Дебая Шерера метод

Рис. А.48. Метод Дебая —Шерера (порошковая рентгенография).

Рис. 28.9. Схематическое изображение метода Дебая — Шерера [О 758).

По набору njd, полученному из дебаеграммы, можно получить параметры решетки и индексы каждого отражения, однако это задача довольно сложная. Сравнительно легко она решается для кристаллов кубической симметрии. Недостатком метода Дебая — Шерера является трудность расшифровки рентгенограммы, что обусловлено наложением линий, отвечающих разным pqr. [c.203]

Для установления структуры кристаллов используются различные методы [3—6], к которым относятся метод Лауэ, метод вращения кристалла, метод Дебая — Шерера (метод порошка ). [c.38]

Размер частиц в осажденных пробах аэрозолей в некоторых случаях можно определить с помощью рентгенографических измерений по методу Дебая — Шерера. При диаметре частиц менее 0,1 Л1К дифракционные кольца в порошкограммах начинают расширяться, и по их ширине можно определить средний размер частиц. [c.233]

Дебая температура 50, 51 Дебая—Шерера метод 46 Дефекты кристаллической структуры линейные 54 [c.187]

При применении метода Дебая —Шерера образцы должны иметь цилиндрическую форму диаметром около 1 мм. Готовят их одним из следующих способов [c.127]

Наиболее прост по техническому исполнению метод порошка (Дебай, Шерер), названный так потому, что для съемки рентгенограмм [c.60]

Большое значение имеет способ приготовления образца ксилана для его исследования. Особенно высокую степень кристалличности показывают образцы, приготовленные в виде пленки, и при облучении их рентгеновскими лучами перпендикулярно их поверхности. В этом случае дифрактограммы Дебая—Шерера показывают более десяти колец (рис. 24). Этим методом обнаружено наличие в препаратах ксилоуронидов ромбической элементарной ячейки размерами а = 9,16 А, [c.156]

Для установления степени загрязнения более чистого металла использовали физические методы определение плотности [273, 274], удельного электрического сопротивления [1406, 1444], температурного коэффициента электрического сопротивления [1406] и т. д. Из физических методов наиболее пригодным считался рентгенографический метод Дебая — Шерера, который позднее был подвергнут критике [2051]. [c.220]

Рентгенограммы сняты по методу Дебая—Шерера в камере РКД, излучение СиК . [c.122]

Съемка поликристаллического агрегата (например, порошка) в параллельном пучке монохроматического (характеристического) излучения (метод порошка, или метод Дебая—Шерера). [c.219]

Согласно методу Дебая — Шерера, исследуются образцы в виде порошка (поэтому этот метод часто называют порошковым ) или поликристаллического тела и используется монохроматическое рентгеновское излучение. Падающий монохроматический луч дифрагирует на плоскостях тех кристалликов, ориентация которых по отношению к падающему пучку удовлетворяет уравнению Вульфа — Брэгга. Дифрагированные от каждой системы одинаково ориентированных плоскостей лучи распространяются по образующим конуса с углом при вершине, равным 26. Пересечение этих конусов с плоской фотопленкой, располагаемой перпендикулярно падающему лучу за образцом, дает систему концентрических колец со все увеличивающимися радиусами, каждое из которых содержит все отражения с одним и тем же углом 0— Ц порошковую рентгенограмму (рис. 3.2, а, см. вклейку). На цилиндрической пленке, ось которой перпендикулярна падающему (пер- [c.80]

Если рентгеносъемку проводить в излучении с сильными монохроматическими компонентами, взяв образец, состоящий из множества крошечных, хаотично распределенных кристаллов, то уравнение (1.1) все же будет соблюдаться и без вращения образца, так как отдельные кристаллики окажутся в благоприятствующей отражению ориентации. Самый распространенный порошковый метод — это метод Дебая — Шерера [16, 17]. Из кристаллического порошка изготовляют цилиндрический стержень менее 0,5 мм в диаметре. Свернутую цилиндром пленку для регистрации отраженных лучей помещают в камеру, где [c.22]

Рнс. 48. Схема метода Дебая-Шерера [c.160]

Строение жидкостей. До недавнего времени общепринятым было представление о жидкости, как о собрании беспорядочно движущихся и хаотически расположенных молекул, в отличие от твердых тел, частицы которых располагаются в определенной закономерности, образуя пространственную кристаллическую решетку. Применение рентгеновского и электронного анализов заставило отказаться от такого взгляда на жидкости. Рентгено-грам аы жидкостей по методу Дебая-Шерера ( 124) обнаруживают одно или несколько ясно выраженных, хотя и размытых колец, напоминая рентгенограммы очень мелких кристаллических порошков. [c.189]

Мегод Дебая-Шерера. Вместо вращения отдельного кристалла можно взять спрессованный мелкий порошок, в котором кристаллики беспорядочно ориентированы, так что одновременно встречаются всевозможные углы отражения. Этот метод, предложенный Дебаем и Шерером (1916), является наиболее универсальным и часто применяемым. Он отличается простотой и возможностью ограничиваться минимальными количествами. Благодаря беспорядочной ориентировке кристалликов порошка [c.196]

Позднее более точная проверка (Позе и др.) дала схождение до 0,1%. В 1928 г. Дж. Томсон получил фотографии диффракции электронов от ряда металлов (тонкие слои на целлулоиде), которые точно отвечают фотографиям по методу Дебая-Шерера (рис. 62), с правильными диаметрами колец. При действии магнита кольца смещались, что окончательно доказывало их происхождение от электронов. [c.204]

X-ray powder порошковый метод рентгеноструктурного анализа, метод Дебая — Шерера [c.294]

Метод порощка (метод Дебая — Шерера). Съемка рентгенограмм (дебаеграмм) ведется в камерах с использованием монохроматического рентгеновского излучения и поликристаллических образцов из тонкого порошка в виде цилиндрического столбика (диаметр обычно 0,5—0,8 мм, высота 5—6 мм), плоского щлифа или порошка, наклеенного на подложку. Регистрация рентгеновского излучения осуществляется на узкой полоске фотопленки, свернутой в цилиндр. Рентгеновские лучи отражаются от поликристаллического образца, кристаллы которого расположены хаотически. Причем некоторые из них ориентированы в направлении, удовлетворяющем уравнению Вульфа — Брегга. Рентгеновские лучи, отраженные от этих кристаллов, образуют в пространстве сплошные конические поверхности, в результате пересечения которых с узкой пленкой, свернутой в цилиндр, экспонируются линии, имеющие форму дуг. Для увеличения числа кристаллов, участвующих в отражении, и получения более четкой дифракционной картины образец во время съемки может подвергаться вращению. [c.78]

Поликристаллы исследуют методом Дебая — Шерера порошок из множества беспорядочным образом расположенных кристаллов облучают при Я = onst. Поскольку кристаллы ориентированы беспорядочно, всегда найдутся отражающие плоскости для любого расстояния d. Полученные дебаеграммы регистрируют либо на плоскую, либо на цилиндрическую пленку. [c.203]

Таким образом, существует три классических метода получения дифракционного эффекта от кристалла полихроматический метод (или метод Лауэ), метод порошка (или метод Дебая — Шерера) и метод враш ения монокристалла. Различные схемы, основанные на методе вращения, но включающие то или иное перемещение кассеты с рентгеновской пленкой, называют рентгенгониометрическими. [c.55]

Метод измерения прямого и обратного отражения (метод Дебая — Шерера) (рис. 28.9). По этому методу узким пучком мс5-нохроматических рентгеновских лучей облучают маленький цилиндрический образец, причем короткие участки дифракционных конусов (дуги) ограничены полоской пленки (рис. 28.10), которую [c.120]

Основным вопросом при изучении ориентации волокна является вопрос о способе количественной характеристики ее в волокне. Известно, что рентгенографические исследования ориентации волокна основаны на методе Дебая — Шерера. Сущность метода состоит в следующем если снимать полностью дезориентированное волокно монохроматическим рентгеновским. ЙГа-излучением на плоской пленке, то на рентгенограмме будут образовываться сплошные дебаевские кольца с равномерным распределением плотности почернения по кольцу. При съемке ориентированных волокон прежде всего будет нарушаться равномерность интенсивности почернения дебаевских колец. Постепенно, по мере съемки все более ориентированных волокон, будут проявляться более интенсивные экваториальные рефлексы, а сами кольца разрываться. И наконец, в случае высокоориентированного волокна мы получим рентгенограмму, близкую к фазердиаграмме Поляни, с правильно расположенными интерференциями и слоевыми линиями. Следовательно, все реальные волокна будут давать рентгенограммы, в которых распределение интенсивности будет варьировать между этими крайними положениями. Поэтому задача количественной оценки ориентации сводится методически к измерению распределения интенсивностей почернения по кругу, как это было сделано Сиссоном и Кларком [13] на хлопке. Характеризуя ориентацию [c.19]

Если перпендикулярно направлению неотклоненного пучка поместить плоскую фотопленку, то после соответствующей экспозиции и проявления на ней появляется изображение концентрических колец (рис. 37) в результате пересечения плоскости пленки с конусами отраженных лучей. Рентгенограмму поликристаллической системы можно сфотографировать и другим, обычным для этих систем способом — по методу Дебая — Шерера [12]. При этом фотопленку помещают не в плоскую кассету, а располагают вокруг образца в виде цилиндрической полоски (рис. 38). По этому методу изображение на фотопленке представляет собой не замкнутые окружности, как на плоской пленке, а семейство дуг. Работая по методу порошка с помощью камеры Дебая — Шерера, можно получить полный набор значений углов рассеяния 20. Обычный прибор с плоской пленкой позволяет изучать только некоторый средний интервал 20, зависящий от расстояния [c.74]

Рентгенофазовому анализу подвергались образцы, содержащие 88 — 90 вес.% озонида натрия. Съемка рентгенограмм по методу Дебая—Шерера производилась на аппарате УРС-55 в камере РКВ-2, приспособленной для низких температур и применявшейся ранее в наше11 лаборатории [13]. Рентгенограммы озонида натрия хорошо воспроизводят друг друга, основные линии являются характерными для всех проб вещества. [c.191]

Подобное падение эманирующей способности наблюдается и для сильно спрессованных таблеток из хлорида натрия, содержащего равномерно-распределенный в нем RdTh или ThX-При температуре 700°, как видно из рис. 5-20, эманирующая способность подобных образцов падает, однако рентгеноструктурный анализ, выполненный методом Дебая-Шерера, показы- [c.765]

При 920°С на кривых нагревания для кальцита и арагонита наблюдаются пики, связанные с разложением карбоната кальция, при котором выделяющийся углекислый газ увлекает с собой торон из кристаллов. Сименс подтвердил правильность этого объяснения природы пиков путем взвешивания нагретых образцов. Пик на кривой арагонита при 530°С обусловлен переходом от структуры арагонита к структуре кальцита атомы торона легче выделяются из кристаллической решетки во время ее перестройки. Цименс доказал наличие этого перехода путем изучения структуры образца арагонита с помощью метода Дебая — Шерера до и после нагревания до 600°С. Подъемы кривых при 600 и ИОО С Цименс объясняет разрыхлением решеток карбоната кальция и окиси кальция. Согласно предсказаниям Таммана [ТЗ], для солей и окислов металлов при температурах, равных примерно половине их абсолютных температур плавления, должно происходить разрыхление решеток, способствующее повышению подвижности частиц, расположенных в узлах решетки. Для окиси кальция температура, равная половине абсолютной температуры плавления, составляет 1150° С. [c.244]

Метод Дебая — Шерера имеет наибольшее значение для изучения структуры полимерных материалов. В частности, он широко используется для исследования ориентированных поликристаллических образцов. В процессе растяжения кристаллы оказываются определенным образом ориентированными относительно оси растяжения, поэтому на рентгенограмме ориентированных образцов появляется текстура — кольца вырождаются в дуги большей или меньшей длины. Такие картины дифракции называют текстуррент-генограммами (рис. 3.3, см. вклейку). Распределение интенсивности вдоль дуги характеризует степень ориентации кристаллитов относительно оси вытяжки. Для исследования полимеров наибольшее значение имеют текстуррентгенограммы предельно ориентированных образцов, когда все кристаллы ориентированы одной и той же осью (обычно ось с кристаллографической ячейки) вдоль направления растяжения. Такая ориентация называется аксиальной текстурой. Рентгенограммы этих образцов близки к точечным. Именно по таким рентгенограммам обычно определяют тип и параметры элементарной кристаллографической ячейки и период идентичности вдоль цепи. [c.81]

Рентгенографическое определение границ областей гомогенности проводилось методом Дебая-Шерера на камерах РКУ-114М на излучении СиК [c.422]

Метод Дебая-Шерера. Вместо вращения отдельного кристалла можно взять спрессованный мелкий порошок, в отором [c.158]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология