Гониометрические методы

Фиг. 85. Гониометрические методы измерения углов а — коллимационный по углу отклонения б — коллимационный по углу отражения в — автоколлимационный г — по углу автоколлимации призмы д — подвой-

Пирл и Фелей [58] предложили оценивать свойства смазок косвенным методом по величине контактного угла, образующегося при нанесении на поверхность образцов с масляной пленкой капли воды (рис. 125). Этот метод был предложен для случая, когда смазанная поверхность будет контактировать с каплями воды, т. е. в условиях конденсации. Метод измерения контактного угла дает наилучшие результаты, если величина угла находится в пределах 10—80°, а количество добавок к маслу не превышает 10%- Контактный угол измеряют с помощью микроскопа и гониометрического окуляра через три минуты после нанесения капли. Измерение контактных углов, как показали опыты авторов, может характеризовать защитную способность смазки. Контактный угол жидкого минерального масла равен 70—85° оно защищает сталь во влажной атмосфере (камера) в течение нескольких часов ингибированное масло, контактный угол которого равен 55°, защищает сталь уже 100 ч, а при контактном угле, равном 30—35°, — в течение 200 ч. [c.219]

Гониометрические методы могут быть абсолютными и относительными. Абсолютные основаны на непосредственном измерении угла при помощи лимбов приборов, называемы.х гониометрами. Относительные методы основаны на сравнении угла измеряемого объекта с углом образца по сетке зрительной трубы или автоколлиматора. [c.205]

В большинстве. моделей промышленных рефрактометров используется дифференциальный гониометрический метод, а также методы полного внутреннего отражения и фотометрический при компенсационной схеме измерения. Табл. Х1П.2 содержит основные технические данные автоматических промышленных рефрактометров. [c.255]

В большинстве моделей промышленных рефрактометров используются дифференциальный гониометрический метод или метод предельного угла и компенсационная схема измерений с двумя (реже — одним) включенными в мостовую схему фотосопротивлениями. Последние предпочтительны благодаря малым габаритам и низкому напряжению питания. Табл. ХП, 1 содержит основные технические данные некоторых зарекомендовавших себя на практике автоматических промышленных рефрактометров. [c.261]

Измерение угловых величин не только позволяет идентифицировать кристаллы оно дало огромный материал для выявления геометрических закономерностей в них. Достаточно сказать, что учение о формах и симметрии кристаллических многогранников черпало фактические данные в значительной мере из гониометрических исследований. В настоящее время существуют специальные таблицы кристаллических углов, существенно облегчающие гониометрический анализ. Если к тому же учесть такие достоинства гониометрического метода, как например, возмон<ность работы с [c.115]

Для непрерывной регистрации показателей преломления чаще всего используются те же методы измерения, что и в визуальной рефрактометрии, а именно дифференциальный гониометрический метод, метод полного внутреннего отражения и реже — интерференционный и фотометрический методы. а [c.247]

Одной из важнейших частей современного дифрактометра является рентгеновское гониометрическое устройство (гониометр), представляюш ее собой сложный оптико-механический прибор, предназначенный для измерения углов дифракции ионизационным методом. От того, насколько точно гониометр позволяет измерять углы дифракции, зависит точность всех дифрактометрических из- [c.131]

Для непрерывной автоматической регистрации показателей преломления чаще всего используются дифференциальный гониометрический метод, методы полного внутреннего отражения и фотометрический и реже — интерференционный метод. [c.242]

В камере РКВ-86А имеется оптическая система 4, превращающая прибор в однокружный оптический отражательный гониометр. С помощью этой оптической системы можно проводить гониометрические измерения и установку хорошо ограненного и хорошо отражающего кристалла оптическими методами непосредственно в рентгеновской камере. [c.129]

Во всех случаях применение метода прямого изображения решетки кристаллов требует очень тщательной юстировки и чистки микроскопа практически перед каждым экспериментом. Сложность в подготовке объекта связана не только с необходимостью получения достаточно тонкого образца, но и с необходимостью получения заданной ориентировки, поскольку применение гониометрического столика не может обеспечить сохранения высокого разрешения. [c.543]

О схеме гониометрического устройства см, на стр. 211, 225 и 378—388 о схеме устройства для измерения интенсивности лучей ионизационным методом — на стр, 165—174, [c.134]

Для проверки гониометрических данных о симметрии кристалла часто применяется также полихроматический метод. Он используется одновременно и для решения ряда вспомогательных задач (выявление сростков и двойников и др.). Съемка по полихроматическому методу не является абсолютно необходимой. [c.232]

Изменение модификаций можно установить различными методами. Они основаны на различии физических, химических или других свойств обеих фаз. Метод, который используется наиболее часто, состоит в рентгенографическом определении структуры, которое дает точные параметры обеих структур. Однако часто достаточно определить ориентировки методами Дебая — Шеррера, Лауэ или с помощью ионизационных гониометрических снимков, чтобы установить точку превращения. Другой метод основан на изменении цвета, которое особенно проявляется у соединений ртути. Поэтому некоторые соеди- [c.185]

Этот метод используется для точной юстировки кристаллов. Дуги гониометрической головки устанавливают таким образом, чтобы одна из них была параллельна рентгеновскому пучку, а другая перпендикулярна. Затем при этом положении снимают рентгенограмму качания в интервале 15 . После этого головку поворачивают на 180 и повторяют съемку с большим периодом времени. Таким способом получают две дифракционные картины на одной и той же фотопленке. Опорную линию, от которой можно проводить измерения поправок, проводят в виде горизонтали между двумя получившимися на снимке нулевыми слоевыми линиями. [c.60]

Угловые размеры изделий в машиностроении измеряются в основном двумя методами тригонометрическим и гониометрическим. [c.204]

Далеко не всегда исследователь р асполагает достаточно большим образцом изучаемого твердого материала и достаточным объемом жидкости, необходимыми для измерения краевого угла по методу наклоняющейся пластинки. В таких случаях для определения краевых углов, как правило, используют каплю жидкости или газовый пузырек (рис. УИ-4). Зисман и др. [31] рассматривают каплю, сидящую на поверхности образца, под горизонтальным микроскопом с гониометрической шкалой, позволяющей непосредственно измерять краевой угол. Лежа и Полинг [32] сажают каплю или пузырек на отражающую (зеркальную) поверхность и фотографируют их под небольшим углом. При этом угол встречи прямого и отраженного изображения равен удвоенному краевому углу. Оттевил [33] разработал метод прижатого пузырька , в котором пузырек, контактирующий с твердой иоверхностью, формиру- [c.275]

Рентгеновская камера состоит из трех основных частей коллиматора — по-лого металлического цилиндра, вырезающего узкий пучок из выходящих конусом из рентгеновской трубки лучей устройства для крепления образца столика или гониометрической головки и кассеты. Столик для крепления образца применяется только а камерах, используемых по методу порошка. Гониометрическая головка используется во всех методах исследования монокристаллов. Головка позволяет поворачивать кристалл вокруг [c.86]

В съемках по асимметричному методу применяют специальное юстировочное устройство для центрировки образца типа гониометрической головки. Камера помещается в ультратермостат. Измерение расстояний 2/q облегчается применением тонких образцов при съемке п компараторов или микрофотометров. Определение периодов производят по последним линиям, т. е. по расщепленным дублетам fij и а. . [c.150]

ИЗ НИХ при добавлении центра симметрии. Однако 70 пространственных групп (включая 10 энантиоморфных пар) могут быть определены однозначно к счастью, сюда относится и Р2 /а-груп-па, наиболее распространенная среди нескольких тысяч исследованных до сих пор кристаллов (к ней принадлежит почти 26% всех органических кристаллов). Даже если погасания допускают неоднозначность (что обычно случается), можно осуществить разумный выбор с помощью исследования таких физических свойств, как наличие пиро- или пьезо-электричества, а также с помощью морфологического исследования кристаллов классическим гониометрическим методом или исследования статистики распределения интенсивностей отражений [метод первостепенной важности, разработанный Вильсоном (Wilson, 1949) и Роджерсом (Rogers, 1950)]. [c.56]

Спайность веществ (разделение кристаллов параллельно определенному кристаллографическому направлению) исследована для большей части интересующих нас соединений Кроме стандартных гониометрических методов в последнее время для полупроводниковых веществ группы алмаза применяется бритвенная методика исследования микроспайности [50]. [c.81]

Основным методом является гониометрическое определение междугран-ных углов. Впрочем гониометрический метод даёт однозначные результаты но всегда. Иногда представляет трудности да /ке определение сингонии. См. [15]. [c.88]

Теоретические и практические аспекты рассеяния света клетками и субклеточными частицами довольно полно рассмотрены в [66], а в работах [62, 63] дан обширный обзор рассеяния света бактериями и подобными им частицами. Принципы светорассеяния широко используют, например, при изучении морфологии ядер и клеток методом проточной цитометрии (измеряют рассеяние света вдоль и перпендикулярно потоку [91]), для обследования эпидермальных клеток гониометрическими методами [16],. лазерного контроля деформации эритроцитов [78]. Лазеры широко используют также для быстрого скрининга мочи на наличие в ней бактерий (бактериурия) нефелометрическим методом [6]. [c.542]

Рентгенооптическая схема фокусировки рентгеновских лучей по Бреггу — Брентано реализована в конструкциях отечественных дифрактометров типа ДРОН при работе с поликристаллами и срезами монокристаллических образцов. Основной частью рентгеновского дифрактометра является гониометрическое устройство, позволяющее измерять углы дифракции с точностью до нескольких десятых угловой минуты. Дифракционная картина, регистрируемая дифрактометрическим методом, представляет собой зависимость интенсивности рассеянного образцом излучения от угла дифракции, У ( ). Она может быть представлена либо в виде таблиц, либо в графической форме (рис. VI.7). [c.121]

При измерении углов отражения дифрактометрическим методом необходимо знать положение нуля счетчика, так как, в отличие от метода поликристалла с фотографической регистрацией, в дифрактометре регистрируется только одна половина дифракционного спектра. В хорошо отъюстированном дифрактометре плоскость образца совпадает с осью гониометрического устройства и с прямой линией, проходящей через центры коллимирующих щелей, формирующих первичный пучок, фокус трубки и центр приемной щели счетчика. Существует несколько методов калибровки дифрактометра по эталонам, по максимуму пучка, проходящего через узкую щель, установленную на оси гониометра, и т. д. [10]. Применение для калибровки эталонных веществ не обеспечивает наилучшей точности. В настоящее время широкое распространение получил метод калибровки, предложенный Турна-рп. Использование метода Турнари дает возмонгность определить положение нуля счетчика с точностью не хуже, чем 0,01°. [c.121]

Интересная конструкция высокотемпературной приставки к рентгеногониометру типа КФОР предложена в работе [19]. Авторы применили в качестве юстировочного устройства гониометрическую головку оригинальной конструкции, что позволило вынести механизм поворотов образца из области повышенных температур. С помощью этой высокотемпературной приставки можно исследовать монокристаллы при температурах до 500 °С рентгено-Еониометрическими методами, что особенно важно для определения. пространственных групп высокотемпературных фаз сегнето-электриков и других кристаллов, претерпевающих фазовые переходы в той температурной области. [c.140]

Третий метод, постоянно используемый в Орлеане начиная с 1970 г., основан на измерении всех структурных параметров по микрофотографиям. Полученные значения затем вводятся в формулы табл. 3, дающие коэффициенты фа и фв. Для ламеллярной структуры [47] с ошибкой до 5% получены значения й, и с в путем измерения с помощью высококачественной оптической системы (М1коп) по микрофотографиям на ультратонких срезах. Срезы проверяются на электронном микроскопе с гониометрической головкой для подтверждения того, что они действительно перпендикулярны плоскости ламеллы. [c.221]

Кроме случаев точных абсолютных измерений, метод призмы нередко применяется для гораздо более грубых определений показателей сильнопреломляющих иммерсионных сред (см. гл. XII), когда не могут быть использованы распространенные типы ре-фракто.метров. Для таких не очень точных работ применяются небольшие ( минутные ) гониометры и упрощенные конструкции полых призм без термостатирования (см., например, [14]). Расчеты при гониометрических измерениях невысокой точности могут быть значительно облегчены применением номограмм [15, 16]. [c.121]

В последующих главах при изложении всех вопросов, связанных с решением этих задач, будет предполагаться, что исследуемый кристалл хорошо огранен и уже изучен гониометрически. В главе XI будут рассмотрены задачи, решение которых не требует индицирования пятен рентгенограмм. Сюда относятся три первые задачи. Для определения размеров ячейки и определения типа решетки достаточно произвести некоторые общие измерения расстояний на соответствующих рентгенограммах ДЛЯ решения третьей задачи привлекается лишь симметрия в расположении пятен. Главы XII и XIII посвящены определению пространственной группы. Основой для ее определения является систематика индексов присутствующих отражений. Требуется, следовательно, определить предварительно индексы всех присутствующих на рентгенограммах пятен. В главе XII излагаются общие идеи, лежащие в основе метода определения пространственной группы. Глава XIII рассматривает вопросы, связанные с индицированием рентгенограмм, т. е. практическим нахождением пространственной группы. [c.232]

Как видно из приведенного только что описания операций, для получения рюнтрольных снимков выбранные кристаллографические направления ориентируются либо параллельно первичному пучку, либо перпендикулярно ему — вдоль оси гониометрической головки. Последнее необходимо и для дальнейшего исследования кристалла, которое обычно производится методом вращения (или одной из его разновидностей). [c.412]

Во многих камерах, предназначенных для работы по методу вращения, предусмотрены кроме цилиндрических кассет также и плоские кассеты для съемки лауэграмм (например, РКОП, РКВ и КРОН). Способ переюстировки кристалла после съемки лауэграмм в некоторой степени зависит от конструкции камеры и гониометрической головки. В камере РКОП юстировку кристалла можно осуществить за счет вращения барабана с головкой и движения его по дуге в камере КРОН — комбинацией перемещения кристаллоносца в дополнительной насадке с движениями по дугам головки. В других камерах, в частности в камере РКВ, юстировка осуществляется только за счет движения кристалла по дугам гониометрической головки. В этом случае желательно иметь головку с дугами, охватывающими большой интервал углов. Однако если в дальнейшем предполагается перенести кристалл в рентгенгониометр или дифрактометр, то при съемке лауэграмм приходится пользоваться лишь такими головками, которые подходят для этих приборов, а юстировку осуществлять только движениями по дугам головки. [c.412]

При регистрации рентгеновских лучей с помощью ионизационного прибора имеется возможность проследить за изменением интенсивности дифракционного луча при отклонении кристалла от положения, отвечающего условию Брегга — Вульфа. Эта особенность и используется при уточнении юстировки кристалла в дифрактометрах. Монокристальная приставка к дифрактометру УРС-50И позволяет проводить исследование порядным методом по экваториальной схеме. Как было выяснено в гл. ХП1, этот метод требует, чтобы с осью гониометрической головки был совмещен некоторый заданный узловой ряд обратной рещетки. Иначе говоря, кристалл должен быть ориентирован на головке так, чтобы заданная серия узловых сеток его решетки располагалась строго перпендикулярно оси головки. Уточнение юстировки удобнее всего проводить по отражениям от этой серии сеток. [c.428]

Гониометрические развертки подтвердили гексагональную симметрию кристаллов (класс Лауэ 6//н). Систематические погасания рефлексов приводят к двум возможным пространственным группам Р63 и Р6з/т. Параметры элементарной ячейки, а = 17.375 + +0.005, с=15.185+0.005 А плотность измеренная 1.4 г/см вычисленная на 6 формульных единиц [Ni(en)з]-81305-8.7Н2О 1.3 г/см . Измерения интенсивностей выполнены на монокристаль-ном дифрактометре со сцинтилляционным счетчиком по схеме перпендикулярного пучка методом неподвижный счетчик—вращающийся кристалл . Использовалось монохроматизированпое отражением от кристалла-монохроматора — Мо-Л -излучение. Были измерены 920 ненулевых неэквивалентных отражений [c.63]

Направление осей. Усы растут в направлениях с низкими индексами. Это установлено рентгеновскими и гониометрическими исследованиями для очень многих усов (например, все настояш,ие усы — метод А усы Ag, Hg, Zn, d, ZnS — метод Б усы Na l и K I — метод Е). Именно этого и следовало ожидать исходя из того, что усы обычно являются монокристаллами. [c.291]

Но у этого метода имелись, конечно, и свои недостатки, существе1шо ограничивающие его применение. Часто невозможно было различить вещества, относящиеся к одной сингонии. Гониометрические определения неоднозначны и в том случае, когда кристаллы плохо сформированы или деформированы. Главное же — гоп юметр чсский метод не давал прямого и однозначного ответа на вопрос, какова структура кристалла. [c.115]

Структурный кристаллический анализ. Замечательный кристаллограф Е. С. Федоров—создатель математической теории структуры кристаллов,—продолжая развивать идеи Менделеева, разработал метод кристаллохимического анализа, позволяющий определять химический состав кристаллов на основании измерений гониометрических внешних форм. Выдающийся химик Л. А. Чу-гаев назвал кристаллохимический анализ Федорова, описанный в его труде Царство кристаллов , гордостью русской науки. Кристаллохимический анализ основывается на законе постоянства углов между гранями кристалла. Величина этих углов определяется атомной кристаллической структурой, являющейся однозлачной характеристикой кристаллического соединения не только в отношении химического состава, но и принадлежности к определенной модификации. [c.16]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология