Длина когерентности

Для линии 0,546 мкм ртутной лампы со средним давлением Лт/АЯ = 2500. Максимально допустимая разность оптических путей составляет g = X-S, поскольку соответствующее значение 5 равно 5 = 7Дт/АЯ = 625 средняя длина когерентности А/= 1,35 мм. У ртутных ламп низкого давления, заполненных изотопом (чистотой 99,9%), средняя длина когерентности той же спектральной лннии составляет 0,6 м (что соответствует - 10 Я). Ширина линии ртутных ламп высокого давления ( 130 атм) значительно больше. Спектр имеет также непрерывную часть. Поэтому ширина линии определяется полосой пропускания фильтра. Для абсорбционных фильтров типичны значения АЯ = 0,012- 10 м для поглощения 50% и АЯ = 0,008 10 м для поглощения 85% света. Комбинации интерференционных фильтров пропускают больше света в полосе пропускания, однако частота пропускания зависит от точной ориентации фильтра в параллельном пучке. [c.101]

Ширина линии АЯ. зависит от физической природы излучающего газа и увеличивается с увеличением давления и температуры. Длина когерентности соответственно уменьшается (уширение спектральных линий с увеличением давления). Волновые пакеты конечной длины не могут быть монохроматическими их полоса частот всегда конечна, поскольку волновой пакет конечной длины можно описать суммой членов разложения Фурье относительно основной частоты Vm- Даже воображаемый монохроматический и непрерывный волновой пакет имеет определенную полосу частот, поскольку он не бесконечный, а начинается в определенный момент времени. [c.100]

I (/) — эф( )ективная длина когерентности, которая дается выражением 1/ = (1/ о) + (1/а/) [а — эмпирическая константа порядка единицы]. [c.262]

Существование длины когерентности н лондоновской глубины проникновения позволяет разделить естественным образом все сверхпроводники на две группы сверхпроводники первого рода, для которых kl и сверхпроводники второго рода, для них ix. > 0- [c.262]

Куперовское спаривание электронов. Исходным пунктом микроскопической теории является наличие в сверхпроводниках так называемых куперовских связанных пар электронов. Они состоят из электронов с практически противоположно направленными импульсами и противоположными спинами, находящимися на среднем расстоянии, равном длине когерентности и существуют наряду с нормальными электронами. Понять происхождение парных корреляций можно путем следующих рассуждений [14]. [c.266]

Лазеры обеспечивают большие длины когерентности, прн которых отпадает необходимость в компенсационных камерах для сравнительных пучков. Недостатком лазерных осветителей для МЦИ является заметная дифракция, например, на частицах пыли, которая затрудняет обработку интерференционных картин. Вследствие больших длин когерентности отпадает необходимость в точной регулировке длин интерферирующих пучков, поэтому можно использовать более простые схемы с вогнутыми зеркалами [64, 65]. Однако требования к оптическим элементам и механизмам регулирования углов остаются такими же строгими, как и в случае МЦИ. В схемах с вогнутыми зеркалами требуется компенсация астигматических погрешностей, обусловленных наклонным освещением зеркал (как в теневых приборах). [c.101]

Сферический эталон, примененный в качестве монохроматора высокого разрешения, позволил в 1958 г. (до изобретения лазера ) получить световой поток измеримой величины с длиной когерентности в сотни метров [6.11], что соответствует разрешающей способности более 10 . [c.187]

При переходе объемной части кристалла в сверхпроводящую ромбическую фазу двойниковая граница по предположению [506, 507] остается не ромбической. Как построение в работе [500], так и сформулированное предположение приводят к выводу, что двойниковая граница в 1-2-3 может проявлять себя как слой диэлектрика, Дополнительным соображением в пользу этого вывода является наблюдающееся нарушение стехиометрии в двойниковой границе [508], Толщина двойниковой границы оценивается в 30-50 А, т.е. она не меньше длины когерентности (0) (см., например, [509]). Разными методами оцененная и измеренная длина когерентности [506, 509] оказывается всегда сравнимой с периодом кристаллической решетки 1—2—3, [c.242]

В изотропной фазе нет дальнего порядка в направлении ориентации молекул. Тензорный параметр порядка в среднем исчезает. Однако если мы рассмотрим молекулы в малых масштабах (фиг. 2.9,6), то найдем, что локально они все еще остаются параллельными друг другу. Это локальное упорядочение существует вплоть до некоторого характерного расстояния 1 (Г), которое называется длиной когерентности. [c.63]

В окрестности неустойчивости в системе развиваются длинноволновые пространственные корреляции, даже если система остается макроскопически однородной в пространстве они характеризуются длиной когерентности, которая является внутренним параметром системы. [c.81]

Интерференционный метод дает возможность видеть распределение ошибок деления по поверхности решетки, а также определять величину ошибок волнового фронта с точностью до нескольких сотых долей длины волны. Несколько интерферограмм пробных нарезок, характеризующих типичные ошибки деления нарезных решеток, показаны на рис. 13. У решеток, применяемых в спектральных приборах, погрешности деления в десятки раз меньше. Достаточно опытный наблюдатель по виду интерферограммы может предсказать характерные особенности спектральных линий, даваемых решеткой, не прибегая к громоздким вычислениям. Ограничения интерференционного метода обусловлены длиной когерентности применяемого для этой цели света. Обычные спектральные лампы позволяют одновременно исследовать решетки шириной до 150 мм при углах дифракции, не превышающих 60°. С появлением лазеров стало возможным п тиенять этот метод для исследования решеток самых больших размеров при любых уг- [c.55]

В интерферометре Майкельсона полосы наблюдаются в монохроматическом свете. Поэтому требуются яркие монохроматические источники с большой длиной когерентности. В настоящее [c.68]

Возможность изготовления дифракционных решеток путем фотографирования интерференционных полос, возникающих при интерференции двух плоских волн, отмечалась еще Майкельсоном в 1927 г. [88]. Однако работы по практической реализации этой идеи в широком плане начались с развитием голографии, когда был предложен метод трехмерной регистрации интерференционной картины [89], а также созданы мощные лазеры с большой длиной когерентности и светочувствительные материалы, обладающие высокой разрешающей способностью при малом рассеянии. В результате были разработаны голографические решетки. Подробный обзор этого вопроса дан в [90]. [c.84]

Лекция 37. Интерференция света. Время и длина когерентности. [c.166]

Поскольку мы имеем дело со слабым переходом первого рода, следует ожидать, что при температурах непосредственно выше точки перехода важную роль будут играть эффекты ближнего порядка. В частности, длина когерентности (Г) должна быть достаточно большой. Ее типичное значение — несколько сотен ангстрем (десятки длин молекул) ). Это отражается на многих физических свойствах. Здесь мы обсудим их только качественно, а количественный анализ содержится в работах [46—48]. [c.66]

Измерение анизотропии длин когерентности в МББА и ее зависимость от температуры см. в [97 ].— Прим. ред. [c.66]

Определение магнитной длины когерентности [c.99]

Мы будем называть (Я) магнитной длиной когерентности нематика. Общую значимость можно пояснить следующим мысленным экспериментом . Большой образец нематика вначале ориентирован магнитным полем Н. Затем в малой области, вблизи некоторой точки О в нематике, мы действуем на молекулы некоторой другой силой произвольной величины. Это приводит к искажению дальнего порядка в окружающем нематике. Можно пока- [c.102]

Из уравнения (3.77) видно, что при конечном магнитном поле И радиус корреляции п равен магнитной длине когерентности с. Раньше мы определили как расстояние, на которое прости- [c.124]

Мы видели, что поверхностные сингулярности всегда имеют тенденцию к размазыванию в область конечной толщины с непрерывно меняющимся искажением. Простые доводы (в пренебрежении всеми эффектами, обусловленными поверхностями или магнитным полем) показывают, что энергия минимизируется, когда толщина становится очень большой. На практике е ограничено размерами образца или магнитной длиной когерентности (Н), так что при наличии поля в нематиках можно найти стенку, разделяющую две области, которые оптически ориентированы полем И. Эти стенки будут проанализированы в разд. 4.4. [c.150]

При у — +00 мы полагаем и = О, а при у = — оо и = л. Вычисление и (у) совпадает с проведенным ранее и описанным в гл. 3 [см. (3.50)—(3.56)] при введении понятия о длине когерентности. Единственное изменение состоит в том, что у меняется в домене от —оо до + оо. Точное уравнение для и(у) имеет вид [c.172]

Гарвардская группа провела также сравнение величины длины когерентности извлеченной из с прямыми рентгеновскими измерениями Мак-Миллана [71— 73] для того же вещества и нашла, что они согласуются. [c.386]

Л. Аморфные вещества. Исследование спектров КР аморфных веществ позволяет расширить наши сведения о распределении мод внутри этих тел. В таких материалах длина когерентности нормальных мод, вероятно, короче оптических длин волн, следовательно, обычные правила отбора для волнового вектора становятся невыполнимыми, и рассеяние КР может иметь место практически на всех нормальных модах [159, 236]. Однако интенсивность рассеяния зависит теперь от весовых факторов, образующих тензор оптического взаимодействия. Суммирование по всем модам можно заменить использованием плотности колебательных состояний (у) число мод на единичный частотный интервал. Показано, что для стоксова спектра КР должно быть справедливо соотношение [c.542]

Поверхностная энергия. Существование длины когерентности позволило объяснить происхождение поверхностной энергии на границе между нормальной и сверхпроводящей фазами. Наличие такой энергии следует из эффекта Мейснера. Еще Лондон указал, что полное вытеснение внешнего поля из сверхпроводника не приводит к состоянию с наименьшей энергией, если такая поверхностная энергия не существует. Согласнр современным представлениям, поверхностная энергия возникает следующим образом. На рис. ИЗ дано условное изображение границы нормальной и сверхпроводящей фаз. В сверхпроводящей фазе параметр упорядочения 1] = 1, . в нормальной фазе Т1 = 0. Однако состояние электронов в металле не может меняться на расстояниях, меньших корреляционной длины Ео- Ввиду этого т) меняется примерно так, как показано на рис. ИЗ. Со стороны нормальной фазы есть магнитное поле, равное Не (иначе не могло бы быть равновесия). Поле внутри сверхпроводника должно равняться нулю. Значит оно падает от Н до нуля на расстоянии порядка Если заменить плавное поведение л Н (х) резкими границами А и В (см. рис. ИЗ) при сохранении средних значений г и Н то возникает область АВ == которой, с одной стороны, [c.263]

Применимость источника света можно оценить, сравнивая длину когерентности А/ с разностью оптических путей g = S-Xm- Если g- Al, то излучаемый свет можно считать квазимонохроматиче-ским в более общем виде это условие выражается требованием, чтобы полоса частот была мала по сравнению с основной частотой [c.100]

Выше неоднократно обсуждалось требование постоянства условий ввода и приема ультразвуковых колебаний при акустических измерениях. Для его уточнения деформация торцовой поверхности болтов была исследована с помощью двухэкспозиционного метода голографической интерферометрии [ПО]. В качестве источника когерентного излучения применялся гелий-неоновый оптический квантовый генератор ЛГ-38, излучение которого имело мощность 50 мВт, длину волны 632,8 нм, длину когерентности 0,2 м. Интерферограммы записывались на галоидосеребряных фотопластинках ЛОИ-2 с толщиной эмульсии 17 мкм и дифракционной эффективностью 4 %. Перед началом и в ходе снятия градуировочной зависимости одного из болтов были дважды записаны интерферограммы его торцовой поверхности. Для этого при достижении давления 200 МПа в гидравлической системе нагружающего устройства пьезопреобразователь был снят с головки болта, а после оптических измерений установлен заново. Таким образом, были изменены параметры акустического тракта. Согласно данным голографических измерений, при изменении давления от О до 200 МПа с торцовой поверхностью головки болта произошли следующие изменения [c.191]

Применение для голографирования протяженных объектов лазеров с большой длиной когерентности (порядка 1 м и более). Это, в частности, офаничивает применение многомодовых лазеров, имеющих большую мощность излучения, но малую длину когерентности. [c.511]

Итак, специфика структуры и фазового превращё шя в материалах 1-2-3 позволяет сформулировать предположение [506], что в них двой-. никовая граница является гонким слоем даэлектрика, толщина которого сравнима (или превыщ т) с основным сверхпроводящим параметром — длиной когерентности (0). В таком случае при температурах, при которых стабильно высокотемпературное сверхпроводящее состояние матрицы тонкие слои двойниковых границ будут действовать кшк джозефсОнов-ские переходы [506]. [c.243]

Уравнение (3.64) можно интерпретировать следующим образом при критическом поле длина когерентности (ff li) равна d/л. Уравнение (3.64) дает зависимость вида ild, найденную экспериментально Фредериксом. Оно указывает также в принципе простой способ определения трех упругих постоянных. Применение этого метода см. в работах [6—10]. [c.108]

Sa — магнитная длина когерентности. На практике интересрты частоты 0Э 1/0, и, таким образом, сравнимо с [c.212]

Существует относительно большое различие в спектральных характеристиках рентгеновского и нейтронного рассеяния на —Ор2-группах полимера и на молекулах воды. Различный характер рассеяния обусловлен разницей в электронных плотностях —Ср2— и НгО, что важно для рентгеновского рассеяния, и значительным расхождением длины когерентного рассеяния нейтронов на этих частицах. В табл. 28.2 представлены соответствующие характеристики полимерных групп и изотопных форм молекул воды в полимере. Следовательно, методы рассеяния нейтронов и рентгеновских лучей могут дать важную информацию о процессах кластерообразования в полимерах. Предварительные эксперименты подобного типа были уже проведены и описаны в литературе [6]. На рис. 28.4 показаны кривые нейтронного рассеяния, полученные для образцов с раз- [c.447]

В первом приближении часть образца, занятая и не дающая вклада во вращательный момент М, учитъгеается заменой длины когерентности в выражении (2.3.18) на большую величину = с . Численные подсчеты показывают, что для двух инверсионных стенок — 9 . Ошибку, вносимую наличием инверсионных стенок или, если даже их нет, упругими силами. [c.48]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология