучение из другой точки образца. Наконец, малое сечение электронного зонда допускает создание вы- [c.277]

Одним из важнейших вопросов, стоящих перед исследователями в области рентгеновской спектроскопии, является вопрос о создании новой и об усовершенствовании уже вошедшей в употребление спектральной аппаратуры в направлении повышения ее светосильности и разрешаюш,ей силы. С точки зрения задач практического использования рентгеноспектрального метода для целей элементарного анализа веш,еств особенно важной является повышение светосильности приборов. Разрешаюш ая способность современных спектрографов, как правило, вполне достаточна для проведения рентгеноспектрального анализа. Повышенные требования к разрешаюш,ей силе приборов возникают главным образом при рептении вопросов, связанных с изучением химической связи и взаимодействия между атомами в твердых, жидких и газообразных телах на основе исследований тонкой структуры рентгеновских спектров испускания и поглош,ения. [c.3]

В спектрографах с коллиматором Соллера, получивших за последнее время достаточно широкое распространение за рубежом, на пути широкого пучка рентгеновских лучей, исходящих от анода рентгеновской трубки в направлении кристалла, располагается диафрагма, имеющая в сечении сотообразное строение. Она расчленяет пучок лучей, падающих на плоский кристалл спектрографа, на большое число узких параллельных пучков, каждый из которых отражается в одном и том же направлении, в согласии с требованиями закона Брегга — Вульфа, от соответствующей области кристалла. Одновременное отражение рентгеновского излучения заданной длины волны от большой площади поверхности кристалла позволяет получить отраженный пучок лучей значительной интенсивности и обеспечивает большую светосилу прибора. В то же время разрешающая сила такого устройства может быть достаточно велика. Она, очевидно, зависит от соотношения длины коллиматора и диаметра каждой из его секций. Эта величина тем больше, чем длиннее диафрагма и чем меньше диаметр каждой из состав-ляющих ее трубочек. Отличительной особенностью спектрографов этого типа является малая расходимость используемых в нем пучков рентгеновских лучей и то обстоятельство, что их ширина определяется величиной поперечного размера диафрагмы Соллера. Параллельность хода пучка лучей в спектрографе в некоторых отношениях очень удобна, однако большая их ширина делает невозможным использование фотографического метода регистрации спектров. Поэтому во всех таких спектрографах в качестве приемников рентгеновской радиации применяются ионизационные камеры. [c.5]

Повышенные требования к светосильности и разрешающей силе рентгеновских фокусирующих спектрографов, возникшие в связи с необходимостью решения различных практических и научных задач, приводят к необходимости использовать в спектрографах кристаллы больших размеров при сохранении достаточно совершенной фокусировки спектральных линий. Это, так же как и выводы, следующие из работ, посвященных изучению механизма изгиба кристаллов в широко используемых на практике типах кристаллодержателей, заставили исследователей в последние годы обратиться к поискам новых методов изгиба кристаллов. Было предложено два метода решения поставленной задачи метод изгиба кристалла в кристаллодержателях, поверхность которых специально обрабатывалась с большой степенью тщательности, и метод, основанный на использо- [c.68]

Непременным условием, определяющим возможность проведения с достаточной точностью количественного рентгеноспектрального анализа веществ, является неизменность силы света источника рентгеновскихлучейвовсем используемом интервале углов отражения и ее независимость от степени однородности нанесения пробы на анод рентгеновской трубки спектрографа. При работе с современными рентгеновскими светосильными спектрографами с изогнутым кристаллом выполнение этого очевидного требования возможно только при некоторых оптимальных соотношениях между размерами фокусного пятна рентгеновской трубки и отражающего кристалла [102]. В приборах, работающих на отражение с точечным источником рентгеновских лучей, расположенным на окружности изображения, условие постоянства силы света источника для каждой из спектральных линий выполняется автоматически. [c.133]