Мощность излучения

Все нагретые тела независимо бт их агрегатного состояния испускают излучение, называемое тепловым или температурным. Это излучение происходит в виде спектра частот хаотически, несогласованна во времени и пространстве, т.е. некогерентно. Мощность излучения с1Ф с элементарной площадки Д5 в телесном угле i Q, составляющем угол О с направлением нормали к площадке, равна [c.91]

Общая мощность, излучаемая точечным источником света, 1 вт. Определить мощность излучения, проходящего через прямоугольное отверстие (высота 15 мм, ширина 200 мк) в экране, расположенном перпендикулярно к световому лучу на расстоянии 40 см от источника света. [c.27]

Сила фототока зависит от чувствительности фотоэлемента q, выражаемой в А/лм. У селеновых фотоэлементов она колеблется от 4,00-lO до 4,50-10- А/лм. Определив мощность излучения по силе фототока и зная энергию кванта данной длины волны, мы можем найти число квантов, попадающих на фотоэлемент в единицу времени. [c.272]

Активирующее действие УФ-лучей на чыс-транс-изомеризацию олефинов (см. гл. 3) побудило Азингера исследовать влияние облучения и на структурную изомеризацию под действием карбонилов металлов [43]. Оказалось, что при комнатной температуре без облучения изомеризация отсутствует, а если применять УФ-облу-чение, то в зависимости от мощности излучения за 5 ч степень превращения может достигать 25—90%. Имеются и другие работы [1, 44], Б которых убедительно подтверждено активирование изомеризации олефинов УФ-лучами. [c.107]

Мощность излучения, отнесенная к единице поверхности излучателя, называется плотностью излучения (в Вт/м ) [c.27]

Спектральную плотность излучения, отнесенную к рассматриваемому интервалу длин волн, называют полусферической интенсивностью излучения и она показывает, насколько велика мощность излучения (в Вт/м ) при данной длине волны [c.27]

Мощность излучения Ы, проходящего через какую-либо поверхность, называется лучистым потоком, а мощность, излучаемая элементом поверхности в полупространстве, — полусферическим лучистым потоком. [c.58]

Если в цех приносят ампулу с изотопом для помещения ее в аппарат, то работники цеха должны отойти от аппарата на некоторое расстояние, чтобы не подвергать себя облучению. Принимаются меры предосторожности для предотвращения выпадения ампулы из контейнера или аппарата. Если это случится, то немедленно удаляют всех работников из зоны облучения, а затем при помощи специальных щипцов с удлиненной рукояткой и с применением защитного экрана вкладывают обратно ампулу в место ее хранения или применения. Нельзя сдавливать ампулу, чтобы не нарушить ее герметичность или раздавить. В аварийных случаях, когда целостность ампулы нарушена, принимают специальные меры, в том числе ограждение опасной зоны знаками радиационной опасности (рис. 18) с таким расчетом, чтобы за пределами зоны мощность излучения не превышала допустимой нормы. Конечно, все работы с ампулами производят специально обученные работники, снабженные средствами индивидуальной защиты. [c.86]

Используя приведенные выше уравнения, можно получить выражение для средней мощности излучения (интенсивность на поверхности огневого шара) [c.180]

Закон Ламберта утверждает, что мощность излучения, испускаемого с поверхности в данном направлении на единицу телесного угла и единицу площади проекции поверхности, на плоскость, нормальную направлению излучения (а не самой поверхности), есть величина постоянная. Такая величина называется интенсивностью излучения. Диаграмма распределения интенсивности света по углу излучения для источника Ламберта является полукругом. [c.193]

Интенсивность спектральной линии или мощность излучения при переходе атомов из одного энергетического состояния в другое определяется числом излучающих атомов N1 (числом атомов, находящихся в возбужденном состоянии ) и вероятностью Л<,с перехода атомов из состояния 1 в состояние к [c.54]

Значения относительной видности Ух для двух длин волн к и Яг обратно пропорциональны мощностям излучения Wh и [c.271]

Импедансный метод основан на изменении режима колебаний преобразователя под влиянием изменения механического импеданса 5н ОК в зоне контакта с преобразователем. Структурная схема импедансного дефектоскопа показана на рис. 3.25. Преобразователь представляет собой стержень 5, на торцах которого размещены возбуждающий колебания 2 и измерительный 6 пьезоэлементы. Между ОК 11 и пьезоэлементом 6 находится контактный наконечник 9 со сферической поверхностью. Пьезоэлемент 2 соединен с генератором 4 синусоидального электрического напряжения, пьезоэлемент 6 — с усилителем 10. Масса 3 повышает мощность излучения в стержень 5. Генератор и усилитель соединены с блоком 7 обработки сигнала с индикатором 8 на выходе. Блок 7 управляет сигнальной лампочкой 1 и самописцем (на рисунке не показан), регистрирующим дефекты при использовании прибора в системах механизированного контроля. [c.226]

Мощность излучения W, в свою очередь, определяет световой поток Ф в люменах (лм). За 1 люмен принят световой поток, испускаемый точечным источником в телесном угле, равном одному стерадиану (ср), при силе света 1 кандела (кд). Один ватт излучения с длиной волны 555,0 нм соответствует световому потоку в 650 лм, т. е. спектральная световая эффективность Ф>, = = 650 лм/Вт. Величина 1/650 Вт/лм называется механическим эквивалентом света. [c.272]

При данной силе тока на фотоэлемент попадает световой поток ф = 1,0-10 /4,50-Ю — 0,222 лм следовательно, мощность излучения, падающего на фотоэлемент [c.272]

АКТИВАЦИЯ МОЛЕКУЛ (в химической кинетике) — приобретение молекулами средней энергии, превышающей среднюю энергию молекул, находящихся в неактивном состоянии, с тем, чтобы молекулы могли преодолеть потенциальный барьер, обусловленный взаимным отталкиванием несвязанных атомов и мешающий им вступать в реакцию. А. м. происходит при нагревании, влиянии катализатора, при увеличении концентрации, электрического разряда, потенциала электрода (в электрохимических реакциях), интенсивности света (в фотохимических процессах), мощности излучения (в радиационно-химических реакциях), действии ферментов в биохимии и т. д. А. м.—одно нз важнейших понятий химической кинетики, т. к, она существенно влияет [c.13]

Характер процессов обусловлен величиной поглощенной энергии, а доза энергии — количеством поглощенной энергии в единицу времени, т. е. мощностью излучения. Рассматриваемые реакции протекают при непрерывном поступлении энергии в систему поэтому в ней концентрации промежуточных и конечных продуктов неравновесны. [c.144]

Принципиальная схема прибора для изучения магнитного резонанса (спектрометра магнитного резонанса) представлена на рис. 63. Основные элементы прибора а) магнит, создающий постоянное магнитное поле, величину которого (магнитную индукцию В или напряженность поля Н) можно изменять в некоторых не очень широких пределах между полюсами магнита помещают исследуемый образец б) генератора электромагнитных колебаний определенной частоты, соответствующей типу исследуемых частиц, т. е. удовлетворяющей условию (10.8) в) устройства для регистрации мощности излучения, поглощаемой образцом. Прибор позволяет записать мощность излучения, поглощаемую образцом, как функцию напряженности магнитного поля. Эта функция называется спектром магнитного резонанса. [c.157]

При попадании на фотокатод квантов света появляются электроны, которые устремляются к положительно заряженному аноду, и в цепи появляется электрический ток, создающий на сопротивлении Н разность потенциалов, которую можно измерить различными средствами электроники. Количество образовавшихся электронов пропорционально количеству квантов света, т. е. количеству падающего излучения. Поскольку электрический ток — это число электронов в единицу времени, то он пропорционален числу падающих квантов света в единицу времени, т. е. мощности излучения. Эта характеристика отличает данный метод от фотографического, где важна суммарная энергия, достигшая фотоэмульсии. [c.26]

Пучок ла ерного излучения имеет малый угол рас ходимости. Мощность излучения, приходящаяся на единицу телесного угла, может быть настолько высока, что будет превосходить мощности всех других источников излучения. Поскольку лазерный пучок близок к параллельному, то его можно сфокусировать с помощью [c.74]

Значение тока I пропорционально количеству попавших на катод квантов излучения в единицу времени, т. е. пропорционально мощности излучения. При фотографической регистрации спектра энергия падающего на фотоэмульсию излучения пропорциональна количеству образовавшегося металлического серебра, которое пропорционально оптической плотности участка фотоэмульсии, подвергшегося облучению. Значение оптической плотности определяют с помощью фотоэлектрического приемника, применяя дополнительный источник света. [c.78]

Высокая пиковая мощность излучения, порядка нескольких десятков киловатт, в спектральной линии. [c.133]

Во-первых, плотность мощности излучения источника должна быть достаточной для достижения этого режима. [c.136]

Лазеры, у которых в качестве вещества для активной среды используются нейтральные атомы типичный представитель — ге-лий-неоновый (Не-Ые) лазер, который используется для получения излучения с длиной волны 633 нм. Ширина линии генерации составляет 1700 МГц. Гелий-неоновый лазер может также давать генерацию и на других длинах волн, соответствующих атомным переходам в атоме неона. Наряду с гелий-неоновым лазером существуют газовые лазеры с использованием других нейтральных атомов, включающих большинство инертных газов (Не, Ые, Кг, Аг, Хе) кроме того, применяются такие вещества, как Ь, СЬ, Нд. Длины волн и мощности излучений этих лазеров можно найти в специальной литературе. [c.193]

Лазеры, в которых в качестве активной среды используются ионы атомов наиболее популярен лазер, в котором генерация возникает на атомных переходах в ионе аргона (Аг+). Это так называемый аргоновый лазер. Наибольшая интенсивность генерации соответствует линиям с Я = 488 нм и Х = 514,5 нм. Типичным примером является лазер, в котором в качестве активной среды используются пары кадмия (Сс1). Генерация обусловлена атомными переходами в ионе атома кадмия (Сс1+). Наибольшая интенсивность достигается при Я. = 441 нм и 1 = 325 нм. Типичные значения мощности излучения достигают нескольких ватт. Имеется много веществ (Зп, Р Ь, Сс1, 8е), при использовании которых наблюдается генерация на переходах в ионах атомов соответствующих элементов. [c.193]

Работу ДЭЗ существенно ухудшает загрязнение поверхности источника анализируемыми веществами или парами жидкой фазы, так как это уменьшает мощность излучения и меняе фоновый ток детектора. [c.66]

Рис. 14 иллюстрирует влияние мощности излучения у-квантов и концентрации Ре (СО) 5 на результаты изомеризации гептена-1. При мощности до 6-Ю з эВ/(см -ч) и концентрации карбонила 1 % (мольн.) активируется процесс изомеризации последующее увеличение мощности жесткого излучения приводит, видимо, к опережающему разложению карбонила, Из рис. 15 видно, что реакция приводит к преимущественному образованию транс-тоие-ров отношение транс-1цис- растет в ходе реакции и превышает 3. Изучение влияния реакционной среды показало, что воспроизводимые результаты получаются лишь в том случае, если в реакционной системе отсутствуют следы кислорода и водяных паров [c.108]

Единицей измерения телесного угла является стерадиан, подобно тому, как угол на плоскости измеряется в радианах. Интенсивность /+ представляет собой мощность излучения, при <одящуюся на единицу поверхности и на [c.451]

Наиболее широко для нейтронно-активационного анализа в настоящее время используются радиоизотопные источники, например °Ро - Ве. При этом Ро испускает а-частицы с энергией 5,3 МэВ, которые взаимодействуют с ядрами бериллия с образованием нейтронов с энергией от долей электроновольта до 11,3 МэВ Плотность потока нейтронов обьргно составляет 10 нейтрон/(см2 с). Вьшускаются также источники с мощностью излучения и (10 - Ю ) нейтрон/(см2 с). Их недостатком является относительно малый срок службы, поскольку период пoлypa пa yl Ро равен 138 сут Для активационного анализа применяют также исг( чники Ра - Ве, - Ве, - Ве и ряд других. Вследствие малой мощ- [c.312]

Установим теперь количественное соотношение между мощностью лучистой энергии, попадающей на фотоэлемент, и силой фототока. Мощность излучения зависит от его спектрального состава. Для сравнения мощности лучистой энергии различных длин волн пользуются относительной видностью однородных излучений У. Глаз человека наиболее чувствителен к свету с длиной волиы 555 нм. Если принять эту чувствительность за единицу, то чувствительность к свету других длин волн выразится величинами приведенными на рис. ХХП. 2 и ниже [c.271]

Формула (19.15) имеет общий характер для ЭПР. Для отдельного электт рона = 5.) На этом явлении и основан метод ЭПР при постоянной частоте электромагнитного излучения и 2иедленном изменении внешнего магнитного поля регистрируется изменение поглощаемой в образце мощности излучения. В применяемых спектрометрах ЭПР автоматически регистрируется интенсивность поглощения или ее производная-как функция напряженности статического магнитного поля (рис. 29). Обычно в спектрометрах ЭГ[Р при напряженности Н = 3200 эрстед (1 эрстед = 1000/4 л А/м) явление резонанса наблюдается при частоте излучения V 900МГц (Х. = 3 см), т. е в радиочастотной области (радиоспектроскопия). По интенсивности полосы в спектре ЭПР можно судить о концентрации частиц с неспаренными спинами электронов в веществе. [c.77]

Интенсивность. Под интенсивностью спектральной линии в спектре ислускапня обычно понимают энергию, переносимую излучением в е ии1Н1у времени. Наиболее часто понятие интенсивности спектральной линии, наблюдаемой н спектре испускания, отождествляют с понятием яркости источника излучения. Яркость — это мощность излучения, испускаемая источником света в единицу телесного угла с единичной площадки, расположенной перпендикулярно направлению наблюдения (рис. 1.3). При фотографической регистрации излучения под интенсивностью понимают меру почернения фотоэмульсии, при фотоэлектрической — величину электрического сигнала. [c.12]

При использовании лазерного излучения большой мощности может возникнуть явлепне оптического насыщения перехода, т. е. явление, когда число переходов в атоме с нижнего уровня на возбужденный под действием квантов света источника возбуждения окажется равным числу переходов с возбужденного на нижний, возникающих как за счет спонтан]1ого излучения, так и за счет стимулированного излучения с возбужденного уровня. Таким образом осуществляется максимально возможное число оптических переходов между двумя энергетическими уровнями. Дальнейшее увеличение мощности излучения источника света не мо- [c.135]

Особенностью режима насыщения является также и то, что условие N] = 2 сохраняется, если мощность излучения, падающая на систему, будет превышать мощность, необходимую для насыщения. Это означает, что заселенность возбулсденного состояния перестает зависеть от мощности падающего излучения, иными словами, и от флуктуаций падающей мощности. Это улучшает отношение сигнала к шуму. [c.192]

В качестве примера лазера на электронно-колебательно-вращательных переходах отметим лазер на молекуле N2 (азотный лазер), который генерирует на длине волны к = 337 нм. Мощности излучения составляют от десятка киловатт до мегаватт, Другим примером являются эксимерпые лазеры, т. е. лазеры на молекулах, у которых нижним электронным состоянием лазерного перехода является состояние, обладающее отталкивательной кривой потенциальной энергии. Наиболее распространепнымн являются экси-мерные лазеры, в которых атомы благородных газов (например, Аг, Кг, Хе) смешиваются с атомами галогенов (нанример, Р, С1). [c.193]

AgBr> — кристалл, в котором прошли элементарные акты распада AgBr. на Ag" и Вг° последний растворяется в желатине. Количество активных центров Ag° зависит от мощности излучения — количества квантов за единицу времени. [c.389]

Прикладная ИК-спектроскопия (1982) -- [ c.18 ]

Прикладная ИК-спектроскопия Основы, техника, аналитическое применение (1982) -- [ c.18 ]

Цвет в науке и технике (1978) -- [ c.47 , c.508 ]

Теплопередача (1961) -- [ c.88 , c.89 , c.96 , c.105 , c.106 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология