Интерференционные кольца

Рис. 3. Зависимость радиуса интерференционного кольца Я от

Смачивающие пленки формировали на полированной кварцевой пластинке 1 (рис. 13.8) путем приближения к ней мениска жидкости в трубке 2 радиусом 7 = 0,5- -1 мм. Жидкость отсасывали из трубки через щели 3. Толщину пленки ho в состоянии равновесия с окружающим ее мениском измеряли по интенсивности отраженного света. Радиус пленки Го составляет, в зависимости от капиллярного давления мениска Рк, несколько десятков мкм. Одновременно с измерением толщины фотографировали интерференционные кольца от мениска, что позволяло определить его профиль /г(г), где г — радиальная координата. [c.225]

Дифракционная картина аморфных полимеров характеризуется несколькими рефлексами, фиксируемыми в виде диффузных колец уменьшающейся интенсивности (рис. 12.10). Для линейных полимеров первое интерференционное кольцо соответствует периоду di == 4,6 ч- [c.320]

Измерительный инструмент. Измерительным инструментом служат линейка, штангенциркуль, микрометр, угло.мер, угольник, пробное стекло для определения кривизны полированной поверхности по интерференционным кольцам (иногда называемое оптической линейкой ). [c.296]

Проследив процесс растяжения полимера рентгенографически, можно заметить, как сначала ослабевают интерференционные кольца, после чего появляются, а затем усиливаются точечные интерференционные пятна, характерные для фазер-диаграмм ориентированного полимера. Это значит, что под влиянием растягивающего усилия происходит вначале плавление, а потом образо< вание новых кристаллических областей, ориентированных по [c.453]

При рентгенографическом исследовании деформированных волокон [34, 35] и пленок [36] было установлено, что при быстрой деформации на рентгенограммах наблюдается появление волокнистой структуры но всем интерференционным кольцам, т. е. имеет место уплотнение на отдельных участках колец и даже тенденция к их разрыву (появление текстуры). Это известное само по себе явление было впервые установлено Герцогом и Янке [2] и за последнее время изучалось с точки зрения установления качественной зависимости между ориентацией частиц и механическими свойствами волокна рядом исследователей [37—40]. Однако в этих работах не было сделано каких-либо попыток выяснить стабильность ориентированного состояния цепей. Исходя из мицеллярной теории строения высокополимерных соединений и тем самым признавая кристаллическое образование как термодинамически устойчивую систему, все эти исследователи, видимо, и не пытались выяснить характеристику устойчивости ценей в ориентированном состоянии. [c.37]

Оказалось, что электронограммы растянутых пленок гидратцеллюлозы и коллоксилина ничем не отличаются от электронограмм нерастянутых пленок . На интерференционных кольцах в электронограммах растянутых пленок не появляется текстуры, в то время как на рентгенограммах препаратов гидратцеллюлозы, растянутых при таких же условиях, наблюдается ясно выраженная картина ориентации. На рис. 1 для характеристики текстуры растянутой гидратцеллюлозы даны результаты фотометрирования интерференционных колец 1 — распределение интенсивности по кольцу с (I = = 4,6 А на электронограмме ж 2 распределение интенсивности по кольцу на рентгенограмме изотропной гидратцеллюлозной нити, растянутой на 12% . [c.42]

Так как интерференционные кольца на электронограммах очень размыты, то точность определения периодов идентичности сравнительно небольшая. Однако из данных, приведенных в табл. 1, можно сделать вывод, что в среднем периоды идентичности для всех эфиров, кроме триацетата, совпадают с периодами идентичности для гидратцеллюлозы. Для триацетата период сильно отличается от гидратцеллюлозы, в то время как < 2 и з совпадают со значениями и гидратцеллюлозы. [c.44]

Рис. 41.3. Выделение центрального интерференционного кольца круглой диафрагмой

ИЛИ медная дуга) таким образом, что резкое изображение источника / получается на объективе 2, который проектирует интерференционные кольца в плоскости входной щели прибора 5. Линза Ьг ахроматическая с / = 150 мм. Таким образом, эталон работает в сходящемся пучке лучей, а на входной щели спектрографа получается равномерно размытое пятно. [c.173]

В первом случае можно, например, перемещать щель в плоскости изображения колец щель должна быть расположена по касательной к интерференционным кольцам можно перемещать объектив, проектирующий кольца на экран. При внешней установке эталона (см. 22) можно вращать интерферометр Фабри— Перо вокруг вертикальной оси. Тогда интерференционные кольца будут перемещаться относительно входной щели спектрографа. 180 [c.180]

Юстировка состоит из двух этапов. Сначала производится предварительная юстировка. Нить обычной лампы накаливания рассматривается невооруженным глазом через эталон. При наличии клина между зеркальными поверхностями пластин 4п 14 видны многочисленные изображения нити лампы, образованные в результате многократных отражений. При помощи винтов 17 все изображения нити сводятся в одно. После этого производится окончательная юстировка. Перед эталоном ставится широкий источник монохроматического света (обычно — ртутная лампа, закрытая папиросной бумагой). На фоне этого источника видны интерференционные кольца. [c.311]

Очевидно, что Ф будет иметь максимум, когда середина кольцевой диафрагмы придется против максимума интенсивности интерференционного кольца. Это будет при [c.313]

Оптимальный угловой радиус выходной диафрагмы определим из условия получения одного интерференционного кольца равного наклона при максимальной разности хода А ,. [c.349]

Растр в виде системы колец довольно сложно изготовить механически. Однако то обстоятельство, что интерференционные кольца эталона Фабри—Перо также подчиняются закону квадратных корней, позволяет использовать эталон Фабри—Перо в качестве интерференционного растра. В этом случае отпадет необходимость в хорошем качестве изображения как входного, так и выходного коллиматоров. [c.370]

Влияние температуры на инструментальный контур. Изменение температуры эталона, а также атмосферного давления смещает интерференционные кольца. При фотографической регистрации с большими экспозициями это может привести к уширению инструментального контура. Нетрудно подсчитать, насколько сместится изображение колец при изменении температуры. Найдем изменение порядка к при изменении оптической толщины эталона [c.178]

При внешней установке эталон (рис. 6.13, 6) располагается в параллельном световом пучке, образованном конденсором 1. Кольца локализованы в фокальной плоскости объектива 2, которая совмещена со щелью спектрографа. Объектив должен быть хорошо ахроматизирован, иначе в плоскости щели, а значит и на фотопластинке, не будут сфокусированы одновременно Интерференционные кольца в разных участках спектра. [c.180]

Экспериментально присутствие пластинчатых мицелл обнаружено по интерференционным кольцам на рентгенограммах растворов мыл. Рентгеновские измерения, однако, показали, что расстояние й, отвечающее повторяющейся структурной единице, боль-ще, чем удвоенная длина молекулы мыла, и что это может быть объяснено нахождением между полярными группами слоя воды (рис. 73). [c.172]

S — размер кристаллита г —радиус интерференционного кольца. [c.306]

Рентгеноструктурный анализ основан на применении рентгенографии. При прохождении рентгеновских лучей через тонкий слой вещества наблюдаегся дифракция и интерференция лучей. На фотопленке, расположенной за объектом перпендикулярно падающему лучу, получается рентгенограмма, на которой можно видеть интерференционные кольца и пятна вокруг центрального иятна от неотклоняющегося луча. Интерференционные кольца и пятна в случае высокомолекулярных веществ могут получаться от правильного чередования одинаковых звеньев молекул, отдельные составные части которых повторяются через определенное расстояние. Это расстояние между одинаковыми элементами соседних звеньев молекул носит название периода идентичности. Ширина интерференционных полос на рентгенограмме зависит от периода идентичности чем меньше период идентичности, тем больше ширина кольца. Таким образом, ио ширине колец может быть вычислен период идентичности. [c.50]

Об этом свидетельствовал статистический характер явления, убедительно доказанный упомянутыми работами Тамманна, Отмера и Г. Корнфельда. Эти представления были использованы также при теоретическом рассмотрении вопроса Ф. Габером [18] в связи с исследованием аморфных осадков и кристаллических золей . В качестве критерия служила способность последних давать четкие интерференционные кольца при использовании метода Дебая — Шеррера. Оба типа твердых фаз возникали в условиях пересыщения. В реакции осаждения первая стадия химического [c.27]

Если взять эфир, в котором есть существенно другие межатомные расстояния и тяжелые атомы, то картина рассеяния от такого эфира должна сильно отличаться от картины рассеяния целлюлозы. Для проверки изложенных выше соображений в качестве эфира с тяжелыми атомами в эфирных группах была взята трихлорацетилцеллюлоза. На электронограмме трихлорацетата целлюлозы имеются четыре интерференционных кольца. Периоды идентичности их (см. табл. 1) сильно отличаются от периодов идентичности для гидратцеллюлозы и других ее эфиров, указанных в табл. 1. [c.48]

Изменение угла наклона. Рассмотренные способы изменения оптической толщины эталона дают возможность работать как с кольцевой, так и с круглой выходной диафрагмой, максимально используя световой поток, проходящий через эталон. Сканирование спектра изменением угла наклона интерферирующих лучей лишено этого преимущества достоииство последнего способа лишь в его простоте. Сканирование спектра изменением угла (3 обычно производится поворотом самого эталона с последовательным пропусканием через криволинейную выходную щель узких участков интерференционной картины. При таком способе используется световой поток только некоторой части интерференционного кольца и применение круглой диафрагмы исключается. Выражение для разности хода в эталоне [c.320]

Отсюда следует, что изменение давления воздуха на 1 атм эквивалентно изменению osp на 2,93-10 . Таким образом, при начальном угле р = О изменение давления воздуха на 1 10 хЬОатм соответствует наклону лучей на угол 1° 24 4° 23 и 13° 54. Следовательно, небольшие наклоны эталона эквивалентны большим перепадам давлений. В этом одно из достоинств метода наклона. Однако из-за изменения скачка фазы при отражении от металлических зеркал эталона интерференционные кольца при увеличении наклона сначала расширяются, а затем и раздваиваются. С. Толанский нашел, что при серебряных зеркалах в видимой области спектра наклон в 5° вызывает уширение интерференционного кольца на 10%. Следует заметить также, что при больших углах наклона уменьшается число интерферирующих лучей и падает разрешающая сила эталона. [c.320]

У достаточно крупных кристаллов сильно двупреломляющего веще- ства в этом разрезе, кроме темного креста, присутствуют еще концентрически расположенные интерференционные кольца. Тогда прямую или [c.17]

Как видно из табл. 2, изменения энтропии практически не происходит при обмене одного сорта ионов на другие как на катионитах, так и на анионитах. На основании этого факта можно предположить, что в процессе ионного обмена структура скелета ионита не претерпевает заметных изменений. Для подтверждения этого мы провели рентгенографирование ионитов, насыщенных различными ионами. Рентгенограммы образцов, приведенные в табл. 3, показывают, что во всех случаях иониты имеют аморфную структуру. На рентгенограммах в области малых углов отражения наблюдаются гало (широкие размытые интерференционные кольца), диаметр которых зависит от рода ионита и практически не зависит от поглощенного иона. [c.127]

Набухание монтмориллонита выражается на рентгенограммах главным образом в смещении интерференционного кольца при малом угле вблизи первичной точки проникновения. Эту характерную интерференцию и последующее смещение можно легко пропустить. Нагельшмидт и позже Винклер (см. ниже) истолковывали результаты рентгенографических исследований несколько иначе, чем Гофман. Расстановка ими [c.77]

Такую кристаллитную гипотезу, предпосылкой для которой послужили идеи А. А. Лебедева выдви-яули на основании рентгенографических исследований Рендалл, Руксби и Купера , получившие хорошее согласие между интерференционными кольцами алюмосили-жатного стекла, например соответствующего полевому шпату, и наиболее интенсивными линиями кристобалита. Для чистого кварцевого стекла совершенно очевидно сходство размытого кольца с наиболее интенсив-иым интерференционным кольцом кристобалита. То же имеет место в случае химически стойкого стекла с 70% [c.171]

Рентгено- и электронноструктурный анализ также могут дать прямое доказательство существования в полимерах кристаллической фазы. Дифракция рентгеновых волн и быстрых электронов дает обычные характерные интерференционные кольца, однако они сильно размыты широкими диффузными кольцами, которые тем щире, чем больше аморфной фазы в полимере. При малом содержании кристаллической фазы в полимере рентгенограмма часто не позволяет заключить о наличии кристалличности. [c.112]

При деформации кристаллического полимера беспорядочно распределенные кристаллиты исчезают и вместо них образуются новые кристаллиты, ориентированные в направлении действия силового поля. Этот процесс можно наблюдать на рентгенограмме. При растяжении полимера интерференционные кольца постепенно ослабевают, при этом появля- 40у——-1—————г—I———— ются, а затем усиливаются [c.114]

За счет разности длин обоих лучей на наблюдаемой поверхности создаются интерференционные кольца или полосы. Расстояние между двумя одноцветными кольцами соответствует длине полуволны данного цвета. Для красных полос с длиной волны 0,6 мкм это расстояние соответствует 0,3 мкм непрямолинейности плоскости детали. При наличии двух, трех, четырех таких колец непрямолинейность составит соответственно 0,3 0,6 и 0,9 мкм, а при одном кольце — менее 0,3 мкм. [c.192]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология