Дифракционные методы исследования

В дифракционных методах исследования структуры используются рентгеновские лучи, поток электронов или нейтронов с длиной волны того же порядка, что и расстояния между атомами в молекулах или между атомами, ионами и молекулами в кристаллах. Поэтому, проходя через вещество, эти лучи дифрагируют. Возникающая при этом дифракционная картина строго соответствует структуре исследуемого вещества. Рентгеновские лучи (рентгенография) чаще всего применяют для исследования структуры кристаллов, электроны (электронография) — для исследования газов и кристаллов нейтроны (нейтронография) — для исследования жидкостей и твердых гел. [c.150]

СРАВНИТЕЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ И ПЕРСПЕКТИВЫ ДИФРАКЦИОННЫХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ [c.125]

ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ 1. Рентгеноструктурный анализ [c.150]

НЕКОТОРЫЕ ПРИМЕНЕНИЯ ДИФРАКЦИОННЫХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ В ФИЗИКЕ ТВЕРДОГО ТЕЛА [c.146]

ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ [c.182]

В дифракционных методах исследования структуры используются рентгеновские лучи, поток электронов или нейтронов с длиной волны того же порядка, что и расстояния между атомами в молекулах или между частицами (ионами, атомами или молекулами) в кристаллах. Поэтому, проходя через вещество, лучи рассеиваются (дифрагируют). Возникающая дифракционная картина строго соответствует структуре исследуемого вещества. Среди дифракционных методов различают рентгенографию, электронографию и нейтронографию. [c.182]

Для исследования структуры кристаллов и ж идкостей применяется также нейтронография. Преимущество нейтронографии по сравнению с другими дифракционными методами исследования заключае-ется в возможности установить пространственное положение атомов водорода, что особенно ценно при изучении биологических объектов и помогает решению фундаментальных проблем молекулярной биологии. [c.154]

Часть 1 ЭЛЕМЕНТЫ КРИСТАЛЛОГРАФИИ И ОСНОВЫ ДИФРАКЦИОННЫХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ [c.10]

Преимущество нейтронографии по сравнению с другими дифракционными методами исследования заключается в возможности установить пространственное положение атомов водорода, что особенно ценно ири изучении биологических структур и помогает решению фундаментальных проблем молекулярной биологии. [c.187]

СРАВНИТЕЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ И ПЕРСПЕКТИВЫ ДИФРАКЦИОННЫХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ. ЗАДАЧИ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА В ХИМИИ [c.169]

Таким образом, применение дифракционных методов исследования для изучения сплавов тиконал позволило выявить тонкие детали атомно-структурного механизма фазовых превращений в этих сплавах наТ различных стадиях распада. [c.173]

ГЛАВА 2. ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ. МАГНИТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ [c.169]

В настоящем разделе рассмотрены спектральные и дифракционные методы исследования, дающие сведения о строении соединений, равновесиях и характере связи, а также методы, позволяющие определить количественные параметры связи. [c.200]

РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, дифракционный метод исследования атомно-молекулярного строения в-в, гл. обр. кристаллов, основанный на изучении дифракции рентгеновских лучей с длиной волны ок. 0,1 нм. Нек-рые задачи, вапр. определение положения части атомов в кристаллах относительно простого строения, можно решать с применением поликристаллич. образцов, однако по.чное определение структуры проводят на монокристаллах размером 0,1—0,5 мм. Использование полихроматич. излучения (метод Лауэ) позволяет получать сведения о симметрии кристалла и ориентировать его правильным образом. Для полного изучения структуры измеряют интенсивность максимально возможного числа рентгеновских дифракц. отражений с использованием монохроматич. излучения чем больше таких отражений, тем больше разрешение пра определении положения атомов. Обработка результатов измерений осуществляется на больших ЭВМ. По интенсивностям отра- [c.506]

Атомные радиусы. Атомы не имеют строго определенных границ, что обусловлено волновой природой электронов. В расчетах пользуются так называемыми эффективными, или кажущимися, радиусами, т. е. радиусами шарообразных частиц, сближенных между собой при образовании кристалла. Их определяют экспериментально с помощью различных физических (спектроскопических и дифракционных) методов исследования. [c.57]

Характер связи атомов кислорода с поверхностью серебра можно определить дифракционными методами исследования. Однако и здесь существуют различные мнения. Результаты электронографического и рентгенографического изучения промышленных катализаторов до и после их использования в процессе окисления этилена показывают, что не всегда можно найти изменение констант кристаллической решетки и степени упорядоченности и [c.274]

Кристаллические структуры силикатов являются традиционным объектом рентгеноструктурного анализа. Невозможность растворения силикатов без их разрушения исключает исследование их строения химическими методами, основанными на переводе изучаемого объекта в раствор с сохранением целостности если не всего соединения, то по крайней мере входящих в его состав анионных радикалов. Неудивительно поэтому, что вся кристаллохимия силикатов была создана благодаря использованию дифракционных методов исследования кристаллических структур. Первые работы по исследованию строения силикатов связаны с именем Брэгга и его учеников. Позднее крупнейший вклад в кристаллохимию силикатов был внесен советскими исследователями — Н. В. Беловым и его школой. Ниже кратко описываются результаты исследований кристаллических структур силикатов и их ближайших аналогов — германатов, проводившиеся в течение ряда лет в Институте химии силикатов им. И. В. Гребенщикова АН СССР. Эти исследования, естественно, не могли не испытать сильного влияния принципов и идей кристаллохимии силикатов, развитых Н. В. Беловым. Ряд методических приемов расшифровки кристаллических структур, таких как использование кратных пиков при интерпретации функции Паттерсона, применение симметричных цепочек в прямых методах и др., разработанных школой Н. В. Белова, также использовались в этих работах. [c.107]

Порай-Кошиц Е. А. Дифракционные методы исследования стеклообразных веществ. — В кн. Стеклообразное состояние. Труды [c.153]

Среди дифракционных методов исследования структуры различных веществ, в том числе и эластомеров, наибольшее распространение получил рентгеновский метод [31 — 37]. Зависимость интенсивности рассеяния I от угла рассеяния 0 для жидкостей [32, 33] показана на рис. 2.2, где первый ярко выраженный максимум интенсивности соответствует когерентному рассеянию в областях ближнего порядка. [c.24]

Структурный критерий основан на оценке характера изменения структуры полимера на молекулярном уровне, которое может быть зафиксировано дифракционными методами исследования (рентгенография, электронография). В частности, кристаллизация аморфного полимера — это типичный переход типа беспорядокдальний трехмерный порядок . Структурным критерием возникновения трехмерной упорядоченности служит появление большого количества резких и интенсивных рефлексов на картинах рентгеновского или электронного рассеяния. При этом, однако, следует иметь в виду, что на дифракционных картинах кристаллических полимеров, как правило, число рефлексов, их интенсивность и резкость значительно меньше, чем на картинах низкомолекулярных кристаллических веществ. [c.182]

В последние десятилетия наблюдалось бурное развитие рентгеноструктурного анализа (в первую очередь с использованием монокристаллов), а также других дифракционных методов исследования. Это обусловлено рядом причин. Одной из них явилось кардинальное усовершенствование рентгеновской аппаратуры, включая разработку ряда типов дифрактометров, управляемых ЭВМ, для съемки монокристаллов, внедрение новых способов регистрации рентгеновского излучения, использование монохроматоров. В результате точность экспериментальных данных резко возросла и появилась возможность решения принципиально новых задач (локализация легких атомов, определение деталей распределения электронной плотности на базе совместных данных нейтронографического и рентгеновского методов). Не менее важным обстоятельством явилась разработка комплексов программ обработки результатов измерений и определения структуры кристаллов, зачастую с недостаточно охарактеризованным химическим составом. Этой области применения рентгеноструктурного ана 1иза в химии посвящено несколько прекрасных монографий и учебников, и структурные разделы почти обязательно включаются в работы по синтезу новых соединений, так как дают непосредственные данные о пространственном расположении атомов в кристаллах а иногда являются и удобным способом определения химического состава, в особенности если известен качественный состав. [c.3]

Дифракционные методы. В дифракционных методах исследования рентгеновское излучение, поток электронов или нейтронов взаимодействуют с атомами в молекулах, жидкостях или кристаллах. При этом исследуемое вешество играет роль дифракционной решетки. А длина волны рентгеновских квантов, электронов и нейтронов должна быть соизмерима с межатомными расстояниями в молекулах или между частицами в жидкостях и твердых телах. Сама же дифракция (закономерное чередование максимумов и минимумов) представляет собой результат интерференции волн. Она зависит от химического и кристаллохимического строения, следовательно, соответствует структуре исследуемого вещества. Поэтому есть принципиальная возможность для решения обратной задачи дифракции, т. е. установление структуры вещества по его дифракционной картине. Обратная задача дифракции для рентгеновского излучения, дифрагирующего в конденсированных средах, называется рентгеноструктурным анализом. Методы применения электронных и нейтронных пучков вместо рентгеновского излучения называются электронографией и нейтронографией соответственно. Общим для этих методов является анализ углового распределения интенсивности рассеянного рентгеновского излучения, нейтронов и электронов в результате взаимодействия с веществом. Но природа рассеяния рентгеновских квантов, нейтронов и электронов не одинакова. Рентгеновское излучение рассеивается электронами атомов, входящими в состав вещества. Нейтроны же рассеиваются атомными ядрами а электроны — электрическим полем ядер и электронных оболочек атомов. Интенсивность рассеяния электронов пропорциональна электростатическому потенциалу атомов. [c.195]

Вертц Дж., Болтон Дж., Теория и практические приложения метода ЭПР, пер. с англ.. М., 1975. Н. Н. Бубнов. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, дифракционный метод исследования строения в-иа, основанный на изучении рассеяния в-вом монохроматич. пучка электронов, ускоренных в электрнч. поле напряжением 20—1000 В (дифракция медленных электронов) и более 40 кВ (дифракция быстрых электронов). Зафиксированная на фотопластинке дифракц. картина (электронограмма) — это более или менее четкая система пятен или концентрич. колец. Ее получают в электроногра-фе, где поддерживается вакуум от 10 до 10 Па, при экспозиции ок. 1 с. По электронограмме определяют направления и интенсивности рассеянных пучков. Электроны сильно взаимод. с в-вом, что позволяет исследовать объекты небольших ра.змеров. [c.702]

Центр, понятие К, - криста глическая структура. Определено ок. 100 000 кристаллич. структур ( 15000 неорг., более 80000 орг. соед.)-от простых в-в до белков и вирусов. Источником эксперим данных о кристаллич. структурах служат дифракционные методы исследования, гл. обр. рентгеновский структхрный анализ, электронография, нейтронография. Мат. база К.-теория групп симметрии. Причины образования той или иной кристаллич. структуры определяются общим принципом термодинамики наиб, устойчива структура, к-рая при данных давлении и т-ре имеет миним. своб. энергию. [c.536]

Углы между связями определяют главным образом на основании спектроскопических исследований или дифракционных методов. Исследования вращательных спектров в микроволновой, инфракрасной, а также в видимой и ультрафиолетовой областях спектра часто позволяют определить моменты инерции. молекул, по данным о которых можно вычислить межъядерные расстояния и углы между связями. В гл. 8 уже было показано, как можно вычислить таким способом длину связи для двух-лто.мной молекулы. Дифракция рентгеновских лучей, электронов и нептроноз также позволяет получить данные о межъядерных расстояниях и углах между связями, как мы убедимся в гл. 30. Кроме того, сведения о симметрии могут быть получены из ис-гледований оптических свойств веществ, на основании данных [c.408]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология