Фотометрирование рентгенограмм

При обработке рентгенограмм аморфных веществ производится фотометрирование рентгенограммы и затем строится кривая зависимости интенсивности дифрагированных лучей от угла 0, Дальнейшие расчеты проводятся по так называемому методу радиального распределения. Используя этот метод, получают кривую радиального распределения (рис. 24), которая показывает, как меняется плотность по мере удаления от какого-либо данного атома. Положение первого пика на кривой соответствует расстоянию этого атома до ближайшего соседнего атома, а площадь кривой под этим пиком пропорциональна числу соседей. Как видно из рис. 24, второй пик гораздо шире. [c.104]

На рис. 11.141 показаны кривые зависимости интенсивности рассеяния рентгеновских лучей в стеклах от угла, полученные после микро-фотометрирования рентгенограмм [106]. На рис. 11.142 представлены [c.214]

Указанными соображениями необходимо руководствоваться при выборе объективов и размеров измерительной щели при фотометрировании рентгенограмм. [c.47]

Р и с. 58. Определение соотношения между кристаллической и аморфной частями полимера рентгенографическим методом. Результаты фотометрирования рентгенограмм полиэтилена. [c.256]

Для образца со степенью ориентации 300—500 % получают рентгенограмму по методике, описанной в работе VI. 2. Полученную рентгенограмму фотометрируют на микрофотометре с помощью приставки, позволяющей вращать рентгенограмму вокруг центра в горизонтальной плоскости. На экваторе рентгенограммы выбирают интенсивную дугу, расположенную возможно ближе к пятну от первичного пучка. Вращая рентгенограмму, измеряют по визуальной шкале изменение интенсивности прошедшего через рефлекс пучка света, причем измерения проводят через каждые 5°. Поскольку почернение дифракционного пятна определяется не только рассеянием рентгеновских лучей упорядоченно расположенными областями, но и некогерентным рассеянием, то фон, им обусловленный, необходимо исключить. Распределение фона на пленке от центра к периферии определяют фотометрированием по радиусу рентгенограммы в направлении, в котором отсутствуют рефлексы, обусловленные когерентным рассеянием. Фотометрирование по кругу и меридиану обязательно проводят при одинаковой настройке прибора. Почернение собственно дифракционного пятна в каждой точке дуги Еп рассчитывают по формуле [c.194]

На рис. VI. 24 приведены кривые фотометрирования по кругу и радиусу рентгенограммы. Значения /р + ф отсчитывают от темповой отметки до фотометрической кривой. Темповая метка соответствует интенсивности света, прошедшего через непрозрачное место пленки, и практически равна нулю. Для нахождения /ф под кривой фотометрирования по радиусу проводят плавную линию FF, которая и определяет фон рентгенограммы (рис. VI. 24,6). По условию фотометрирования /ф равна отрезку ВО. Пересчитав интенсивности прошедшего через рефлекс света на почернение Еп по формуле (VI. 9), строят кривую зависимости — ф (рис. VI. 25, а). Пло- [c.194]

Для обработки рентгенограмм аморфных веществ проводят фотометрирование и затем строят кривую зависимости интенсивности дифрагированных лучей от 0 (угла Брега). Дальнейшие расчеты проводят по методу радиального распределения, которое показывает, как изменяется плотность по мере удаления от данного атома. [c.88]

Для расчета кривых распределения частиц по углам мы определяли относительные значения плотностей собственно рентгеновского почернения по дебаевскому кольцу. С этой целью рентгенограммы, кроме кругового фотометрирования, фотометрировались на той же пластинке и при той же чувствительности электрометра, еще по радиусу этого же круга в том месте, с которого начиналось фотометрирование по кругу. При этом на пластинку наносится еще темповая метка. Расчет микрофотограмм основан на следующем. На рис. 1 АВ — темновая метка, А В — световая метка. Предположим, что значение /(, соответствует полной интенсивности прошедшего света, попавшего на пластинку. Точки С и О соответствуют значениям плотностей [c.20]

Оказалось, что электронограммы растянутых пленок гидратцеллюлозы и коллоксилина ничем не отличаются от электронограмм нерастянутых пленок . На интерференционных кольцах в электронограммах растянутых пленок не появляется текстуры, в то время как на рентгенограммах препаратов гидратцеллюлозы, растянутых при таких же условиях, наблюдается ясно выраженная картина ориентации. На рис. 1 для характеристики текстуры растянутой гидратцеллюлозы даны результаты фотометрирования интерференционных колец 1 — распределение интенсивности по кольцу с (I = = 4,6 А на электронограмме ж 2 распределение интенсивности по кольцу на рентгенограмме изотропной гидратцеллюлозной нити, растянутой на 12% . [c.42]

Правильность установки камеры в течение всей экспозиции контролируется сравнением интенсивностей соответствующих линий на диффракционных картинах, получаемых от общего образца 7 (никелевой или алюминиевой фольги), облучаемого пучками, вышедшими из камеры. При небольшой разнице интенсивностей, установленной фотометрированием контрольного снимка, в основную рентгенограмму вносятся соответствующие поправки. [c.46]

Рентгенограммы для фотометрирования и обработка результатов [c.50]

Подобрать режим и условия фотометрирования и снять фотометрическую кривую рентгенограммы деформированного (состаренного) и отожженного металла. [c.50]

Для фотометрирования следует взять две рентгенограммы так, чтобы на одной из них отношение интенсивностей (оцениваемых по высоте максимума или по площади пика линий сравнения) было больше единицы, а на другой — меньше единицы. [c.117]

Получить две пары рентгенограмм при двух различных углах сходимости р и р". Выбрать на одной паре рентгенограмм по два-три следа одних и тех же рефлексов произвести фотометрирование и взять среднее отношение почернений 51/5г = т /т.2. [c.141]

Рис. 52. Радиа.пьное фотометрирование дуги XX вдоль направлений ОА, ОВ, ОС на рентгенограмме волокна дает распределение ориентаций данной плоскости кристалла.

Приборы рентгеновский аппарат типа УРС-0,1, рентгеновская камера с плоской кассетой, рамка для растяжения образца, миJ poфoтoмeтp типа МФ-4 с приставкой для фотометрирования рентгенограмм по кругу. [c.194]

Способность к молекулярной ориентации резин из некристал-лпзующихся каучуков исследовалась затем Лукиным . При растяжении таких резин относительная интенсивность аморфного гало на рентгенограммах перераспределяется, в результате чего возникают текстуры. Появление текстур на аморфном гало является свидетельством ориентации участков молекулярных цепей под действием внешнего напряжения. После фотометрирования рентгенограмм по двум взаимно перпендикулярным направлениям—по экватору и меридиану—степень ориентации определялась по формуле ф=а/й—1, где ф—степень ориентации, изменяющаяся от О для нерастянутых образцов а=Ь) до с э (предельная ориентация) а—интенсивность аморфного гало по экватору, Ь—по меридиану. [c.154]

ХЛОПКОВОГО волокна микрофотометрической кривой интенсивности почернения по кольцу, Сиссон и Кларк вместе с тем пытаются оценивать ориентацию какими-либо параметрами, характеризующими кривую фотометрирова-ния. Однако все предлагаемые ими параметры, как то фактор суммирования косинусов, высота модульной части кривой, или медиана (срединный угол), имеют реальный смысл лишь в том случае, когда кривая распределения выражается одинаковой функцией для любого волокна. В работе Хоземана [И] сделано предположение, что кривая распределения представляет собой функцию распределения Гаусса. Однако автор не приводит никаких данных о применимости функции Гаусса к полученным им кривым фотометрирования рентгенограмм производственных образцов волокна. [c.20]

Рентгеноструктурный анализ проводился на установке УРС 70-К1 методом порошка на Ее — Ка-излучении в рентге ювской камере типа РКД, РКУ-114 и РВС-143. Фотометрированне рентгенограмм выполнялось на микрофотометре МФ-4. [c.199]

На рис. 65 показана зависимость ширины интерференциальных линий железа (310) а от времени микроударного воздействия для образцов из углеродистой и аустенитной стали. Результаты были получены на основании двукратного, а в некоторых случаях и трехкратного фотометрирования рентгенограмм для каждого состояния образца. Данные рентгенограмм показывают, что в результате микроударного воздействия увеличивается ширина интерференционных линий вследствие роста напряжений П рода и измельчених блоков структурной мозаики. Ширина линий (310) а особенно увеличивается в начальный период микроударного воздействия затем происходит некоторая стабилизация в изменении [c.108]

Фотометрирование рентгенограмм показывает, что имеет место уширение линии примерно на 25%, т. е. процесс релаксации ПП в результате механического воздействия сопровождается уменьшением размеров структурных элементов сферолитов. При дальнейшем измерении выше температуры,--соответствующей максимуму механических потерь, не наблюдалось каких-либо изменений структуры. Когда крупносферолитные структуры помещаются в механическое поле, происходит накопление внутренних напряжений и их неравномерное распределение. При достижении определенной температуры макроструктура перестраивается, что приводит к образованию более мелких надмолекулярных структур. [c.32]

Фазовый анализ рентгенограмм образцов окисленных плавленых катализаторов показал наличие в них РеО и РсдОд или -РеаОз. Добавки промоторов А12О3 и КаО к невосстановленным окисям ведут к образованию твердых растворов шцинельного типа. Определение величины дисперсности невосстановленного катализатора явилось довольно кропотливой работой, вследствие того что катализатор в этом состоянии обладает большой твердостью и только после ряда операций (после чередования много кратного просеивания образцов через специальные сита с посл дующим растиранием) удалось получить рентгенограммы со сплошными линиями, пригодные для фотометрирования. [c.153]

ДЛЯ сравнения рентгенограмму железа Армко, снятую для точности в той же самой камере. Фотометрированные линии на рентгенограммах отмечены стрелками (рис. 2, ж и 2, к). Значения р OSO/X для различных и X оказались постоянными, и, следовательно, расширение линий объясняется мелкокристаллнчностью образца. [c.17]

Рентгенограммы, подлежащие фотометрированию, должны экспонироваться без передержек и проявляться особо тщательно, чтобы эмуль сионпый слой не стал крупнозернистым и не был поврежден. [c.50]

Дебаеграммы следует фотометрировать по средней линии пленки или по радиусу интерференционного кольца. Рентгенограммы, снятые в камерах с фокусировкой, необходимо фотометрировать в направлении наилучшей фокусировки. Рентгенограммы, снятые в камере КРОС, следует фотометрировать по радиусу, а если съемка проходила без вращения пленки, то фотометрирование проводят в одном и том же месте кольца для устранения влияния фокуса трубки на ширину линии. [c.50]

Для определения средней величины первичных кристаллов палладия была измерена ширина каждой линии в том месте, где интенсивность понижается до половины максимальной величины. На микрофотометри-ческой кривой I рис. 1 полуширина первой линии представлена стрелкой. Так как фотометрирование линий 022, ИЗ и т. д. на рентгенограммах катализаторов № 2 и 3 оказалось невозможным вследствие малой интенсивности, то на рис. 1 даны только первые линии, которым соответствуют индексы 111 и 002. На рентгенограмме катализатора № 1 удалось профотометрировать три линии соответствующие величины Ъ приведены в табл. 2. [c.101]

Германе и Уейдингер [40] методом рентгенографии с помощью экспериментального приема Гоппеля[38] нашли содержание кристаллической части в неориентированных образцах найлона 66 равным 50—60%. Эти величины нужно рассматривать как очень приближенные, так как, несмотря на сделанные поправки на рассеяние в воздухе и на некогерентное рассеяние, кривые фотометрирования, очевидно, не применимы к этому методу. Максимум аморфного рассеяния, как показали рентгенограммы волокна, находится примерно при том же угле, что и резкие рефлексы кристаллов этот максимум не может быть отделен от кристаллических рефлексов для неориентированных образцов, и поэтому для определения содержания аморфной части полимера можно использовать только интенсивность общего фона, вследствие чего эти результаты недостаточно точны. [c.259]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология