Диффузное отражение отражения

Работа 8.1. Получение и интерпретация спектров диффузного отражения твердых оксидов [c.168]

Оптическую плотность (пропускание) измеряют относительно эталона, пропускание которого принимают за 100%, а оптическую плотность — равной нулю. Спектрофотометр СФ-26 может комплектоваться приставкой ПДО-5, позволяющей снимать спектры диффузного отражения твердых образцов. [c.339]

Спектроскопия диффузного отражения получила достаточно широкое распространение благодаря простоте использования и наличию теоретических исследований, обеспечивающих интерпретацию результатов (14]. Явление диффузного отражения (ДО) состоит в том. что, проникая вовнутрь диффузно рассеивающего слоя, излучение испытывает многочисленные акты отражения и преломления, в результате чего диффузно отраженное излучение в отличие от зеркального рассеивается равномерно под всеми углами. Если вещество обладает избирательным поглощением, то излучение испытывает ослабление на частотах, соответствующих положению линий собст-68 [c.68]

Для простоты предположим, что в пленке находится толька один пигмент. От поверхности пигмента часть света отразится и выйдет обратно уже в виде диффузно-отраженного (рассеянного), но пока еще не окрашенного света. Та часть света, которая преломится и войдет в частицу пигмента, дойдет до противоположной стороны частицы и здесь опять разделится. Отразившийся внутри частицы свет выйдет из пленки очень слабо окрашенным, так как часть света определенной длины волны поглощается пигментом. Так как путь, пройденный светом в частице пигмента, незначителен и так как избирательное поглощение растет с величиной пути в поглощающем теле, то свет, отраженный внутри первой частицы пигмента, выйдет из пленки слабо окрашенным. Свет, преломившийся в первой частице пигмента, пройдет дальше во внутрь пленки, пока не встретит второй частицы пигмента. В этой второй частице пигмента произойдут те же явления, что и в первой. Свет, отразившийся из второй частицы, также выйдет из пленки окрашенным, но его окраска будет интенсивнее (насыщеннее), чем окраска света, отразившегося из первой частицы, так как путь, пройденный им в поглощающей среде (пигменте), — больше. Чем глубже в пленку проникает свет, тем через большее количество частиц пигмента он проходит и тем насыщеннее становится окраска отраженного света. [c.40]

Назначение и принцип действия. Регистрирующие двухлучевые спектрофотометры СФ-10, СФ-14, СФ-18 предназначены для измерения пропускания (оптической плотности) прозрачных и мутных сред и коэффициентов диффузного отражения твердых и порошкообразных веществ в видимой области спектра. Спектрофотометры состоят из осветителя, двойного призменного монохроматора, фотометра поляризационного типа, приемно-усилительной части и записывающего механизма. [c.214]

Внутри шара находятся два экрана, предназначенные для предотвращения попадания света от образца непосредственно на фотоэлемент при измерении абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения — нижний экран — и пропускания—верхний экран (по методу Тейлора). Для включения экранов необходимо оттянуть рукоятку 6. [c.215]

Измерение абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения или пропускания сводится к следующему. [c.215]

Спектроскопия диффузного отражения. Данный метод по сути аналогичен сорбционно-люминесцентному методу, но вследствие более низкой чувствительности скорее относится к методам изучения комплексообразования на поверхности ПММ. Аналитический сигнал в этом случае определяется интенсивностью окраски образующихся на поверхности комплексов или ассоциатов. Так, в работе [324] сорбционное концентрирование молибдена (VI) и вольфрама (VI) осуществляли на ХМК с привитыми группами пропиламидоксима или пропилгидроксамовой кислоты, а последующее определение осуществляли методом диффузного отражения на поверхности кремнеземного сорбента в виде смешаннолигандных комплексов после обработки пирокатехиновым фиолетовым. Предел обнаружения составил 2 мкг металлов в навеске сорбента 0,2 г или с учетом концентрирования 2 мкг/л. [c.466]

Если доля диффузно отраженных молекул есть о, а зеркально отраженных молекул (1 — о), то [c.160]

Ввиду того что доля диффузно отраженных молекул близка к единице (а 1), имеем приблизительно [c.136]

Наблюдаемый молекулярный поток обычно оказывается меньше (Ра-<1), чем для случая, когда отражение от стенок было бы полностью диффузным [3.65, 3.68, 3.76—3,84]. Автор работы [3.77] предположил, что такое уменьшение потока может быть обусловлено рассеянием молекул на неровностях очень шероховатой стенки пор, даже если каждый элемент этих неровностей рассеивает диффузно. Девис и др. [3.81] поддержали эту гипотезу п первую теоретическую модель де Маркуса [3.80], воспроизводящую измеренные плотности потока. Они применили метод Монте-Карло к простым геометрическим моделям капилляров при размерах внутренней шероховатости до 15 /о радиуса капилляра плотпости молекулярного потока могут быть на 20% меньше, чем в случае диффузного отражения от гладких стенок. Таким образом, тангенциальная составляющая импульса сохраняется в среднем по направлению, противоположному плотности потока. Этот эффект мох<ет быть очень существенным внутри малых пор газодиффузионного фильтра. Это кажущееся обратное отражение от очень шероховатых поверхностей может быть представлено в теории молекулярного течения соответствующим граничным условием на гладкой стенке. Такое граничное условие может быть сформулировано с помощью коэффициента аккомодации тангенциального импульса, большего единицы [3.52, 3.85], или с помощью коэффициента обратного рассеяния, заеденного Берманом [3.82] по аналогии с максвелловским коэффициентом зеркального отражения 1—/. Если / — доля диффузно рассеянных молекул и 1—f — доля обратного рассеяния, то коэффициент 3к в формуле (3.29) для длинного капилляра круглого [3.82] или кольцевого [3.83] сечения будет [c.65]

Тем не менее существует ситуация (например, пропускание длинного канала с зеркальными стенками), когда приближение полностью диффузного отражения приводит к серьезным погрешностям. Таким образом, инженер или проектировщик должен уметь проводить расчеты и в том случае, когда одна или несколько поверхностей не являются полностью диффузными. [c.477]

Нормальная составляющая секундного количества движения при диффузном отражении может быть найдена с помощью следующих соображений. Так как после диффузного отражения молекулы газа утрачивают среднюю поступательную скорость газа-(С7 = 0). то секундная масса молекул, отбрасываемых единичной площадкой поверхности тела, определяется выражением (71) [c.159]

Нормальная составляющая секундного количества движения диффузно отраженных стенкой молекул (при С/ = 0) определяется из (76) [c.159]

При полностью диффузном отражении молекул от стенки (а = 1) имеем [c.162]

Отражение считается полностью диффузным, если двунаправленная отражательная способность постоянна и не зависит от всех четырех углов — от двух углов падения и двух отражения. Противоположностью полностью диффузного отражения является зеркальное отражение, [c.477]

Вначале записывают линию 100 %-го пропускания при нейтральном положении экранов относительно световых потоков при этом рукоятки 6 вдвинуты в шар. Затем вместо эталона к окну шара в рабочий поток помещают образец, измеряемый на отражение. Оттянув нижнюю рукоятку 6 до упора, экран ставят в положение, при котором прямой свет от образца не попадает на фотоэлемент. Последующая запись дает значение абсолютного коэффициента диффузного отражения образца по спектру. [c.215]

При измерении абсолютных значений коэффициентов диффузного отражения образец помещают в правое по ходу лучей входное окно шара, с помощью рукоятки 6 устанавливают верхний экран, нижний экран при этом должен занимать нейтральное положение относительно световых потоков. [c.215]

Увеличение концентрации шлама (выше 10—15 %) приводит к ухудшению глянца образцов. При этом введение шлама позволяет получить несколько большее значение глянца. Величина диффузного отражения возрастает при увеличении концентрации шлама и уменьшается при добавлении ила, что, по-видимому, связано со значительно большим содержанием соединений железа, никеля, хрома в шламе. [c.209]

При введении в глазурь покрытия шлама и ила при суммарной концентрации 30 % величина диффузного отражения и глянца наиболее оптимальна при равных их концентрациях в добавке, т. е. по 15 % ила и шлама. Таким образом, оптимальное содержание отходов при введении их в состав плиточных глазурей составляет 20-30 %. [c.209]

Изучено также влияние добавок шлама и ила на оплавление, глянец и величину диффузного отражения декоративных глазурей керамических облицовочных плиток с целью замены дефицитных пигментов, уменьшения расхода фриттованной глазури и утилизации таким способом отходов очистки сточных вод гальванических цехов. Для экспериментальных исследований выбрано глазурное покрытие на основе фритты В—2а Воронежского завода фаянсовых изделий. В качестве добавок используют шлам гальванического цеха ПО Атоммаш , содержащий, % (мае.) 64,0 Ре " 3,5 Сг 2,6 (зольность 64,5), Новочеркасского станкостроительного завода, имеющий состав, % (мае.) 31 Ре " " 13 2 (зольность 58,9). Установлено, что оптимальное содержание отходов при введении их в состав плиточной глазури составляет 20—30%. [c.213]

Полоса поглощения с максимумом при 200—300 нм в спектрах диффузного отражения (рис. 3) свидетельствует о наличии тетраэдрического молибдена Мо +. Однако значительное расширение этой полосы доказывает присутствие и октаэдрического Мо +. О существовании тетраэдрического 0 + в С0А12О4 можно судить по наличию в спектрах диффузного отражения широкой тройной полосы при 500—700 нм, интенсивность которой относительно полосы Мо + увеличивается с уменьшением содержания кобальта. Авторы делают вывод, что образование С0А12О4 в катализаторе с отношением <С 0,5 промотируется Мо + не только в результате увеличения дисперсности кобальта, но и из-за образования энергетически более активных тройных поверхностных частиц Со—Мо/А1гОз. [c.43]

Окончательный результат можно получить двумя путями. В первом случае необходимо записать в качестве добавки к коэффициенту переноса излучения i — / доли а от имеющейся в луче энергии перед его взаимодействием со стенкой. Оставшуюся энергию припишем отраженному лучу. (Когда энергия отраженного луча станет ниже выбранного минимального значения, всю ее можно отнести к оставшейся энергии в луче.) В другом случас генерируется случайное число Р. Если оно меньше или равно а, вся имеющаяся энергия поглощается. Если оно больше а, вся энергия отражается. Для построения хода луча после отражения необходимо найти направление отраженного луча. При зеркальном отражении воспользуемся уравнениями (111), (112) и (113) 2.9.2. При полностью диффузном отражении генерируются два новых случайных числа угол 0 относительно нормали п равен sin 4 Рх а угол ф относительно х равен 2кР . В случае не полностью диффузного отражения углы 0 и ф определяются таким же образом, однако массовые множители для каждого луча необходимо делить на направленную отражательную способность и М1южить на двунаправленную отражательную способность для выбранного направления. Вместо этого можно воспользоваться функциями вида (8) при некотором удорожании анализа и времени программирования. [c.479]

Отмечалось (см. [2], 2.9.2), что поверхности с небольшой шероховатостью, моделируемые уравнением Бэкмана, с инженерной точки зрения можно рассматривать как зеркальные. Углы, в которые проходит рассеяние, равны Л/яа и A/(na os 0 ), в то время как доля рассеянного излучения составляет 1—екр[—[(4яОг os 0-/а)2(а/Х) ). Для поверхностей с лг . 0,5 мкм и наклоном порядка или меньще 0,1 величина а 2,5 мкм. Когда afk велико, количество диффузно отраженного излучения также велико, однако угол, в котором отражение диффузно, мал. Если а/Л мало, то угол, в котором отражение диффузно, велик, но количество дш х1зузно отраженного излучения мало. В теплообмене такие поверхности можно моделировать как зеркальные. [c.482]

Разработаны методики экспресс-определения ряда катионов редких, драгоценных и тяжелых металлов, хлора, кислорода, неорганических анионов, фенолов, аминов, гидразинов, альдегидов. Построены линейные градуировочные графики зависимости коэффициентов пропускания и диффузного отражения от концентрации микрокомпонентов с прямой пропорцианальной зависимостью или на основе функции Кубелки-Мунка-Гуревича. Погрешность определения с помощью стандартных цветовых шкал компараторов ЭКОТЕСТ 10-50% относительное стандартное отклонение для тестов ФОТОКО-ЛОРИМЕТРА-РЕФЛ ЕКТОМЕТРА 0,1-0,3. [c.106]

Пусть доля диффузно отраженных молекул составляет о, тогда энергия этпх молекул пропорциональна величине оГд, а энергия зеркально отраженных молекул пропорциональна (1 — а) Гн- Суммарная энергия отраженных поверхностью молекул пропорциональна величине [c.160]

Пользуясь этой формулой, можно по известным значениям коэффициентов а II о найти температуру диффузно отраженных молекул Гд и затем по формуле (90) — вероятную скорость молекул Стд. Полученных сведенин достаточно для определения аэродинамическпх сил, возникающих на теле нри различных условиях свободно-молекулярного обтекания. [c.160]

Мы определили выше расход газа в длинной трубе при полностью диффузном отражении молекул стенками если часть молекул о отражается диффузно, а остальные молекулы отражаются зеркально, то расход газа по трубе возрастает (скорость движения вдоль трубы зеркально отраженных молекул после ударов о стенку не изменяется). Смолуховскип ) показал, что увеличение расхода газа в этом случае происходит в отношении [c.174]

Устройство прибора СФ-26 и принцип и 1мерений. Внешний АИД прибора СФ-26 представлен на рис. 4.24. Измерение пропускания (оптической плотности) исследуемого объекта производят относительно эталона, пропускание которого принимается за 100%, а оптическая плотность — равной нулю. Прибор СФ-26 может комплектоваться приставкой ПДО-5, позволяющей снимать спектры диффузного отражения твердых образцов. [c.213]

Цель работы — выявление зависимости координационного и аалентного состояния атомов ванадия (V) поверхности от адсорбции паров воды по спектрам диффузного отражения. [c.170]

Изучение термических превраи1еиий хромсодержащих силикагелей по спектрам диффузного отражения. [c.219]

Из прокаленного шлама, ила и фритты В—2а готовили водный щликер влажностью 45—50 %, которым поливали поверхность плиток, прощедших утильный обжиг Качество поверхности глазурованного покрытия оценивали по глянцу и величине диффузного отражения, которые определяли с помощью фотоэлектрического глянцемера. [c.208]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология