Диффузное отражение степень

Диффузное отражение света минералами обусловлено особенностями строения их агрегатов минералы землистого строения характеризуются матовым блеском прозрачные минералы параллельно-волокнистого строения имеют диффузно-направленное отражение, определяющее их шелковистый блеск. Явление интерференции в тонких пластинках прозрачных минералов вызывает их перламутровый блеск, а в непрозрачных минералах, обладающих металлическим блеском, это явление называют побежалостью. Сравнение минералов по степени блеска, значению пи/ приведено в табл. 8. [c.82]

Обозначим далее через е , e и энергию беспорядочного теплового движения, приходящуюся на единицу массы газа на степени свободы поступательного, вращательного и колебательного движений. Принимается, что коэффициент диффузности отражения 5=1. Потоки энергии, входящие в выражение энергетического баланса (67,21), определяются соотношениями [c.335]

Как было показано Батлером [25], способность люминофора поглощать возбуждающую радиацию существенно зависит от степени дисперсности люминофора. Особенно нежелательна фракция с размером зерен менее 3 мкм, поскольку ей присуще сильное диффузное отражение возбуждающего излучения. Поэтому гранулометрический состав люминофора существенно влияет на яркость свечения. [c.80]

Значительное внимание в монографии уделено возможностям и ограничениям метода ИК-спектроскопии при исследовании адсорбционных систем, выбору наиболее рациональной методики исследования и возможным теоретическим трактовкам результатов. Подробно рассмотрены методики подготовки образцов, получения спектров и измерения интенсивностей. Следует подчеркнуть, что эта сторона монографии особенно важна для начинающих исследователей, поскольку правильный выбор и разработка методики в значительной степени определяют возможности и успех исследования процессов на поверхности. Из новых методических разработок, не отраженных в книге достаточно полно, следует отметить находящие сейчас все большее применение методы исследования с использованием диффузного отражения, нарушенного внутреннего отражения и получения спектров адсорбированных и хемосорбированных молекул при высоких температурах. [c.5]

Степень диффузного отражения. ...............— /С, (S) [c.46]

Степень диффузного отражения. ...............— К, (S) [c.46]

Формула для приведенной степени черноты Е в случае длинных цилиндров и концентрических сфер (диффузное отражение) в практических расчетах может применяться с достаточной точностью и для коротких цилиндров с эллиптическими или плоскими днищами, а также и для оболочек другой формы при условии, что А1 и А2 равны полным площадям внутренней и наружной поверхностей, обращенных в изолирующее пространство. Действительный характер отражения на поверхностях обычно неизвестен. Часто предполагается, что отражение имеет диффузный характер, а не зеркальный, но это предположение может оказаться несправедливым в случае хорошо отражающих поверхностей или при больших длинах волн излучения в низкотемпературном оборудовании. При отсутствии сведений о характере отражения приведенные формулы служат только для определения пределов, в которых может лежать Е. В обычном случае, когда отношение [c.173]

Наибольшее влияние на габитус кристаллов оказывает температура синтеза. При прочих равных условиях тонкие прозрачные для электронного пучка волокна синтетического муллита получаются только при низких температурах. С увеличением температуры толщина кристаллов возрастает, а степень волокнистости уменьшается. Анализ точечных электронограмм муллита показал, что они соответствуют в большинстве случаев плоскостям (110), (010) обратной решетки и, следовательно, отвечают плоскостям кристаллической решетки с теми же индексами (для ромбической сингонии индексы соответствующих плоскостей прямой и обратной решетки имеют с точностью до постоянного множителя одинаковые значения). Расчет точечных электронограмм дает следующие значения параметров а = 0,754 нм и с = 0,2982 нм, что характерно для муллита. Дифракционные картины муллита содержат запрещенные рефлексы. На рис. 51, г представлено сечение (ЛО/) обратной решетки муллита. Для этого сечения характерны четкие отражения 002, 200, 400 и т. д. Наблюдаются запрещенные диффузные рефлексы. На точечных электронограммах, отображающих сечения (ПО) обратной решетки муллита, запрещенные рефлексы расположены в центре прямоугольника, образованного рефлексами 00/ и кШ. Электронно-микроскопическое исследование показывает, что независимо от физико-химических условий синтеза иглы муллита являются монокристаллами с осью роста С. 154 [c.154]

Белые пигменты благодаря повышенной отражательной способности обладают свойством усиливать яркость бесцветных или окрашенных веществ. Об идеально белом цвете говорят в том случае, когда падающий свет полностью диффузно отражается телом. Кривые отражения цинксульфидных, анатазных и рутильных пигментов показывают, однако, что эти три типа пигментов по-разному отражают падающий свет (рис. 3.5). Точно яркость и цветовой оттенок можно определить с помощью стандартных модулей цвета. Стандартный модуль X называют красным модулем цвета, Y — зеленым модулем цвета или исходным параметром яркости А и Z —синим модулем цвета (DIN 5033). Цвет относительно белых пигментов, их степень белизны тоже можно однозначно охарактеризовать тремя стандартными модулями цвета. Однако это не является количественной характеристикой степени белизны. [c.127]

Практически степень черноты излучателя будет ниже, так как формула (2.4) справедлива только для идеально полированной поверхности, реальный же излучатель при длительном нагреве становится шероховатым и часть лучей в результате диффузного излучения может выходить из полости без предварительного отражения от стенок в пределах угла Q (рис. 2.4). [c.47]

Степень белизны у белых пигментов зависит от многократного отражения падающего света поверхностью частиц. Благодаря диффузному характеру отражения белые пигменты обладают более высоким альбедо (коэффициент отражения), чем пигменты, отражающие падающий на них свет зеркально, например алюминиевая пудра. [c.152]

Белизна характеризует степень приближения цвета тела к идеально белому. Идеально белой считается поверхность, диффузно отражающая падающие на нее лучи света во всей видимой области спектра, спектр отражения имеет вид горизонтальной прямой на уровне 100%. Визуальная оценка белизны затруднена особенностями восприятия, связанными с тем, что при одном и том же коэффициенте отражения поверхность с голубоватым оттенком воспринимается как имеющая большую белизну, чем поверхность с желтоватым оттенком. Для оценки белизны белых поверхностей, обладающих различными оттенками, служит инструментальный (колориметрический) метод. [c.18]

Этот полимер обладает очень низкой степенью кристалличности на рентгенограмме вытянутого волокна видно только незначительное количество диффузных пятен. Единственной надежной величиной, которую можно получить из этой рентгенограммы, является величина периода идентичности 5,1 Л имеющихся отражений от кристаллов слишком мало даже для того, чтобы определить размеры элементарной ячейки. Судя по диффузному характеру рефлексов, кристаллические области в полимере очень малы. [c.269]

На сводную диаграмму рис. 280 нанесен годовой ход элементов внешнего теплового баланса и некоторых других характеристических величин. Кривая 1 выражает годовой ход поступления солнечного тепла в прямом потоке солнечных лучей и в диффузном потоке от облаков. Она вычислена на основании диаграммы рис. 236, построенной для различных широт и на основании приближенного учета коэффициента использования по примеру рис. 238. Здесь пренебрегается потерями тепла на отражение от поверхности воды, льда, снега и тем самым до некоторой степени компенсируется отсутствие данных о выделении тепла при конденсации водяного пара на поверхности моря, нередкой в этих широтах. Годовой ход температуры воздуха выражает кривая 2, причем масштаб ее ординат нанесен справа от диаграммы. Кривая о представляет изменения толщины ледяного покрова в сантиметрах (цифры, проставленные слева от диаграммы, показывают и эту толщину, и количество калорий, теряемых за сутки с квадратного сантиметра поверхности моря). Лед образовался около 20 октября. Его сплошной слой перестал существовать около 8 июля следующего года, после чего по поверхности моря плавали лишь отдельные льдины, продолжавшие таять до конца сентября. [c.486]

Для ориентировочных подсчетов можно полагать с достаточной степенью приближения, что в среднем 0,95 энергии падающего диффузного света входит в воду, а 0,05 отражается. В дальнейшем, при исследовании окраски моря мы еще раз вернемся к вопросу об отражении света от поверхности моря. Здесь же необходимо еще в двух словах остановиться на поведении лучей, вошедших в воду, непосредственно у поверхности раздела между средами. [c.682]

Спектры диффузного отражения углей вблизи ИК-облас-ти новый индекс степени углефикацни и карбонизации. [c.54]

По DIN 53162 Определение кроющей способности воздушносухих ахроматических пигментированных лакокрасочных продуктов под кроющей способностью пигментированного лакокрасочного продукта понимается его способность так нивелировать контраст между черной и белой подложками, чтобы степень диффузного отражения света от черной подложки составляла 98% степени диффузного отражения от белой. [c.40]

Белизна покрытий определяется долей диффузно отраженного света и равномерностью отражения по всей видимой области спектра. Диффузное (рассеянное) отражение света происходит по трем механизмам 1) отражение света от каждой частицы 2) преломление света, прошедшего через каждую частицу и 3) дифракция света, т. е. огибание световыми волнами малых частиц. Последний вид рассеяния наблюдается в тех случаях, когда размер частиц соизмерим с длиной волны падающего света. Степень белизны зависит от разности показателей преломления дисперсионной среды и дисперсных частиц, количества, размеров и формы дисперсных частиц, состояния поверхности и других факторов. Белизна ахроматического цвета (белый, серый, темно-серый) полностью определяется коэффициентом диффузного отражения. В качестве абсолютного белого диффузора применяют прессованный BaS04. [c.136]

Блеск покрытий возникает при такой структуре осадка, когда падающий на него свет отражается направленно. Чем меньше диффузное отражение, тем более блестящим будет осадок. Поэтому блеск осадков в основном не зависит от размеров зерен, а скорее от их формы и иногда текстуры осадка. Иными словами, чем более сглаженной будет поверхность зерен, например ближе к сфере, и чем больше одинаково ориентированных плоскостей зерен будет отражать свет, тем более блестящим будет осадок. Очевидно, если размеры зерен будут меньше, чем длина волны коротких световых волн, составляющая 0,4 мкм, микрошероховатости на поверхности заметны не будут и осадок будет иметь блеск. Если же макрошероховатости будут заметны, это приведет к снижению степени блеска. [c.35]

По данным ЭПР при скоростном нагреве концентрация парамагнитных цен-аров (ПМЦ), обусловленная образованием свободных радикалов, увеличивается уже при 300 °С, что свидетельствует о затруднениях в рекомбинации радикалов, возникающих в еще твердом угольном веществе. При переходе в пластическое состояние угольного вещества концентрация ПМЦ в быстро нагретом угле несколько меньше, чем в медленно нагретом. Электронные спектры, снятые по методике диффузного отражения, показывают у быстро нагретого угля смещение положения максимума полосы поглощения Ящах в длинноволновую область, что отражает образование близких по размеру молекул. Отношение удельного длинноволнового поглощения Fuoo/Fxmax свидетельствует о наличии при скоростном нагреве более протяженных участков полисопряжения в молекулах угольного вещества. Формирующийся при быстром нагреве углеродистый остаток содержит молекулы, обогащенные функциональными группами, что обусловливает его большую реакционную способность. Все показатели резко изменяются на границе существования пластичной массы (450 — 480 °С). В коксовых остатках, полученных при одной конечной температ фе, но с разной скоростью нагрева, возникает менее упорядоченная структура, вследствие чего по данным рентгеноструктурного анализа увеличивается межплоскостное расстояние в кристаллитах и снижается степень гра-фитации для быстро нагретых образцов. [c.105]

Однако, поскольку соотношение (2) дает общую картину спектра, который может быть в принципе произвольно смещен по оси ординат, то действительный интерес представляют лишь положения максимумов поглощения е. Но это уже наблюдалось при измерении спектральной зависимости самого диффузного отражения Ддифф. В соответствии с формулой (1) минимумы спектральной кривой ддфф (X) соответствуют максимумам функции F (-Rдифф) как функция от к. Поэтому для упрощения спектры поглощения молекул, адсорбированных из газовой фазы на порошкообразных светорассеивающих адсорбентах, могут быть представлены в виде спектральных функций 1/Лддфф или —log Дд фф, не давая значений относительной экстинкции, которые получаются пересчетом значений Дд фф в F (Дд фф). Целесообразно использовать световые потоки, выходящие йз двух одинаковых ячеек, содержащих адсорбент, причем только в одной из них находятся пары адсорбата. В этом случае рассеивание самим адсорбентом в значительной степени компенсируется, измеряется лишь спектр адсорбата (см. [27]). [c.228]

Следующая рентгенограмма (рис. 2.3, б) получена от образца ПЭТФ, освобожденного из зажимов растягивающего устройства, но находящегося в среде я-пропанола Как было показано выше, такой образец претерпел существенную усадку (около 30%). Это обстоятельство нашло свое отражение на рентгенограмме. Экваториальный рефлекс принимает овальную форму и стягивается к центру, что соответствует разориентации и укрупнению фибриллярных элементов микротрещии. Еще в большей степени эти особенности характерны для образца, из которого полностью удалена жидкая среда (путем высушивания) и который (см. рис. 1.17) практически полностью восстановил исходные размеры. Как видно на рис. 2,3, в, полное восстановление размеров сопровождается полной разориентацией структурных элементов микротрещии, в результате чего рентгенограмма становится симметричной. Однако сильное диффузное рассеяние свидетельствует о том, что несмотря на практически [c.41]

Если образец представляет собой монокристалл, то в результате дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке на помещенной за образцом фотопленке (так, чтобы плоскость ее была перпендикулярна направлению падающего луча) появляется система пятен — точечных рефлексов, соответствующих отражениям от разных систем плоскостей (точечная рентгенограмма). При использовании монохроматического рентгеновского излучения (X = onst) для получения отражения от всех плоскостей монокристалла, образец вращают внутри полостй, образованной фотопленкой, свернутой в цилиндр. Если образец состоит из беспорядочно ориентированных кристалликов, то на плоской пленке, расположенной за образцом, получается система кольцевых рефлексов, порошковая рентгенограмма, или рентгенограмма Дебая — Шерера. При рассеянии рентгеновских лучей аморфным веществом, т. е. в отсутствие дальнего порядка, возникают широкие диффузные кольца (аморфные гало). Положение рефлексов дает возможность, используя уравнение (26), рассчитать межплоскостные расстояния для главных систем плоскостей в кристалле. Кроме того, существует специальная система приемов, позволяющая определить тип кристаллографической решетки и параметры элементарной ячейки. Однако часто рентгенограммы содержат недостаточную для этого информацию, и тогда при их расшифровке решают обратную задачу — выясняют, удовлетворяет ли дифракционная картина некоторой заданной структуре решетки. Интенсивность рефлексов различного порядка позволяет судить о расположении атомов и групп атомов в узлах кристаллографической решетки. Ширина каждого рефлекса А9 определяется степенью отклонения условий рассеяния от идеальных. Эти отклонения могут быть связаны со схемой прибора, некогерентностью излучения и т. д. Их можно учесть с помощью системы специальных попра-вок Более существенным, особенно для полимерных кристаллов, является уширение рефлекса вследствие ограниченных размеров отдельных кристаллов D и иска жений кристаллографической решетки, вносимых ра ного рода дефектами. При использовании рентгеновск лучей, для которых 0,5 — 2,5 А заметное увеличение [c.59]

С целью определения количественных характеристик степени графитизации графита с грубыми дефектами были разработаны различные рентгеновские методы исследования 530]. Несмотря на то что таким способом можно установить некоторые полезные эмпирические закономерности, истинная количественная оценка дефектов может быть произведена только на основе учета интенсивности рентгеновских отражений, когда структура не слишком отличается от почти идеального графита. Например, все виды кристаллического углерода имеют некоторые характерные черты структуры графита [295]. В большинстве случаев на рентгенограммах углерода с весьма неупорядоченной структурой наблюдаются диффузные кольца, приблизительно соответствующие линиям графита (002) и (100). Это указывает на присутствие гексагональной сетки углерода в параллельных слоях, но не везде правильным образом ориентированной. Помимо этих отражений (002), в таком неупорядоченном углероде обнаруживаются М-линии и отсутствуют линии кЫ (/ 0). Если имеет место процесс графитизации при нагревании, то его можно обнаружить по появлению и усилению отражений М/ (I = 0) (см. также данные Касаточкина и Кавер01ва [521]). [c.40]

Р. Шпрингер [5] считает, что впечатление блеска создается не зеркально отраженным светом, а диффузно рассеянным, потому что для человеческого глаза блеск — это отсутствие матовости. Поскольку впечатление матовости возникает от диффузно рассеянного света, то правильнее характеризовать степень блеска поверхности измерением интенсивности диффузно рассеянного света. [c.211]

Для вычисления интенсивности стандратной линии необходимо измерить интенсивность линии образца, ее степень деполяризации, показатель преломления образца, интенсивность линии I4 и ее степень деполяризации. Зависимость чувствительности спектрометра от частоты может быть установлена при освещении щели монохроматора диффузным светом — излучением обычной вольфрамовой лампы, — отраженным от поверхности MgO. Кроме того, кривую зависимости а от частоты можно построить вычислением значений по уравнению (2) для нескольких частот, используя известные данные об абсолютной интенсивности линий вторичного стандарта, например H I3 [65, 71]. [c.32]

Для маогих случаев, как то освещение школ, чертежных и фабричных зал, бывает выгодно смягчать сильные контрасты (падающие тени), возникающие при прямом освещении, применением полуотраженного или отраженного освещения. В первом случае видимая часть рефлекторов делается из сильно рассеивающих свет материалов, во втором случае — из непрозрачных материалов. Степень диффузности освещения приходится выбирать сообразно выполняемой работе, так как вполне отраженное освещение уменьшает восприятие рельефности предметов благодари полному отсутствию теней. [c.1112]

Рентгеновские методы определения степени совершенства кристаллической структуры (мозаичности, разрыхления, наличия внутренних искажений и т. п.).Свойства кристаллического вещества зависят от степени совершенства кристаллической структуры. Реакционная способность кристаллов тем выше, чем большеэнергия их решетки отличается от энергии нормальной решетки из-за искажений, мозаичности и разного вида нарушений. Нарушение и искажение структуры кристаллов находит отражение на рентгенограммах в ослаблении интенсивности линий и появлении диффузного фона. Поэтому возможна и более тонкая оценка состояния кристаллической решетки. Соответствующие методы нашли применение для измерения внутренних напряжений в металлах для исследования неметаллических объектов, имеющих искаженную решетку, необходимо дальнейшее совершенствование рентгеновских методов и сопоставление получаемых результатов с физико-химическими свойствами веществ. [c.19]

Для интерпретации больших периодов Гесс и Киссиг [43] разработали хорошо известную модель, которая стала общепринятой и которая первоначально давала наиболее правдоподобное объяснение наблюдаемых фактов. Одпако впоследствии возникли очень серьезные сомнения и вопросы по поводу этой модели. Эта модель годится для описания системы фибрилл, через которые проходят цепи макромолекул. Области с повышенной и пониженной степенью упорядоченности чередуются более или менее регулярно, как показано на веревочной модели, приведенной на рис. 137. Используя общепринятую терминологию, эти области можно назвать кристаллическими и аморфными областями (признавая при этом спорность определения этих терминов в применении к полимерным материалам). Большой период должен быть равен сумме длин одной кристаллической и одной аморфной области. Конечно, для того чтобы объяснить отсутствие отражений высших порядков и диффузный характер рефлексов, следует предположить наличие относительно больших статистических колебаний порядка. Несомненно, что наиболее сильным подтверждением правильности такой модели служит работа Гесса и Маля [46]. В этой работе они показали, что периодичность можно непосредственно наблюдать на электронных микрофотографиях поливинилового спирта и целлюлозы, обработанных иодом и таллием периодичность на микрофотографиях согласуется с периодичностью, оцененной на основании малоугловых рентгенограмм. [c.220]

Количественный анализ катализаторов методом диффракции рентгеновских лучей сложен и не очень точен по следующим причинам а) диффузный фон, образующийся как из-за особенностей аппаратуры, так и из-за различного рода неупорядоченности в кристаллитах б) расширение линий в) различие в отражениях от различных фаз вследствие различий в рассеивающей силе составляющих атомов г) различия в интенсивности рассеивания, определяющиеся размерами единичной ячейки и степенью асимметрии д) случайная интерференция линий е) флюоресцентное излучение от образца и трудности, присущие методам измерения интенсивности линий. Применение в качестве стандарта кристаллического образца с диффракционными линиями, близкими к линиям определяемой фазы, смягчает влияние некоторых из указанных факторов. Интенсивность рассеянного рентгеновского излучения, вызванного наличием данной фазы, с поправкой на различные. эффекты, указанные выше, линейно зависит от ее концентрации, но четкость диффракционной картины зависит от величины и упорядоченности кристаллитов. Большие кристаллиты дают резкие интенсивные диффракционные линии, в то время как маленькие кристаллиты дают широкие размытые линии. В некоторых случаях вещества с очень маленькими кристаллитами, например голи аморфной окиси железа, дают очень широкие диффракционные линии, которые с большим трудом можно отличить от фона беспорядочно отраженного рентгеновского излучения [8]. Поскольку многие катализаторы приготовляются методами, обусловливающими образование относительно аморфных структур с сильно развитой поверхностью, их рентгенограммы получаются слабыми и расплывчатыми и даже качественный анализ по рентгенограммам представляет большие трудности. Смесь малых количеств кристаллического вещества с большим количеством почти аморфг ного вещества может дать диффракционную картину только кристаллического вещества. Интенсивность диффракпионных линий увеличивается с ростом порядкового номера атомов, образующих кристаллическую решетку. В отработанных железных, кобальтовых или никелевых катализаторах синтеза углеводородов из окиси углерода и водорода обычно нельзя установить характеристическиа линии углерода, даже если он присутствует в значительных количествах. Однако углерод, присутствующий в виде карбидов, можно обнаружить, поскольку расстояния между отражающими плоскостями из атомов металлов в карбидах обычно отличаются от этих расстояний в чистом металле. [c.37]

Так как, согласно (7.30), то при фиксированной частоте резонансные значения магнитного поля пропорциональны частоте в степени Ярез мЧ Резонансные ларморовские частоты весьма малы и не зависят от глубины скип-слоя. Интервал магнитных полей, в котором может наблюдаться резонансное поглощение энергии па поверхностных уровнях, ограничен как снизу (см. второе из неравенств (7.32)), так и сверху, ибо с ростом Я растет ф1 Я /=, а при достаточно больших ф отражение от поверхпости становится существенно диффузным. Это, по-видимому, не относится к электронам в металлах типа В и в аномально мало заполненных зонах обычных металлов, длина волны де Бройля которых значительно больше постоянной решетки. [c.358]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология