Зейтц

Рис. 33. Объемноцентрированная кубическая решетка а — ячейка Бравэ б — ячейка Вигнера—Зейтца

Рис. 34. Гранецентрированная кубическая решетка а — ячейка Бравэ б — ячейка Вигнера —Зейтца

Обработка раствора активированным углем с последующим фильтрованием через фильтр Зейтца обеспечивает более полное удаление пирогенных веществ. [c.624]

Сделанный нами выбор [см. (35а) ] базисных векторов обратной решетки, так же как и в случае решетки кристалла [см. (33) ], не является единственно возможным. В частности, всегда можно построить элементарную ячейку с максимально высокой для данной обратной решетки симметрией, т. е. ячейку Вигнера-Зейтца. Ячейку Вигнера—Зейтца в обратной решетке принято называть зоной Бриллюэна. [c.81]

Фильтровальные аппараты. Для выполнения анализа воды методом мембранных фильтров необходимо иметь фильтровальный аппарат Рублевской водопроводной станции или прибор Зейтца (рис. 21) и мембранные ультрафильтры. [c.129]

При применении метода Вигнера и Зейтца для расчета энергии сплава следует учесть энергию упругой деформации решеток, компонентов от их собственного объема до среднего объема в сплаве, а также необходимость выравнивания электронной плотности на границах ячеек Вигнера — Зейтца. [c.652]

Ячейка Вигнера—Зейтца [c.79]

Следует отметить, что кристалл обладает не только трансляционной симметрией, но и симметрией, связанной с вращением и отражениями. Поэтому естественно попытаться таким образом подобрать элементарную ячейку, чтобы ее форма отражала симметрию относительно допускаемых вращений и отражений, принадлежащих точечной группе симметрии кристалла. Существует простая процедура построения такой ячейки, предложенная впервые Вигнером и Зейтцем, [c.79]

Нелишне подчеркнуть здесь, что зона Бриллюэна однозначно определяется структурой кристаллической решетки (точнее, ее решеткой Бравэ). Из определения зоны Бриллюэна следует, в частности, что все обратное пространство может быть плотно заполнено зонами Бриллюэна данного кристалла. Поскольку мы уже имеем рецепт построений ячейки Вигнера—Зейтца и знаем, как построить обратную решетку, то определение зоны Бриллюэна любого кристалла сводится к известным и уже решенным задачам. Так, зоной Бриллюэна г. ц. к. решетки является ячейка Вигнера—Зейтца о. ц. к. решетки, причем если ребро элементарного куба г. ц. к. решетки равно а, то ребро элементарного куба в обратной (о. ц. к.) решетке равно 2яа 1 следовательно, чтобы построить зону Бриллюэна в этом случае, нужно взять о. ц. к. решетку с ребром элементарного куба 2яа 1 и построить в ней ячейку Вигнера—Зейтца. Она и даст нам искомую зону Бриллюэна. Понятие зоны Бриллюэна, как увидим ниже, является чрезвычайно важным в физике кристаллов. [c.81]

Рис. 238. Энергая решетки металлического натрия (по Вигнеру и Зейтцу)

В ампульном производстве, в основном, применяются два типа фильтров-.листовые и патронные. Листовые фильтры (типа Зейтца) [c.658]

Согласно Ф. Зейтцу []70], кристаллические твердые тела подразделяются на металлы, ионные кристаллы, валентные кристаллы, полупроводники и молекулярные кристаллы. [c.55]

Л кол — число коллективизированных электронов Гз — радиус сферы Вигнера - Зейтца [c.526]

При расчете величин е использованы данные Ф. Зейтца [40] г = —. где Q — теплота атомизации. п средняя валентность атома металла в кристалле по Полингу. [c.178]

Прежде всего валентные электроны нельзя считать полностью независимыми, как это предполагается в методе МО. Даже если учесть подобно Вигнеру и Зейтцу [408], корреляционную энергию, этот учет производится как бы задним числом. Но, с другой стороны, также неудовлетворительно описание металла с помощью различных схем связи в методе ВС, так как мы не способны даже перечислить эти структуры, не говоря уже о вычислении их весов. Здесь возникает и еще одна трудность, состоящая в том, что введенный нами в разделе 12.5 индекс п не очень удобен для характеристики связи. В гл. 9 указывалось, что с возрастанием размеров сопряженной молекулы все более важную роль играют в своей совокупности сильно возбужденные структуры. [c.358]

Это соотношение подтверждено в [38] на основе скачкообразного изменения плотности электронов на границе ячейки Вигнера - Зейтца. [c.351]

М е й е р А., Зейтц Э., Ультрафиолетовое облучение, [c.153]

КВг — 20% КС1. Повышенная концентрация дефектов в твердых растворах оказывает, по-видимому, сравнительно небольшое влияние на интенсивность окраски кристалла. В самом деле, несоответствие между нлотностью вакансий и концентрацией /-центров в щелочногалоидных кристаллах привело Ф. Зейтца [8] к допущению возникновения вакансий в местах изломов на линиях дислокаций, возникающих под действием радиации. Таким образом, возникновение /-центров связано не только с вакансиями, присутствовавшими в кристалле до его окрашивания, но главным образом с вакансиями, образующимися под действием облучения. Как показывает опыт, твердые растворы всех составов обладают большей радиационной устойчивостью по отношению к окрашиванию, чем исходные компоненты. [c.187]

При пользовании прибором Зейтца, во избежание повреждений мембранного фильтра металлической сеткой, необходимо под фильтр подложить стерильный кружок из фильтровальной бумаги, смоченной стерильной водой, и осторожно зафиксировать фильтр верхней частью прибора. [c.131]

Так, например, в 1940 г. в Германии было произведено лишь около 30 000 т плиточного парафина из бурого угля. По Внтцелю в Зейтце ежегодно производят 50 000 т парафина ТТН [43]. Этот парафин обладает, по существу, неразветвленной структурой и должен содержать не больше 10—15% изопарафинов [44]. [c.445]

К этому методу примыкают два других—метод ячеек Вигнера и Зейтца и получивший большое распространение в последнее время метод псевдопогенциала. В методе Вигнера и Зейтца предложен способ составления модифицированных атомных функций. На электрон, находящийся вблизи иона, действуют поля этого иона и всех остальных. Поле одного иона обладает (за некоторым исключением) сферической симметрией. Поле всех остальных ионов решетки в случае вь(сокой симметрии решетки в некотором приближении можно считать обладающим сферической симметрией. [c.645]

Швейцарская фирма Цшокке Вартман АГ выпускает фильтры такого типа с поверхностью фильтрования от 1 до 10 м . Фильтр управляется с центрального пульта. Днище поднимается и опускается гидравлическим механизмом. Герметизация корпуса и днища достигается с помощью болтовых соедит нений. Фирма Зейтц (ФРГ) выпускает друк-фильтры Вега поверхностью до 1,77 м снабженные подъемной мешалкой и рубашкой для обогрева (охлаждения). Корпус фильтра закреплен в двух цапфах и при выгрузке осадка может наклоняться на 45°, что облегчает удаление отжатого осадка из фильтра при работающей мешалке, [c.124]

К группе фильтров из волокнистых материалов — бактериальны хфильтров — относятся фильтры Зейтца и фильтры Сальникова (СФ). Основными частями фильтра СФ (рис. 37) являются корпус, состоящий из крышек 1—2) с входными штуцерами (5) и рам (5) (3 или 7 штук) с сетками 4), стягивающим болтом 6) и штуцерами 7). Для фильтрации служат асбестовые пластины диаметром до 300 мм. Пластины вкладывают между рамами и крышками, которые соединяются друг с другом с помощью шпилек и гаек-барашков (5). Фильтруемая жидкость проходят через асбестовые пластины, попадает в межрамное пространство и выходит наружу через выходные штуцеры рам. Фильтр Сальникова, как и другае бактериальные фильтры, работает под давлением. Перед работой собранный фильтр подвергают тепловой стерилизации. [c.297]

Ряд авторов рекомендует для очистки от пирогенов использовать ионообменные смолы (например, для аминокислот), считая, что они более эффективны, чем активированный уголь. Депирогенизацию воды можно осуществить путем фильтрования через бактериальный фильтр Зейтца. Размер пор многих бактериальных фильтров такой же, как у фильтра Зейтца, но они не пригодны для удаления пирогенных веществ, поэтому нельзя объяснить эффективность удаления пирогенных веществ только малым диаметром пор. Рекомендуется, чтобы диаметр пор фильтра Зейтца НС превышал 2,4 тюсм. Фильтр Зейтца задерживает пироген-ные вещества из раствора на 99,5%, даже когда они находятся в значительном количестве. Чем меньше концентрация пироген п.1Х веществ в растворе, тем лучше они задерживаются на фильтре. [c.624]

Виды рода A tinomy es-Streptomy es (лучистые грибки) образуют плотные кожистые колонии различной структуры (гладкие, бугристые, складчатые, бородовчатые) с Рнс. п. Фильтр Зейтца, мучнистым налетом. Колонии [c.75]

Есл И обсемененность жидкости микроорганизмами очень низкая, число клеток учитывают прямым счетом под микроскопом на мембранном фильтре. Определенный объем жидкости, ислользуя фильтр Зейтца (рис. 11), пропускают через мембранные фильтры. [c.75]

Наиболее четкие и быстрые результаты дает люминесцентная микроскопия, в частности подсчет живых и мертвых клеток в ультрафиолетовом свете с помощью микроскопов МЛ-1, МЛД-1. Микроскопируется обычный водный препарат или же, для мелких объектов, требующих иммерсионных систем, бактериальный фильтр с нанесенным на него определенным объемом суспензии (фильтрование через бактериальный фильтр № 4-5 с помощью воронки Зейтца). [c.201]

Фильтровальный прибор Зейтца или Олихова ) (рис. 2) с колбой для отсасывания, предохранительной склянкой и водоструйным насосом [c.47]

Стеклянная трубка 1 прочно закреплена в своем гнезде (например, при помощи расплавленной серы). Отверстие в металлической части оправы 2 закрыто сверху латунной сеткой. Вместо прибора Олихова можно применять прибор Зейтца с металлической трубкой вместо стеклянной трубки 1. [c.19]

Предварительно взвешенный фильтр закрепляют в аппарате Зейтца. В зависимости от количества взвбшенных вещеспв пробу объемом 100—500 мл фильтруют под вакуумом. Частички, приставшие к стенкам аппарата, омывают дистиллированной водой на фильтр. [c.27]

Микрофотографии избирательного травления кристаллов КС — КВг различных составов показаны на рис. 4. Обращает на себя внимание по-выщенная поверхностная плотность ямок травления кристаллов с небольшими добавками КС1 и КВг в твердом растворе. В результате статистического изучения подобных микрофотографий построена зависимость плотности дислокаций от состава твердых растворов (см. рис. 3, б). Максимумы кривой примерно отвечают составам с минимальными концентрациями /-центров и максимальными значениями электропроводности. Связь электропроводности с дислокациями может быть объяснена следующим образом. Зейтцем [14] высказаны интересные соображения об образовании вакантных мест из дислокаций. Существенную роль в этом процессе играют уступы на линиях дислокаций. В месте уступа в кристаллической решетке образуется потенциальная яма, равносильная наличию в этом месте некоторого эффективного заряда. Зейтц рассматривает это место как зарождающуюся вакансию благодаря тому, что ближайший ион захватывается уступом и включается в ряд ионов, образующих особенную плоскость дислокаций. Образовавшаяся вакансия может продиффундировать в глубь кристалла. При нагревании кристалла, необходимом для снятия температурной зависимости электропроводности, дислокации начинают перемещаться, встречая на своем пути препятствия. Это обусловливается появлением уступов на линиях дислокаций, а следовательно, некоторого дополнительного числа вакансий, увеличивающих ионную проводимость кристалла. [c.189]

Кроме прибора Олихова можно применять прибор Зейтца с металлической трубкой вместо стеклянной трубки 1. [c.7]

Наиболее пригоден для фильтрования прибор Пельша-Долгова с внутренним диаметром 10 мм можно пользоваться воронкой Зейтца с внутренним диа- [c.94]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология