Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Рентгеновская дифрактометрия

    Такой прибор называют автоматическим рентгеновским дифрактометром.— Прим. перев. [c.396]

    Более 20 коксов из разного сырья было изучено при термообработке в условиях вакуума в камере высокотемпературной установки УВД-2000, соединенной с рентгеновским дифрактометром ДРОН- [c.118]

Рис. 3. Изменение межслоевого расстояния коксов в процессе термообработки в вакууме в камере высокотемпературной установки УВД-2000, соединенной с рентгеновским дифрактометром ДРОН-2,0 Коксы 1 - игольчатый, 2 - рядовой, 3 - сернистый (8=2,8%) Рис. 3. Изменение <a href="/info/511982">межслоевого расстояния</a> коксов в <a href="/info/1475244">процессе термообработки</a> в вакууме в <a href="/info/1358344">камере высокотемпературной</a> установки УВД-2000, соединенной с <a href="/info/360957">рентгеновским дифрактометром</a> <a href="/info/1166045">ДРОН</a>-2,0 Коксы 1 - игольчатый, 2 - рядовой, 3 - сернистый (8=2,8%)

Рис. З.бй" Зоны взятия проб в печной трубе Структура образцов, вырезанных на расстояниях 300-500 мм (см. рис. 3.66) от места разрушения, отличается от исходной структуры наличием сферических выделений преимущественно по фаницам аустенитных зерен второй фазы (рис. 3.67), которая с помощью рентгеновского дифрактометра была идентифицирована как а-фаза. По мере приближения к зоне разрушения количество и размеры отдельных частиц ст-фазы возрастают (рис. 3.68), одновременно изменяется ее химический состав за счет Рис. З.бй" Зоны <a href="/info/147855">взятия проб</a> в <a href="/info/923058">печной трубе</a> <a href="/info/501799">Структура образцов</a>, вырезанных на расстояниях 300-500 мм (см. рис. 3.66) от <a href="/info/977159">места разрушения</a>, отличается от исходной структуры <a href="/info/1793053">наличием сферических</a> выделений преимущественно по фаницам аустенитных зерен <a href="/info/66785">второй фазы</a> (рис. 3.67), которая с <a href="/info/739369">помощью рентгеновского</a> дифрактометра <a href="/info/1330306">была</a> идентифицирована как а-фаза. По <a href="/info/1843681">мере приближения</a> к <a href="/info/521681">зоне разрушения</a> количество и <a href="/info/142539">размеры отдельных</a> частиц ст-<a href="/info/1572111">фазы возрастают</a> (рис. 3.68), одновременно изменяется ее <a href="/info/2736">химический состав</a> за счет
    Фазовый состав получаемого углеродного материала изучался методом рентгеноструктурного анализа на рентгеновском дифрактометре ДРОН-3.0 с использованием программы X-RAY. Исследовались как неочищенные образцы углеродных материалов, так и прошедшие стадии обработки соляной кислотой и частичного окисления. [c.93]

    Рентгеновский дифрактометр с нагревом Термометрический титрометр [c.5]

    Аппарат ДРОН-2. Рентгеновский дифрактометр общего назначения более высокого класса, чем ДРОН-1 и ДРОН-1,5. Обладает рядом преимуществ, в том числе возможностью записи дифракционной картины на перфоленте, которая может быть введена в ЭВМ для последующей обработки, возможностью использования одновременно с дифрактометрической фотографической регистрации излучения, более высокой производительностью, большей стабильностью напряжения и анодного тока и т. д. Максимальное напряжение на трубке 50 кВ, максимальный ток 60 мА. [c.76]

    В рассмотренных выше рентгенографических методах использовались узкие пучки рентгеновских лучей и маленькие кристаллы. Это обстоятельство значительно снижает интенсивность дифракционных картин. Применение же фокусирующих методов рентгеносъемки существенно увеличивает светосилу рентгеновских камер. В литературе описаны конструкции фокусирующих камер с различными принципами фокусировки дифрагированных лучей [3]. При фотографической регистрации дифракционной картины условия фокусировки должны соблюдаться по всей поверхности фотопленки одновременно, так как рассеянное образцом излучение фиксируется всей фотопленкой одновременно. При ионизационном способе регистрация дифракционного спектра производится разновременно в узких угловых интервалах. Это позволяет широко использовать в рентгеновской дифрактометрии фокусирующие методы, поскольку при ионизационном способе регистрации условие фокусировки должно выполняться только в той точке простран- [c.119]


Рис. VII.5. Рентгеновский дифрактометр общего назначения ДРОН-2,0. Рис. VII.5. Рентгеновский <a href="/info/1837892">дифрактометр общего назначения</a> ДРОН-2,0.
    Экспериментальные возможности рентгеновского дифрактометра ДРОН-2,0 могут быть значительно расширены при помощи различных приставок и устройств, которые можно устанавливать на рентгеновском гониометре ГУР-5. Это позволяет изучать тек- [c.132]

    Полный структурный анализ монокристаллов может быть проведен с помощью автоматического рентгеновского дифрактометра для исследования монокристаллов ДАР-УМБ [5а, 7]. [c.133]

    В настоящее время советская приборостроительная промышленность выпускает рентгеновский дифрактометр с дистанционным управлением ДРД-4 [4], предназначенный для работы в горячих лабораториях и позволяющий регистрировать дифракционную картину от радиоактивных образцов активностью до 10 Ки (кюри) в присутствии а-, (5- и 7-излучений. Образцы могут иметь [c.143]

    Принципиальная схема рентгеновского спектрометра. Первичное излучение рентгеновской трубки вызывает флуоресценцию элементов, входящих в состав пробы. Излучение флуоресценции проходит вдоль набора продольных плоскопараллельных пластин, падает на кристалл-анализатор и, отражаясь от него, разлагается в спектр. Отражающееся в различных направлениях излучение определенных длин волн регистрируется счетчиком, совмещенным с гониометром. Такая схема прибора основана на принципе рентгеновской дифрактометрии. Этот метод отличается от рентгеновской спектроскопии только тем, что в нем задаются длиной волны регистрируемого излучения, а строение кристалл-анализатора остается неизвестным. В рентгеновской же спектроскопии имеет место обратное. [c.204]

    При помощи порошковой рентгеновской дифрактометрии с применением алмазных наковален исследовано влияние гидростатического давления на кристаллическую структуру оксалата натрия. В качестве жидкости, передающей давление, использовалась смесь метилового и этилового спиртов. При давлениях ниже 3,55 ГПа наблюдалось анизотропное сжатие структуры исходной полиморфной модификации оксалата натрия. Качественно анизотропия сжатия структуры была подобна той, что наблюдалась при сжатии той же структуры вследствие понижения температуры. При давлении выше 3,55 ГПа наблюдалось полиморфное превращение в ранее [c.47]

    Для определения термического коэффициента изменения интенсивности отражения (004) по предлагаемому способу исследуемые образцы помещают в камеру высокотемпературной приставки рентгеновского дифрактометра, нагревают со скоростью не более 20 град/мин, например, до 1800° С и выдерживают при. зтой температуре в течение 1 часа. По мере охлаждения через каждые 100, 200 илн более °С при идентичных условиях снимается дифрактограмма исследуемого образца. По полученным дифрактограммам определяют интенсивность отражения (004) при различных температурах и по ее изменению методом наименьших квадратов получают уравнения вида [c.128]

    Получение количественной информации о рассеянии ориентации кристаллитов рентгеновским методом можно осуществить регистрированием дифрагированша лучей счетчиком кв ов рентгеновского излучения. С поющью рентгеновских дифрактометров можно подучить [c.104]

    Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2.0 обеспечивает автоматичес-ктп работу в двух режимах непрерывном и дискретном. При непрерывном режиме работы осуществляется измерение интенсивности в процессе перемещения детектора в заданном угловом интервале, а при дискретном осуществляется шаговое сканирование с измерением и регистрацией интенсивности после отработки каждого шага [ II ].  [c.106]

    Ц тем небольших изменений схемы блока управления серийно выпус-каеиого устройства ПР-14м рентгеновского дифрактометре ДРШ-2,0 (ркс.З) вам тхвлойъ осуществить совместное получение кривой ин- [c.107]

    Модернизация рентгеновского дифрактометра ДРОН-2.О для исследования текстуры нефтяных кокоов. Новоселов В.Ф. В кн.,Исследование состава и структуры нефтепродуктов.Сб.научн.трудов.М.. ЦНИИТЭнефтехим.1986,с.104-113. [c.165]

    Изучение тонкой структуры коксов цроводилось на рентгеновском дифрактометре ДРОН-3,0 с использованием щелей Соллера и Си излучения,отфильтрованного никелевым фильт ром. Для съемки использовался кокс с размером частиц менее 0,1 мм.Расчет цроводился по известным формулам. Оцределение количества графити-рованной фазы проводилось по методу добавок,который часто используется в аналитической практике. [c.106]

    Ионизационные рентгенограммы получают с помощью установок для рентгеновского анализа, например УРС-50ИМ, ДРОН-3,0. Основные узлы рентгеновского дифрактометра — рентгеновская трубка, генераторное устройство, питающее рентгеновскую трубку, детектор рентгеновского излучения с измерительным устройством [c.154]


    Аппарат ДР0Н-1(ДР0И-1,5). Рентгеновский дифрактометр общего назначения. Употребляется для проведения широкого круга структурных и фазовых ис- [c.75]

    Аппарат УРС-50ИМ. Рентгеновский дифрактометр для структурного, фазового и других видов анализа, позволяющий исследовать поликристаллические (в том числе, крупнозернистые) образцы, монокристаллы, определять преимущественную ориентировку кристаллов (текстуру) и т. д. В аппарате используется рентгеновская трубка БСВ-б с линейным фокусом. Максимальное напряжение 50 кВ, максимальный ток 12—14 мА. [c.76]

    Аппарат ДРМк-2,0. Специализированный многоканальный рентгеновский дифрактометр, предназначенный для массового фазового анализа многокомпонентных поликристаллических материалов. Наличие 5 каналов позволяет по сравнению с одноканальным прибором в 5 раз сократить время анализа другой тип подобного аппарата (автоматический дифрактометр типа ДАРП-2,0) — проводить одновременный фазовый анализ в поликристаллических материалах до 10 фаз. [c.76]

    Аппарат ДРД-4. Рентгеновский дифрактометр с дистационным управлением применяется для анализа радиоактивных препаратов активностью до 3,7-10"с (до 10 Ки) по СО и позволяет регистрировать дифракционную картину при наличии а-, р- и унзлучения образца. [c.76]

    Аппарат ДАРМ-2,0. Автоматический рентгеновский дифрактометр используется для исследования монокристаллов всех сингоний размером 0,01—0,1 мм по программе, рассчитанной на ЭВМ. Результаты анализа выдаются в форме, пригодной для непосредственного введения в ЭВМ. Другой аппарат подобного типа ДАР-УМБ, оснащенный гониометром с блоком строенных детекторов, можно непосредственно стыковать с ЭВМ. [c.76]

    В рентгеновской дифрактометрии применяются различные способы фокусировки рентгеновских лучей, однако, наиболее широкое распространение получила фокусировка по Бреггу — Брентано. Схематическое изображение этого способа приведено на рис. VI.6. Принцип фокусировки основывается на теореме о равенстве вписанных углов, опирающихся на общую хорду ф1 = фа- При фокусировке по Бреггу — Брептано плоский образец, фокус рентгеновской трубки и приемная щель счетчика лежат на одной окружности (показана пунктиром). Расходящийся пучок рентгеновских лучей, выходящий из фокуса рентгеновской трубки Р, надает на плоский образец К, образующий угол с первичным пучком, отражается от образца и фокусируется в точке С гониометрического круга (показан сплошной линией). Ось поворота образца совпадает с центром гониометрического круга, а фокус рентгеновской трубки Р и приемная щель счетчика, находящегося в т. С, располагаются на гониометрическом круге. [c.120]

    Рентгенооптическая схема фокусировки рентгеновских лучей по Бреггу — Брентано реализована в конструкциях отечественных дифрактометров типа ДРОН при работе с поликристаллами и срезами монокристаллических образцов. Основной частью рентгеновского дифрактометра является гониометрическое устройство, позволяющее измерять углы дифракции с точностью до нескольких десятых угловой минуты. Дифракционная картина, регистрируемая дифрактометрическим методом, представляет собой зависимость интенсивности рассеянного образцом излучения от угла дифракции, У ( ). Она может быть представлена либо в виде таблиц, либо в графической форме (рис. VI.7). [c.121]

    Рентгеновские дифрактометры ДРФ-2,0 и ДАРТ-2,0 имеют более узкие области применения. Дифрактометр ДРФ-2,0 предназначен для проведения фазового анализа поликристаллов в условиях заводских и научно-исследовательских лабораторий. Егв целесообразно использовать в тех случаях, когда имеют деде с большим количеством образцов различного состава. Дифракционный спектр в дифрактометре ДРФ-2,0 регистрируется в интервале углов от О до 150° при точности их измерения 0,05° [8]. Рентгеновский дифрактометр ДАРТ-2,0 служит для изучения текстур в металлах, сплавах и других кристаллических веществах [91. С его помощью можно строить полюсные фигуры для фолы, листов и шлифов с высокой точностью и малыми временнйми затратами. [c.133]

    Практический опыт рентгеновских исследований твердых тел в особых условиях показал нецелесообразность создания универ- альных приборов, позволяющих, например, работать во всех температурных режимах. Вместе с тем в ряде случаев возникает необходимость структурных исследований твердых тел в широком интервале температур, включающем в себя как низкие, так и высокие температуры, и когда переклейка кристалла нежелательна или сопряжена с возможностью повреждения. Одним из возможных компромиссных решений этой проблемы является создание унифицированных устройств для крепления образцов, которые могут быть установлены как в криостат, так и в термостат. Подобное приспособление к рентгеновскому дифрактометру, обеспечивающее проведение рентгенографирования в интервале температур от 100 до 600 °К, описано в работе [13]. [c.134]

    Поэтому рентгеновские дифрактометры получили широкое распространение. Преимущество фотографического метода по сравнению с дифрактометрическим методом состоит в возможности получения пространственного распределения дифрагированного излучения это определяет специфику применения указанных методов. Если при фотографическом методе все отраженные от образца пучки излучения фиксируются фотопленкой, то при ионизационном методе установленный на гониометре счетчик излучения, иепрерыиио двигаясь по окружности, в центре которой установлен исследуемый образец, последовательно фиксирует дифракционные максимумы, встречающиеся на пути его движения. Электрический сигнал от счетчика через специальные устройства подается на электронный самопишущий потенциометр. Отклонение пера потенциометра прямо пропорционально мощности рентгеновского излучения, отраженного от образца. [c.117]

    Исследования фазового состава на рентгеновском дифрактометре ДРОН-1,5 показало, что щлам состоит в основном из 8- и Y-РеООН — оксигидроксида Ре. При прокаливании шлама при температуре обжига плиток, т е. при 900 °С, обнаружены дифракционные максимумы, которые можно отнести к Рсз04. Отработанный активный ил содержит гидроксиды железа и никеля, после прокаливания появились отражения, которые можно идентифицировать как NiF 204 — никелевую щпинель. [c.208]

    Рентгенографический анализ проводили на рентгеновском дифрактометре ДРОН-3 в монохроматизированном медном излучении Си-Ка(А,=1,54056 А) по методике большеугловых съемок при температуре 293 К. [c.129]

    Наличие существенного различия в свойствах различных зон сварного соединения на трубах из стали 17Г2СФ в состоянии поставки подтверждается также и результатами исследования уровня микроискажений кристаллической решетки. Определение уровня микроискажений производили на рентгеновском дифрактометре ДРОН-2,0 в отфильтрованном СоАГа-излучении кобальтового анода по методу Вильсона. Снимали 12%-ную линию а-железа, находящуюся в прецизионной области углов дифракции в режиме постоянного времени. Результаты исследования, приведенные в табл. 7, показывают, что термообработка приводит к уменьшению разницы в уровнях микроискажений шва и основного металла и, следовательно, к уменьшению токов активного растворения. [c.233]

    Оценку физико-механического состояния металла производили рентгеноструктурным анализом, путем измерения микротвердости, а также микроструктурными исследованиями. Микроискажения кристаллической решетки и эквивалентные им остаточные микронапряжения определяли на рентгеновском дифрактометре ДРОН-1 (при этом использовали методику определения изменения межплос-костных расстояний по уширению интерференционного максимума). [c.238]


Библиография для Рентгеновская дифрактометрия: [c.247]   
Смотреть страницы где упоминается термин Рентгеновская дифрактометрия: [c.121]    [c.81]    [c.104]    [c.253]    [c.119]    [c.131]    [c.142]    [c.143]    [c.247]    [c.247]    [c.247]    [c.21]    [c.29]   
Смотреть главы в:

Дифракционный и резонансный структурный анализ -> Рентгеновская дифрактометрия

Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия -> Рентгеновская дифрактометрия




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Дифрактометры рентгеновские



© 2025 chem21.info Реклама на сайте