Методы получения дифракционного эффекта

Методы получения дифракционного эффекта [c.54]

Области применения трех методов получения дифракционного эффекта [c.64]

Электронографический метод получения дифракционного эффекта от текстурированной пленки вещества с варьированием толщины пленки или скорости электронов первичного пучка. [c.148]

Вторая возможность — изменение ориентации решетки относительно падающего пучка — может быть осуществлена непосредственно путем вращения кристалла в пучке монохроматических лучей. При этом кристалл будет проходить последовательно и через такие положения, при которых те или иные тройки конусов будут пересекаться по одной прямой. В соответствующие моменты по таким прямым пойдут дифракционные лучи. Этот способ получения дифракционного эффекта называется методом вращения. [c.185]

Оо, Ро, Уо- В последнем случае непрерывное изменение одного из приведенных углов может быть достигнуто вращением кристаллической решетки вокруг одного из трех определяющих элементарную ячейку направлений. Этот способ получения дифракционного эффекта получил название метода вращения. Очень часто вместо полного вращения ограничиваются качанием кристалла на угол, не больший 40°. Такой метод, являющийся разновидностью метода вращения, называется методом качания. [c.85]

Дальнейший анализ дебаеграммы значительно сложнее. Геометрия дифракционного эффекта в методе порошка не дает никаких указаний об отдельных индексах дифракционных лучей (ср. с методом вращения). Это затрудняет переход от уравнения Брегга—Вульфа к условиям Лауэ, а следовательно, получение данных о константах решетки а, Ь, с, а, р, у. [c.224]

Амплитудный метод применяется при дефектоскопии оптически прозрачных материалов. При прохождении луча через исследуемый материал свет претерпевает рассеяние, отражение, преломление и другие эффекты на неоднородностях структуры и инородных включениях. Эти эффекты вызывают изменение интенсивности прошедшего или отраженного излучения. Анализируя эти изменения, можно определить характер неоднородности или дефекта. В том случае, когда геометрические размеры дефекта или включения соизмеримы с длиной волны, наблюдаются дифракционные явления, обусловленные дифракцией света на данном микрообъекте. При этом возможно получение дифракционного образа дефекта, по которому определяют его характер, степень опасности и т. д. [c.100]

Рентгенографический метод с его разработанной и в принципе стандартной техникой получения полного дифракционного эффекта и измерения интенсивности каждого отражения в отдельности занимает по праву ведущее место в структурном анализе. Преимущество электронографии выявляется там, где ставится задача точного определения координат легких атомов в присутствии тяжелого (зависимость интенсивности рассеяния от атомного номера выражена более слабо, чем в случае рентгеновских лучей). В частности, электронографический метод успешно применяется для фиксации атома водорода. [c.619]

Метод качания. Вторым методом, весьма удобным для выявления симметрии, является метод качания. Здесь дифракционная симметрия обнаруживает себя почти столь же непосредственно. Правда, при съемке по методу качания различные плоскости кристалла оказываются в отражающем положении в различные моменты времени. Но если рассматривать лишь суммарный эффект, не учитывая фактора времени, то и здесь дифракционная симметрия находит непосредственное геометрическое выражение. Рентгенограмма фиксирует этот суммарный эффект. Другое отличие картины, полученной методом качания, обусловливается тем, что качание происходит вокруг одной определенной оси. Симметрия рентгенограммы определяется не одним, а двумя направлениями оси вращения и первичного пучка. Это сокращает число типов симметрии до пяти Си Сг, С , Са , С г, (рис. 129). [c.256]

В разделе Физико-химические свойства и структура соединений с водородными связями объединены статьи, в которых излагаются результаты исследований, полученных с помощью дифракционных методов, калориметрических измерений и светорассеяния. Изложены данные об. изотопических эффектах в соединениях с водородными связями. Важной проблеме о связи процессов переноса протона с образованием водородных мостиков посвящена статья А. И. Бродского. Ее цель заключается не столько в том, чтобы дать обзор всех современных работ на эту тему, сколько в анализе важнейших нерешенных вопросов этой области. [c.5]

Таким образом, существует три классических метода получения дифракционного эффекта от кристалла полихроматический метод (или метод Лауэ), метод порошка (или метод Дебая — Шерера) и метод враш ения монокристалла. Различные схемы, основанные на методе вращения, но включающие то или иное перемещение кассеты с рентгеновской пленкой, называют рентгенгониометрическими. [c.55]

Итак, для получения дифракционного эффекта имеются в принципе две возможности результат можно достигнуть изменением длины волны или изменением ориентации решетки относительно падающего пучка. Правда, непрерывное изменение длины волны лучей реально неосуществимо. Можно, однако, воспользоваться сплошным спектром рентгеновских лучей. Среди лучей всевозможных длин волн будут присутствовать и такие избранные , которые дадут конусы,, пересекающиеся по одному направлению. Каждому дифракционному лучу с индексом pqr будет соответствовать своя длина волны. Все возможные дифракционные лучи возникнут одновременно. Этот способ получения дифракционной картины можно назвать полихроматическим. В первом опыте по дифракции рентгеновских лучей, осуществленном Фридрихом и Книппингом по предложению Лауэ, был применен именно этот способ. Поэтому обычно его называют методом Лауэ. [c.185]

Для получения заданной температуры образцы охлаждались до температуры несколько ниже тройной точки, что приводило к затвердеванию аргона и ксенона. Твердое состояние образцов обнаруживалось при наблюдении дифракционных максимумов, характерных для кристалла. Затем каждый образец слегка подогревали до тех пор, пока эти максимумы не исчезли. Разность между температурой, при которой наблюдалась смесь твердой и жидкой фаз, и температурой, при которой дифракционные максимумы соответствовали только жидкой фазе, составляли 0,3 0,1 К. Кривые интенсивности получены в монохроматическом молибденовом излучении с помощью 0 — 0 -дифрактометра. Регистрация рассеянного излучения производилась в интервале 5 от 0,3 до 14 Дифракционные эффекты наблюдались до значений 5=9 А 1 для аргона и S = 8 А для ксенона. Положение максиму MOB интенсивности и вычисленные по ним кра1чайшие межатомные рас стояния Ri и средние числа ближайших соседей приведены в табл 15. Там же указаны значения энергии парного взаимодействия атомов Экспериментальные кривые атомного распределения были соиоставле ны с теоретическими, рассчитанными методом идеальных пиков [c.159]

На фотографии фиг. 80 (время экспозиции /лю с) представлен участок интерферограммы нестационарного температуруюго поля в воде. Отчетливо видны дифракционные картины, обусловленные частицами ныли. При использовании в качестве осветителя высококогерентного лазерного излучателя трудно избежать этих эффектов. Расшифровку полученной нерезкой нитерференциониой картины (фиг. 80, правая часть) моисио облегчить, если воспользоваться фотометрическим методом. С помощью этого метода можно более точно определить центры интерференционных полос. [c.211]

Структура полиэтилена родственна структуре нормальных насыщенных углеводородов поэтому неудивительно, что и их рентгенограммы очень похожи. Межплоскостные расстояния и относительные интенсивности, которые соответствуют кристаллографическим плоскостям (АОО, OfeO, кШ), параллельным длинным осям молекул насыщенных углеводородов, почти не изменяются с увеличением числа атомов углерода п от 20 до 3000 [8]. Рентгенограммы насыщенных углеводородов, полученные методом порошка, отличаются друг от друга только за счет дифракционных плоскостей, не параллельных длинным осям молекул (00/, hOl, Oki, hkl). Расстояния между этими плоскостями постепенно изменяются с увеличением п до 130, а после этого остаются постоянными. Таким образом, концевые эффекты в полиэтилене не играют существенной роли, и можно считать, что в отличие от углеводородов с п = 20—130 при установлении структуры кристаллов молекул полиэтилена не нужно учитывать упаковку типа хвост к хвосту . [c.86]

Возможность применения метода дифракции медленных электронов (ДМЭ) для изучения поверхностных явлений связана с малой проникающей способностью электронов при энергиях от нескольких электронвольт до сотен электронвольт и с тем фактом, что длина электронной волны (150/В) /2 оказалась подходящей для дифракции на кристаллических решетках твердых веществ. Показано, что для электронов с энергиями не выше 250—300 эВ заметный вклад в образование дифракционной картины вносят только два и.ти три верхних слоя атомов поверхности, причем основной вклад приходится на первый монослой. Из-за малой проникающей способности электронов дифракционная картина по многим характеристикам больше похожа на картину дифракции света от двумерной решетки, чем на дифракцию рентгеновских лучей от трехмерной решетки криста.тлов. Чтобы оценить эти различия, целесообразно сравнить дифракционные картины рентгеновских лучей и ДМЭ. Для получения лауэграмм используют узкий пучок белого рентгеновского излучения, перпендикулярно падающий на монокристалл. От непрозрачного кристалла и рентгеновские лучи и медленные электроны отражаются и появляются с той же стороны криста.тла, откуда падает исходный пучок. Серии брэгговских отражений от разных рядов плоскостей в кристалле образуют дифракционную картину. Эти отражения можно получить в виде маленьких точек на фотопленке, помещенной на расстоянии неско.тьких сантиметров от кристалла нернендикулярно падающему лучу. Каждая точка соответствует брэгговскому отражению от одного ряда атомных плоскостей при одной д.тине во.тны. При несколько отличной длине волны эти плоскости не дадут отражения. Разные наборы плоскостей удовлетворяют уравнению Брэгга при различных длинах волн. Именно поэтому падающий пучок должен состоять из волн разной длины и представлять белое излучение. При применении ДМЭ благодаря преобладающему эффекту двумерной решетки [c.263]

Гораздо более успешный метод состоит в прямой конденсации паров воды на металлической поверхности при температуре жидкого кислорода. Бертон и Оливер [3] предварительно показали, что полученные этим методом пленки дают дифракционную картину, типичную для жидкостей или стекол. Пленки образовывались на поверхности медного калориметра, они были прозрачны в тонких слоях. При нагревании калориметра не наблюдалось обратимых тепловых эффектов, характерных для интервала размягчения, но во всех случаях при температуре — 129 1°С происходило необратимое выделение тепла, что свидетельствует о начале кристаллизации. Эти данные хорошо согласуются с величиной температуры кристаллизации, найденной Старонка. Выделяющееся количество тепла составляло от 2 до [c.234]

Рентгеновская дифракция также дает полезную информацию о морфологии полимера. Изучение дифракции в широких углах особенно полезно для получения информации о размере и форме кристаллитов, а также о степени кристалличности твердых полимеров. Принципиальная схема метода дана на рис. 1У-31, тогда как рис. 1У-32 показывает зависимость интенсивности от угла рассеяния. Как видно из рис. 1У-31, рентгеновский луч направляется на образец полимера, и измеряется интенсивность рассеяния как функция дифракционного угла 29. Наличие кристаллических областей обнаруживается по острым пикам на дифрактограмме, тогда как аморфные области дают более размытые пики. Степень кристаличности определяют, измеряя площадь под каждым из пиков. Однако часто бывает трудно различить рассеяние, обусловленное кристаллическими и аморфными областями. Поэтому степень кристалличности иногда не удается определить с высокой точностью. Еще одну проблему представляет наличие очень мелких кристаллитов, поскольку они характеризуются эффектами рассеяния, свойственными обычно аморфному материалу. В то же время уширение пиков рассеяния, характерное для мелких кристаллитов, может быть использовано для оценки их размеров. [c.201]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология