Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

спектроскопия найлона

    В опубликованной ранее работе [300 ] также было показано отсутствие изменений в рентгенограмме найлона-6,6, облучавшегося высокими дозами в реакторе. По-видимому, рентгенографический метод недостаточно чувствителен для определения образования поперечных связей и деструкции полимеров этого типа. Уменьшение степени кристалличности, вызывающее заметное снижение разрывной прочности полимера, не фиксируется этим методом. Методом инфракрасной спектроскопии установлено уменьшение количества межмолекулярных водородных связей (в кристаллитах -формы) и увеличение числа внутримолекулярных водородных связей (в кристаллитах а-формы) [319]. Этим фактом может быть в основном объяснено снижение прочности полиамида. Наблюдающееся умень- [c.194]


    Получение. Общий метод получения найлона, макромолекулы которого имеют боковые цепи из полиоксиэтилена [42], заключается в нагревании полиамида в виде порошка, волокон или пленок с избытком жидкой окиси этилена при 80° найлон в виде раствора нереакционноспособен. Строение привитых сополимеров было изучено при помощи, во-первых, метода инфракрасной спектроскопии, который подтвердил наличие групп —СНг—О—СНг— в полимере и, во-вторых, химического анализа числа таких групп. Таким образом можно было убедиться, что происходит ограниченное замещение в основной цепи полиамида и что боковые цепи сравнительно низкомолекулярны. Данные о строении привитых сополимеров соответствующих полиамидов приведены в табл. 26. [c.101]

    ИК-спектроскопия с большим успехом используется при изучении физических свойств и химического состава высокополимеров. Спектр полимера почти не зависит от степени кристалличности вещества, однако интенсивность некоторых полос в спектре может заметно меняться с изменением физического состояния полимера. Например, нагревание необработанного (охлажденного) образца полимера (пленка найлона — 6) до температуры 180—200°С вызывает заметное повышение интенсивностей полос спектра в области частот 935, 970 и 1030 см , что указывает на возрастание содержания кристаллов в полимере. [c.54]

    Измерение кристалличности полимеров является важнейшим технологическим применением инфракрасной спектроскопии. Этот метод часто является гораздо более быстрым, чем любые другие методы, и он особенно удобен при серийных измерениях, проводимых в различных условиях (например, при различных температурах). Представление о наблюдаемых эффектах можно получить из рис. 15, который показывает некоторые измерения спектра найлона-6, выполненные Сандеманом и Келлером [104]. Первоначально [c.322]

    Применение этого метода для определения степени кристалличности полиэтилена и других полиолефинов при комнатной температуре оказалось весьма успешным. Для ряда полиэтиленов со степенью кристалличности е, равной 59—93%, расхождение между величинами е, определенными рентгенографическим методом и методом ЯМР, не превышало 1,8%, причем, как указывал автор, метод ЯМР имел преимуш,ества лучшую воспроизводимость, нечувствительность к ориентации. Смит использовал метод ЯМР при изучении ряда полиэтиленов и сополимеров этилена с пропиленом и бутеном-1. На графике (рис. 40) степень кристалличности — удельный объем полимера точки, полученные методом ЯМР и рентгенографическим методом, ложатся на одну прямую. Близкие значения 8 дает и ИК-спектроскопия. Хорошее согласие между значениями степени криста.иличности, определенными методом ЯМР и по плотности, для ряда образцов полиэтилена с разной степенью разветвленности отмечают также Фушилло и Зауэр Однако попытки распространения метода определения кристалличности по Вильсону и Пейку на другие полимеры и применения метода в широком интервале температур не дали удовлетворительных результатов. Для полиэтилена и найлона [c.160]


    Для определения в найлоне 6 мономера, димера и тримера использовали ИК-спектроскопию на таблетках с бромидом калия после экстракции растворителем [586]. Различные кристаллические формы в волокнах найлона 6 исследовали методом ИК-спектроскопии и дифракции рентгеновских лучей [587]. Изучены спектры пленок из дейтерированного и недейтерированного найлона 6 при 1200—500 см- как в обычных условиях, так и под нагрузкой [588]. Получены поляризованные ИК-спектры в области 800—33 для найлона 6, 6,6 и 7,7 и проведено отнесение пиков, соответствующих колебаниям амидной группы и метиленовых мостиков [589]. [c.543]

    В работе [604] рассматриваются также результаты измерения рассеяния концентрированными растворами этого полимера. Интересно отметить, что кривая рассеяния для 10 /о-ного раствора полимера (кривая Б на рис. 181, в) характеризуется большой шириной и имеет максимум, соответствующий 4,2 А. Такая форма свидетельствует о слабоупорядоченной гексагональной упаковке между соседними молекулярными цепями, которая может существовать даже в концентрированном растворе. Различные кристаллические формы найлона 6 были исследованы методами дифракции рентгеновских лучей и ИК-спектроскопии, причем изучалось влияние адсорбции воды и температуры [607]. Дифракционный метод позволил количественно охарактеризовать две формы найлона 6 [608] и определить размеры кристаллитов этих форм по методу Уоллнера [609]. В работе [610] изучалась кристаллическая структура пленок найлона 6, а также влияние скручивания депей на ориентацию. Структурные параметры кристаллического найлона 6 определяли методом рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. [c.547]

    Для изучения процесса полимеризации, а также для контроля качества найлона 6 необходим экспресс-метод определения мономера (е-капролактама) и олигомеров в этом полимере. Большинство методов анализа, описанных в литературе, требуют много времени. Как правило, они основаны на определении разности масс и предусматривают экстракцию мономера и олигомеров из образца горячей водой с последующей сушкой остатка. В работе [611] равновесное содержание этих продуктов определяли методами ИК- и УФ-спектроскопии, причем оценивались различия в результатах по сравнению с данными, полученными методом экстракции водой. Для анализа мономера использовали основные полосы при 870 см-> и 196 нм. В работе [612] описано прямое определение содержания циклического олигомера в присутствии мономера методом ИК-спектроскопии. Этот метод включает испарение водного экстракта найлона 6 и растворение остатка в тетрафторпропаноле с последующим измерением поглощения при 6,4 мкм (деформационные колебания NH-гpyппы в олигомере). [c.547]

    Т а к э у т и Ц., Ц у г э С., Я м а г у т й.. Изучение найлона-6 и найлона-66 методами дифференциального термического анализа и ИК-спектроскопии, Коге ( кагаку дзасси, 69, № 9, 1776 (1966) РЖХим, 1967, 7С52. [c.348]

    Jeffries R., Изучение плавления и закалки найлона-66 при помощи инфракрасной спектроскопии с применением дейтерирования. Polymer, 8, Л 1, 1 (1967). [c.349]


Смотреть страницы где упоминается термин спектроскопия найлона: [c.473]    [c.306]    [c.78]    [c.1691]    [c.1691]    [c.348]    [c.349]    [c.350]    [c.173]   
Анализ пластиков (1988) -- [ c.6 , c.543 , c.550 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Найлон



© 2025 chem21.info Реклама на сайте