Дифрактограммы

Рис. 6-57. Дифрактограммы углеродного волокна с различным содержанием фтора, % (масс.)

Рис. XII.7. Дифрактограмма монокристалла теллура, полученная на -излучении Мо.

Полученные дифрактограммы представляют собой ряд лучше или хуже разрешенных пиков -вблизи угла [c.93]

При изучении структурных превращений в процессе термообработки коксы прокаливались в силитовых печах при стандартных условиях (1300°С, 5 часов), в печи Таммана с изотермической выдержкой в течение 2 ч и в среде вакуума в камере высокотемпературной рентгеновской установки УВД-2000. Съемка дифрактограмм проводилась на дифрактометрах ДРОН-2,0, ДРОН-3,0 с СиКаИзлучением рентгеновской трубки и малоугповой рентгеновской установке КРМ-1. Ряд исследований проводился с использованием метода радиального распределения атомной плотности (р.р.а.). [c.117]

Изучение дифрактограмм большого количества коксов разной структуры показало, что для характеристики структурирования кокса можно использовать величину отношения интенсивности отражения (002) к его полуширине. Интенсивность отражения (002) характеризует количественное содержание кристаллической фазы, а полуширина -величину и распределение кристаллитов по размерам, внутреннюю межслоевую упорядоченность. Использование интенсивности и полуширины линии внутреннего стандарта, подмешиваемого к коксу, способствует коррекции инструментальных и временных пофешностей. Найдено, что отношение интенсивности (002) к полуширине, названное нами степенью упорядоченности, зависит от структуры кокса и технологии его получения. В процессе термообработки характерным является монотонный рост величины степени упорядоченности с возрастанием [c.119]

J f интегральная интенсивность отражения (002) на дифрактограмме графита [c.77]

Рис. 5-9. Структура термически рафинированного графита [5-19] а — электронная микроскопия, хЮО ООО 6— дифрактограмма.

На дифрактограммах наблюдаются слегка размытые отражения, соответствующие поликристаллическому графиту. [c.369]

Предполагается [8-7], что отверждение проходит в две стадии 1) образование линейных молекул полимера в интервал от 40 до 180 С (8-5) и 2) трехмерно сшитого нерастворимого полимера (8-6) [8-19]. Линейное состояние полимера, полученного до 180 С, подтверждается рентгеновскими дифрактограммами, на которых в области малых углов отражения регистрируются размытые максимумы. [c.481]

Рис. 8-18. Дифрактограмма СУ из фурфурилового спирта. Температура получения 2700 С

На дифрактограммах УВ, как правило, наблюдаются только рефлексы (00/) и (Нк), а основные рефлексы (Кк1) отсутствуют. (00/) показывают периодичность упаковки слоев, а (кк) — распределение атомов в углеродных слоях. [c.588]

Исходя из предположения, что на дифрактограмме имеется связных участков ( [7, / = 77г) с налагающимися линиями, в комбинированном методе строится задач [c.214]

Монтмориллонит и вермикулит — удобные модельные объекты для определения плотности адсорбированной воды по экспериментальным величинам адсорбции и соответствующим из — менениям толщины межслоевой области Ас1. Исходя из значений Ас и геометрической удельной поверхности, легко определить внутрислоевой сорбционный объем о, а по нему-и величине адсорбции а — плотность сорбированной воды. Осо — бенно удобен для таких определений вермикулит, который об — ладает совершенной кристаллической структурой и, как следствие, дает узкие интенсивные рефлексы на дифрактограммах Для него характерна незначительная внешняя поверхность кристаллитов и на изотермах сорбции обнаруживаются четкие перегибы, соответствующие переходу от однослойного гидрата к двухслойному. [c.33]

На дифрактограмме наблюдаются линии никеля, что свидетельствует об отсутствии свободного алюминия. Линии взаимодействия сплава Ренея со стеклом также отсутствуют. Аналогич- [c.36]

Рве. 2.2. Дифрактограммы сплава стекло— никель Ренея (кривая / содержание никеля Ренея 50% (масс.), температура спекания 900 °С и того же сплава после обработки 20%-ным раствором NaOH (кривая 2). [c.37]

Так, на дифрактограммах катализаторов с хромом кроме Си и СигО обнаружены дополнительные линии с diti (в скобках — интенсивность /) 0,189 (100) 0,195 (90), с никелем — 0,492 (80) [c.61]

Структурные характеристики определяли через каждые 100 С после выдержки при этой температуре в течение 30 мин (рис. 3). Выявлен иной характер изменения чем при съемке дифрактограмм в обычных условиях, что вызвано термическим расширением кристаллической решетки. В области температур 500-800°С у всех коксов резко уменьшается, что, вероятно, обусловлено резким сжатием кристаллической решетки при удалении летучих веществ в условиях вакуума. Далее до 1500 °С наблюдается довольно резкий рост вызванный термическим расширением, а затем некоторое его замедление. Для сернистого кокса в области температур удгшения серы (1500-1600 °С) вновь происходит резкое сжатие решетки. При дальнейшем нагревании (до 1800°С) термическое расширение решетки сернистого кокса резко растет, но остается меньше, чем у рядового и игольчатого коксов при этих температурах. [c.118]

Из литературных данных следует,что рентгвноструктурное исследование промышленного // - ЬЛо-катализатора (АКМК) затруднительно, так как на дифрактограммах появляются только широкие размытые отражения от основы Г IJ. Поэтоцу мноше авторы цредвари-тельно исследуют модельные смеси из окислов o,Uo,4S и на основании этих исследований делают выводы о структуре и фазовой составе АШ. [c.3]

На электронной дифрактограмме наноструктурированного углеродного материала имеются кольцевые рефлексы, отвечающие состоянию углеродных атомов в гексогональной сетке. В то же время рефлекс doaa отсутствует либо сильно уширен. Таким образом, эти данные также являются показателем сильной разупорядоченности углеродных слоев. [c.52]

Предложены модели структур закаленных фаз высокого давления фуллеритов Сб(1 и С70, главной особенностью которых является трехмфная полимеризация фуллереновых молекул. В качестве основного механизма трехмерной полимеризации предложен новый (3+3) тип 1щклоприсоединения молекул См вдоль пространственных диагоналей ромбических структур сверхтвердых фаз. Вдоль боковых координатных осей предложены два типа связывания молекул традиционный для одномерной и двумерной полимеризации (2+2) тип циклоприсоединения и сращивание молекул фуллеренов обобществленными четырехчленными кольцами. Структуры уточнены методом профильного анализа дифрактограмм (метод Ритвельда), начальные значения координат получены из энергетического анализ устойчивости моделей структур методами молекулярной механики. Установлено, что по мере увеличения давления и температуры синтеза происходит сокращение межатомных расстояний в (3+3) циклах, что приводит к повыщению жесткости структуры. По сокращению межмолекулярных расстояний вдоль полимеризованных направлений структур фаз высокого давления выявлены стадии полимеризации фуллереновых молекул от димеров до объемных полимеров. При нормальных условиях обнаружена эллипсовидная форма дифракционных отражений на двумерной дифракционной картине сверхтвердых фаз, свидетельствующая об огромных упругих напряжениях, возникающих в процессе трехмерной полимеризации молекул Сбо в условиях негидростатических высоких давлений. [c.184]

При определении ЖРР кювета с коксом помещается в камеру высокотемпературной установки и нагревается до необходимой температуры со скоростью 20°С/мин. В качестве внутреннего стандарта использован карбид кремния -модиз[)икации, По дифрактограммам, полученным цри различной температуре, определяется угловое положение дифракционных линий и лшши внутреннего стандарта. По изменению межслоевых расстояний при различных температурах методом наименьших квадратов получаются аналитические зависимости [c.79]

Скорость изменения интенсивности отражения (004) с изменением температуры нагрева нятяипмяя для анизотропных коксов и наименьшая для изотропных. Введено понятие коэффициента термического изменения интенсивности, которое косвенно отражает анизотропность термического расяшрения кристалдической решетки и позволяет оценивать характер структуры кокса, его эксплуатационную пригодность. Для определения коэффициента термического изменения интенсивности растертый образец кокса помещается в камеру высокотемпературной приставки УВД-2000, нагревается до 1800°С со скоростью 20°С/мнн, выдерживается в течение I ч и ступенчато охлаждается до комнатной температуры. По мере охлаждения через каждые 100 или 200 - С при вдентичных условиях снимаются дифрактограммы и измеряется интенсивность отражения (004). Б выбранном интервале температур по ш-менению интенсивности отражения (004) методом наименьших ква, ) -тов рассчитывается уравнение [c.80]

Микротекстура УВ описывается [9-97] отклонением в пачках лент углеродных гексагональных плоскостей от оси волокна (меридианная составляющая) и определяется из полуширины линии (002) по дифрактограммам, снятым перпендикулярно оси волокна (рис. 9-51). [c.592]

Съемку порошкообразных дифрактограмм для каждого состава при построении градуировочного графика и каждого исследуемого состава рекомендуется производить несколько (3—4) раз с перенабивкой препаратов. [c.91]

При всех своих преимуществах дифрактометры обладают все же несколько меньшей разрешающей способностью в области малых дифракционных углов, чем кaмelpы-мofюx-роматоры. Это объясняется значительным влиянием неоднородностей поверхности образца на качество дифрактограмм при малых 0(в съемке на прохождение, которая реализуется в камерах-монохроматорах, особенно хорошо регистрируются как раз линии при небольших в). [c.26]

На рис. 13 показаны дифрактограммы образцов н1гкеля, приготовленных в виде порошка, и прокаланной фольги, что позволяет получить представление о масштабах изменения интенсивностей при текстуре. [c.35]

Здесь X, <Х, X, - вектор параметров структуры, вектор профильных параметров и множества их определ 2ния соответственно. Суммирование ведется по всем точкам, име-гоидимся на дифрактограмме. Остановимся пвдробнее на вычислении величин - теоретических интенсивностей [c.208]

Исходя из физики явления параметры У, и, IV, К должны быть постоянными для всей дифрактограммы, но влияние различных случайных факторов, аппаратной функции опровергает это положение и в современных комплексах программ параметры полуширины и асимметрии могут уточняться и изменяются от одного участка дифрактограммы к другому. Пользователю необходимо знать, что увеличение независимых переменных ведет к резкому увеличению затрат машин- Юго времени. Предположение 3 ие жесткое, так как всегда можно пронормировать экспериментальный массив. [c.214]

Отметим, что нумерация линий для этих задач может не совпадать с их нумерацией на дифрактограмме. Предположим, что задачи решены и значение какого-нибудь ф) нк-ционала не устраивает исследователя, тогда можно использовать более сложные функции профиля, а в качестве начальных данных - параметры, полученные на предыдущем этапе уточнения. [c.215]

Смотреть страницы где упоминается термин Дифрактограммы: [c.149] [c.24] [c.25] [c.36] [c.33] [c.73] [c.77] [c.77] [c.105] [c.99] [c.489] [c.490] [c.494] [c.572] [c.123] [c.121] [c.167] [c.167] [c.242] [c.22] [c.38] [c.214]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология