Плотность потока излучения

Закон Стефана — Больцмана. Закон определяет для абсолютно черного тела зависимость интегральной плотности потока излучения от температуры. Хотя искомое выражение для о определяется просто [c.192]

Плотность потока излучения, падающего на экран, Е (интенсивность освещенности или просто освещенность) изменяется вследствие отклонения лучей. Если через Ь обозначить яркость светового потока, то будет выполняться соотношение [c.31]

D. Излучение черного тела. Полость, окруженная стенками, имеющими температуру Т, заполнена излучением, находящимся в термодинамическом равновесии со стенками. Если сделать небольшое отверстие в стенке, то равновесие нарушится незначительно. Наблюдаемое излучение, выходящее из полости, называется черным излучением. Слово черное употребляется потому, что полость поглощает все входящее в отверстие излучение, ничего не отражая, и поэтому нри низкой температуре выглядит черной. Интенсивность излучения ь, выходящего из полости, изотропна излучение черного тела диффузно. Закон Стефана связывает интенсивность и плотность потока излучения черного тела с температурой соотношением [c.452]

Согласно закону смещения Вина максимум спектральной плотности потока излучения черного тела, определяемый условием А/ (Я,, Т) дХ=-0, соответствует фиксированному значению ХТ [c.453]

При прохождении через поглощающую среду потока фотонов степень их поглощения прямо пропорциональна плотности потока излучения и концентрации поглощающих частиц. Степень поглощения для монохроматического света единичным слоем с1х можно описать посредством уравнения [c.138]

Величину 9, (г) можно представить в виде разности двух плотностей потоков излучения, направленных в противоположные стороны . [c.21]

Плотность потока излучения от источника преобразуется блоком детектирования в статически распределенную последовательность импульсов, воспринимаемую блоком обработки информации БОИ-1. [c.253]

Через любой произвольный по площади элемент во Вселенной, который может находиться в поле зрения наблюдателя, распространяется с определенной скоростью энергия излучения. Эту энергию испускают материальные тела в результате тепловых н иных возбуждений молекул, входящих в их состав (тепловая лучистая энергия) сами атомы, составляющие отдельные молекулы, например при переходе из неустойчивых состояний в устойчивые (атомная лучистая энергия, космические лучи) излучатели радиоволн, рентгеновских лучей и т. д., изготовленные людьми. Всю эту энергию можно полностью описать, установив, какое ее количество проходит через элемент площади в единицу времени в каждом из участков спектра излучения. Энергия излучения, проходящая через единичный элемент площади за единицу времени, называется потоком излучения, реже — мощностью излучения в том случае, когда эта величина рассматривается для каждого участка спектра отдельно, ее называют спектральной плотностью потока излучения или спектральной плотностью мощности излучения. Задавая полное распределение спектральной плотности потока излучения, пересекающего данную площадку поля зрения в направлении к наблюдателю, физик полностью [c.47]

Номограммы составлены таким образом, что вычисленная по формуле (2,208) плотность потока излучения будет определять излучение, проходящее через единичную площадку из окружающей ее газовой полусферы, как это показано на рис. 2.36, а. В этом случае длина пути / по всем на- [c.201]

Связь между предельной температурой макс поверхности, облучаемой ИК-излуче-нием, плотностью потока излучения Еа и коэффициентом поглощения поверхности А [c.327]

Для расчета Р. з. определяют требуемую кратность ослабления излучения К = Ра/Р, где Р и Я-мощность дозы (или плотности потока излучения) в заданных точках, соотв. без защиты и допустимая (или необходимая). В случае непосредственно ионизирующего излучения (пучки электронов, протонов, а-излучение, др. заряженные частицы) Р. з. обеспечивается слоем любого материала толщиной более их пробега. Напр., при одинаковой энергии в 1 МэВ пробеги электронов, протонов и а-частиц в воде равны 4300, 22,5 и 5,8 мкм соответственно. Защиту от интенсивных потоков электронов и р-излучения рассчитывают с учетом образующегося в источнике и защитном материале тормозного рентгеновского излучения. В случае косвенно ионизирующего излучения (у- и рентгеновское излучения, поток нейтронов) учитывают энергетич. спектр, угловое и пространств, распределение излучения, геометрию источника (точечный, протяженный, объемный) соответственно выбирают конструкцию защиты (геометрию, состав защитного материала, толщину его слоя и т.д.). [c.149]

Основное усиление сигнала, несущего информацию о распределении плотности потока теплового излучения от контролируемого объекта, осуществляется линейным усилителем У, выходные сигналы с которого поступают на сумматор СМ1. На другой вход сумматора СМ1 подается серия пилообразных импульсов от блока формирования шкалы температур ШТ, позволяющих получить, например, в нижней части растра полосу, яркость свечения которой соответствует линейному изменению температуры. Помимо этого для получения сложных синтезированных изображений на сумматор могут Подаваться сигналы и с других устройств и блоков. Таким образом сумматор СЛ 1, формирует видеосигнал, обеспечивающий получение основного изображения с яркостной отметкой, где наибольшая плотность потока излучения соответствует наиболее яркому свечению экрана электронно-лучевой трубки ЭЛТ (позитивное изображение). Результирующий сигнал, заполняющий все время кадра с выхода сумматора СМ поступает на блок формирования изотерм ИТ и на сумматор СМ (в положении 1 переключателя ПР). [c.203]

В диапазоне длин волн Ху. .. Х2 поверхностную плотность потока излучения К(Т, е ), выраженную в Вт/м , определяют по формуле [c.184]

В диапазоне всех длин волн О. .. оо поверхностная плотность потока излучения выражается законом Стефана-Больцмана для АЧТ [c.184]

Узкий (коллимированный) пучок тормозного или у-излучения сканирует по контролируемому объекту, последовательно просвечивая все его участки (рис. 1). Излучение, прошедшее через контролируемый участок, регистрируется детектором, далее преобразуется в электрический сигнал, пропорциональный интенсивности (плотности потока) излучения, падающего на детектор. [c.103]

Принцип действия сканирующих систем с бегущим лучом основан на использовании узкого (коллимированного) пучка ионизирующего излучения, который сканирует объект, последовательно просвечивая все его участки. Излучение, прошедшее через исследуемый участок объекта, регистрируется детектором и преобразуется в электрический сигнал, пропорциональный интенсивности (плотности потока) излучения, падающего на детектор. [c.182]

Суммарную плотность потока излучения АЧТ в зависимости от его температуры определяет закон Стефана - Больцмана (получаемый интефированием закона Планка) [c.531]

Н — плотность потока излучения, падающего на поверхность, Вт/м [c.85]

Н — плотность потока излучения, падающего на поверхпость. Если падающее излучение есть излучение черного тела, то уравнение можно переписать в виде [c.112]

Таким образом, для системы нз N диффузно-серых поверхностей, образующих замкнутую область, плотность потока излучения, теряемого 1-й поверхностью, определяется уравнением [c.113]

Плотность потока излучения ф — число частиц, пересекающих в единицу времени единичную площадку, расположенную под прямым углом к направлению падения излучения [c.26]

С, Интенсивность и плотность потока излучения. Интенсивность излучения описывает распределение по направлениям плотности потока излучения, проходящего через поверхиость 5. Плотность потока излучения можно разделить иа две части 1лотность эффективного (направленного от среды 2) потока и плотность падающего на среду 2 потока ц . Для обозначения употребляются также символы. / и В, для q —С и И. Результирующая плотность потока [c.451]

Для примера вычислим плотность потока излучения от бесконечно длинного стержня диаметром 2,5 см, падающего на ближайший элемент стенки, распололсеиной параллельно стержню и удаленной от него на 10 сы. Стержень диффузно излучает 1850 Вт/м. Если интенсивностью излучения окружаюш,ей среды можно пренебречь но [c.452]

Радиометры предназначены для измерения активности радиоактивных веществ, плотности потока ионизирующего излучения, удельной объемной и поверхностн ой активности. Их измеряют в следующих единицах беккерель (Бк) или кюри (Ки) — для определения активности частицы/(м2-с) или частицы/(см2- с)—для определения плотности потоков излучений Бк/м или Ки/см Бк/м или Ки/см Бк/кг или Ки/г — соответственно для измерения объемной поверхностной и массовой активности. [c.149]

На фиг. 11 показана функция 1 ]1(т]о, 6/61), соответствующая формуле (34), при различных значениях параметра 6/61. Если в формуле (33) ЬфО, то при встречающихся на практике значениях Ь кривые на фиг. 11 изменятся незначительно. На фиг. И показана связь координаты пограничного слоя т]о = (/о/б с экранной координатой т ,1 = 1 1/б1. Согласно (28), плотность потока излучения, падающего на экран, Е (освещенность), зависит от наклона 8с1-г]а/81(1ц1 и принимает бесконечно большое значение при с1-Ц1/(1г а = 0 независимо от значения параметра 6/61. Другими словами, координаты каустической линии иа теневом изображении т]1 соответствуют тем точкам кривых S/Sl = onst (фиг. 11), в которых касательная горизонтальна. [c.33]

Характер процессов, развивающихся при взаимодействии лазерного пучка с поверхностью вещества в твердой фазе [9, 11, 25, 27, 47], определяется плотностью потока излучения д, которую можно изменять в широких пределах (от 10 до Вт см ). При плотности потока лазерного излучения выше порогового значения поглощенная веществом энергия превышает энергию связи атомов и энергию ионизации, в результате чего слой облучаемого вещества превращается в плазму [9, 27]. Сильно ионизированная плазма экрашфует поверхность, поглощает поступающее лазерное излучение, что приводит к ее значительному разогреву. Из-за большого градиента давления вещество выбрасывается с облученной поверхности, и происходит газодинамическое расширение плазменного сгустка. Одним из важных параметров лазерной плазмы является электронная температура Ге, которая пропорциональна плотности лазерного излучения 7 с = [63]. Так, абсолютное значение электронной температуры в лазерной плазме в диапазоне плотности потока излучения 10 -10" Вт см изменяется от 10 эВ до 100 эВ. При этом электронная плотность лазерной плазмы составляет = Ю сма плотность нейтральных атомов = 10 см . Этот метод ионизации — неселективный, и он не зависит от длины волны лазерного излучения [27]. Используются в основном два варианта этого метода а) лазерный микрозондовый анализ и б) облучение пробы несфокусированным лазерным пучком (около 1 мм ). В втором случае плотность энергии излучения составляет 10 -10 Вт см при длительности 5-50 НС., что дает возможность применять для анализа ионов времяпролетный масс-анализатор. [c.851]

По характеру взаимодействия с контролируемым объектом основным способом радиационного (рентгеновского и гамма) контроля является метод прохождения, Он основан на разном поглощении излучения материалом изделия и дефектом. Таким образом, информативным параметром здесь является плотность потока излучения в местах утонений и дефектов плотность прошедшего потока возрастает. Чем больше толщина изделия, тем более высокочастотное (более жесткое) излучение применяют для контроля рентгеновское, гамма (от распада ядер атомов), жесткое тормозное (от ускорителя электронов бетатрона, микротрона, линейного ускорителя). Предельное значение толщины стали, контролируемое с помощью излучения последнего типа,— около 600 мм. Приемником излучения служит, например, рентгенопленка (радиографический метод), сканирующий сцинтилляционный счетчик частиц и фотонов (радиометрический метод), флуоресцирующий экран с последующим преобразованием изображения в телевизионное (радиоскопи-ческий метод) и т. д. [c.16]

Полупроводниковые приборы с р-л-переходом также могут применяться для преобразования тепловых излучений в электрические сигналы. К таким приборам относятся [15] фотодиоды (ФД-3, ФДК-1 и др.) и фототранзисторы. Однако имеющиеся в настоящее время фотодиоды и фототранзисторы охватывают небольшую область инфрэ1срасных излучений и эффективны в оптическом и прилегающем к нему диапазоне волн. Так, красная граница германиевого диода ФД-3 1к=1,8 мкм, а у кремниевого диода ФДК-1 Як = = 1,1 мкм, их постоянная времени составляет 10 мкс, а чувствительность 25 и 5 мА/лм соответственно. Метрологические характеристики фотодиодов и фототранзисторов невысоки, поэтому их применение ограничено обычно использованием в устройствах автоматики при достаточно большом значении плотности потока излучения. [c.183]

Смотреть страницы где упоминается термин Плотность потока излучения: [c.142] [c.142] [c.142] [c.258] [c.451] [c.470] [c.475] [c.510] [c.516] [c.193] [c.180] [c.598] [c.598] [c.598] [c.31] [c.48] [c.183] [c.184] [c.182] [c.112] [c.112] [c.160]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология