Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

ЭЗМА

    Расстояние от ТПР до Дельта-2 ( НОРД-ЭЗМ ), м....................................................1000 [c.50]

    Для вторичных приборов типа Норд-ЭЗМ в режиме Коррекция Г  [c.150]

    Тепловая мощность, которую необходимо передать от КС к змеевику (Эзм = Qp — Q t — Q = 500 — 11, 4 — 242,4 = 146,2 кВт. [c.116]

    Счетчики НОРД-М комплектуются электронным блоком НОРД-ЭЗМ и магнитоиндукционными датчиками Н0РД-И1У без предусилителя, Н0РД-И2У с предусилителем или электронными преобразователями (ЭП) и датчиками Дельта-2 . НОРД-ЭЗМ позволяет вводить только постоянное значение коэффициента преобразования в диапазоне расходов. Фактическое значение погрешности при этом зависит от диапазона расходов и вязкости продукта. При вязкости 20 мм /с она составляет 1-1,5 % в диапазоне расходов 20-100 %. Поэтому такие счетчики использовались в основном для оперативного учета нефти. [c.49]


    На УУН применяются разнообразные вторичные приборы как отечественные, так и зарубежные. Вторичные приборы, входящие в состав счетчиков, обычно выполняют узкую задачу - преобразование сигнала преобразователя расхода в объем жидкости. К ним относятся НОРД-ЭЗМ , Дельта-2 , Midi-Flow , ВТК и другие. [c.68]

    Этот эффект используют в аналитических целях, анализируя отраженные и прошедшие электроны. Измеряя интенсивности отраженных электронов как функцию местоположения тонко сфокусированного электронного пучка, можно получить изображение, контраст которого зависит от средних атомных номеров различных микроучастков образца. Изображение в отраженных электронах (ОЭ), получаемое при сканировании пучком поверхности образца, позволяет увидеть микроструктуру образца, обусловленную распределением среднего атомного номера (рис. 10.2-2). Этот ценный для микроанализа прием часто используют в ЭЗМА и РЭМ. [c.325]

    Электронно-зондовый микроанализ (ЭЗМА) и растровая электронная микроскопия (РЭМ) [c.332]

    РЭМ и ЭЗМА являются наиболее важными физическими методами, используемыми в массовом масштабе. [c.332]

    Хотя эти методы все еще традиционно рассматриваются раздельно, в сегодняшней реальности это различие исчезает РЭМ используют для получения изображения, ЭЗМА — в целях элементного анализа, но оба метода реализуют в одном приборе (с различными приставками). В этой главе термином ЭЗМА будем обозначать метод, основанный на использовании вторичных и отраженных электронов, а также рентгеновских сигналов. [c.332]

Рис. 10.2-8. ЭЗМА Схема сканирующего электронного микроскопа для получения изображений во вторичных и отраженных электронах и для рентгеновского микроанализа. Электронный пучок фокусируется электромагнитными конденсорными линзами. Рис. 10.2-8. ЭЗМА Схема <a href="/info/129221">сканирующего электронного микроскопа</a> для <a href="/info/1529525">получения изображений</a> во вторичных и <a href="/info/28123">отраженных электронах</a> и для <a href="/info/135033">рентгеновского микроанализа</a>. <a href="/info/28091">Электронный пучок</a> фокусируется электромагнитными конденсорными линзами.
Рис. 10.2-9. ЭЗМА Рентгеновские спектры сплава на основе никеля, полученные на спектрометре с энергетической дисперсией (а) и с волновой дисперсией (б). Неспецифичный постоянный фон представляет собой тормозное рентгеновское излучение электронов [10.2-1]. Рис. 10.2-9. ЭЗМА <a href="/info/2755">Рентгеновские спектры</a> сплава на <a href="/info/859836">основе никеля</a>, полученные на спектрометре с <a href="/info/142269">энергетической дисперсией</a> (а) и с <a href="/info/141890">волновой дисперсией</a> (б). Неспецифичный постоянный фон представляет <a href="/info/1795776">собой</a> <a href="/info/142245">тормозное рентгеновское излучение</a> электронов [10.2-1].

    Для учета различных процессов ионизации (потерь энергии), отражения электронов, поглощения рентгеновского излучения и эффектов вторичной флуоресценции в исследуемом образце и образце сравнения разработана специальная процедура коррекции ( А -коррекция). С использованием этой процедуры можно достичь правильности менее 1% (за исключением элементов с низкими 2, когда влияние матрицы слишком велико). Таким образом, ЭЗМА является одним из наиболее точных методов количественного анализа твердых образцов. Пределы обнаружения элемента находятся на уровне 0,01-0,1% в анализируемом объеме порядка нескольких мкм . [c.335]

    Сочетание сигналов вторичных электронов, дающих изображение топограг фии поверхности, и сигналов отраженных электронов, дающих картину распределения среднего атомного номера, с качественным и количественным рентгеновским анализом делают ЭЗМА важнейшим методом анализа твердых тел. Он стал рутинным для решения любых типов задач и анализа любых типов материалов (идентификация частиц в металлах, фаз в геологических объектах, пылевых токсичных частиц, асбестовых волокон). Главным ограничением метода является размер аналитического объема—обычно 1-3 мкм диметром и глубиной, что мешает проводить количественный рентгеновский анализ нанофаз, хотя их можно увидеть, используя сигналы вторичных или отраженных электронов. Можно детектировать поверхностные слои толщиной не менее нескольких нанометров, но провести селективный анализ в этом случае не представляется возможным, и очевидно, что необходимо использовать другие методы — аналитическую электронную микроскопию и электронную оже-спектроскопию для микроанализа с высоким разрешением по глубине (единицы нанометров). [c.335]

    Главные области использования ЭЗМА для анализа поверхности  [c.335]

Рис. 10.2-10. ЭЗМА микроструктурный анализ в режиме отраженных электронов и рентгеновского картирования, а — фотография в режиме отраженных электронов, показывающая распределение фаз металлического железа (светлые области), карбида хрома (серые области) и оксида хрома (темные области) б — карта рентгеновского излучения углерода в — карта рентгеновского излучения железа г — карта рентгеновского излучения хрома. Рис. 10.2-10. ЭЗМА микроструктурный анализ в режиме <a href="/info/28123">отраженных электронов</a> и рентгеновского картирования, а — фотография в режиме <a href="/info/28123">отраженных электронов</a>, показывающая распределение фаз <a href="/info/14650">металлического железа</a> (светлые области), <a href="/info/317362">карбида хрома</a> (<a href="/info/1093779">серые области</a>) и <a href="/info/2301">оксида хрома</a> (темные области) б — карта <a href="/info/28163">рентгеновского излучения</a> углерода в — карта <a href="/info/28163">рентгеновского излучения</a> железа г — карта <a href="/info/28163">рентгеновского излучения</a> хрома.
    Несмотря на довольно ограниченную применимость, ЭЗМА является наиболее ценным средством изучения поверхности и межфазных границ, поскольку дает возможность широкого исследования характеристик материала в интере- сующих микроучастках. [c.337]

    Перечислите различные физические процессы, используемые в ЭЗМА и родственных аналитических методах. [c.386]

    Графитопласт ATM- 2 — антнфрикцион1Гый самосмазывающийся литьевой материал на основе капрона (иснользуют отходы текстильных и сетевязальных производств), молотого кокса н природного графита марки ЭЗМ. Оптимальный состав (в %) капрон —50, графнт — 5—7, термоантрацит — 43—45. Свойства его приведены в табл. 2. [c.322]

    Реакция ионного обмена, как было показано Лонгом, может быть использована для изучения структуры комплексных соединений. Ионный обмен может указывать на характер связи в комплексных соединениях. Так, исследуя обмен трехвалентных металлов с комплексными соединениями щавелевой кислоты, имеющими общую структуру ЭзМ(С204)з (Э — щелочной металл, М— трехвалентный металл), можно установить характер связи трехвалентного металла с ионом щавелевой кислоты. Эта связь может быть или ковалентной, или ионной. Если связь ионная, то происходит обмен меченых ионов щавелевой кислоты, находящихся в растворе, с ионом щавелевой кислоты, который входит в состав комплексной соли. В случае ковалентной связи обмен не наблюдается. Обычно меченый оксалат-ион содержит радиоактивный углерод С. Если, например, в качестве комплексных соединений взять Кз[Сг(С204)з] и Кз[Ре ( 204)3] и исследовать их способность к обмену оксалат-ионами с оксалатом [c.560]

    Более сложная механизированная аппаратура для аргонодуговой сварки, разработанная ВНИИАВТОГЕН под маркой ЭЗМ-51, состоит из горелки и -суппорта. Эта аппаратура может монтироваться на тракторах (сварочных) типа ПЛ или ИМ, или другой конструкции. Горелка пово-рачивается -как в плоскости шва, так -и в перпендикулярной ему плоскости. Это дает возможность аваривать угловые и тавровые швы. Ролик, скрепленный с муфтой, несущей горелку, опирается на металл свар иваемой детали и обеспечивает постоянную длину дуги на неплоской 88 [c.88]

    Машины с вертикальным колебательным ножом. На рис. 8.8 показана электрозакройная машина ЭЗМ-2 с вертикальным колеба тельным ножом 4. Машина может разрезать настил толщиной до 100 мм. Нож й изготовлен из полосовой стали У10А толщиной 0,5—0,7 мм и шириной 20— 25 мм. Нож приводится в движение от электродвигателя 9 трехфазного пере- [c.230]


    В сухом воздухе щелочноземельные металлы покрываются желтоватой пленкой, в состав которой входят окиси ЭО, а также частично перекиси ЭОз и нитриды ЭзМа. Во влажном воздухе поверхность этих металлов покрывается карбонатами. Сгорают кальций, стронций и барий с образованием окисей ЭО. Из перекисей щелочноземельных металлов практическое применение имеет ВаОг. Получается она при нагревании на воздухе окиси бария  [c.405]

    Соединяясь с азотом при нагревании, они образуют нитриды ЭзМа и с углеродом — карбиды ЭС - Особый интерес представляют водородные соединения щелочноземельных металле , образующиеся при нагревании этих металлов в токе сухого водорода, например  [c.406]

    Для цинка и кадмия известны амиды 3(NH2)2. Они могут быть получены взаимодействием амальгамы цинка или d(S N)2 с раствором KNH2 в жидком аммиаке. Оба амида представляют собой аморфные белые порошки (на воздухе соль кадмия быстро темнеет), малорастворимые в жидком аммиаке. Водой они разлагаются на Э(ОН)г и NH3 (причем с амидом кадмия реакция идет очень бурно). При умеренном нагревании амиды отщепляют NH3 и переходят в соответствующие нитриды ЭзМа. Оба амида способны присоединять KNH2 с образованием хорошо кристаллизующихся и малорастворимых в жидком аммиаке комплексов типа К2[Э(ЫН2)4]. [c.196]

    Эволюция каталитических систем на этом этапе сопровожд1ается образованием различных адсорбционных комплексов с поверхностью катализатора и полимер-катализаторных комплексов. Так как помимо возникновения адсорбционных комплексов на этом этапе также в эзмо-жен захват примесей в кристаллическую решетку катализатора, причем получаютсй твердые растворы и происходят рекристаллизационные изменения катализатора, то число возможных эволюционных превращений Мз, определяющее вероятностные условия развития, здесь, ыше, чем Мг и М]. [c.203]

    Элементарные зажимные механизмы (ЭЗМ). Различают ЭЗМ винтовые, эксцентриковые, рычажные, клиновые, клиноплунжерные, ры-чажно-шарнирные и реечные. Винтовые, эксцентриковые, клиновые и клиноплунжерные без роликов ЭЗМ являются самотормозящи-ми. [c.85]


Смотреть страницы где упоминается термин ЭЗМА: [c.149]    [c.71]    [c.322]    [c.322]    [c.331]    [c.626]    [c.639]    [c.49]    [c.306]    [c.501]    [c.140]    [c.40]    [c.318]    [c.272]    [c.476]    [c.89]    [c.231]    [c.175]    [c.30]    [c.175]    [c.175]    [c.40]   
Аналитическая химия Том 2 (2004) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Электронно-зондовый микроанализ (ЭЗМА) и растровая электронная микроскопия (РЭМ)



© 2024 chem21.info Реклама на сайте