Дефекты плоскостные

Оптические методы имеют очень широкое применение благодаря большому разнообразию способов получения первичной информации. Возможность их применения для наружного контроля не зависит от материала объекта. Самым простым методом является органолептический визуальный контроль, с помощью которого находят видимые дефекты, отклонения от заданных формы, цвета и т. д. Применение инструментов (визуально-оптический контроль) типа луп, микроскопов, эндоскопов для осмотра внутренних полостей, проекционных устройств для контроля формы изделий, спроектированных в увеличенном виде на экран, значительно расширяет возможности оптического метода. Использование интерференции позволяет с точностью до 0,1 длины волны контролировать сферичность, плоскостность, шероховатость, толщину изделий. Дифракцию применяют для контроля диаметров тонких волокон, толщины лент, форм острых кромок. [c.15]

Если при развороте на 45° амплитуда уменьшилась на 8 дБ или более, то с большой степенью вероятности можно утверждать, что в плоскости, перпендикулярной к поверхности ввода, дефект плоскостной. В случае объемного б плане дефекта амплитуда эхосигнала мало изменяется. [c.365]

На рис. 3.26 изображен один из дефектов. По В-развертке (слева, сечение поперек шва) определяются высота дефекта, его местоположение относительно разделки шва, а также тип дефекта. На экране имеется маска, показывающая разделку шва в соответствии с конструкторской документацией. Корень шва имеет сложную конфигурацию, поэтому контроль выполнялся только прямым лучом. Судя по этому изображению, дефект плоскостной, с шероховатой поверхностью, тянется по высоте от 8 до 13 мм. Несколько ниже расположен еще один небольшой дефект. [c.375]

Дефекты могут быть точечными, линейными и плоскостными. Точечные дефекты представляют нарушения структуры атомарных размеров по всем трем измерениям (размер дефекта в любом измерении не превышает нескольких межатомных расстояний). Линейные дефекты, называемые дислокациями, и [c.189]

Кроме точечных дефектов несовершенство кристалла в значительной степени определяется смещениями и перестановками элементов решетки (линейными дефектами), поворотом слоев в кристалле (плоскостные дефекты), образованием пор, пустот и включений (объемные, трехмерные дефекты). Наиболее заметные отклонения от идеальной структуры наблюдаются на поверх- [c.431]

Реальные дефекты отличаются от рассмотренных выше моделей неправильностью формы, шероховатостью поверхности, они могут быть заполнены окислами и другими веществами, в результате чего отражение будет неполным. Дефекты разделяют на объемные и плоскостные. Объемные (поры, шлаки, см. кн. 1) дают равновероятное рассеяние падающей волны по всем направлениям. Плоскостные (трещины, расслоения, непровары) дают рассеяние определенной направленности. Ориентация плоскости этих дефектов определяется технологическим процессом. Существуют промежуточные типы дефектов, например паукообразные трещины, некоторые непровары. [c.122]

От плоскостных дефектов эхосигнал большой амплитуды наблюдают только при благоприятных (зеркальных) условиях отражения. Кроме того, наблюдают дифракционные краевые волны при любом угле падения, но их амплитуда значительно меньше, чем амплитуда геометрического отражения. Наблюдают также боковые поперечные волны, возникающие, когда вдоль поверхности дефекта распространяется головная волна. Кроме того, может возникнуть рассеяние на неровной поверхности дефекта. [c.123]

Оценка формы дефекта имеет очень важное значение для решения вопроса о его допустимости. С точки зрения эксплуатационной надежности ОК особенно опасны плоскостные дефекты с малым раскрытием (трещины, тонкие непровары). Объемные дефекты (шлаки, поры) часто считаются допустимыми, если их размеры не превосходят определенной величины. Дефекты, вытянутые в некотором направлении (цепочки пор, волосовидные поры, непровары с большим раскрытием заполненные шлаком), занимают промежуточное положение с точки зрения влияния на эксплуатационные свойства. [c.196]

Существует несколько способов обработки информации, позволяющих различить плоскостные и объемные дефекты. Рассмотрим некоторые из них. [c.197]

Измеряют огибающую последовательности амплитуд эхо-сигналов при повороте наклонного преобразователя. Максимальный сигнал наблюдают при направлении луча нормально к поверхности дефекта. Уменьшение сигнала в 2...4 раза при повороте преобразователя на угол 10... 15° свидетельствует о плоскостном характере дефекта. Если амплитуда уменьшается слабее, дефект имеет объемный характер. [c.197]

Рис. 2.76. Схема контроля способом тандем-Т волн (справа) и зависимость амплитуды эхосигнала А Аа от угла ф отклонения плоскостного дефекта от вертикального положения (XXX). Кривая ( о о о ) соответствует контролю способом тандем без трансформации волн

Хром. Данные о его влиянии на КР аустенитных коррозионно-стойких сталей противоречивы. По-видимому, это связано с тем, что увеличение содержания хрома приводит, с одной стороны, к улучшению пассивирующих свойств, а следовательно, к повышению стойкости к КР, с другой — к повышению электрохимической активности сталей, а также к снижению энергии дефектов упаковки к плоскостному расположению дислокаций, способствующим более быстрому возникновению и развитию трещин КР. [c.72]

ЛИНЕЙНЫЕ И ПЛОСКОСТНЫЕ ДЕФЕКТЫ [c.591]

К плоскостным дефектам относятся поверхности, ограничивающие микрозерна поликристаллических металлов. Соседние зерна имеют независимую кристаллографическую ориентацию, и границы между зернами— это области деформаций, в которых концентрируются примеси. Такие границы можно выявить путем травления полированной металлической поверхности. [c.592]

Метод каналирования тяжелых заряженных частиц (протонов, а-частиц, ионов) основан на классическом прохождении их через кристалл по его пустым плоскостям, т. е. плоскостям, расположенным между заселенными атомами плоскостями, или таким же осям (соответственно плоскостное и аксиальное каналирование). Атомы, находящиеся по обе стороны пустой плоскости или осевого канала, своим электростатическим полем способствуют ходу тяжелых частиц именно по этим направлениям. Для каналирован-ных частиц меньше вероятность электронных и ядерных взаимодействий с атомами кристалла, чем неканализированных частиц. Явление каналирования пригодно для изучения дефектов кристаллов, которые препятствуют каналированию. [c.210]

Область I соответствует типу дифракции на объемном дефекте. Амплитуда волны обегания-соскальзывания значительно меньше зеркального отражения. Область III соответствует дифракции на плоскостном дефекте сигналы от обеих блестящих точек близки по амплитуде. Область II - промежуточная. [c.53]

Дефекты разделяют на объемные и плоскостные. Такое разделение целесообразно по влиянию дефекта на работоспособность конструкции (плоскостные дефекты гораздо опаснее), так и по возможностям распознавания дефекта средствами УЗ-дефектоскопии. [c.191]

При незеркальном отражении от плоскостных дефектов эхосигналы возникают в результате действия двух механизмов. Во-первых, имеются дифракционные волны от краевых точек дефекта. Их амплитуда значительно меньше амплитуды зеркального отражения и определяется направлениями излучения и приема относительно плоскости дефекта, а также типом излучаемых и принимаемых волн [134]. Амплитуда сигнала дифракционного рассеяния на краю тонкого вертикального дефекта при контроле наклонным совмещенным преобразователем эквивалентна отражению от бокового цилиндрического отверстия диаметром [c.192]

Второй механизм - рассеяние на неровной поверхности плоскостного дефекта. Оно тем больше, чем больше параметр Рэлея [c.192]

Непосредственно измерить остроту кромок дефекта (которая составляет доли миллиметра) с помощью УЗ-волн не представляется возможным, поскольку длина волн порядка миллиметра. В [350] рассмотрены характерные параметры реально встречающихся плоскостных и объемных дефектов и установлена их корреляция с отражательной способностью. Это дает основание для реализации достаточно простых и эффективных способов распознавания формы дефекта. [c.364]

Способы разработаны в расчете на контроль сварных соединений, однако они годятся также для других объектов. Для плоскостных дефектов предполагается, что они ориентированы вертикально, т.е. перпендикулярно или почти перпендикулярно (в пределах 15°) к поверхности ввода. Изменения амплитуд в табл. 3.2 даны [c.364]

В случае плоскостного дефекта (слева) оба сигнала возникают в результате дифракции волн на краях дефекта и их амплитуды приблизительно равны. Правда, амплитуда эхосигналов продольной волны, принятой непосредственно после дифракции на дефекте, больше, чем волны, отраженной после дифракции от дна изделия, поскольку последняя проходит больший путь. [c.365]

Отметим также спектральный метод определения формы дефекта, не приведенный в табл. 3.2. Он требует применения специального дефектоскопа-спектроскопа, в котором можно варьировать частоту УЗ в 2. .. 3 раза и наблюдать происходящие при этом изменения амплитуды эхосигнала. Для объемного дефекта характерно плавное изменение амплитуды в зависимости от частоты. Для плоскостного дефекта, наклоненного к оси преобразователя, характерны быстрое изменение амплитуды с частотой, возникновение максимумов и минимумов. Это объясняется интерференцией дифракционных волн, возникающих на краевых (блестящих) точках дефекта. [c.367]

КИ марки крезелсо 330Е+1СЬ47ЫЬ). Тест-образец содержал два сварных шва ремонтный и монтажный. В рамках данной работы рассматривали только результаты контроля монтажного шва № 1, в который закладывали дефекты плоскостного и объемного характера (непровары корня шва, несплавления с кромкой, шлаки и поры). Монтажный шов № 1 (рис. 62) выполняли по штатной технологии ручной электродуговой сваркой электродами УОНИ 13/55 с подваркой переходного слоя электродами ЗИО-8 и ЭА 898 (плакирующий слой). [c.128]

Другим методом контроля, разработанным специально для подводных работ, является электромагнитный метод измерения поля переменного тока АСРМ. Данный метод позволяет выявлять поверхностные и подповерхностные дефекты плоскостного типа в слое толщиной до 5 мм. Физическая сущность метода заключается в измерении параметров электромагнитного поля, наведенного в поверхности [c.296]

Для контроля формы станин, которые обычно являются базовыми деталями для сборки узлов, а также для контроля направ ляющих поверхностей станков проводят проверку плоскостности Проверка плоскостности детали с помощью струны заклю чается в натяжении струны над деталью таким образом, чтобы рас стояния от струны до крайних точек детали были одинаковыми Если при измерении в любой промежуточной точке расстояние от струны до детали окажется таким же, как и на краях, то деталь имеет удовлетворительную плоскостность. Измерение может проводиться в двух перпендикулярных направлениях. Для измерения используется штихмасс — измерительный прибор с микрометрической шкалой. Проверка плоскостности и прямолинейности дает возможность определить прогиб деталей машины от собственного веса или из-за дефектов при обработке поверхностей. [c.134]

С учетом всех перечисленных выше конструктивноэксплуатационных факторов для альтернативной оценки опасности влияния сварочных дефектов их целесообразно разделить на две группы объемные и плоскостные. Объемные дефекты не оказывают существенного алияния на работоспособность соединений. Эги дефекты (поры, шлаки, флокены) можно нормировать по размерам или площади ослабления ими сечения изделия. Плоскостные трешиноподобные дефекты (трешины, оксидные пленки, несплавления, раскаты) по нормативно-технической документации, как правило, считаются недопустимыми. [c.80]

Другие типы преобразователей укажем, чтобы дать их определения и области применения. Широкозахватные ПЭП имеют сильно вытянутую прямоугольную пьезопластину они позволяют контролировать широкую полосу изделия за один проход. Широкополосные ПЭП работают в полосе частот больше одной октавы (т. е. /та1//т1п 2). Фокусирующив ПЭП дают концентрацию ультразвуковой энергии в небольшой зоне —фокусе. Веерные ПЭП излучают расходящийся в широком диапазоне углов пучок лучей для выявления разноориентированных плоскостных дефектов. Ще- [c.103]

Используют эхозеркальный метод (см. рис. В.З, б) и измеряют отношение максимальных амплитуд сигналов при прямом А и зеркальном В отражениях. В случае объемного дефекта (поры, шлаки) отношение А/В больше единицы. Плоскостные дефекты (трещины, непровары) с уг-, лом отклонения от вертикали не больше 20° имеют А/В меньше единицы. [c.197]

Они могут быть осциллирующими (немонотонными), если являются результатом интерференции двух эхосигналов, близких по амплитуде. Такую интерференцию наблюдают при наклонном падении на плоскостной дефект (положения ПЭП 2, 3 на рис. 3.6). При нормальном падении на дефект (положение 1) интерферирующие сигналы синфазны и спектр монотонный. Эти же выводы о зависимости амплитуды от частоты следуют из формулы (2.25) для эхосигналов при нормальном и наклонном падении на дискообразный дефект. В (2.25) осцилляции определяет функция Ф. Сигналы от объемных (округлых) дефектов практически монотонны (положения 4, 5, 6), потому что сигнал волны обегания и соскальзывания имеет значительно меньшую амплитуду, чем непосредственно отраженный сигнал, с которым от интерферирует (см. рис. 1.22). [c.199]

Другой тип плоскостных дефектов уже упоминался ранее в связи с плотнейшей упаковкой шаров — это нерегулярные последовательности атомных плоскостей (разд. 19.13). В гранецентрированной кубической решетке нормальная последовательность плоскостей будет АВСАВС.... Если случайно слой В образуется над слоем С, то последовательность плоскостей будет обратной АВСВАСВА.... Обе части кристалла по обе стороны плоскостного дефекта являются зеркальными изображениями друг друга и называются двойниками. [c.592]

В случае плоских поверхностей объекта и эталона интерферо-грамма будет иметь вид параллельных светлых (потоки налагаются в фазе) и темных полос (фазы противоположны). Наличие кривизны и дефектов поверхности (трещин, впадин, царапин, рисок или наплывов, выступов, задиров и т. п.) контролируемого объекта приводит к появлению регулярно изменяющегося или местного изменения набега фазы отраженного светового потока, что ведет к искривлению линий интерференционной картины (рис. 6.14). Это позволяет обнаружить отклонение от плоскостности, дефекты и неровности поверхности и оценивать их величину. Так, при освещении монохроматическим светом глубина (высота) неровности может быть оценена по выражению [c.263]

При контроле более толстых сварных швов метод окшзался весьма чувствительным к обнаружению вертикальных плоскостных и некритичным к ориентации дефектов. В.Г. Щербинский [350] исследовал выявляемость реальных несплавле-ний высотой 2 и 11 мм. При использовании обычного эхометода изменение угла падения от О до 15° вызывало уменьшение амплитуд соответственно на 12 и 20 дБ. При использовании дельта-метода изменение амплитуды составило 6 и 10 дБ при отражении вверх дифрагированной продольной волны. При использовании пере-отраженной от дна продольной волны изменение амплитуды составило 3 и 9 дБ. [c.251]

При дифракции на плоских (плоскостных) дефектах (см. рис. 1.28, б) дифракционные волны имеют вид расходящихся лучей от каждой точки края или ребра Д и Д дефекта. Это и продольные, и поперечные волны. Точки Д и Д называют блестящгши точками. Например, такие волны наблюдают от края трещины. Амплитуды эхосигналов от обоих ребер приблизительно равны. [c.52]

По измерениям А.Х. Вопилкина [232] при уменьшении величины д тип дифракции, отвечающий объемному дефекту, переходит в тип дифракции, соответствующий плоскостному дефекту. На рис. 1.31 показана зависимость отношения амплитуд первых двух эхосигналов АА на излучателе-приемнике от величины Сплошная линия - среднее значение экспериментальных данных, штриховые -среднее квадратическое отклонение значений. [c.53]

Веерные ПЭП излучают расходящийся в широком диапазоне углов пучок лучей для выявления различно ориентированных плоскостных дефектов. Они имеют либо искривленную пьезопластину, излучающую выпуклой стороной, либо несколько узких плоских пьезопластин, расположенных по цилиндрически искривленной поверхности. [c.161]

Объемные дефекты (поры, шлаки) дают равновероятное рассеяние падающей волны по всем направлениям. От плоскостных дефеков (расслоения, трещины, непровары в сварных швах) рассеяние имеет определенную направленность. Ориентация плоскости этих дефектов зависит от технологического процесса и условий эксплуатации. Бывают промежуточные типы дефектов, например паукообразные трещины, некоторые виды непроваров. [c.191]

С учетом сказанного при УЗ-контроле изделий, в частности сварных соединений, очень важно различить объемные, близкие к округлым дефекты (например, щлаковые и газовые включения, шлаковые трубки, поры и зоны пористости) от плоских или плоскостных дефектов с острыми кромками (трещин, непро-варов, несплавлений). Округлые дефекты не очень ослабляют прочностные свойства изделия и часто допустимы, а плоскостные дефекты гораздо сильнее влияют на прочность, способны развиваться при эксплуатации и, как правило, недопустимы. [c.364]

Конечно, разделение дефектов на плоскостные и объемные очень условно, многообразие типов дефектов весьма велико, но точную форму и тип дефекта не удается определить методами УЗ-дефектоскопии, поэтому приходится ограничиться разделением дефеетов на три класса плоскостные, объемные и промежуточные неопределенные), кото-рые не удается отнести ни к плоскостным, ни к объемным. [c.364]

Признак K, (способ 3) основан на озвучивании дефекта поперечной волной, а приеме двух волн поперечной с амплитудой А, и трансформированной на дефекте продольной волны с амплитудой A . Способ разработан в НИИмостов (С.-Петербург) [105]. Для приема продольной волны наклонный преобразователь снабжают дополнительным пьезоэлементом. В качестве опорного используют эхосигнал от двугранного угла. При переходе от объемного к плоскостному дефекту l A )-( Af) [c.365]

Л 1,3, и 3,4. Если разность (в дБ) А т, -А 1 2 (она приблшительно равна А - 3,4) < О, то это плоскостной дефект, ориентированный вдоль щва. Если эта разность > О, то это плоскостной дефект, ориентированный поперек шва. Если данная разность близка к нулю, то это, по-видимому, объемный дефект. Здесь используются те же закономерности, что и в схеме 1. [c.367]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология