Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Физические основы метода

    Физические основы метода магнитной дефектоскопии определяются тем, что магнитный поток, протекая по испытуемому [c.277]

    Физические основы метода. Физическая сущность разработанного авторами метода изоляции труб заключается в наложении определенной разности потенциалов между трубой и термопластичным порошкообразным материалом, переведенным в псевдоожиженное состояние. Предварительно поверхность трубы обрабатывается одним из известных способов, а затем нагревается до температуры, превышающей точку плавления полимерного материала, но лежащей ниже температуры деструкции. [c.109]


    Последовательно рассматриваются физические основы методов, схемы экспериментов и условия их проведения, анализируются возможности методов, их взаимосвязь н совместное использование для определения физических параметров молекул и веществ, приводятся примеры применения методов в химических исследованиях. [c.2]

    ГЛАВА VI ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МЕТОДОВ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ТЕХНИКА [c.135]

    Физической основой метода является уравнение (2.32), согласно которому X возрастает пропорционально концентрации ионов. Рассмотрим основы метода на примере титрования сильной кислоты НА сильным основанием ВОН  [c.103]

    Рассмотрим физические основы метода ЭПР. Прежде всего отметим, что магнитный момент парамагнитных частиц — векторная величина. В обычных условиях направления векторов беспорядочны. Однако во внешнем магнитном поле векторы Магнитных моментов частиц ориентируются относительно силовых линий (рис. 24). Число возможных ориентаций ограничено квантовыми условиями и равно 2/ Ч- 1. [c.55]

    Рассмотрим физические основы метода. Ядра атомов многих элементов имеют собственный магнитный момент, который является суммарным магнитным моментом протонов и нейтронов, входящих в состав данного ядра. Ядра разных изотопов одного и того же элемента отличаются числом нейтронов и поэтому имеют различные собственные магнитные моменты. [c.342]

    Теоретическая база современной химии представлена статьями об основных законах, понятиях и явлениях физической химии. Стремление изложить материал в доступной для читателя форме потребовало некоторого увеличения среднего объема статей по этой тематике по сравнению со средним объемом статей по Словарю в целом. То же относится к статьям, посвященным методам исследования и анализа, что связано с постоянно возрастающим значением этих методов в науке и промышленности акцент в таких статьях сделан не на физические основы метода, а на возможности его использования в химии. [c.5]

    Изучить физические основы методов, а также оборудование. [c.6]

    Для того чтобы представить себе настоящие и будущие возможности использования ЯМР в биологии и медицине, любой интересующийся этими проблемами врач или биолог должен быть знаком хотя бы с основами явления ядерного магнитного резонанса. Однако большинство соответствующих пособий написано в расчете на физиков и физико-химиков, и вследствие обилия математических формул и специального языка малопригодно для врачей и биологов. В настоящее время появился уже целый ряд обзорных работ по применению ЯМР-томографии для исследования определенных участков тела и определенных заболеваний, но они имеют, в основном, медицинскую направленность и лишь вкратце касаются основных положений ЯМР, а вопросы спектроскопии в них не рассматриваются вообще. С другой стороны, хотя для читателей с естественно-физическим образованием относительно легко понять физические основы метода ЯМР, им часто не хватает знания биологических и медицинских аспектов проблемы. [c.5]


    Рентгенографические исследования второго класса структур основаны на использовании специфического метода — метода рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. Подробное изложение метода и ряд приложений можно найти в работах Порай-Кошица и других авторов, в том числе доложенных на конференциях по исследованию высокодисперсных и пористых тел [1—4]. Поэтому в настоящей работе мы только вкратце остановимся на физических основах метода, уделив главное внимание последним достижениям в этой области. [c.199]

    Физической основой метода АЭ является акустическое излучение при пластической деформации твердых сред, развитии дефектов, трении, прохождении жидких и газообразных сред через узкие отверстия - сквозные дефекты. Эти процессы неизбежно порождают волны, регистрируя которые, можно судить о протекании процессов и их параметрах. Метод АЭ обладает рядом достоинств, благодаря которым расширяются возможности технической диагностики и неразрушающего контроля. [c.301]

    И. Е. Н е й м а р к (Институт физической хилши им. Л. В. Писаржевского АН Украинской ССР, Киев). Принцип и физические основы метода люминесцирующего молекулярного зонда, состоящие в исследовании электронных спектров излучения молекулы-зонда в адсорбированном состоянии, изложены в [1]. В качестве зонда могут выступать молекулы, спектры люминесценции которых при различных типах молекулярных взаимодействий хорошо изучены. Зондом-адсорбатом нами были избраны молекулы нафталина. В качестве адсорбентов использованы катионированные цеолиты типа фожазита, силикагель и аморфный Na-алюмосили-кат. Процесс адсорбции и снятие низкотемпературных спектров люминесценции проводились в условиях высокого вакуума. [c.172]

    Таиров Н. Д. Физические основы методов повышения нефтеотдачи глубокозалегающих пластов. Автореф. дис. на соиск. учен, степени докт. техн. наук. УНИ, Уфа, 1973, 37 с. [c.211]

    I. ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МЕТОДА АНАЛИЗА ТЕШЕРАТУРа ВСПЫШКИ НЕФТЕ1ТР0ДУКТ0В [c.5]

    ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МЕТОДА ДИЭЛКОМЕТРИЧЕСКОГО ТИТРОВАНИЯ Н5 [c.115]

    Физические основы метода диэлкометрического титрования [c.115]

    Таиров Н.Д. Физические основы методов повышения нефтеотдач глубокозалегающих пластов//Докторская диссертация - Уфа Уфимски нефтяной институт, 1973. [c.32]

    Физическую основу метода ИНДОР составляет обобщенный эффект Оверхаузера, обсуждавшийся выше, в котором распределение Больцмана для какого-либо определенного перехода в спиновой системе нарушается под воздействием второго поля Вг, и это проявляется как изменение интенсивности прогрессивно и регрессивно связанных линий. Эти изменения записываются с помощью регистрирующего поля В.  [c.323]

    Целью настоящего учебника является последовательное изложение основ теории и расчетных методов квантовой химии Упор делается на изложении лищь тех вопросов, которые получили в настоящее время широкое применение в практике физикохимиков, химиков, биологов и других специалистов, работающих с обьектами молекулярного мира Основное внимание уделяется физическим основам методов квантовой химии и разъяснению смысла вводимых при расчетах понятий С целью знакомства в ограниченных пределах с математическим аппаратом теории, авторы сочли необходимым конспективно изложить математическую сторону вопроса Чтобы сделать чтение понятным, изложению этого материала предшествует краткое математическое введение Разъясняются также некоторые основные понятия квантовой механики [c.7]

    Главным преимуществом СТМ является возможность получать изображения реальной поверхности с пространственным разрешением на уровне атомов и разрешением по глубине в субангстремном диапазоне. В физической основе метода лежит эффект туннелирования электронов, который рассматривает определенную вероятность прохождения электрона через энергетический барьер, когда его кинетическая энергия меньше высоты барьера. [c.370]

    Физические основы. Метод атомно-флуоресцентной спектроскопии (АФС) основан на оптическом возбуждении характеристического излучения атомов (рис. 14.61). С этой целью пробу анализируемого вещества превращают в атомный пар и облучают для возбуждения флуоресценщ1и таким излучением, которое поглощают атомы только определяемого элемента (длина волны излучения соответствует энергии электронных переходов этих атомов). [c.850]

    Физические основы. Метод атомно-ионизационного спектрального анализа (АИСА) основан на селективной ионизации атомов определяемого элемента и регистрации продуктов ионизации (ионов или электронов). Практическое применение метода началось только с появлением лазеров и во многом благодаря развитию методов лазерной спектроскопии. Селективность достигается за счет того, что ионизация осуществляется из высоковозбуяаденных состояний атома. В зависимости от способа атомизации анализируемой пробы и способа ионизации возбужденных атомов данный метод назы- [c.854]


    Спектроскоппя ядерного магнитного резонанса (ЯМР) на ядрах углерода С — относительно новый метод структурного анализа полисахарида. В его развитие видный вклад вносит школ 1 советских ученых-химиков, возглавляемая академиком Н. К. Ко четковым. Физические основы метода подробно изложены в многочисленных публикациях, в частности в капитальном обзоре А. С. Шашкова и О. С. Чижова [ИЗ], к которому мы отсылаем читателей, желающих ознакомиться с общими положениями спектроскопии ЯМР, в том числе на ядрах углерода С, и техникой эксперимента. Отметим только, что ири съемке спектров обычно применяется тотальный двойной резонанс с подавлением спин-спинового взаимодействия С с протонами. В связи с этим теряется информация, связанная со спин-спиновым взаимодействием — Н. Таким образом, в спектре С-ЯМР основную информацию дает положение резонансных линий, т. е. химический сдвиг. [c.77]

    Б. Рэтклиффа [306] в которых обобщен накопленный к середине 1960-х годов опыт теоретических и экспериментальных исследований, впервые продемонстрирована возможность практического использования явления акустозшруго-сти в технике как физической основы метода диагностики, обладающего приемлемой точностью. Были экспериментально измерены обусловленные приложенной нагрузкой изменения скорости продольных и сдвиговых волн частотного диапазона 1. .. 10 МГц в стали, алюминии, меди и некоторых других материалах вычислены УМТП поликристаллических конструкционных материалов предприняты первые попытки измерения остаточных напряжений в изогнутом бруске и деформированном диске. Главным достоинством этих работ следует признать детальный анализ трудностей, возникающих при ультразвуковом контроле напряжений, и реалистическую оценку перспектив развития нового метода диагностики. [c.18]

    Объем исследований, связанных с применением радиоактивных индикаторов, непрерывно возрастает. Между тем отечественная литература, посвященная общим и специальным вопросам метода радиоактивных индикаторов, представлена лишь сравнительно небольшим числом руководств и монографий (среди них, например, прекрасная для своего времени книга А. П. Ратиера [7]). Книги, вышедшие в последнее время [8-12], посвящены главным образом физическим основам метода и применению радиоактивных индикаторов лишь в отдельных областях химии. [c.4]


Библиография для Физические основы метода: [c.138]    [c.347]    [c.28]    [c.872]    [c.218]   
Смотреть страницы где упоминается термин Физические основы метода: [c.2]    [c.2]    [c.302]   
Смотреть главы в:

Физико-химические методы анализа 1988 -> Физические основы метода

Методы исследования структуры и свойств полимеров -> Физические основы метода

Методы и средства неразрушающего контроля качества -> Физические основы метода

Катализ Физико-химия гетерогенного катализа -> Физические основы метода

Высокочастотная безэлектродная кондуктометрия -> Физические основы метода

Методы оптической спектроскопии и люминесценции в анализе природных и сточных вод -> Физические основы метода

Физико-химические методы анализа 1988 -> Физические основы метода

Методы исследования структуры и свойств полимеров -> Физические основы метода




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Методы физические

Основы методов



© 2024 chem21.info Реклама на сайте