Угловые величины

Для прямых измерений применяют измерительные средства, имеющие штриховые (линейные или угловые) шкалы, с которыми сравнивают измеряемую (линейную или угловую) величину. К ним относятся линейки, штангенинструменты, угломеры и различного рода оптические приборы — измерительные микроскопы, длиномеры и др. Повышение точности отсчета, связанное с оценкой доли деления шкалы, производится при помощи специальных устройств — нониусов. [c.472]

Учитьшая связь линейных, и угловых величин oR=V, dlR — а где У и а - соответственно линейные скорость и ускорение. [c.64]

Хотя выше рассматривался простой сдвиг, все полученные выводы легко переносятся на различные схемы крутильных колебаний, для чего линейные размеры и характеристики измерительной схемы заменяются соответствующими угловыми величинами. [c.146]

Следует добавить, что в выражениях (61) и (616) в правую их часть входит произведение двух геометрических величин, характеризующих спектральный прибор площади 5 действующего отверстия и углового размера выходной щели о) (угловая величина поля зрения). Поэтому при сопоставлении приборов по светосиле часто используют это произведение как геометрический фактор прибора . [c.39]

Регион Колебания средних значений угловых величин световых треугольников от граней округлых алмазов ПО , град [c.37]

Установлено, что угловые величины световых треугольников от граней округлых мелких алмазов соответствуют таковым для крупных округлых алмазов из различных месторождений (табл, 7). [c.37]

Для того чтобы избежать измерений угловых величин, можно воспользоваться следующим уравнением [c.64]

Основной единицей измерения угловых величин является радиан, а основной единицей времени — секунда. Поэтому единицей измерения угловой скорости служит величина [c.139]

Полученные угловые величины сильных отражений используют для расчета еще более точных значений параметров ячейки методом наименьщих квадратов. [c.122]

После юстировки кристалла по величине 20 для выбранных отражений вычисляют параметры решетки. Пользуясь методом развертки со/20, при котором угловые скорости поворотных кругов относятся как 1 2, отмечают со-положение максимума отражения hkl и затем поворачивают круг со так, чтобы зафиксировать отражение от плоскостей hkl. Величина 20 определяется разностью двух отсчетов со. Применяя метод наименьших квадратов к приведенной выше формуле (в разделе, описывающем дифрактометр с геометрией Вайсенберга), можно определить параметры ячейки, на основании которых получаются угловые величины х. и 20 для всех отражений. [c.124]

Программу сбора данных, которая управляет измерениями и выдает на печать готовый материал. Итерационная процедура состоит в следующем вычисляются индексы отражений вместе с необходимым набором угловых величин выбирается тип сканирования и выполняются различные проверки. Окончательные данные печатаются на бумаге и (или) перфорируются. [c.130]

Вычисление угловых величин для каждого отражения hkl. [c.135]

Выдача угловых величин. [c.135]

Выходные данные состоят из индексов отражений, соответствующих угловых величин, числа импульсов на счетчике и времени счета. Эти величины печатаются на бумаге и пробиваются на перфоленте. Для расчетов с помощью подходящей ЭВМ придаются программы, написанные на языке Фортран IV, для учета поправки на фактор Лорентца и поляризации и поправки на поглощение. [c.135]

Основные вычисления включают расчет исходных углов для установки кристалла в положение отражения и расчет угловых величин, при которых дифракционный пучок будет находиться в плоскости, где находятся падающий пучок и счетчик. [c.137]

Вычисление угловых величин для этого отражения. [c.138]

Операция 4 является наиболее важной, при этом сохранение последовательности операций 3—4—5 обязательно. Расчет угловых величин следующего отражения и выдача данных по предьщущему отражению проводятся при работе ЭВМ в режиме разделения времени. [c.138]

В этом методе перед щелью спектрографа помещается металлический диск, на окружности которого сделан вырез, угловая величина которого 0 удовлетворяет уравнению (рис. 180) [c.197]

На рис. 4.27 показана зависимость угловой величины кружка размытия, которую можно получить со сферическими линзами оптимальной формы, от фокусного числа Однако даже при наиболее удачном выборе радиусов кривизны преломляющих поверхностей размер изображения может быть больше допустимого. В этом случае для устранения аберраций применяют асферическую оптику. В зеркальных отражателях сферу заменяют параболоидом. В линзах переднюю поверхность выполняют в виде выпуклого эллипсоида, а заднюю — в виде вогнутой сферы с центром в [c.173]

Следовательно, время перемещения изображения одного элемента (Ы= ) на угловую величину, соответствующую значению Ар, будет =Др/2я(о [сек]. [c.232]

Для прямых измерений применяют измерительные средства, имеющие штриховые меры (линейные или угловые шкалы), с которыми сравнивают измеряемую линейную или угловую величины. К ним относятся штриховые линейки, штангенинстру-менты, угломеры и различного рода оптические приборы — измерительные микроскопы, длиномеры и др. К простейшим инструментам относятся измерительные линейки, рулетки, кронциркули и нутромеры, которые применяют для измерений наружных и-внутренних размеров деталей невысокой точности. Повышение точности отсчета, связанное с оценкой доли деления шкалы, гфоизводят с помощью специальных устройств — нониусов. [c.185]

Ошибки от модуляции. При модуляции потока излучения с помощью растровых дисков возникают ошибки в определении координат вследствие прерывистого чередования прозрачных участков растра с непрозрачными. Импульс фототока, определяющий координату теплоизлучающего объекта, появится в момент пересечения изображения прозрачной частью растра. При вращении диска возможны случаи, когда изображение пересекается сначала непрозрачной частью растра, а потом уже прозрачной. Импульс фототока по отношению начала отсчета поступит с запаздыванием на время А1, необходимым для поворота диска на угловую величину непрозрачной полосы растра. Величина, пропорциональная [c.277]

Рассмотрим некоторые случаи совмещения штрихов и наводки на объект. Наложение штриха-индекса на штрихи основной шкалы производится с точностью, соответствующей разрешающей силе глаза (60"). При наведении на край контура объекта точность наведения лежит тоже в пределах разрешающей силы глаза. Точность может быть повышена в несколько раз, если контур прямолинеен, а наводимый штрих пунктирный (подобно сетке штриховой головки инструментального микроскопа, фиг. 33). Наводка производится таким образом, чтобы половина толщины каждого пунктирного штриха была внутри контура, а половина вне его. Отсчет долей интервала между штрихом-индексом и штрихом основной шкалы производится с точностью одной десятой интервала. Наилучшая точность оценки доли интервала производится при угловой величине интервала порядка 20, что соответствует 1,5 мм при наблюдении на расстоянии 250 мм. Практически хорошие результаты дают шкалы с интервалом 1—2 мм. Применение интервала более 2 мм приводит к увеличению габаритов отсчетной системы, что почти всегда нежелательно. [c.86]

Для обеспечения видимости объект измерения (штрих, точка) должен наблюдаться под углом, большим порога видимости. Порог видимости характеризуется наименьшим углом, при котором объект становится видимым невооруженным глазом. Этот угол зависит и от освещенности объекта. Яркая точка, излучающая направленный пучок света (звезда, нить накаливания и т. д.), видна под весьма малым углом. Объекты, представляющие собой отражающую диффузную поверхность, в зависимости от освещения становятся видимыми под углом 15—100". При рассматривании тонких штрихов необходимо принимать во внимание явление иррадиации, заключающееся в том, что светлые объекты на темном фоне кажутся увеличенными, а темные на светлом — уменьшенными по сравнению с их фактическими размерами. Черный штрих на светлом поле виден при толщине не менее 0,004—0,005 мм (угловая величина при наблюдении с расстояния 250 мм — 4"). Светлый штрих на темном фоне виден и при меньшей ширине. Глаз обнаруживает излом линии, если [c.87]

Если в окулярном микрометре применяется окуляр Гюйгенса, изображение в котором получается в плоскости, расположенной между коллективной и глазной линзами окуляра,то при вычислениях необходимо учитывать действие коллективной линзы. Окуляр в микрометре непосредственного участия в измерительном процессе не принимает. Его увеличение выбирается таким, чтобы, наблюдая, можно было заметить перемещение подвижной сетки при повороте микрометрического винта на половину деления барабанчика. Угловая величина перемещения со стороны окуляра е должна быть поэтому равна или больше разрешающей силы глаза е. Если — увеличение окуляра, то [c.110]

Существуют четыре системы угловых величин, отличающихся друг от друга числом угловых единиц, заключенных в прямом угле (или во всей окружности). [c.199]

Р — угловая величина излома линии индексов [c.202]

Для полной характеристики максимума интенсивности при отражении по Брэггу, приведем выражения для углового размера и средней точки области полного отражения. Согласно (7.4) угловая величина этой области составляет [c.181]

Поскольку в пучках, отраженных монохроматором, наибольший интерес представляет область II полного отражения, рассмат ривается изменение трех параметров (в наших обозначениях) угловой величины области полного отражения Аг]о, согласно (7.32), и угловых смещений т]о и падающего и отраженного лучей соответственно, согласно формулам (7.34), (7.35) и (7.39). [c.255]

Измерение угловых величин не только позволяет идентифицировать кристаллы оно дало огромный материал для выявления геометрических закономерностей в них. Достаточно сказать, что учение о формах и симметрии кристаллических многогранников черпало фактические данные в значительной мере из гониометрических исследований. В настоящее время существуют специальные таблицы кристаллических углов, существенно облегчающие гониометрический анализ. Если к тому же учесть такие достоинства гониометрического метода, как например, возмон<ность работы с [c.115]

В конической степке коллектора имеется щелевое отверстие, угловая величина которого равна р очевидно, что sin f> (х)/2 0,5H R (х). Таким образом, при X О Р (0) = 13°, а при X = 90 см Р (90) -21°. При такой конструкции конусность коллектора очень мала и составляет около 2- 10 Максимальный радиус коллектора примерно в 9 раз больше отверстия щели, и с уменьшением п конусность несколько уменьи1ается, в то время как зависимость радиуса коллектора от величины И увеличивается с уменьшением п. Радиус коллектора становится бесконечным ири а = О н очень чувствителен к величине а при ее малых значениях. [c.485]

С /1.3). При этом коэффициент /1 эквивалентен величине Л1- (/(—тш2), входящей в формулы (У1.3), только вместо линейных мер в коэффициент входят угловые величины, а форм-фактор выражается следующим образом М=(/ о— /)/4л/li oЛ . Кроме того, в и учитывается инерция подвижных элементов, связанных с торсионом, а также массы исследуемого материала. Поэтому ири использовании формулы (VI.3) в рассматриваемой схеме деформирования вместо момента инерции I следует использовать приведенный момент ине,рции /о, вычисляемый как [c.122]

Фирма Хильгер по лицензии фирмы Джэррел-Аш выпускает спектрограф с разделителем порядков почти такого же типа, как и вышеописанный. Основной спектрограф с плоской дифракционной решеткой построен по схеме Эберта. Фокусное расстояние 3400 мм. Прилагаются 6 сменных дифракционных решеток 575 штрих/мм (с углами блеска 5,8 7,7 и 9,2°) и 237,5 штрих/мм (с углами блеска 9,7 18,3 и 37,6°). Разделитель порядков имеет три сменные призмы с угловой величиной спектрального диапазона [c.179]

Для однозначного определения взаимного расположения остатка сахара и гетероциклического основания в нуклеозидах необходимо помимо знания длины С—N-гликoзиднoй связи и угла, образуемого ею с плоскостью гетероциклического основания (см. табл. 2.1), определить еще две угловые величины. [c.134]

Другая дополнительная угловая величина характеризует взаимный поворот остатка сахара и гетероциклического основания вокруг гликозидной связи С-1—N. Этот поворот принято характеризовать углом вращения Ф ,N, образуемым проекциями связей С-Г—О и N-1—С-6 в пиримидиновых (или С-Г—О и N-9—С-8 в пуриновых) остатках на плоскость, перпендикулярную связи С-Г—О, как это показано на приведенных ниже ньюменовских проекциях [c.134]

Библиотека программ STADI 4 состоит из двух блоков. Программы первого блока ориентируют кристалл и определяют матрицу ориентации. Для каждой величины hkl вычисляются четыре угловые величины. Уточне- [c.133]

Всё это заставляет отдать предпочтение использованию для получения полной характеристической кривой ступенчатого сектора с 5—6 ступеньками. Основное достоинство сектора заключается в простоте градуировки и полном отсутствии селективности, — пропускаемость каждой ступеньки непосредственно равна угловой величине отверстия сектора. В соответствии со сказанным на стр. 135 для получения характеристической кривой соответствующей вариации I при / = onst, скорость вращения сектора должна быть достаточно большой, что необходимо проконтролировать для данных условий работы (стр. 131). [c.210]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология