Уравнение Шерера

Уравнение Шерера. Определения величины кристаллов по ширине линий рентгенограммы опираются на различные математические зависимости. Из них мы остановимся на формуле Шерера [c.162]

Дебай и Шерер разработали метод съемки кристаллических порошков (порошковый метод), при котором вследствие большого количества и беспорядочной ориентации кристалликов для части из них удовлетворяется уравнение (4.84). Благодаря этому на пленке, цилиндрически расположенной вокруг препарата, возникают полосообразные рефлексы (дифракционные кольца). Этим методом можно анализировать только структуры с высокой симметрией. [c.443]

Размер очень маленького кристалла связан с шириной его дифракционной кривой уравнением Шерера [c.368]

Кили [53] предложил метод быстрого определения поверхности, основанный на модифицированном уравнении Шерера [c.368]

Согласно методу Дебая — Шерера, исследуются образцы в виде порошка (поэтому этот метод часто называют порошковым ) или поликристаллического тела и используется монохроматическое рентгеновское излучение. Падающий монохроматический луч дифрагирует на плоскостях тех кристалликов, ориентация которых по отношению к падающему пучку удовлетворяет уравнению Вульфа — Брэгга. Дифрагированные от каждой системы одинаково ориентированных плоскостей лучи распространяются по образующим конуса с углом при вершине, равным 26. Пересечение этих конусов с плоской фотопленкой, располагаемой перпендикулярно падающему лучу за образцом, дает систему концентрических колец со все увеличивающимися радиусами, каждое из которых содержит все отражения с одним и тем же углом 0— Ц порошковую рентгенограмму (рис. 3.2, а, см. вклейку). На цилиндрической пленке, ось которой перпендикулярна падающему (пер- [c.80]

Если рентгеносъемку проводить в излучении с сильными монохроматическими компонентами, взяв образец, состоящий из множества крошечных, хаотично распределенных кристаллов, то уравнение (1.1) все же будет соблюдаться и без вращения образца, так как отдельные кристаллики окажутся в благоприятствующей отражению ориентации. Самый распространенный порошковый метод — это метод Дебая — Шерера [16, 17]. Из кристаллического порошка изготовляют цилиндрический стержень менее 0,5 мм в диаметре. Свернутую цилиндром пленку для регистрации отраженных лучей помещают в камеру, где [c.22]

Шерер и Мюллер , использовав уравнение Брэгга, получили для обычных жирных кислот ряд параметров, приведенных в табл. 5. [c.28]

Для установок большой мощности выбор приводов весьма ограничен. Распространенными являются модели привода типа (ленточная передача до 75 л. с.) и привода фирмы Шерер — Бейер (с фрикционными дисками до 400 л. с.). Важнейшее различие между конструкциями обоих приводов состоит в том, что в приводе Р1У входная и выходная оси расположены параллельно, в то время как в приводе Шерер — Бейер они совпадают. Типичные диаграммы передаваемой мощности приведены на рис. 161 и 162, где кроме фактических кривых показаны и теоретические (желательные) характеристики по уравнению (228). Следует обращать внимание на то, чтобы все конструкции приводов, включающие механические вариаторы, на нижнем (левом) участке области регулирования передавали меньшую мощность. При наличии сопротивления движению у одного из рабочих элементов (у шнекового пресса — шнека) повышение подводимой двигателем мощности создает опасно большой крутящий момент, который может привести к повреждению регулирующих элементов привода. Это особенно вероятно в тех случаях, когда между двигателем и регулирующим устройством имеется редуктор, снижающий число оборотов (ременная передача и т, п.). На низких оборотах повышенная мощность может быть [c.205]

Метод порощка (метод Дебая — Шерера). Съемка рентгенограмм (дебаеграмм) ведется в камерах с использованием монохроматического рентгеновского излучения и поликристаллических образцов из тонкого порошка в виде цилиндрического столбика (диаметр обычно 0,5—0,8 мм, высота 5—6 мм), плоского щлифа или порошка, наклеенного на подложку. Регистрация рентгеновского излучения осуществляется на узкой полоске фотопленки, свернутой в цилиндр. Рентгеновские лучи отражаются от поликристаллического образца, кристаллы которого расположены хаотически. Причем некоторые из них ориентированы в направлении, удовлетворяющем уравнению Вульфа — Брегга. Рентгеновские лучи, отраженные от этих кристаллов, образуют в пространстве сплошные конические поверхности, в результате пересечения которых с узкой пленкой, свернутой в цилиндр, экспонируются линии, имеющие форму дуг. Для увеличения числа кристаллов, участвующих в отражении, и получения более четкой дифракционной картины образец во время съемки может подвергаться вращению. [c.78]

В 1819 г. буквенную символику для химических элементов и соединений на основе их немецких названий предложил петербургский академик А. И. Шерер (1771—1824). См. Г. В. Быков и В. И. Куринной, К истории первых химических уравнений, Вопросы истории естествознания и техники, вып. 5, 1957, стр. 173. [c.224]

Если образец представляет собой монокристалл, то в результате дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке на помещенной за образцом фотопленке (так, чтобы плоскость ее была перпендикулярна направлению падающего луча) появляется система пятен — точечных рефлексов, соответствующих отражениям от разных систем плоскостей (точечная рентгенограмма). При использовании монохроматического рентгеновского излучения (X = onst) для получения отражения от всех плоскостей монокристалла, образец вращают внутри полостй, образованной фотопленкой, свернутой в цилиндр. Если образец состоит из беспорядочно ориентированных кристалликов, то на плоской пленке, расположенной за образцом, получается система кольцевых рефлексов, порошковая рентгенограмма, или рентгенограмма Дебая — Шерера. При рассеянии рентгеновских лучей аморфным веществом, т. е. в отсутствие дальнего порядка, возникают широкие диффузные кольца (аморфные гало). Положение рефлексов дает возможность, используя уравнение (26), рассчитать межплоскостные расстояния для главных систем плоскостей в кристалле. Кроме того, существует специальная система приемов, позволяющая определить тип кристаллографической решетки и параметры элементарной ячейки. Однако часто рентгенограммы содержат недостаточную для этого информацию, и тогда при их расшифровке решают обратную задачу — выясняют, удовлетворяет ли дифракционная картина некоторой заданной структуре решетки. Интенсивность рефлексов различного порядка позволяет судить о расположении атомов и групп атомов в узлах кристаллографической решетки. Ширина каждого рефлекса А9 определяется степенью отклонения условий рассеяния от идеальных. Эти отклонения могут быть связаны со схемой прибора, некогерентностью излучения и т. д. Их можно учесть с помощью системы специальных попра-вок Более существенным, особенно для полимерных кристаллов, является уширение рефлекса вследствие ограниченных размеров отдельных кристаллов D и иска жений кристаллографической решетки, вносимых ра ного рода дефектами. При использовании рентгеновск лучей, для которых 0,5 — 2,5 А заметное увеличение [c.59]

Не все авторы разделяют то мнение, что величины радиусов ионов, которые надо ввести в формулы Дебая и Г юккеля для их совпадения с опытом, достаточно правдоподобны и отвечают действительности. В отдельных случаях (Б ь е р р у м, 1926, Шерер, 1924, л я-М е р, 1927) приходилось для г брать величины, близкие к О и даже отрицательные. Гронвал, Зендвед ил я-М е р ( 183) показали, что эти противоречия устраняются при применении их формул, получаемых путем более точного интегрирования уравнения Пуассона. [c.326]

Используя уравнение Чинаи, Шерера, Бондурана и Леви Чирико вычислил степень жесткости молекулы поликарбоната в хлороформе при 20° С. Сравнение вычисленных степеней жесткости для молекул поликарбоната (молекулярный вес 50 ООО), полистирола и полиметилметакрилата подтверждает выводы Шульца и Хор-баха о том, что гибкость молекул поликарбоната в растворе больше, чем у винильных полимеров равного молекулярного веса, хотя молекула поликарбоната занимает больший объем. [c.140]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология