Электронографические и электронно-микроскопические методы

В зарубежной литературе распространены представления, что в результате термического разложения комплексонатов железа вновь образуются исходные плохо растворимые оксиды железа и что термическое разложение комплексонатов отрицательно воздействует на работу агрегатов тепловых (ТЭС) и атомных (АЭС) электростанций с рабочими температурами выше температур термического разложения комплексонатов железа [862]. Вместе с тем советскими учеными показано [858, 862], что выпадение в осадок железооксидных соединений происходит только в отсутствие стальной поверхности, стальная поверхность же покрывается защитной оксидной пленкой магнетита, что установлено электрохимическим, электронографическим и электронно-микроскопическим методами [861]. Оставшееся в растворе небольшое количество железа присутствует не в виде оксидов, а в виде комплексов, термически устойчивых при данной температуре Это исключает локальные шламовые отложения и вынос железа в насыщенный пар. [c.459]

Параллельно с этим рентгеноспектроскопическими, электронографическими и электронно-микроскопическими методами исследовались структурные изменения, происходящие в полимере. При этом было показано, что исходный полимер состоит из микрообластей повышенной плотности (доменов) с размерами приблизительно 5 нм, и более крупных образований, объединяющих несколько доменов с характерными размерами 50—70 нм. В результате отжига происходит заметное увеличение размеров доменов (до 30 нм) путем уменьшения свободного объема в междоменных областях и включения междоменного материала в домены. Эти перестройки не сопровождались изменением фазового состояния полимера. Поэтому описанные изменения механических свойств полимеров при отжиге ниже Тс нельзя объяснить только изменением свободного объема, а следует связывать со структурообразованием в пределах аморфного состояния полимера. Более подробно неравновесные явления в полимерных стеклах описаны в [37]. [c.9]

Эти исследования, включая первые сообщения о полимеризации формальдегида в форме единичных кристаллов [24], долгое время не принимали во внимание, поскольку в то время безоговорочное признание имела теория бахромчатых мицелл, отрицающая возможность существования единичных кристаллов полимеров. Только недавно работы по морфологии кристаллов полимеров были продолжены при использовании электронографических и электронно-микроскопических методов. [c.247]

Построение реальных диаграмм состояния сводится к определению опытным путем температур фазовых превращений, характера и состава фаз, находящихся в данной системе в равновесии при различных температурах. Эти исследования производятся различными методами химического и физико-химического анализа — термическим, микроскопическим, электронно-микроскопическим, рентгенографическим, электронографическим, локальным рентгеноспектральным и другими методами анализа. Иногда используют также дилатометрические исследования, изучение электросопротивления, твердости и других свойств материалов. [c.281]

Целесообразность привлечения, помимо электронно-микроскопического, тех или других методов определяется характером изучаемого объекта и содержанием поставленной задачи. Это будет ясно из приводимых далее примеров. Здесь лишь отметим, что значительное, если не подавляюш,ее количество комплексных работ проведено с применением дифракции электронов или рентгеновских лучей. Это вполне естественно, так как в ряде случаев методы в значительной степени дополняют друг друга. В большинстве случаев рентгеновский и электронографический методы характеризуют первичную структуру объектов, т. е. тип кристаллической решетки и размеры кристаллитов, тогда как электронный микроскоп показывает так называемую вторичную структуру частиц, обусловленную способом упаковки кристаллитов. Можно сказать, что если первые методы дают сведения о кирпичах, из которых построено здание, то электронный микроскоп позволяет видеть это здание в целом, которое иногда имеет неожиданную и своеобразную архитектуру. Особенно часто проводятся параллельные электронно-микроскопические и электронографические исследования, так как любой электронный микроскоп современного типа легко превратить в электронограф и получить дифракционную картину от только что сфотографированного препарата. Возможность осуш,ествления в электронном микроскопе микродифракции, несомненно, способствует повышению научной ценности электронно-микроскопических данных. [c.128]

Электронно-микроскопическим и электронографическим методами показано [45], что примесные серебряные центры имеют аморфную структуру, — это в основном частицы, состоящие из малого числа атомов серебра. В процессе длительного созревания наблюдается появление кристаллических частиц. [c.63]

Большую роль сыграли рентгенографические, электронографические и электронно-микроскопические методы в изучении структуры скейетных катализаторов. На основании рентгеновского анализа установлено [78], что атомы остающегося элемента никеля или меди нри удалении из сплава Ы12А1з или СнгАЬ алюминия перегруппировываются в характерную для данного элемента решетку и распадаются на элементарные кристаллики величиной порядка 10 см. Перегруппировка атомов N1 и Си приводит в обоих случаях к соответствующей кубической решетке. С повышением температуры выщелачивания алюминия из сплава от 20 до 100° размеры элементарных кристалликов увеличиваются с 100 до 300 А [79]. [c.180]

Изучению внутреннего строения сферолитов посвящено много исследований с применением рентгенографических, электронографических, электронно-микроскопических и светооптических методов. Однако до сих пор этот вопрос окончательно не решен, и существуют разные точки зрения относительно внутреннего строения сферолитов. [c.68]

В. III, 1Е2). Позднее, путем электронно-микроскопических исследований было доказано, что истинно аморфные коллоидные материалы в продуктах реакций гидратации отсутствуют (см. О. III, 123) . Этот качественный результат подтверждается результатами непосредственного электронографического изучения гидратированной поверхности цементных частиц. Лафюма, Лекюир и Блидб опубликовали электронограммы соединений, образовавшихся на поверхности. Внутренние части зерен клинкера не участвуют в интерференции, ввиду сильной абсорбции электронного пучка более глубокими слоями. Этот метод открывает перспективы для исследования поверхностных реакционных пленок, образовавшихся во время гидратации самых различных гидравлических вяжущих веществ. [c.806]

Интересный метод препарирования полимеров с целью электронографического и электронно-микроскопического исследований был предложен Бассетом [14]. Этот метод позволяет проводить исследование верхних слоев толстых образцов, таких, как, например, многослойные кристаллы полиэтилена. Этот, так называемый метод отделяемых реплик заключается в следующем на поверхность исследуемого образца напыляется тонкий слой угля, затем ненапыленная часть образца растворяется, а полученная угольная реплика подвергается исследованию. Аналогичное фиксирование структуры происходит и при напылении металла для получения оттененных образцов в электронной микроскопии. Если отделять напыленные слои металла с помощью клейкой ленты из полиакриловой кислоты, то кусочки исследуемого полимера, извлекаемые из образца, остаются связанными с полученной репликой. В дальнейшем с этого полимера может быть снята электронограмма [15[. [c.234]

СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ - анализ структуры материала и его дефектов. Для исследования атомно-кристаллической структуры исполт,зуют дифракцию и рассеяние рентгеновских лучей (см. Рентгеноструктурный анализ), электронов (см. Электронографический анализ) и нейтронов (см. Нейтронографический анализ). Получили распространение методы анализа с использованием ориентационных эффектов при рассеянии тяжелых заряженных частиц (см. Ме-тодом ориентационных аффектов анализ), а также автоионный микроскопический анализ, в к-ром используют ионизацию атомов (или моле-ку.т) газа в неоднородном электр. поле у поверхности образца. При рассеянии потоков излучений атомами, находящимися в узлах идеальной кристаллической решетки, возникают резкие максимумы и диффузный фон вследствие комптоновского рассеяния. По положению и интенсивности максимумов определяют тип кристаллической решетки, размеры элементарной ячейки и расположение атомов в ней. Нарушения идеальности кристалла, напр, колебания атомов, наличие атомов различных хим. элементов, дислокаций, частиц новой фазы и др., изменяют положение, форму и интенсивность максимумов и вызывают дополнительное диффузное рассеяние, что дает возможность получать информацию об этих нару-шеннях. Дифракционными методалш изучают также строение веществ (напр., аморфных), пе обладающих строгой трехмерной периодичностью. Теории дифракции всех излучений имеют много общего, в то же время в них есть особенности, обусловли- [c.470]

В связи с тем, что электропо-микроскопические исследования не выявили различий в размерах кристаллитов, представлялось интересным изучить структуру поверхностных слоев покрытия методом электронной дифракции. Электронографическое исследование, проведенное в Лаборатории структуры поверхностных слоев [c.404]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология