Интенсивность отраженного света

Константа в уравнении (14.19) зависит от вида стандартной поверхности и геометрии прибора [9]. Специальные графики для расчета а по интенсивности отраженного света с определенной длиной волны приведены в статье Рауза [22]. [c.279]

Определение толщин межфазных слоев до сих пор представляет существенную трудность. Оценить толщины адсорбционных слоев ВПАВ, возможно, по-видимому, определяя равновесные толщины свободных пленок [168, 169], образующихся при вытекании растворителя, считая, что толщина равновесной пленки приблизительно равна удвоенной толщине межфазного слоя. Существует и другая возможность, связанная с исследованием оптических свойств (например зависимости интенсивности отраженного света от длины волны) пленок ВПАВ, сформированных на межфазных жидких границах и перенесенных на полированные металлические поверхности [170]. В работе [171] эллипсометрическим методом определяли толщины адсорбционных слоев полиэтилен-гликоля и поливинилпирролидона в водных растворах на границе с воздухом. Авторы наблюдали постепенное увеличение толщины слоя во времени до предельного значения, не изменяющегося во времени. Так, предельная толщина слоя полиэтиленгликоля равна 250 А (концентрация полимера в растворе 3 з/ЮО мл), а толщина слоя поливинилпирролидона (при концентрации 2—6 з 100 мл) 650 А. Интересно, что с увеличением температуры предельные толщины адсорбционных слоев этих полимеров несколько возрастали при 45° С адсорбционный слой полиэтиленгликоля равен 320 А, а поливинилпирролидона — 725 А. [c.235]

Смачивающие пленки формировали на полированной кварцевой пластинке 1 (рис. 13.8) путем приближения к ней мениска жидкости в трубке 2 радиусом 7 = 0,5- -1 мм. Жидкость отсасывали из трубки через щели 3. Толщину пленки ho в состоянии равновесия с окружающим ее мениском измеряли по интенсивности отраженного света. Радиус пленки Го составляет, в зависимости от капиллярного давления мениска Рк, несколько десятков мкм. Одновременно с измерением толщины фотографировали интерференционные кольца от мениска, что позволяло определить его профиль /г(г), где г — радиальная координата. [c.225]

Для того чтобы количественно определить содержание вещества в пятне, измеряют интенсивность рассеянного или отраженного света. Чистый слой сорбента отражает практически весь падающий свет, тогда как пятна, содержащие анализируемые вещества, поглощают часть света. Интенсивность отраженного света при этом уменьшается в зависимости от количества вещества в пятне и длины волны падающего света. [c.183]

Уменьшение размеров частиц сорбента приводит к возрастанию интенсивности отраженного света, поскольку измерение поглощения анализируемым веществом проводят в условиях, в которых закон Кубелки — Мунка [16] выполняется более строго, чем в классическом варианте ТСХ. [c.219]

При пользовании одной и той же кюветой интенсивность отраженного света постоянна в случае водных растворов эта величина невелика и ею можно пренебречь. Получаем [c.214]

Необходимым условием ПВО является прозрачность оптически менее плотной среды. Если же эта среда обладает способностью поглощать электромагнитную радиацию, то интенсивность отраженного света / будет меньше интенсивности падающего света /о, т. е. происходит нарушение (ослабление) полного внутреннего отражения (НПВО). [c.480]

Аналогично со случаем пенных пленок, образование вторичных черных пленок в тонких слоях жидкости между капельками эмульсий обнаружено не для всех электролитов оно наступает при концентрации ионов, превышающей некоторое определенное значение [205]. К сожалению, точные измерения в модельных эмульсиях не могут быть проведены, так как при этом очень низка интенсивность отраженного света. [c.109]

Интенсивность окраски пятен, полученных при капельных реакциях или на бумажных хроматограммах, можно исследовать измерением интенсивности отраженного света. Такие определения, выполненные с помощью фотометра, дают удовлетворительные результаты при работе с 1—20 мкл раствора, содержащего 0,1—5 мкг определяемого вещества [261, 290, 291]. [c.152]

Всем знакомо отражение света от поверхности озера или от лобового стекла автомобиля. Интенсивность отраженного света зависит от угла падения и разности показателей преломления двух сред, например воды и воздуха или воздуха и стекла. Отношение отраженного света к падаюш,ему, называемое отражательной способностью Я, может быть вычислено по уравнению Френеля [c.115]

При освещении поляризованным светом отражательная способность определяется ориентацией плоскости шлифа к плоскостям напластования. В плоскости, параллельной напластованию, уголь изотропен и при вращении столика микроскопа не меняет интенсивности отраженного света. Зерна углей, отполированные перпендикулярно напластованию, меняют свою интенсивность в процессе вращения столика, причем [c.32]

Интенсивность отраженного света, измеренная для образца твердых загрязнений топлива Т-1 [c.98]

Все операции (отбор проб, хранение осадков, приготовление образцов, измерение интенсивности отраженного света) выполняли в сухой инертной атмосфере. Относительная опшбка определения при неизменной поверхности образца составила 8—10%. Установлено, что значения п к у. зависят от химического состава твердых [c.99]

При работе с интенсивно окрашенными веществами следует иметь в виду, что в области поглощения понятие предельного угла теряет определенность. Вблизи максимума поглощения вместо резкого скачка интенсивности отраженного света при критическом угле наблюдается лишь постепенное увеличение коэффициента отражения, и точное визирование нерезкой границы светотени становится невозможным [13, 14]. [c.135]

В-апертура С — интенсивность падающего света О - относительная интенсивность проходящего света Е - относительная интенсивность отраженного света. [c.96]

Теоретические основы спектроскопии 30 кратко изложены во введении. Экспериментальное оформление этого метода в принципе несложно, хотя получение воспроизводимых абсолютных значений коэффициентов отражения и других величин, характеризующих 30, всегда было трудной задачей. Поскольку изменения отражательной способности электродов в большинстве интересующих электрохимиков случаев малы, в электрохимических работах, как правило, измеряются относительные величины. Чаще всего измеряется интенсивность отраженного электродом света при нормальном или наклонном падении. В последнем случае используется поляризованный свет. К рассматриваемой группе методов относится и эллипсометрия. В данном обзоре, однако, мы рассмотрим лишь работы, в которых эллипсометрические измерения используются для получения спектрального распределения оптических констант исследуемых металла или пленки, что пока не является типичным для эллипсометрии применением. Методы, основанные на измерении интенсивности отраженного света, не требуют довольно дорогой и часто дефицитной оптики, необходимой для эллипсометрии, и легче модифицируются для быстрых измерений. [c.117]

На отшлифованный образец наводят пучок световых лучей белого цвета и измеряют интенсивность отражения света с помощью фотомультипликатора, снабженного цифровым вольтметром. Общая отражательная способность записывается с помощью суммирующего, [c.63]

Здесь Ф сх — интенсивность отраженного света от абсолют.мо отражающего вещества (оптического эталона) Фдмф. тр — часть [c.162]

Проведены широкие исследования силикагелевых покрытий для высокоэффективных тонкослойных пластинок, отличающихся друг от друга размером частиц и толщиной сорбирующего слоя, причем тип силикагеля, связующего, добавки индикаторов, а также способ суспензи-рования сорбента и нанесения его на подложку во всех экспериментах были одинаковы. Разделение проводили в одних и тех же камерах при постоянных предваритель ном насыщении слоя и температуре. В ходе экспериментов изменяли также длину пути разделения и объем пробы, вводимой в хроматографическую систему, проводя по 10 параллельных определений. В целом было проведено 3 240 отдельных опытов. Интенсивность отраженного света измеряли на спектрофотометре PMQ II фирмы Ор1оп , аналоговый вывод которого был связан с управляющей ЭВМ 1ВМ 1800. [c.115]

Условия уксперимента Л -камера с насыщенной атмосферой, элюент — бензол, объем пробы каждого красителя 20 нл = 20 нг [церес фиолетовый ВВК (Ф1), краситель голубой (Г), церес зеленый (3)] детектирование приводили, измеряя интенсивность отраженного света ирп 586 нм восемь параллельных измерений. [c.134]

В большинстве случаев образовавшуюся окраску сравнивают со шкалой стандартов, приготовленной аналогичным образом с применением стандартного раствора любой соли мышьяка. Иног-да измеряют интенсивность отраженного света от полученного пятна с помощью рефлектометра [407]. Определение проводят в приборе Гутцайта (см. рис. 1). Предложен ряд модификаций этого метода [149, 451, 613, 765]. Бумажные кружочки, пропитанные бромидом ртути(П), обеспечивают несколько большую чувствительность определения мышьяка и используются более часто, чем кружочки, пропитанные хлоридом ртути(11). [c.62]

В едком натре малые содержания мышьяка (0,1—0,8 мкг в пробе) рекомендуется определять методом [407], включающим выделение мышьяка в виде арсина металлическим цинком в солянокислом растворе, поглощение арсина бромиднортутной бумагой и измерение интенсивности отраженного света образовавшимся окрашенным пятном. Метод пригоден для определения мышьяка в солях щелочных и щелочноземельных металлов. [c.176]

Другой метод измерения основан на законе отражения света (закон Френеля), согласно которому интенсивность отраженного света, падающего на поверхность границы раздела жидкости и стекла, пропорциональна углу падения и разности показателей преломления двух сред. Преимуществом детекторов, работающих на этом принципе, является меньший объем ячеек (<3 мкл), в связи с чем они могут работать при небольших расходах элюента и с высокоэффективными колонками. Oднal 0 yв твитeль-ность таких детекторов в 50—100 раз ниже вствительности других типов РМД, поэтому они более пригодны для градиентного элюирования. Так как детектирование проиЬходит на границе раздела жидкости и стекла, для получения стабильной работы детектора необходимо следить за чистотой стекла. [c.273]

Принцип, лежащий в основе анализа отражения в близкой инфракрасной области, заключается в измерении света, отраженного от образца при его освещении светом данного диапазона. Логарифм обратной интенсивности отраженного света можно связать с концентрацией какого-то компонента в составе образца. Величины концентраций, найденные для каждого диска, можно использовать для определения либо коэффициента диффузии, либо растворимости добавки. То же самое можно сказать про газовую хроматографию или ЖХВР. С другой стороны, с помощью ДСК можно определить экзотермический пик окисления антиоксидантов, что позволит сразу получить концентрацию растворенных антиоксидантов. [c.257]

Метод 30 достаточно просто сочетается с традиционными методами исследования электродных поверхностей. Обычно в электрохимических исследованиях с применением метода 30 сопоставляются оптические и кулонометрические данные. Это дает возможность оценить толщины пленок, влияющих на отражение. Такое сопоставление сделано в работе [41], где исследовалось отражение платинового электрода в 1 н. Н2504 при различных потенциалах. Хотя кулонометрические данные взяты из работы других авторов [43], имеется явная зависимость между интенсивностью отраженного света и количеством электричества, пошедшим на снятие окисной пленки. В [42] получены уточненные данные по отражению платинового электрода, позволившие построить спектры Я при различных потенциалах (рис. 23). Видно, что изменения Я с потенциалом малы, и это затрудняет получение надежных данных. Гораздо более чувствительным является метод многократного зеркального отражения (МЗО) 1[441 если Я близок к единице, то при многократном отражении, как и в случае НПВО [c.117]

Смотреть страницы где упоминается термин Интенсивность отраженного света: [c.226] [c.101] [c.101] [c.101] [c.279] [c.295] [c.614] [c.538] [c.470] [c.211] [c.226] [c.216] [c.269] [c.191] [c.202] [c.209] [c.218] [c.479] [c.480] [c.538] [c.538] [c.115] [c.235] [c.235]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология