Дифракция волн

Рис. 8-16. Дифракция волн алюминиевой фольгой. Дифракция рентгеновских лучей (а) с длиной волны 0,71 А и электронов (б) с энергией 600 эВ, соответствующей длине волны 0,50 А.

Изменение Вц при промежуточных значениях d X (рис. 1.19) показывает существенные различия в дифракции волн разного типа. Кривая для продольной волны 2 достаточно точно совпадает с данными энергетической теории 1 вплоть до значений d X 0,2, а амплитуда отражения поперечной волны — лишь до d/X 2. При меньших значениях d/X теория предсказывает наличие осцилляции для отражения поперечной волны (кривые 3, 4) особенно больших для волн с вертикальной поляризацией (перпендикулярно оси цилиндра, 4). Однако экспериментальные исследования (5) показали, что при импульсном характере излучения (теоретический расчет выполнялся для непрерывного излучения) осцилляции функ- [c.49]

На рис. 3.3, в показан случай, характерный для дефекта с малым параметром Рэлея. Этот вариант особенно часто встречается при контроле наклонным преобразователем. Интенсивные эхосигналы связаны с дифракцией волн на краях дефекта, а от шероховатости наблюдают лишь слабые отражения. Таким образом, сиг- [c.195]

Все три перечисленных метода основаны на общем эффекте — дифракции волн, пропускаемых через вещество. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов, поток электронов рассеивается па ядрах. Однако экспериментальная процедура и возможности тпх трех методов существенно различаются, поэтому они будут рассмотрены отдельно. [c.201]

Описанные основы структурного анализа кристаллов, его математический аппарат и частные методические схемы исследований, вообще говоря, одинаково применимы как в рентгеноструктурном (РСА), так и в электронографическом (ЭСА) и нейтронографическом (НСА) структурном анализе. Все три метода основаны на одном общем эффекте — дифракции волн, пропускаемых через кристалл,— и различаются лишь сущностью тех элементарных актов рассеяния, из которых складывается дифракция. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов (ядра атомов в этом рассеянии практически не участвуют). Поток электронов рассеивается в электромагнитном поле атомов, т. е. на электростатическом потенциале, создаваемом ядрами и электронами атомов. Поток нейтронов рассеивается только ядрами атомов. [c.125]

Рассеяние света частицами с коллоидной степенью дисперсности, размер которых меньше длины полуволны света, связано с явлением дифракции. Волны света, встречаясь с мелкими частицами, огибают их и рассеиваются во всех направлениях. С этим связаны опалесценция и эффект Фарадея — Тиндаля, которые будут рассмотрены ниже. [c.342]

Дельта-метод (рис. 2.3, в) основан на использовании дифракции волн на дефекте. Часть падающей на дефект В поперечной волны от излучателя 2 рассеивается во все стороны на краях дефекта В, причем частично превращается в продольную волну. Часть этих волн принимается приемником 3 продольных волн, расположенным над дефектом, а часть отражается от донной поверхности и также поступает на приемник. Варианты этого метода предполагают возможность перемещения приемника 3 по поверхности, изменения типов излучаемых и принимаемых волн. [c.131]

Рис. 2.105. Излучение УЗ-волн наклонными преобразователями и дифракция волн на щели, наблюдаемые методом лазерного детектирования

В случае плоскостного дефекта (слева) оба сигнала возникают в результате дифракции волн на краях дефекта и их амплитуды приблизительно равны. Правда, амплитуда эхосигналов продольной волны, принятой непосредственно после дифракции на дефекте, больше, чем волны, отраженной после дифракции от дна изделия, поскольку последняя проходит больший путь. [c.365]

По этому же принципу можно установить, что непроницаемый экран в звуковом поле не дает резкой тени, так как кромки являются исходными точками (источниками) элементарных волн, которые создают звуковое поле также и в тени экрана. В таком случае можно говорить о дифракции волн, как и при электромагнитных волнах. [c.26]

Характеристики волнового движения. Интерференция и дифракция волн. Волновой процесс характеризуется параметрами длиной волны X, ее [c.289]

Большой опыт пионеров кристаллографии позволял им определить из наблюдений за формой и морфологией кристаллов свойства их симметрии, а значит и тип, даже если грани кристалла совершенно не напоминали его элементарную ячейку. Сегодня для определения типа кристаллической структуры служат эффективные методы дифракции рентгеновских, электронных и нейтронных лучей, непосредственно дающие сведения о микроскопическом строении твердого тела и применимые даже в случае очень тонких кристаллитов. Эти современные методы исследования основаны на дифракции волн в трехмерной периодической решетке кристалла. В 1912 г. физики Лауэ и Фридрих впервые доказали, что при прохождении рентгеновских лучей через кристалл возникают характерные картины дифракции. Позднее аналогичные явления наблюдались при использовании электронных и нейтронных лучей. Согласно закономерностям квантовой теории дифракция основана на волновых свойствах частиц По положению максимума дифракции и его интенсивности можно определить не только тип кристаллической структуры, но и точное расстояние между частицами в решетке, а также другие важные характеристики кристалла. Использование современных высокоавтоматизированных приборов для изучения структуры и точная обработка экспериментальных данных с помощью ЭВМ позволяют с большой точностью измерять атомное строение материала. Данные, полученные таким образом, являются основной предпосылкой для глубокого проникновения в свойства материалов на атомно-теоретическом уровне и способствуют разработке новых способов получения высокочистых материалов. [c.63]

Общая теория дифракции волн на римановых поверхностях, Тр. Ин-та им. Стеклова 9 (1935), 39—106. [c.335]

Одной из важных характеристик ЭМ-излучения, определяющей характер его взаимодействия с биологическими объектами, является энергия фотона е. Мы говорили ранее, что ЭМ-излучение обладает одновременно как свойствами волны, так и свойствами частицы (проявление корпускулярно-волнового дуализма). Выраженность каждого из этих свойств зависит от длины волны. Так, в радиодиапазоне и в ИК-излучении проявляются волновые свойства (дифракция волн, интерференция), в видимом диапазоне и те и другие свойства выражены примерно одинаково (дифракция - волновые, фотоэффект -корпускулярные). С уменьшением длины волны сильнее проявляются корпускулярные свойства ЭМ-излучения. Начиная с энергии кванта, примерно равной 12 эВ (1 эВ = 1,6 10 Дж), что соответствует дальнему УФ, и далее в диапазоне рентгеновского и тем более гамма-излучения, ЭМ волна ведет себя как поток частиц. С этой условной границы ЭМ-излучения могут ионизировать вещество, и поэтому, начиная с дальнего УФ, рентгеновское и гамма-излучения относят к ионизирующим. [c.243]

После дифракции волны здание обтекается нестаци0на 1ным потоком газа, причем давление на поверхность равно давлению торможения потока, т. е. наступает "тормозное" воздействие (последующая фаза, которая длится до окончания действия ударной волны на здание). Время перехода к последующей фазе можно оценить как 3H/V, где Н - высота или ширина здания (наименьшая из этих величин), V - скорость распространения ударной волны. Задача проектировщика - оценить возможную (при разных сценариях протекания аварии - Ред.) протяженность фаз и рассчитать чувствительность (ответную реакцию) здания. Продолжительность воздействия нагрузок в результате взрыва парового облака достаточно велика и сравнима с динамической чувствительностью здания в отличие от случая взрыва конденсированного вещества, когда продолжительность воздействия нагрузок значительно меньше времени реакции здания (случай импульсной нагрузки). Часть работы [Allan, 1968] посвящена исследованию импульсной реакции (чувствительности) здания на воздействие ударных нагрузок от взрывов конденсированного вещества. [c.537]

Согласно теории Юнга, поле, возникающее в результате дифракции волн,— это результат интерференции волн, распространяющихся по геометрическим законам, и дифрагированных волн, возникающих в особых точках, в которых граничные условия имеют разрыв. Геометрическим местом таких точек являются границы препят- [c.46]

В теоретической физике доказывается, что для любой величины Р, зависимость которой от пространственных координат и времени можно представить тлким уравнением, существует возможность волнообразного распространения и что и в этом уравнении представляет собой скорость распространения такого волнового процесса. И наоборот, для каждой величины, которая распространяется в виде волны,, зависимость от пространственных координат и времени передается приведенным выше уравнением. Следует также отметить, что из уравнения (30) можно непосредственно вывести принцип Гюйгенса, лвжашвж в основе волновой оптики и вообще объяснения дифракции волн. Для данного случая, однако, важно в связи с последующим изложением указать, что уравнение (30) применимо и к волнам материи, причем физический смысл постоянной и в уравнении (30) и в этом случае заключается в том, что она является [c.119]

Формула Вульфа—Брэгга следует из условий дифракции волн на решетке, известных из оптики. Согласно дифракционной теории, пучок параллельных лучей, падая под углом у на систему щелей, повторяющихся на расстояниях о друг от друга, дает дифракцион- [c.129]

Для того чтобы получить дифракцию волн, необходима регулярная система центров дифракции с расстоянием между ними порядка Я. Решетками с постоянными порядка 10 см обладают ионные кристаллы и металлы. Соотношение де Бройля было подтверждено Дэвиссоном и Джерме-ром (1927 г.) и Томпсоном (1928 г.) путем наблюдения [c.21]

Возможно, один из наиболее полезных методов измерения затухания и скорости ука был предложен в работе [67]. Пьезометрический преобразователь излучает кроткие цуги волн, выступая затем как приемник отраженного сигнала (метод шпульсного отражения ). Скорость определяют по характерному времени пе- ходного сигнала , а затухание волн-по зависимости интенсивности от расстояния до юскости отражения. В таких методах существенна дифракция волн, особенно при 13КИХ частотах. Хотя скорости можно определять непосредственно по затуханию, есь не менее полезны и методы фазового детектирования [59]. [c.449]

На рис. 501 изображено поведение звуковых лучей в том случае, когда источник звука помещен в слое, отмеченном верхней пунктирной прямой, т. е. в слое, лежащем вне оси звукового канала, нанесенного сплошной прямой. Здесь тоже возникают каустики, отмеченные жирными кривыми, но чередования максимумов силы звука и зон молчания теперь должны возникать даже на самой оси звукового канала. В эти зоны может частично проникать некоторая звуковая энергия за счет эффектов дифракции волн. Вообще точная теория явления не может быть дана- при лучевой тщшовке вопроса необходимо применять аппарат волновой акустики. [c.794]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология