Эйзенлор

Атомные рефракции и дисперсии по Эйзенлору [c.392]

Дополнительные данные к системе атомных рефракций Эйзенлора [c.392]

Для определения / адд> согласно (7 2), используются таблицы аддитивных констант Наиболее употребительными нз них являются таблицы атомных рефракций Эйзенлора и Фогеля (см. П1Х), а также связевых рефракций Фогеля (см. ПХХ). Расхождения между результатами подсчетов по этим таблицам, которые могут доходить до десятых долей миллилитров на моль, находятся в пределах точности самой классической аддитивной схемы расчета. [c.197]

Систематическим исследованием молекулярных рефракций мы обязаны Брюлю, Эйзенлору и Ауверсу. Молекулярная рефракция была первой по времени физической константой, широко использованной в органической химии для суждения о строении органических молекул. К сожалению, область ее применения, по существу, ограничена углеводородами, их галоидными и кислородными производными, так как для прочих элементов постоянство атомных рефракций невелико. Имеется и второе существенное ограничение — метод приложим лишь к жидким веществам. Для твердых веществ можно определить МВ в растворе по разности, но это гораздо менее точно, так как все ошибки ложатся на эту разность. [c.351]

Определение молекулярной рефракции часто служит для проверки предварительных предположений о составе и строении исследуемых органических соединений и результатов химического анализа [31]. С этой целью экспериментальное значение молекулярной рефракции сравнивают с суммой соответствующих аддитивных констант (атомных рефракций и рефракций связей, приведенных в литературе в виде таблиц Эйзенлора и Фогеля), вычисленной исходя из предполагаемой химической формулы. Расхождения до 0,2-0,4 мл/моль относятся на счет возможных ошибок эксперимента и неточности аддитивных констант. Выбор между возможными изомерными структурами можно сделать только в том случае, если разница аддитивных зна- [c.199]

Хотя этоГ метод применялся, в первую очередь, для чистых фторуглеродов, он, очевидно, также применим и для соединений формулы С .Р ,Н с использованием для водорода величины удельной рефракции по Эйзенлору, равной 1,100. Имеется, однако, одно осложнение, состоящее в том, что величина атомной рефракции (АН,) не является постоянной, а увеличивается от 0,95 для моно-фторуглеводородов, до 1,24 — для фторуглеродов. Поэтому представляется необходимым знать величину А1 для каждой степени фторирования, чтобы вычислить тео етическое значение удельной рефракции для этого класса соединений. [c.100]

Таблица 6.2. Специфические атомные и групповые рефракции по Эйзенлору

Расчет молекулярных рефракций проведем на основании табличных данных Эйзенлора (см. табл. 6.1 и 6.2) [c.204]

Атом, группа или связь по Эйзенлору 12 по Фогелю [П по данным других исследователей для газов по Фогелю 111) для газов [c.61]

Мольная рефракция Рв гептана, вычисленная суммированием долей по Эйзенлору [c.61]

Пример П-9. Вычислить мольную рефракцию бензилового спирта и метил-циклогексанона, пользуясь составляющими долями по Эйзенлору, [c.62]

Выше уже от.мечалось, что величина экзальтаций зависит как от типа сопряженных кратных связей и строения скелета в месте их расположения, так и от молекулярного веса. На основе экспериментальных данных начала XX в. Ауверс и Эйзенлор сделали вывод, что экзальтации молекулярной рефракции возрастают пропорционально молекулярному весу (М). Исходя из этого, они предложили для характеристики сопряженных систем пользоваться удельными экзальтациями, представляющими собой экзальтации молекулярной рефракции, условно отнесенные к молекулярному весу 100 [c.82]

По Ауверсу и Эйзенлору [19], удельные экзальтации 2 постоянны для данного типа сопряженных систем и практически одинаковы для линий О я С. Численные значения 2 для некоторых простейших типов сопряженных систем приводятся в табл. 6 (на стр. 83). Сравнивая эти нормальные значения с экспериментальными величинами 2, можно делать выводы о строении ненасыщенной части молекулы. [c.82]

Другой путь использования соотношений между рефрактометрическими и другими свойствами состоит в установлении новых комбинированных констант, в той или иной степени отвечающих условию аддитивности и пригодных для выявления отдельных особенностей строения органических соединений. К числу таких аддитивных констант относится молекулярный показатель преломления Эйзенлора [34, 35, 36], представляющий собой произведение молекулярного веса на показатель преломления Мп . Эта величина, в отличие от молекулярной рефрак- [c.111]

Алкилены горят коптящим пламенем. Большо е значение для характеристики олефинов имеет их молекулярная рефракция. В то время как молекулярная рефракция насыщенных соединений часто довольно точно может быть представлена как.сумма атомных рефракций, в случае олефинов и их продуктов замещения сумма атомных рефракций имеет меньшую величину, чем экспериментально найденная молекулярная рефракция. Эта разность, обусловленная наличием двойной углеродной связи, называется инкрементом двойной связи и обозначается знаком р. Величина ее колеблется лишь незначительно и в среднем составляет для одной этиленовой связи 1,73—1,9 (табл. 5), а для двух этиленовых связей —вдвое больше (Брюль, Аувёрс, Эйзенлор). [c.63]

Предельное соединение с шестью атомами углерода и одним атомом хлора должно было бы иметь состав СвН1зС1 (при = 6 обш,ее число одновалентных атомов равно 2-6 + + 2 = 14). Из сравнения брутто-формул следует, что рассматриваемое галоген производное содержит одну двойную связь С=С или одно углеродное кольцо. Для СвН1,С1 аддитивная величина рефракции по атомным константам Эйзенлора (см. ПХ1Х) для линии В натрия равра [c.200]

Пример 2. Установлено. что соединение имеет брутто-формулу С оН180, 2о 0,8954 и /г 1,4505. Отсюда экспериментальное значение = = 46,30. Вещество состава СхоН О может принадлежать более чем к десяти различным классам органических соединений. которым должны соответствовать следующие значения Яо адд (по таблицам атомных рефракций Эйзенлора) [c.200]

Молеетлярная рефракция R является аддитивной величиной и складыва-гся из рефракций R, отдельных атомов и инкрементов для типов химических вязей (двойная, тройная). Некоторые значения необходимые для расчета, риведены в табл.27, составленной по данным Эйзенлора для длины волны, 5892 мкм ( ). [c.231]

Рефрактометрический метод. Этот метод также использовался для косвенной проверки молекулярных весов и состоял в сравнении эксперимента.аьно ояределенного значения удельной рефракции чистого неизвестного соединения с теоретически подсчитанной величиной, вычисленной ка основании принятой для него формулы. Общий метод разработали Брюль, Ауере и Эйзенлор Гроссе [12] недавно примени. его к высоко-фторированным углеводородам. При вычислении теоретического значения удельной рефракции для углерода брались данные, которые нашел Эйзенлор, т. е. величина 2,418, а для фтора — величина 1,24, определенная экспериментально в лаборатории университета Джонса Гоп-кi н a. [c.100]

Стремясь получить оптически активное соединение, в котором асимметрия была бы обусловлена атомом дейтерия, можно воспользоваться методами получения замещенных уксусных кислот, описанными Маркуальдом [1]. При этом кислоту можно получить в химически мягких условнях и в достаточно больших количествах, что позволяет осуществить весьма тщательную очистку. По данным Эйзенлора и Мейера [2], для успешного проведения асимметрического синтеза необходимо располагать препаратом соли с ярковыраженной кристаллической структурой следовательно, нужно следить за тем, чтобы декарбоксилп-рование не сопровождалось плавлением соли. Кроме описанных выше условий, декарбоксилирование соли проводили в течение 8,5 час. при температуре не выше 80° быстро при 110°, используя в качестве исходного продукта соль, полученную без выделения кислоты, и в течение 13 дней при температуре не выше 66°. [c.67]

Чаще всего для расчетов пользуются значениями долей, предложенными Эйзенлором. Его таблицу уточнил и дополнил Фогель [И]. В табл. П-6 приведены значения составляющих долей по Эйзенлору, Фогелю и другим исследователям, а также значения долей для газов. [c.59]

В следующей таблице собраны значения для ряда атомов и групп для наиболее часто применяемых а-, Р- и -линий водорода и линии D натрия по Эйзенлору (F. Eirisenlohr, 1910). [c.72]

Эйзенлор (1920/21) ввел еще эмпири еское выражение Пр-М — молекулярный коэфициент преломления , который аналогичным образом в определенных пределах точности может быть вычислен из атомных эквивалентов, как и молекулярная рефракция и дисперсия (ср. стр. 68), но отзывается еще резче на различиях в молекулярном строении. [c.73]

У непредельных соединений, не содержащих сопряженных систем кратных связей или ароматических колец, экзальтации иногда также наблюдаются, хотя и значительно меньшие. Обычно они имеют место в таких соединениях, где углерод при кратной связи соединен с азотом, серой, кислородом или галогенами, как в амидах и галогенангидридах карбоновых кислот, ароматических аминах, тиофенолах, эфирах фенолов. Наличие экзальтации у этих соединений Брюль (1907), а вслед за ним Эйзенлор (1911) относили за счет особого вида сопряжения между кратными связями и побочными валентностями азота, серы и других элементов, изображая такие скрытосопряженные системы схемами [c.74]

Атомные рефракции или рефракции связей для подсчета аддитивной величины Р заимствуют из имеющихся в литературе таблиц. Наибольшее распространение получили таблицы атомных рефракций Эйзенлора, составленные еще в 1910—1912 гг. (см. табл. XVIII). [c.81]

Согласно первоначальному замыслу эти таблицы должны были содержать только данные, совершенно свободные от эффектов сопряжения. Поэтому Эйзенлор не включил в свои таблицы значения атомных рефракций галогенов в галогенангидридах, азота в амидах и т. п. Подобные классы соединений предполагалось характеризовать специальными таблицами экзальтаций. Практика, однако, показала нецелесообразность исключения данных для скрытосопряженных соединений из основных таблиц, и они многократно дополнялись разными авторами без учета первоначальных ограничений. Дополнения к системе атомных рефракций Эйзенлора, опубликованные до начала 1960 г., сведены в табл. XIX). [c.81]

Таблицы Фогеля и сотрудников, предложенные в 1948 г., основаны на результатах собственных многолетних исследований авторов и содержат преимущественно значения групповых рефракций (см. табл. XX). Положенные в основу этих таблиц экспериментальные данные — более точные и однородные, чем исходные данные таблиц Эйзенлора, но некоторые классы соединений, охватываеА ые дополнениями к таблицам Эйзенлора, не нашли отражения в таблицах Фогеля. Поэтому практическое применение находят обе системы атомных рефракций. [c.81]

Таким образом, имеет место весьма значительная депрессия молекулярной рефракции—1,6 мл1моль, которая могла бы вызвать сомнения в правильности определения состава (для С17Н34 имели бы экспериментальное значение Яр = 78,49, а вычисленное по Эйзенлору [78, 51]). Расчет по схеме В. М. Татевского [3] с учетом подтипов связей (см. табл. 5) дает в данном случае [c.90]

На стр. 469 (Приложения, табл. 6) приведены атомные рефракции, вычисленные Эйзенлором для желтой линии О натрия (длина волны Х =5890А) и для линий водорода Н (>.=6583 А), Нр(Х--=4861,5 А) и Ну (/.=4360,б А). [c.16]

Свойства газов и жидкостей (1966) -- [ c.59 , c.62 ]

Основные начала органической химии том 1 (1963) -- [ c.541 ]

Руководство по рефрактометрии для химиков (1956) -- [ c.123 , c.130 , c.133 , c.134 , c.137 , c.177 , c.178 ]

Курс органической химии (0) -- [ c.63 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология