спектропроектор определение

Сущность работы. Спектрограмма сплава или другого образца, полученная на спектрографе ИСП-28, качественно расшифровывается с помощью спектропроектора ПС-18. Расшифровка сводится к определению основы сплава (т.е. главного элемента сплава) или примесей, а также к нахождению в сплаве заданных элементов. [c.201]

Если же последние линии не обнаружены или соотношение интенсивностей рассматриваемых линий не соответствует табличным данным, то из специального справочника спектральных линий следует выписать все элементы, линии которых совпадают или близки к исследуемой линии в пределах разрешающей способности спектрального прибора, т.е. в пределах 0,05 нм. Из всех выписанных элементов следует исключить такие, которые заведомо не могут присутствовать в исследуемой пробе (например, газы), а также элементы, линии которых практически не появляются в выбранном источнике возбуждения (т.е. в дуге). Оставшиеся в списке элементы отождествляют при помощи соответствующих последних линий. Во втором случае, т.е. когда на планшете нет линии исследуемого спектра, прибегают к определению длины волны исследуемой линии и ее отождествлению. Для этого выбирают в спектре железа по обе стороны от исследуемой линии две линии железа, которые различаются между собой длинами волн не более чем на 1 им. Выписывают длины волн в спектре железа из атласа (Х и Х2), затем линейкой или миллиметровой бумагой измеряют расстояние на экране спектропроектора (в мм) между исследуемой линией и обеими линиями железа (соответственно Д и Ог). Длину волны иссле- [c.202]

Определение железа. Аналитические линии железа (в ультрафиолетовой части спектра) /. = 3020,6 /. = 3581,2 и >. = 3720,0 А. Пластинку вставляют в рамку спектропроектора ПС-18 и совмещают изображение спектра железа со спектром железа на планшете № 15 спектрального атласа (см. стр. 237). Затем, как указано в 13, в спектре эталонов и в спектре образца цинка отыскивают линию железа Х = = 3020,6 А. Несколько левее этой линии расположена линия цинка Я = 3018,4 А. Визуально оценивают интенсивность линии железа I. = = 3020,6 А в спектрах эталонов и в спектре образца цинка. Концентрация железа в исследуемом образце цинка примерно совпадает с концентрацией железа в эталоне, когда интенсивность линии железа % = = 3020,6 А в спектре образца цинка и в спектре эталона примерно одинакова. Таким же образом в спектре исследуемого образца цинка отыскивают линию железа I = 3581,2 А и линию X = 3720,0 А, пользуясь планшетом № 18. Интенсивность этих линий в спектре исследуемого образца цинка сравнивают с интенсивностью тех л е линий в спектре эталонов. [c.240]

При качественном анализе необходимо определить, к излучению какого элемента относится та или иная линия в спектре анализируемой пробы. Для этого нужно найти длину волны линии по ее положению в спектре, а затем с помощью таблиц определить ее принадлежность тому или иному элементу. Для рассмотрения увеличенного изображения спектра на фотографической пластинке и определения длины волны служат измерительные микроскопы, спектропроекторы и другие вспомогательные приборы. [c.8]

Качественный анализ, как правило, проводят по наиболее чувствительным линиям определяемых элементов. Эти линии хорошо изучены и собраны в соответствующие таблицы и атласы спектральных линий. Для их идентификации используют спектры сравнения, в качестве которых служат спектры определяемых или других элементов с большим числом линий. На практике, как правило, спектром сравнения является спектр железа, который фотографируют рядом, под или над спектром исследуемой пробы при одинаковых условиях возбуждения. Наличие хороших атласов железа и спектропроекторов позволяет определять положение линий (длины волн в нанометрах) в спектре испытуемой пробы с точностью, достаточной для определения их принадлежности тому или иному элементу. [c.323]

По методу регистрации спектра различают несколько видов эмиссионного спектрального анализа. При визуальном анализе качественный состав определяют непосредственным наблюдением видимого спектра. Более точен фотографический анализ, по которому спектр фотографируют на фотопластинку, которую затем рассматривают на спектропроекторе при качественных определениях или фотометрируют с помощью микрофотометра при количественных определениях. На фотографической пластинке получают фиксированный ряд линий, соответствующих спектральным линиям исследуемого образца, степень почернения которых пропорциональна интенсивности этих линий. [c.180]

Измерение длин волн можно вести, используя спектропроекторы ПС-18 и ДСП-1 для точного определения длин волн, если это необходимо, применяют измерительный микроскоп МИР-12 или компаратор ИЗА-2. [c.250]

Во втором случае определение относительной интенсивности аналитической пары линий проводится визуально, что значительно сокращает время, так как отпадает необходимость в измерениях на микрофотометре. Для визуального фотометрического интерполирования необходимо снять спектры эталонов и исследуемых образцов через девятиступенчатый ослабитель. Затем спектрограмма рассматривается в лупу 10—7>< или под спектропроектором. [c.264]

Спектропроекторы. Для отождествления спектральных линий на спектрограмме по атласу и определения их качества изображения широко применяются различные типы спектропроекторов (например ПС-18, СПП-2, ДСП-2). В этих приборах яркий световой пучок направляется на спектрограмму, изображение которой проектируется затем на белый экран и рассматривается невооруженным глазом или через лупу. Осветительная система спектро-проектора состоит обычно из лампы накаливания 50—100 вт с зеркальным рефлектором позади и сложной конденсорной системой из нескольких линз иногда применяются теплозащитные светофильтры. В проекционную систему входят предметный столик, на котором помещается спектрограмма, проекционный объектив и экран. Предметный столик может перемещаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях и позволяет рассматривать спектрограммы размером до 13Х 18 см. Объектив обладает высоким качеством изображения, его предел разрешения в плоскости спектрограммы 0,010—0,015 мм при фокусном расстоянии около 30 мм и относительном отверстии 1 3,5—1 4,5 высокое качество изображения одного из таких объективов (прибор ПС-18) можно проиллюстрировать снимком спектра железа в области 3100 A (см. рис. 19.9), полученным со спектрограммы с увеличением 100>< (на расстоянии 2,7 м от объектива). Увеличение спектро-проектора, как правило, 20>< при линейном поле зрения в плоскости спектрограммы 15—18 мм. [c.185]

Метод появления чувствительных линий [27] заключается в использовании последних линий элементов. С помощью эталонных образцов устанавливают, при какой концентрации элемента появляется определенная чувствительная линия в его спектре и составляют таблицу (табл. 14). Затем в таких же условиях фотографируют спектры проб и просматривают в лупу или спектропроектор. [c.101]

Способ оценки спектров под спектропроектором часто удовлетворяет требованиям точности определения следов элементов. Это, несомненно, наиболее экономный способ быстрого и приближенного анализа большого числа проб. Вместе с точностью можно также увеличить чувствительность, если воспользоваться методами полуколичественного анализа (разд. 5.3). По сравнению с визуальным способом оценки спектров предел обнаружения можно снизить примерно в два раза путем фотометрирования спектров или измерения высоты пиков на зарегистрированных спектрах. Предел обнаружения можно снизить еще на одну пятую, если сравнивать между собой зарегистрированные спектры разных образцов [15]. Достоинство визуального рассмотрения записанных спектров видно из рис. 5.7 [5]. Величина предела обнаружения (б) данного метода, визуально едва различимая, легко идентифицируется при фотометрическом измерении записи. [c.34]

Для решения задач первой группы достаточно генераторов простой дуги и искры, призменного или, что не обязательно, дифракционного спектрографа средней или лучше высокой дисперсии, снабженных помимо обычных приспособлений (конденсорных линз, фильтров и т. д.) вращающимся диском по возможности с логарифмической шкалой, и спектропроектора. Высокая дисперсия спектрографа важна, поскольку обычно необходимо быстро и уверенно ориентироваться в большом числе спектров разнообразного состава. Как правило, такие анализы выполнять труднее, чем обычные определения нескольких компонентов в сходных материалах. [c.180]

Спектропроектор по сравнению с измерительным микроскопом МИР-12 и столиком для расшифровки спектров позволяет проводить большое количество определений без значительной утомляемости зрения. Кроме того, он дает возможность вести наблюдение одновременно нескольким лицам. [c.96]

Полученные таким образом спектрограммы просматриваются на экране спектропроектора или в окуляре СТЛ и по наличию одной или нескольких аналитических линий устанавливается присутствие искомого элемента в пробе (качественный анализ). Для определения количественного (полуколичественного) содержания элемента в пробе необходимо сравнить почернение выбранной аналитической линии определяемого элемента в спектре пробы с аналогичной линией в спект- [c.133]

Определение интенсивностей, как указывалось выше, производится визуально, считая ступени вдоль соответствующих аналитических линий определяемых элементов. Счет ступеней производится в поле зрения окуляра столика для рассматривания спектрограмм СТЛ или под спектропроектором ПС-18. [c.149]

Фотографический анализ. При этом спектр фотографируют на фотопластинку или пленку, которую затем в случае качественного аналнза рассматривают на спектропроекторе, а при количественных определениях фотометрируют при помощи микрофотометров, причем устанавливают связь между относительными интенсивностями линий и концентрациями элементов в пробе. [c.125]

Для того чтобы научиться при помощи атласа спектра железа и спектропроектора определять неизвестные длины волн, следует сначала проделать такие определения со спектрами известных элементов, например со спектром алюминия. [c.171]

Для определения длины волны спектральной линии неизвестного элемента при помощи спектра железа проделывают следующие операции 1) фотографируют в стык спектр пробы со спектром железа 2) по дисперсионной кривой определяют область расположения спектральной линии (или нескольких линий) 3) выбирают нужные планшеты спектра железа 4) просматривают спектры пробы на спектропроекторе и сравнивают их со спектром железа. [c.172]

Расстояния можно измерять на спектропроекторе ПС-18 с помощью миллиметровой линейки, но для точных определений служит специальный микроскоп МИР-12. [c.172]

Фотографический анализ. Спектр фотографируется на пластинку или пленку, которая затем для качественного определения состава рассматривается при помощи спектропроектора. Для количественного анализа спектр фотометрируется при помощи микрофотометров и полученные данные обрабатываются приемами фотографического фотометрирования. Связь с концентрациями устанавливается градуировкой при помощи специальной системы эталонов. [c.438]

Расстояние между линиями можно измерить, например, с помощью измерительного микроскопа МИР-12 или компаратора. При проведении качественного спектрального анализа часто пользуются специальными планшетами, на которых нанесены аналитические линии. Совмещая изображение спектра пробы, полученное, например, с помощью спектропроектора ПС-18 с линиями планшета, сразу получают предварительную информацию о качественном составе образца. Однако определения длины волны или совмещения на планшете еще недостаточно, чтобы сделать однозначный вывод о принадлежности данной линии какому-либо элементу, — здесь необходимо дополнительное исследование по идентификации спектральной линии. [c.20]

Основным процессом качественного спектрального анализа является идентификация неизвестных линий, обнаруживаемых на спектрограмме пробы. Для этого имеется ряд приемов. На щели спектрографа установлена специальная металлическая пластинка с прорезями (диафрагма Гартмана), которая позволяет фотографировать несколько спектров рядом один за другим, без перемещения кассеты. При этом положение спектров по вертикали не меняется, и если в пробах, спектры которых сняты рядом, имеются одина- Ковые элементы, их спектральные линии протянутся из одного спектра в другой без смещения. Элементы, присутствующие только в одной из проб, дадут линии только в одном из спектров, расположенные между общими линиями. Таким образом, если ставится задача определения примесей в пробе с известной основой (основой называется основной элемент—железо в железных сплавах, медь в медных сплавах, железо в железной руде и т. д.), то рядом со спектром пробы фотографируют спектр чистой основы (железо, медь и т. д.). Спектрограмму кладут на спектропроектор и проектируют на экран. Идентификацию линий спектра основы проводят с помощью атласов спектральных линий, сфотографированных на том же спектрографе и отпечатанных с таким же увеличением, с которым наблюдается изучаемая спектрограмма. Кроме ат- [c.204]

Определение содержания А , РЬ проводят посредством визуального сравнения интенсивности определенных пар линий В1 и примеси — без помощи микрофотометра на спектропроекторе. Подобраны гомологические пары линий, равные цо интенсивности при следующих концентрациях для при 0,003% 0,05% и 0,5% содержании в В1 для РЬ при 0,1% 0,3% 1% 1,5% 3% и 9% содержании в В1. Для оценки содержания серебра и свинца пользуются следующими таблицами гомологических пар линий. [c.78]

Известно большое значение эмиссионного спектрального анализа, особенно для определения малых количеств загрязнений и добавок в сплавах, примесей в минералах. От высокой температуры искры или электрической дуги возбуждается спектр испускания металлов — эмиссионный спектр. Излучение разлагается специальными приборами — спектрографами и фотографируется. Для наблюдения спектров в увеличенном виде применяют спектропроекторы (рис. 1). [c.19]

Устанавливается, при каких содержаниях элементов появляются те или иные пх аналитические линии. Составляется соответствующая таблица (табл. 31, гл. IX). Эта таблица служит для всех последующих анализов. Для производства анализов спектры проб фотографируются в тех же условиях, что и спектры эталонов. Расшифровка спектрограмм сводится к тому, что с помощью луны или спектропроектора отмечают, какие последние линии интересующих нас элементов содержатся в спектре. С помощью таблицы определяются границы концентраций этих элементов. Особенно широкое применение этот метод нашел в практике поисков полезных ископаемых. На одну фотопластинку может быть при применении этого метода сфотографировано до сотни спектров и по ней произведено несколько сот определений при общей затрате времени меньше одного рабочего дня. Метод появления применяется и при визуальном наблюдении спектров с помощью специальных спектроскопов (стилоскопов), нашедших широкое применение в машиностроении и метал- [c.150]

Качественный спектральный анализ основан на индивидуальности эмиссионных спектров каждого элемента и сводится, как правило, к определению длин волн линий в спектре и установлению принадлежности этих линий тому или иному элементу. Расшифровка спектров осуществляется либо на стилоскопе (визуально), либо, чаще всего, на спектропроекторе или микроскопе после фотофафирования спектров на фотопластинку. [c.189]

Эту же задачу - определение в спектре пробы заранее заданных элементов - можно решить также с помошью атласа. Для этого разыскивают в атласе последние линии этих элементов и совмещают соответствующие планшеты с изображением спектра пробы на экране спектропроектора. При обнаружении в спектре пробы нескольких последних линий элемента с соотношением интенсивностей, указанным в атласе или таблице, можно считать, что данный элемент присутствует в пробе. Последние линии приведены в приложении 1. [c.204]

Часто применяют метод определения относительной интенсивности линий без помощи микрофотометра — фотометрическое интерполирование. Для этого каждый спектр фотографируется через девятиступенчатый ослабитель, соблюдая при этом все предосторожности, указанные выше. Рассматривая увеличенное изображение спектра с помон1ью микроскопа или спектропроектора, выбирают такие [c.182]

Определение длины волны искомой линии по примыкающему спектру железа делается путём непосредственного наблюдения в 10 — 20-кратную лупу или на спектропроекторе. Положение линий между линиями железа устанавливается при этом на-глаз, а при работе со спектропрое-ктором — с помощью, например, миллиметровой линейки. В ряде случаев в областях с достаточно богатым железным спектром и при отсутствии возможности помех, такая оценка длины волны линии может оказаться достаточной. Для более точных измерений следует пользоваться измерительным микроскопом. Если и Хд — длины волн двух линий железа, расположенных по обе стороны от измеряемой линии (Х ), а Л], 2, Яд — соответствующие отсчёты по измерительному барабану микроскопа, то длина волны измеряемой линии определится линейным интерполированием [c.167]

Мастер демонстрирует последовательность операций при проведении анализа методом эмиссионной спектроскопии. В качестве примера можно провести определение примесей в алюминиевом сплаве. Заранее подготавливают образец анализируемого сплава, три эталонных образца алюминиевого сплава, содержащих определенные количества примесей — магния, меди, железа, марганца, и образец железа, служащий стандартом. Всем образцам придают форму электрода. Вставляют в спектрограф кассету с фотопластинкой и открьшают крьппку кассеты. В держатель электродов искрового генератора поочередно вставляют подготовленные образцы и снимают спектры в стандартных условиях возбуждения. Перед снятием каждого спектра сдвигают кассету с фотопластинкой. Проявленную пластинку с изображением всех спектров вставляют в спектропроектор, находят на экране линии, соответствующие примесям, с помощью микрофотометра оценивают их почернение в сравнении с эталоном и рассчитьшают их содержание в анализируемом образце. [c.213]

При идентификации последних линий почти никогда не приходится пользоваться прецизионными приборами для измерения длин волн. Наличие хороших атласов спектра железа и спектропроекторов позволяет определять положение линии в спектре с точностью, достаточной для определения ее принадлежности тому или иному элементу. Съемка рядом со спектром пробы спектра интересующего нас элемента, взятого в таком количестве, чтобы на спектрограмме вышли только его последние линии, представляет значительные удобства при расшифровке. Этот спектр следует снимать с помощью гартма-новской диафрагмы и в тех же условиях, что и спектр пробы. По другую сторону спектра пробы снимают спектры железа и чистых электродов. Это позволяет легко отыскать в спектре пробы последние линии определяемого элемента, а также обнаружить примеси, входящие в состав электродов (рис. 1). [c.25]

Хронопотенциограммы с помощью спектропроектора или фотоувеличителя перерисовывают при 10—20-кратном увеличении на миллиметровую бумагу, на которую наносят масштабы времени и потенциала. Проводят касательные к линейным участкам хронопотенциограмм, расположенным до переходного времени и после него. Экстраполируя указанные линейные участки до их пересечения, определяют в точке пересечения переходное время т в сек. (Этот метод определения переходного времени предложил Кувана.) Разделив силу тока 1 на величину поверхности электрода 5, находят плотность поляризующего тока =11з (А см 2). Затем для каждой плотности тока / рассчитывают произведение х к Из среднего значения /т / (А-см 2. сек /г) с помощью уравнения [c.180]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология