Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Кристаллофизика

    Лит Костов И, Кристаллография, пер с болг, М, 1965, Бок ни Г Б, Кристаллохимия, 3 изд, М, 1971, Сиротин Ю И, Ш а ск о л ьс к а я М П, Осиовы кристаллофизики, 2 изд, М, 1979, Современная кристаллография, т 1-4, М, 1979-81, Шафрановский И И. Симметрия в природе, 2 изд, Л, 1985 Б К Вайнштейн [c.540]

    ОСНОВНОЙ ПРИНЦИП СИММЕТРИИ В КРИСТАЛЛОФИЗИКЕ. УКАЗАТЕЛЬНЫЕ ПОВЕРХНОСТИ [c.183]

    Гипотезы стеклообразного состояния. Гипотеза американского кристаллофизика Захариасена опубликована в 1932 г. Согласно этой гипотезе, правильные тетраэдры соединяясь друг с [c.192]


    Сегодня задача приготовления катализаторов решается с учетом огромного опыта эксплуатации катализаторов в условиях промышленного катализа и всех теоретических и экспериментальных данных, полученных в исследовательской практике. Для решения этой задачи привлекаются, кроме того, достижения смежных областей науки, в частности кристаллографии и кристаллофизики, химии твердого тела, химии высокодисперсных систем. [c.255]

    Основные научные исследования посвящены теории дифракции рентгеновских лучей и рентгеноструктурному анализу. Независимо от русского кристаллофизика Ю. В. Вульфа установил (1913) соотношение между длиной волны рассеянных кристаллом рентгеновских лучей, величиной угла отклонения этих лучей после рассеяния и константами кристаллической решетки, лежащее в основе рентгеноспектрального анализа. Определил (1928) посредством рентгенографических методов строение силикатов. Совместно с Дж. Д. Берналом и Л. К- Полингом заложил (1946—1950) основы структурного анализа белка. Исследовал строение многих белковых тел. Был одним из инициаторов применения рентгеноструктурных методов для исследований в области молекулярной биологии. [c.83]

    Отметим, что термин решетка применяется 8 кристаллохимии в двух разных значениях. В теории симметрии решетка — это совокупность трансляций узлы решетки — математические точки, а не материальные частицы. В описательной кристаллохимии и, особенно, в кристаллофизике тот же термин часто используется для пояснения способа размещения всех или части атомов кристалла. Во избежание путаницы можно рекомендовать применение термина решетка кристалла или кристаллическая решетка только в рамках теории симметрии и атомная решетка (или атомная подрешетка , если имеется в виду лишь часть атомов) — при описании размещения атомов в кристаллической структуре. Такое терминологическое разграничение важно, в частности, потому, что некоторые поясняющие термины (такие, как объемноцентрированная или гранецентрирован-ная решетка) могут не совпасть применительно к симметрии и к размещению атомов определенного сорта в одной и той же кристаллической структуре. [c.7]

    Структуру кристаллов изучают в разделах естествознания, называемых кристаллофизикой и кристаллохимией. Содержанием кристаллохимии является установление зависимости условий образования и физико-химических свойств кристаллов от их структуры и состава, изучение энергетики и выяснение природы химической связи в кристаллах. Основным методом исследований в кристаллохимии является рентгеноструктурный анализ, использующий явление дифракции рентгеновского излучения на кристаллах, открытое М. Лауэ и др. (1912). В последние десятилетия получили широкое распространение методы электронографии (дифракция быстролетящих электронов на кристаллической решетке) и нейтронографии (дифракция медленных, тепловых нейтронов на кристаллах). Каждый из этих методов обладает спецификой применения, ввиду чего совокупность их позволяет проводить структурные исследования самых различных образцов, существенно различающихся по своей природе. [c.319]


    Кристаллография исследует и определяет законы симметрии— законы, которым подчиняется расположение центров тяжести атомов, ионов, молекул, радикалов. Кристаллография ограничивает единицу анализа пространства кристалла элементарной ячейкой и определяет способы и меру трансляции этого единичного объема в пространстве. Связь же структуры кристалла и его физических и химических свойств определяется, помимо мотива структуры, природой и размерами слагающих кристалл частиц, а также родом и силой связи между ними. Связи структуры и свойств кристалла — предмет кристаллохимии, а изучение конкретных свойств кристалла в связи с их структурой — предмет кристаллофизики. [c.90]

    Подобная задача не нова, однако наука развивается, и совокупность основных представлений, которыми пользуется кристаллофизика, со временем меняется. Не все из весьма важных понятий и даже терминов современной физики кристаллов успели перейти из журнальных статей на страницы монографий и учебников. А без осознания некоторых из них уже трудно следить за прогрессом в ряде разделов физики кристаллов. [c.7]

    В 1.2 были рассмотрены принципы, которые лежат в основе строения кристаллов. Однако идеальное построение решетки, характеризующееся трехмерной периодичностью, не может быть реализовано при нормальных давлениях р и температурах Т. Различные отклонения от идеальной структуры приводят к реальной структуре. Исследование реальной структуры представляет сегодня очень важное научное направление в кристаллофизике и кристаллохимии, так как подавляющее большинство химических, физико-химических, электрических, магнитных, механических и других свойств кристаллов зависит от их реальной структуры. Поэтому целесообразно говорить о свойствах, чувствительных к нарушениям структуры [структурно-чувствительных свойствах) и свойствах, нечувствительных к таким нарушениям. [c.208]

    Вустер У., Практическое руководство по кристаллофизике, пер. с англ., Москва, 1958. [c.104]

    Кристаллогидраты 2—84 , 828 1—892 Кристаллография 2—847 Кристаллофизика 2—847, 859 Кристаллофосфоры 2 — 863 5—541, 892 Кристаллохимия 2—853 [c.565]

    Кристаллогидраты 846, 828 Кристаллография 846 Кристаллолюминесценция 863 Кристаллофизика 846 Кристаллофосфоры 863 Кристаллохимический анализ 847 Кристаллохимия 846, 853 [c.535]

    Эта книга является попыткой создания учебника инженерной, технической кристаллографии и кристаллофизики, связанной с расширяющимся применением кристаллов в технике. За последние два-три десятка лет кристаллография переживает подлинную революцию, ломку старых представлений и бурное рождение и развитие новых областей применения кристаллов и кристаллографических методов. [c.3]

    В задачи кристаллофизики входит также изучение взаимосвязанности свойств кристаллов и их зависимости от внешних воздействий. Анизотропные физические свойства кристаллов чрезвычайно чувствительны к влиянию внешних воздействий. Поэтому, подбирая и комбинируя эти воздействия, можно создавать кристаллы с уникальными, необычными свойствами, которые применяются в источниках, приемниках, преобразователях, усилителях различных видов энергии. Процессы таких преобразований энергии также изучает кристаллофизика. [c.180]

    Одновременно ширится потребность в специалистах, которые умели бы целенаправленно выращивать кристаллы с требуемыми свойствами, исследовать, рассчитывать и применять эти свойства, для чего требуется активное владение математическим аппаратом кристаллографии и кристаллофизики. На подготовку этих специалистов и рассчитан настоящий учебник. [c.3]

    Как в этой книге, так и во всей работе по постановке преподавания кристаллографии, автор с глубочайшей благодарностью и признательностью руководствуется идеями своего первого учителя, основоположника отечественной кристаллофизики, академика, Героя Социалистического Труда А, В. Шубникова (1887—1970). [c.4]

    В задачах кристаллографии и кристаллофизики часто требуется установить число и расположение симметрично эквивалентных плоскостей и направлений, вдоль которых одинаковы физические свойства. Число эквивалентных плоскостей показано в табл. 9 и 10. Например, символу hkl в классе тЗт кубической сингонии отвечают 48 симметрично эквивалентных плоскостей, а в классе 23 или m3—24 плоскости. По виду соответствующего многогранника (см. рис. 71) можно наглядно представить себе взаимную ориентировку этих плоскостей в пространстве. Напомним, что свойства плоскости не изменятся, если перенести ее параллельно самой себе, поэтому симметрично эквивалентные плоскости можно представить в виде многогранника или набора плоскостей, проходящих через начало координат. Углы между плоскостями легко определяются по стереографической проекции с помощью сетки Вульфа (см. 5). [c.84]

    Самой характерной особенностью физических свойств кристаллов является их анизотропия и симметрия.Вследствие периодичности, закономерности и симметрии внутреннего строения в кристаллах обнаруживается ряд свойств, невозможных в изотропных телах. Задачей кристаллофизики, т. е. раздела кристаллографии, посвященного изучению физических свойств кристаллов, является установление общих симметрий-ных и термодинамических закономерностей для физических свойств кристаллов. Математический аппарат кристаллофизики, основанный на тензорном исчислении и на теории групп, устанавливает закономерности, общие для самых различных свойств кристаллов. [c.180]


    Кристаллофизика тесно связана с кристаллохимией и учением о росте кристаллов, потому что физические свойства кристалла зависят от типа структуры и частиц, составляющих эту структуру, а также от условий роста. [c.180]

    В этой главе излагаются основы кристаллофизики идеального кристалла, т. е. [c.180]

    Понятие предельных групп оказывается чрезвычайно целесообразным в кристаллофизике. [c.183]

    Уравнения, описывающие одно и то же явление, выглядят по-разному в разных системах координат. Чтобы разобраться, имеем ли мы здесь дело с одним и тем же физическим явлением, записанным в разных координатных системах, или же мы встретились с разными физическими явлениями, нужно знать, как преобразуется физическая величина при переходе из одной системы координат в другую. Эти преобразования особенно важны в кристаллофизике, поскольку характерной особенностью кристаллов является анизотропия физических свойств. В изотропных веществах свойства не зависят от направления и поэтому описываются скалярными величинами, а в кристаллах — векторными и тензорными. [c.188]

    Представление кристалла с помощью ячеек Вигнера—Зейтца весьма плодотворно в кристаллофизике, а особенности в тех случаях, когда следует описать анизотропию векторных свойств кристаллов, показать связь между их структурой и тензорными свойствами. Особо важное значение имеет представление волнового обратного пространства кристалла с помощью обратных ячеек Вигнера—Зейтца (зон Бриллюэна). Поскольку такая ячейка описывается около одного узла, то она ограничивает энергетическое пространство с единствснньш незэвисймьВД значением волнового вектора-основ- [c.85]

    Обычно кристаллографию делят на три раздела геометрическая жристаллография, химическая кристаллография (кристаллохимия) и (физическая кристаллография (кристаллофизика). Последние два раздела могут изучаться независимо друг от друга, но оба они, базируются на первом, без знания которого невозможно их рациональное изложение. [c.10]

    Датой рождения кристаллографии и кристаллофизики считается 1669 год — год установления закона постоянства углов кристаллов и открытия двойного лучепреломления света в кристаллах. В течение XVII—XIX вв. кристаллография развивалась в значительной мере как часть минералогии и основным содержанием ее было наблюдение симметрии внешней формы кристаллов. Открытие дифракции рентгеновских лучей в 1912 г. положило начало экспериментальному исследованию атомной структуры кристаллических веш,еств, развившемуся необычайно быстро. В наши дни изучены структуры почти всех неорганических природных соединений, и ныне мы присутствуем при рождении новой области кристаллографии — учения о структуре биологических объектов. [c.3]


Библиография для Кристаллофизика: [c.326]    [c.301]    [c.391]    [c.384]    [c.628]    [c.384]   
Смотреть страницы где упоминается термин Кристаллофизика: [c.7]    [c.765]    [c.10]    [c.59]    [c.56]    [c.112]    [c.657]    [c.178]    [c.40]    [c.473]    [c.473]    [c.424]    [c.432]    [c.2]    [c.184]   
Краткая химическая энциклопедия Том 2 (1963) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Основной принцип симметрии. в кристаллофизике. Указательные поверхности



© 2025 chem21.info Реклама на сайте